JPH0240593A - あおりステージ - Google Patents
あおりステージInfo
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- JPH0240593A JPH0240593A JP63191858A JP19185888A JPH0240593A JP H0240593 A JPH0240593 A JP H0240593A JP 63191858 A JP63191858 A JP 63191858A JP 19185888 A JP19185888 A JP 19185888A JP H0240593 A JPH0240593 A JP H0240593A
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- Japan
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- stage
- mask
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 26
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はあおりステージ、特にX線露光装置のマスクス
テージやウェハステージに適用可能な薄型、高分解能、
高剛性のあおりステージに関する。
テージやウェハステージに適用可能な薄型、高分解能、
高剛性のあおりステージに関する。
近年の半導体製造用露光装置は高精度化する傾向にある
。特にX線露光装置は、マスクとウェハを10μm〜5
0μmの微小なギャップを介して平行に保持し、位置合
わせマークを用いて0.1μm以下の微小位置合わせを
行って、0.5μm以下の微細パタンを転写するもので
あり、最近特に注目されている。
。特にX線露光装置は、マスクとウェハを10μm〜5
0μmの微小なギャップを介して平行に保持し、位置合
わせマークを用いて0.1μm以下の微小位置合わせを
行って、0.5μm以下の微細パタンを転写するもので
あり、最近特に注目されている。
X線マスクを保持するマスクステージやウェハを保持す
るウェハステージには、マスクとウェハの平行だしをす
るために薄型で、かつ高分解能。
るウェハステージには、マスクとウェハの平行だしをす
るために薄型で、かつ高分解能。
高剛性のあおりステージが必要となっている。
従来の技術としては、例えば特開昭61−904320
の従来例に示されているあおりステージがある。
の従来例に示されているあおりステージがある。
この従来のあおりステージについて図面を参照して説明
する。
する。
第5図は従来のあおりステージを備えたX線露光装置の
マスクステージを示す平面図、第6図は第5図の正断面
図である。
マスクステージを示す平面図、第6図は第5図の正断面
図である。
従来のあおりステージは、中空円柱状のステージベース
114と、ステージベース114の内側に外周を固定さ
れた中空円板バネ115と、中空円板バネ115の内周
に固定されたマスクチャック取付枠113と、マスクチ
ャック取付枠113に保持されたマスクチャック102
と、マスクチャック取付枠113の上面に等角度配置し
たアマチャ109〜112と、アマチャ109〜112
に対向し、ステージベース114に取付けられた電磁石
105〜108とを含んで構成される。
114と、ステージベース114の内側に外周を固定さ
れた中空円板バネ115と、中空円板バネ115の内周
に固定されたマスクチャック取付枠113と、マスクチ
ャック取付枠113に保持されたマスクチャック102
と、マスクチャック取付枠113の上面に等角度配置し
たアマチャ109〜112と、アマチャ109〜112
に対向し、ステージベース114に取付けられた電磁石
105〜108とを含んで構成される。
電磁石105に正の電流、電磁石107に負の電流を流
すと、電磁石105とアマチャ109には吸引力、電磁
石107とアマチャ111には反発力が発生し、中空円
板バネの拘束力とつり合った姿勢、つまりアマチャ11
1が取付いているマスクチャック取付枠113は矢印F
方向にあおり変位する。さらに電磁石105〜108に
同じ大きさの電流を流すことによって2方向に変位させ
ることかできる。
すと、電磁石105とアマチャ109には吸引力、電磁
石107とアマチャ111には反発力が発生し、中空円
板バネの拘束力とつり合った姿勢、つまりアマチャ11
1が取付いているマスクチャック取付枠113は矢印F
方向にあおり変位する。さらに電磁石105〜108に
同じ大きさの電流を流すことによって2方向に変位させ
ることかできる。
したがってマスクチャック取付枠13にマスクチャック
102を・介して保持されたマスク11をウェハ12に
対して平行でかつ所定のギャップ量に位置決めすること
ができる。
102を・介して保持されたマスク11をウェハ12に
対して平行でかつ所定のギャップ量に位置決めすること
ができる。
上述した従来のあおりステージはマスク11にあおり変
位および、Z方向変位を与える場合、中空円板バネ11
5外周と内周をそれぞれステージベース114とマスク
