JPH0239745B2

JPH0239745B2 -

Info

Publication number: JPH0239745B2
Application number: JP56125833A
Authority: JP
Inventors: Kurifuton Jesotsupu Toomasu
Original assignee: Eastman Kodak Co
Current assignee: Eastman Kodak Co
Priority date: 1980-08-11
Filing date: 1981-08-11
Publication date: 1990-09-06
Also published as: JPS57115199A; US4303611A; EP0046087B1; EP0046087A3; DE3174246D1; EP0046087A2; CA1131932A

Description

【発明の詳細な説明】本発明はアナライト（analyte）として知られ
ている液中の物体を化学分析する方法と装置に関
する。

多くの血液放射分析装置が開示されてきたが、
その殆んどは血液の試料および試験要素の自動的
な取扱いを提供するようになされた比較的複雑な
装置を含んでいる。そのような自動的な取扱いは
一般に、血液試料を試験要素へ計量すること、培
養することおよび試験要素中での放射分析による
変化の結果の検出作業を含む。血液試料の分析に
試験要素を利用する分析装置は米国特許第
4152390号に示されている。

生産性を上げるには、試験要素の読取りを行う
まで一般にインキユベーターに貯えておく試験要
素の蓄積分を分析装置が収容することが好まし
い。高生産性の分析装置に使用されるインキユベ
ーターは試験要素を貯えておくための可動コンベ
ヤと該コンベヤを駆動し、該コンベヤと別の分析
装置部材との間で試験要素を運ぶための複雑な装
置とを含んでいる。インキユベーター中で利用可
能となつた任意の位置に試験要素を置くことがで
きるようにするためには、コンベヤ中の各試験要
素の位置を「記憶」しておかねばならず、該試験
要素を正しく検索して、インキユベーターに再装
填するために試験要素をコンピユータで追跡する
必要がある。装填部所はインキユベーターに対し
て一般的に固定しているので、インキユベーター
への近接は、コンベヤの空の位置が装填部所に現
われた場合に限定される。これらのインキユベー
ターに関する全ての面は当該技術分野では周知の
ことであるが、これらのことはインキユベーター
の価格と複雑さを増し、例えば医師の事務所のよ
うな使用現場での分析に対しては負担が大きすぎ
る。

ある種の化学試験ではガスを発生させるが、こ
れはガスが一方の試験から次の試験へ持越される
と読取りにミスを発生させるため、試験要素の培
養には別の困難が起る。例えばBUNの水準を計
量する試験要素では通常アンモニアを発生させ
る。そのような試験要素の例が米国特許第
4066403号に示されている。試験要素の内部で色
変化をつくり出すことを意図するアンモニアはあ
る場合には逃避してインキユベーターにおける別
の試験要素に対し汚染物として搬送される可能性
がある。

更に、逃避したガスは検出されないアナライト
を表示する。本発明の以前には、この逃避ガスか
らの汚染の問題は、問題のガスを殆んど吸収しな
いカバーを試験要素に、かつ問題のガスを殆んど
吸収しないインキユベーター材料を使用して対処
してきた。

本発明は、以上の点に鑑み、液体を入れた部分
を含む試験要素を複雑な装置や制御装置を使用せ
ずに処理し、かつ試験要素からのガスの逃避を制
御して液中のアナライトを検出する装置を提供
し、それにより上述の問題点を解消することを目
的とするものである。

すなわち、本発明に係る装置は、試料を入れた
部分を含む主要面と、該主要面を指示するための
一つ、又はそれ以上の支持面とを有する概ね平坦
な試験要素における試料アナライトを分析する装
置であつて、上記試験要素を当該装置に第１の位置で装填す
るための手段と、上記試験要素内の試料アナライトによつて形成
された検出可能の反応物を第２の位置で試験する
ための手段と、第１と第２の位置の間に形成された通路を有
し、該通路に沿つて複数の上記試験要素を、隣接
する試験要素が相互に接触するようにし、かつ、
同試験要素のうち最も新しく装填されたもの以外
のすべての試料を入れた部分が隣接する試験要素
の前記一つ、又はそれ以上の支持面によつて覆わ
れた状態で当該通路に沿つて動かされるように支
持する手段と、を有することを特徴とする。