チャック取付枠113に固定されているので複雑な変形
をして、電磁石105〜108に流す電流を複雑に制御
しなければならず、ウェハ12とマスク11を平行に位
置合わせするのに多くの時間を要する。
位および、Z方向変位を与える場合、中空円板バネ11
5外周と内周をそれぞれステージベース114とマスク
チャック取付枠113に固定されているので複雑な変形
をして、電磁石105〜108に流す電流を複雑に制御
しなければならず、ウェハ12とマスク11を平行に位
置合わせするのに多くの時間を要する。
またX線露光装置の場合、特開昭60−201344な
どに記載されるように、マスク11とウェハ12の位置
ズレ検出装置をマスク3の上面でかつ露光領域の近傍に
配置する必要があり、薄型構造でなければならないが、
電磁石を設けると、薄型に構成しにくいという欠点があ
った。
どに記載されるように、マスク11とウェハ12の位置
ズレ検出装置をマスク3の上面でかつ露光領域の近傍に
配置する必要があり、薄型構造でなければならないが、
電磁石を設けると、薄型に構成しにくいという欠点があ
った。
さらに、電磁石が発生しうる力は小さいので安定したあ
おり変位を得るために中空円板バネにスリットを設けた
り、特開昭61−90432に記載されるように柱状の
弾性部材を用いる手段もあるが、電磁石で発生する力が
小さいためバネ定数を小さくしなければならすあおりス
テージ全体の剛性を高くできないので振動に対して弱い
という欠点があった。
おり変位を得るために中空円板バネにスリットを設けた
り、特開昭61−90432に記載されるように柱状の
弾性部材を用いる手段もあるが、電磁石で発生する力が
小さいためバネ定数を小さくしなければならすあおりス
テージ全体の剛性を高くできないので振動に対して弱い
という欠点があった。
本発明のあおりステージは、2個のヒンジによって先端
部と中間部と支持部にわかれており放射状に配置した3
個の片持ち梁と、該片持ち梁の3個の先端部に固定した
3個の円柱ヒンジと、該円柱ヒンジに固定したあおりプ
レートと、前記片持ち梁の支持部にそれぞれ固定した3
個のピエゾ素子と、1個のヒンジで分離され一端を前記
ピエゾ素子の可動面に固定し他端を前記片持ち梁の中間
部に固定した3個の連結部とを含んで構成される。
部と中間部と支持部にわかれており放射状に配置した3
個の片持ち梁と、該片持ち梁の3個の先端部に固定した
3個の円柱ヒンジと、該円柱ヒンジに固定したあおりプ
レートと、前記片持ち梁の支持部にそれぞれ固定した3
個のピエゾ素子と、1個のヒンジで分離され一端を前記
ピエゾ素子の可動面に固定し他端を前記片持ち梁の中間
部に固定した3個の連結部とを含んで構成される。
次に本発明の実施例について、図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例の原理を示す断面図である。
第1図に示すあおりステージは、ヒンジ1,2によって
形成された支持部3と中間部4と先端部5をもった片持
ち梁6と、片持ち梁6の先端部5に固定した円柱ヒンズ
7と、円柱ヒンジ7に固定したあおりプレート8と片持
ち梁6の支持部3に固定しなピエゾ素子つと、ピエゾ素
子9の可動部に取りついていてヒンジ10を介して片持
ち梁6の中間部4に固定した連結部10とを含んで構成
されている。
形成された支持部3と中間部4と先端部5をもった片持
ち梁6と、片持ち梁6の先端部5に固定した円柱ヒンズ
7と、円柱ヒンジ7に固定したあおりプレート8と片持
ち梁6の支持部3に固定しなピエゾ素子つと、ピエゾ素
子9の可動部に取りついていてヒンジ10を介して片持
ち梁6の中間部4に固定した連結部10とを含んで構成
されている。
次に図面を参照して動作原理を説明していく。
ピエゾ素子9に電圧をかけると直進変位Sを発生し、片
持ち梁6の支持部3と、ヒンジ1と、中間部4と、連結
部11のヒンジ10とで構成するリンク機構によってヒ
ンジ1を回転中心とする角度変位tに変換される。
持ち梁6の支持部3と、ヒンジ1と、中間部4と、連結
部11のヒンジ10とで構成するリンク機構によってヒ
ンジ1を回転中心とする角度変位tに変換される。
中間部4はヒンジ2を介して先端部5に伝達し、円柱ヒ
ンジ7を介してあおりプレート8にあおり変位を発生す
ることができる。
ンジ7を介してあおりプレート8にあおり変位を発生す
ることができる。
ヒンジ1とヒンジ2のピ巨離を 、ヒンジ1とヒンジ1
0の距離をmとすると、ピエゾ素子9の変位Sは 7m
倍されて角度変位tに変換される。
0の距離をmとすると、ピエゾ素子9の変位Sは 7m
倍されて角度変位tに変換される。
第2図は、本発明によるあおりステージを崗えたX線露
光装置のマスクステージを示す分解斜視図である。
光装置のマスクステージを示す分解斜視図である。
第2図に示すあおりステージは、第1図に原理を示した
片持ち梁6を円周上に配置し、3個の片持ち梁6a、6
b、6cの支持部3′を一体で形成し、片持ち梁6a、
6b、6cの先端部5a5b、5cに円柱ヒンジ7a、
7b、7cが固定され、円柱ヒンジ7a、7b、7cの
上部にマスクチャック(あおりプレート)8′が固定さ
れている。X線露光装置用マスクステージの場合X線エ
リアを逃げるために、支持部3′とマスクチャック(あ
おりプレート)8′には穴が設けられている。
片持ち梁6を円周上に配置し、3個の片持ち梁6a、6
b、6cの支持部3′を一体で形成し、片持ち梁6a、
6b、6cの先端部5a5b、5cに円柱ヒンジ7a、
7b、7cが固定され、円柱ヒンジ7a、7b、7cの
上部にマスクチャック(あおりプレート)8′が固定さ
れている。X線露光装置用マスクステージの場合X線エ
リアを逃げるために、支持部3′とマスクチャック(あ
おりプレート)8′には穴が設けられている。
中空円板状の支持部3′と一体構造で作られこの支持部
3′の中心軸Zに対して対称な位置に配置した3個の片
持ち梁6a、6b、6cには各2個のヒンジla、2a
、lb、2b、lc、2cを備え、中間部4a、4b、
4cと先端部5a。
3′の中心軸Zに対して対称な位置に配置した3個の片
持ち梁6a、6b、6cには各2個のヒンジla、2a
、lb、2b、lc、2cを備え、中間部4a、4b、
4cと先端部5a。
5b、5cとに分離されている。そして、先端部5a
5b、5cには円柱ヒンジ7a、7b、7Cが固定さ
れている。
5b、5cには円柱ヒンジ7a、7b、7Cが固定さ
れている。
又、3個の連結部11a、llb、llcは、ヒンジ9
a、9b、9cを備えて片持ち梁6a6b、6cの中間
部4a、4b 4cに固定され、支持部3′と連結部
11a、llb、llcに両端を支持されたピエゾ素子
9a、9b、9cが配置されている。マスクチャック(
あおりプレート)8′には、マスク12を吸着保持する
真空溝が備えられ、片持ち梁6a、6b、6cの先端部
5a。
a、9b、9cを備えて片持ち梁6a6b、6cの中間
部4a、4b 4cに固定され、支持部3′と連結部
11a、llb、llcに両端を支持されたピエゾ素子
9a、9b、9cが配置されている。マスクチャック(
あおりプレート)8′には、マスク12を吸着保持する
真空溝が備えられ、片持ち梁6a、6b、6cの先端部
5a。
5b、5cに円柱ヒンジ7a、7b、7cを介して固定
されている。
されている。
次に図面を参照しながら順に動作を説明する。
第3図は第2図に示すあおりステージの正断面図、第4
図は第3図を動作させた場合の動作説明図である。
図は第3図を動作させた場合の動作説明図である。
ピエゾ素子9aに電圧をかけると直進変位Sを発生し、
ピエゾ素子9aは支持部3′と連結部11aに固定され
ているので変位Sは確実にヒンジ10aを介して片持ち
梁6aの中間部4aに伝達される。ここで中間部4aは
支持部3′にヒンジ1aを介して支持されているので第
1図の原理で示すようにリンク機構によってヒンジ1a
を中心に図に示す角度変位tを発生する。
ピエゾ素子9aは支持部3′と連結部11aに固定され
ているので変位Sは確実にヒンジ10aを介して片持ち
梁6aの中間部4aに伝達される。ここで中間部4aは
支持部3′にヒンジ1aを介して支持されているので第
1図の原理で示すようにリンク機構によってヒンジ1a
を中心に図に示す角度変位tを発生する。
マスクチャック(あおりプレート)8′は片持ち梁6a
、6b、6cの先端部5a、5b、5cに円柱ヒンジ7
a、7b、7cを介して支持されているので中間部4a
の角度変位tによってヒンジ2a、2b、2cはそれぞ
れ微小回転し、マスクチャック(あおりプレート)8′
は、先端部5a、5b、5cと円柱ヒンジ7a、7b、
7cによって角度自在に連結されているので干渉変位を
うけずに各軸独立したあおり変位θを得ることができる
のでマスクチャック(あおりプレート)8′に吸着され
たマスク12をウェハ13と容易に平行に位置決めする
ことができる。
、6b、6cの先端部5a、5b、5cに円柱ヒンジ7
a、7b、7cを介して支持されているので中間部4a
の角度変位tによってヒンジ2a、2b、2cはそれぞ
れ微小回転し、マスクチャック(あおりプレート)8′
は、先端部5a、5b、5cと円柱ヒンジ7a、7b、
7cによって角度自在に連結されているので干渉変位を
うけずに各軸独立したあおり変位θを得ることができる
のでマスクチャック(あおりプレート)8′に吸着され
たマスク12をウェハ13と容易に平行に位置決めする
ことができる。
さらにピエゾ素子9a、9b、9cに同電圧を加えるこ
とにより同様に2方向の変位だけを得ることができるの
で、マスク12とウェハ13のギャップを所定の大きさ
に位置決めすることができる。
とにより同様に2方向の変位だけを得ることができるの
で、マスク12とウェハ13のギャップを所定の大きさ
に位置決めすることができる。
ピエゾ素子9a、9b、9cのストロークは、15μm
程度で、あおりステージに必要なストロークは50μm
程度であるのでヒンジ間の距離は50/ 10 = I
/mを満たすような寸法である。
程度で、あおりステージに必要なストロークは50μm
程度であるのでヒンジ間の距離は50/ 10 = I
/mを満たすような寸法である。
ピエゾ素子は100V程度の低電圧で駆動できるf[タ
イプであるため、小型で大応力を発生でき、又発熱もほ