本発明による分析装置の１つの利点は、高生産
性が提供され、複雑なモータや制御装置を必要と
しない「いつでも近接できる」インキユベーター
が提供されることである。この利点がインキユベ
ーター内のコンベヤを排除して達成できるのが好
ましい。これに関連した本発明の別の利点は、イ
ンキユベーターの各々の位置に付随した患者の同
一性を回復するのに複雑なアドレス装置の必要性
を排除するインキユベーターを分析装置に具備す
ることである。本発明の別の利点は、一方の試験
要素から他方の試験要素への汚染を発生させる可
能性のあるガスの逃避を防止するように試験要素
自体が作用するよう試験要素がインキユベーター
中に配置されることである。

本発明の実施例を、添付図面を参照して以下に
説明する。

本発明の装置は、各種の液体中のアナライト、
特に生物学的液体中のアナライトを測定できる。
これは、プラスチツク製フレーム部材１５中に取
付けられた試料を入れた部分１４を第１の主要面
を有する概ね平坦な試験要素Ｅを使用することに
よつて達成される。前記部分１４の方は、透明な
サポート１４′に１枚以上の吸収層１７を含む。
該吸収層１７の上層は、例えば（第３図で）点線
で示す滴のような一定量の液体を受取るように露
出している。前記試料を含む部分１４の層の反対
側には、フレーム部材１５の支持面１６と、フレ
ーム部材１５の窓１８を通して露出されたサポー
ト１４′の支持面１９を含む試験要素Ｅの支持面
がある。

試験要素の代替的な実施例（図示せず）におい
ては、面１６と１９とに対比しうる支持面は１つ
の連続面を形成する。

層１７の構造はその上に置かれた液を含むこと
ができるようにさせる。層１７は米国特許第
3992158号と、同第4066403号に示す方法によりつ
くることが好ましい。配布された液体は前記層中
へ広がり、そこで反応が起り検出可能な変化を発
生させる。

側縁２１と２３（第１図）とは試験要素Ｅのそ
れぞれ幅と長さとを規定する。その寸法は希望に
応じて変更できる。試験要素Ｅの種々の層の厚さ
は第３図では判り易くするために誇張して示して
あるが、実際には試験要素Ｅの厚さは僅か約１ミ
リである。

米国特許第4169751号では、試料の入つた部分
が支持フレームに積重ねられ、該フレームには開
口が設けてあつて液体の小滴が試料の入つた部分
へ浸透できるようにした、完全に匹敵し、かつ有
用な試験要素を示している。

試験要素Ｅは、分析中の液体の滴を滴下しその
試験要素Ｅを培養して、調査中のアナライトの濃
度に比例した検出可能な反応をつくり、その反応
を検出することにより処理することが好ましい。
好ましい形態においては、反応は窓１８と透明な
サポート１４′を通して試験要素を反射走査する
ことにより検出される。

このように、検出は放射分析により行うのが好
ましいが、以下詳細に説明する検出装置が適当に
修正されるのであれば電位差分析による検出を含
み、本発明を使用して何れの形式の検出で行うこ
とも可能である。ここで使用する「放射分析」と
その関連の方法は色度測定、ならびに螢光光度測
定による検出形態を含むものと理解される。

以下説明する実施例は分析する好適液体として
血清を参照する。更に、非生物学的アナライトを
含む工業用液体を含めその他のアナライトを含む
液体も分析できる。

「上方」「下方」「下方へ」「最底部の」等のこ
こで使用する説明用語は分析装置の使用中の方向
性を言及する。開示した培養装置に使用した「時
間に無関係に近接する」（time indeperdent
access）という用語は数個の断続的なインキユベ
ーターの位置の内次の利用可能な位置がインキユ
ベーターへ試験要素を装填する手段と整合した時
のみだけでなく、むしろ任意の時に別の試験要素
を受入れることのできる柔軟性を示すものであ
る。