とんど無視できることからマスクチャック(あおりプレ
ート)8′から片持ち梁6a、6b、6cのすべてを高
剛性の弾性体で形成できる。
イプであるため、小型で大応力を発生でき、又発熱もほ
とんど無視できることからマスクチャック(あおりプレ
ート)8′から片持ち梁6a、6b、6cのすべてを高
剛性の弾性体で形成できる。
また、支持部3′と3個の片持ち梁6a、6b。
6Cを一体で形成できるのでヒンジ部の寸法精度を管理
し易く、3個のあおりに対するバネ定数を均一に形成で
きる。
し易く、3個のあおりに対するバネ定数を均一に形成で
きる。
本発明のあおりステージは、あおりプレートを支持する
ために中空円板や柱状弾性バネの代わりに、ベースプレ
ートを一体で形成した片持ち弾性体を設けることにより
、締結部がなく、寸法精度よく形成できるため、すべり
やガタがなく高剛性に支持できる。また、片持ち弾性体
とあおりプレートの間に回転自在な円柱ヒンジを設ける
ことにより、3軸の片持ち弾性体の変位による干渉変位
がなくなるため、あおりステージの制御が容易になる。
ために中空円板や柱状弾性バネの代わりに、ベースプレ
ートを一体で形成した片持ち弾性体を設けることにより
、締結部がなく、寸法精度よく形成できるため、すべり
やガタがなく高剛性に支持できる。また、片持ち弾性体
とあおりプレートの間に回転自在な円柱ヒンジを設ける
ことにより、3軸の片持ち弾性体の変位による干渉変位
がなくなるため、あおりステージの制御が容易になる。
また、電磁石の代わりにピエゾ素子を設けることにより
、発熱が小さく、大応力と微小変位を発生できるので、
高分解能で高精度のあおり変位を得られる。さらにピエ
ゾ素子を放射状に配置することにより、薄形構造にでき
るため、xB露光装置のマスクステージやウェハステー
ジを小型にできるという効果がある。
、発熱が小さく、大応力と微小変位を発生できるので、
高分解能で高精度のあおり変位を得られる。さらにピエ
ゾ素子を放射状に配置することにより、薄形構造にでき
るため、xB露光装置のマスクステージやウェハステー
ジを小型にできるという効果がある。
第2図は本発明のあおりステージの一実施例を示す分解
斜視図、第3図は第2図の正断面図、第4図は第3図を
動作させた場合の動作説明図、第5図は従来の一例を示
す平面図、第6図は第5図の正断面図である。
斜視図、第3図は第2図の正断面図、第4図は第3図を
動作させた場合の動作説明図、第5図は従来の一例を示
す平面図、第6図は第5図の正断面図である。
1.2.10−・・ヒンジ、la、2a、 10a−
ヒンジ、lb、2b、10b・・・ヒンジ、IC12c
、10c・・・ヒンジ、3,3′・・・支持部、4.4
a、4b、4cm・−中間部、5.5a、5b、5c・
・・先端部、6.6a、6b、6cm=片持ち梁、7゜
7a、7b、7c・・・円柱ヒンジ、8・・・あおりプ
レート、8′・・・マスクチャック、9.9a、9b。
ヒンジ、lb、2b、10b・・・ヒンジ、IC12c
、10c・・・ヒンジ、3,3′・・・支持部、4.4
a、4b、4cm・−中間部、5.5a、5b、5c・
・・先端部、6.6a、6b、6cm=片持ち梁、7゜
7a、7b、7c・・・円柱ヒンジ、8・・・あおりプ
レート、8′・・・マスクチャック、9.9a、9b。
9c・・・ピエゾ素子、11・・・連結部。
Claims (1)
- 2個のヒンジによって先端部と中間部と支持部にわかれ
ており放射状に配置した3個の片持ち梁と、該片持ち梁
の3個の先端部に固定した3個の円柱ヒンジと、該円柱
ヒンジに固定したあおりプレートと、前記片持ち梁の支
持部にそれぞれ固定した3個のピエゾ素子と、1個のヒ
ンジで分離され一端を前記ピエゾ素子の可動面に固定し
他端を前記片持ち梁の中間部に固定した3個の連結部と
を含むことを特徴とするあおりステージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63191858A JP2690510B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | あおりステージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63191858A JP2690510B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | あおりステージ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0240593A true JPH0240593A (ja) | 1990-02-09 |
JP2690510B2 JP2690510B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=16281676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63191858A Expired - Lifetime JP2690510B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | あおりステージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2690510B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0616370A (ja) * | 1992-07-02 | 1994-01-25 | Mitsubishi Electric Corp | エレベータのドア装置 |