第１図から第３図まで、特に第１図を参照すれ
ば、本発明により構成された分析装置２０はフレ
ーム２２、試験要素装填装置３０、計量部所４
０、インキユベーター５０、検出手段としての放
射計１１０、試験要素取出し装置１３０とを含
む。前記装填装置３０はプラツトフオーム３２、
該プラツトフオーム３２のスロツト３５を通して
突出する押出しフインガ３４と、該フインガ３４
が取付けられているハンドル３６とを含む。プラ
ツトフオーム３２には通常の電気加熱エレメント
（図示せず）を設けることが好ましく、かつ該プ
ラツトフオームは肩部３８の間に配置され、該肩
部がフインガ３４と協動して、試験要素Ｅをイン
キユベーター５０に向つて、即ち矢印３９の方向
に運動する時に案内する。

計量部所４０は試験要素Ｅがプラツトフオーム
３２上に休止するにつれて該要素Ｅへ液体の滴を
滴下させる任意の計量装置を内蔵してもよい。好
適装置はホルダー４４に装着されたピペツト４２
であつて、該ピペツト４２の先端部４６は試験要
素Ｅの試料を入れる部分１４に近接して、かつそ
の丁度上に配置されている。前記先端部４６は一
方の液体が次の液体に移らないように処理可能で
あることが望ましい。

代替的に、計量部所４０は省略して、試験要素
をプラツトフオーム３２に置く前に図示していな
いがその他の方法により液体を試験要素に添加し
てもよい。

本発明の一面によれば、分析装置２０には概ね
細長い室５４を画成する壁５２（第３図）を有す
るインキユベーター５０が設けられている。試験
要素Ｅが第１の位置５６で前記室５４へ導入され
うるようにするため、プラツトフオーム３２に隣
接した壁５２には近接用開口５５（第３図と第４
図）が設けられている。また室５４は試験要素読
取り位置５８を含む。室５４内部では、試験要素
Ｅは、室５４の長手方向軸線６０に沿つた、位置
５６から５８への矢印５７で指示する方向の通路
を通る。壁５２は案内手段、即ち長方形のシユー
トを形成するような形状とされ、該案内手段は試
験要素Ｅを、その部分１４と１５とを軸線６０に
対して概ね横方向に延在させて滑合関係で収容す
る。従つて、室５４におかれた一連の試験要素Ｅ
の各々はそれに先行する試験要素と必らず接触
し、その支持面１９はそれに先行する試験要素Ｅ
の試料を入れた部分１４を覆う様になる。特に位
置５８と５６との間のチヤンバ５４の長さは
「ｎ」個分の試験要素の一連の列を収容し、ｎは
第４図に示す実施例では３個分に等しい。勿論、
位置５８における試験要素Ｅは装填装置３０によ
り室５４に挿入された一連の試験要素の最初のも
のであつて、位置５６に最も近い試験要素Ｅは最
後に挿入されたものであり、この最後の試験要素
Ｅの試料を入れた部分１４は隣接した試験要素に
よつて覆われない。

室５４は垂直方向に配置されることが好まし
く、そのため培養された試験要素の形状は隣接し
た垂直の積重体の形態である。また、インキユベ
ーター５０は分析装置のその他非運動部分に対し
て静止していることが好ましい。

最上部の試験要素Ｅの試料を入れた部分１４は
覆われていないので、その最上部の試験要素に対
して休止しうるカバー６２をインキユベーター５
０に設けることが好ましい。追加の要素Ｅを室５
４に加える場合にカバー６２は取外さねばならぬ
ので、カバー６２は、位置５６の上方の位置から
位置５８で室５４の底あるいは室５４中の試験要
素Ｅの何れかと接触する位置へ矢印６４の方向に
室５４内で往復運動可能に取付けられる。カバー
６２は棒６６（第１図）に固定されており、該棒
６６の方は接続装置６７を介してハンドル３６に
固定されている。第２図と、第４図から第６図ま
でとを参照すれば、接続装置６７は、ピン６８に
より一端７０が棒６６と接続されたクランク７２
を含む。クランク７２はＪ字形で、中間部分７４
がフレーム２２に支承され、かつ脚７８を有し、
該脚７８の一端７６はフレーム２２に対して垂直
方向に往復運動するリンク８０に接続されてい
る。リンク８０の一端８２はクランク７２に接続
され、反対側の端部８４はカム作用バー８６上に
乗つている。該カム作用バー８６は一端８８（第
４図と第６図）に形成されたカム面９０を有す
る。リンク８０はフレーム２２（第４図と第５
図）に装着されたリンクアーム９１により概ね垂
直に運動が制限されている。前記バー８６は端部
９２（第６図）に隣接してハンドル３６に接続さ
れ、バー８６全体は、フレーム２２のＶ字形溝９
６の内部で矢印９４の方向に摺動する。ハンドル
３６に接続された棒９８は回転上の安定性のため
に２枚のプレート１００の間で案内される。

所望に応じ、押出しフインガ３４が棒９８上で
矢印１０２の方向に回転するよう取付け、捩りば
ね（図示せず）がフインガ３４を矢印１０２とは
反対の方向に押圧する様にできる。フインガ３４
のカム面１０４は補助装置（図示せず）により挿
入された試験要素Ｅがフインガ３４のばね弾性を
押切ることができるようにする。

カバー６２は室５４を通して試験要素Ｅを押圧
するための装置として作用するに十分な重さとす
るのが望ましい。即ち、プラテン状の形状とされ
るとカバー６２は試験要素Ｅが壁５２に対して引
掛らないようにする。しかしながら、試験要素Ｅ
が偶発的にはさまらないように壁５２間の間隔を
広げるならばカバー６２の押圧能力は必要でな
い。

代替的な実施例（図示せず）においては、検出
可能な反応物としてガスを発生させず、かつ防熱
カバーを必要としないアナライトのみを試験する
分析装置ではカバー６２は完全に省略されてい
る。また、試験要素Ｅが最高速度で分析装置２０
を通して処理されるとすれば、最上部の試験要素
Ｅはインキユベーター５０中での全滞留時間中の
比較的短い時間部分のみカバーされない状態に留
まる。

放射計１１０は室５４中の最底部の試験要素Ｅ
の読取りを行うため位置５８あるいはその近くに
配置される。有用な放射計としては、当該技術分
野では通常の色度計や螢光光度計を含む。好適な
形態は、プラツトフオーム３２（第１図）の高さ
より下方に位置され、軸線６０に対して45度に整
合されて、レンズ１１５の形の光線案内手段を介
して、光路１１３（第３図）を通つて光線１１４
を最下部の試験要素Ｅの観察窓１８へ送るように
した光源１１２を含む反射分析計である。約340
から700nmまでのスペクトルをつくるようにされ
た回折格子１１６（第１図）が反射光線１２０の
光路に配設され、光ダイオードあるいは検出装置
１１８が、それぞれ通常の態様でレンズ（図示せ
ず）を通過したスペクトル光線の特定の波長を検
出するように位置されている。反射光１２０の回
折成分は軸線６０と整合した光路１２１（第３
図）においてレンズ１２２（第１図）を介して集
められる。格子１１６は集光的、即ちレンズ１２
２の焦点位置に位置されることが好ましい。検出
装置１１８が発生する信号は、通常のコンピユー
タ（図示せず）、例えばマイクロコンピユータに
より、コンピユータに対してすでに手動で入力し
てある較正値に基く濃度値に変換させる。また、
任意的にコンピユータは、読取りサイクルを開始
するに先立つて各試験要素がどれ位の時間培養さ
れたかを計算するタイミング装置（図示せず）を
含む。