JP2008504579A (ja) * | 2004-06-29 | 2008-02-14 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 光学素子のための位置決めユニット及び調節デバイス |
JP2008218710A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Canon Inc | 光学素子保持装置 |
CN106297900A (zh) * | 2016-08-04 | 2017-01-04 | 苏州大学 | 一种z轴微旋转平台 |
-
1988
- 1988-07-29 JP JP63191858A patent/JP2690510B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0616370A (ja) * | 1992-07-02 | 1994-01-25 | Mitsubishi Electric Corp | エレベータのドア装置 |
JP2008504579A (ja) * | 2004-06-29 | 2008-02-14 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 光学素子のための位置決めユニット及び調節デバイス |
US7738193B2 (en) | 2004-06-29 | 2010-06-15 | Carl Zeiss Smt Ag | Positioning unit and alignment device for an optical element |
JP2010183097A (ja) * | 2004-06-29 | 2010-08-19 | Carl Zeiss Smt Ag | 光学素子の位置決めユニット |
US8035903B2 (en) | 2004-06-29 | 2011-10-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positioning unit and alignment device for an optical element |
US8416515B2 (en) | 2004-06-29 | 2013-04-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positioning unit and alignment device for an optical element |
US8760777B2 (en) | 2004-06-29 | 2014-06-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positioning unit and apparatus for adjustment of an optical element |
US9075174B2 (en) | 2004-06-29 | 2015-07-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positioning unit and apparatus for adjustment of an optical element |
US9664873B2 (en) | 2004-06-29 | 2017-05-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positioning unit and apparatus for adjustment of an optical element |
US10133021B2 (en) | 2004-06-29 | 2018-11-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positioning unit and apparatus for adjustment of an optical element |
JP2008218710A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Canon Inc | 光学素子保持装置 |
CN106297900A (zh) * | 2016-08-04 | 2017-01-04 | 苏州大学 | 一种z轴微旋转平台 |
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---|---|
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