前述したインキユベーターと共にその他の放射
計を使用しても有用である。一代替実施例（図示
せず）として、光線１１４と１２０とによつて規
定される平面は、以下説明するように光源１１２
を面１３３の下に配置して、スペクトル光線１１
９により規定される平面に対し垂直とできる。

最初に入れたものを最初に出す基準でインキユ
ベーター５０から試験要素を順次取出すために、
取出し装置１３０は該要素の積重体から最下部の
試験要素Ｅを取出すために室５４の位置５８に配
置したエジエクタ部材１３２を含んでいる。試験
要素Ｅは開口１３６を通して、支持面１３３を横
切り矢印１３４の方向に動かされる（第２図と第
４図とを参照）エジエクタ部材１３２は、押出し
端１３８、上面１３９、下面１４０とを有する細
長いブレードである。端部１３８に近い下面１４
０の部分には分析装置の較正を行うため、白色の
規準コーテイング即ち標準面１４２と、黒い規準
コーテイング、即ち面１４４とを設けることが好
ましい。代替的に、黒い基準面の読取りはシヤツ
タ（図示せず）を使用するか、あるいは光源を消
すことにより行われ、白い規準面の読取りは光源
１１２の照度をモニターあるいは制御するフイー
ドバツクダイオード（図示せず）により行うこと
ができる。

エジエクタ部材１３２の前記端部１３８から離
れた方の部分１４８は、スプール１５２（第８
図）に巻つけられるケーブル１５０に対し締付部
材１４９により固定されている。スプール１５２
が回転すると、逆転可能モータ１５６により矢印
１５４の方向にエジエクタ部材１３２を往復運動
させる。１個以上のセンサ１５８、即ちアングル
部材１６０と協働する通常の光電スイツチがモー
タ１５６の作動を制御する。例えば後述するよう
にインキユベーターの外側で試験要素Ｅを読取る
ように放射計１１０を位置する場合に好ましい
が、エジエクタ部材１３２の移動範囲にわたつて
より正確に制御するためには、モータ１５６の代
りにステッパモータ（図示せず）が設けられ、該
モータはラツクとピニオン（図示せず）によりエ
ジエクタ部材１３２に作動連結できる。この場合
ラツクはエジエクタ部材１３２上にある。

代替的に、エジエクタ部材１３２の端部１３８
は二又とすることによつて、試験要素Ｅの縁部に
のみ係合するようにできる（図示せず）。

前述した部材の寸法は重要ではなく、中でも試
験要素の寸法が主要な要素であるいくつかの要因
によつて決まる。例えば約24mm×28mmの試験要素
に対しては、試験要素がインキユベーターの長手
方向軸線に対して横方向に滑合できるように該要
素の片側のみの縁部２３と２１の各々に対して約
0.25ミリの全体空隙を提供する距離だけ壁５２が
離される。代替的に、試験要素Ｅに対してその他
の寸法および（または）形状をとれば室の寸法又
は形状を適当に変更する様になる。

試験要素の寸法にかかわらず、インキユベータ
ーの位置５８で試験要素の観察部分を放射計１１
０に適正に整合させるために、該試験要素の外形
寸法は緊密な公差、即ち±0.25ミリ以下に保持す
ることが好ましい。代替的に、インキユベーター
５０の側壁５２の一方、好ましくは試験要素取出
し装置１３０（第４図）に最も近い方の側壁５２
を、該要素がインキユベーターの位置５８に到達
したとき該要素が押圧される基準面として使用す
る。そのように試験要素を押圧するために、エジ
エクタ部材１３２の上面１３９（第７図）には、
エジエクタ部材１３２がインキユベーター５０か
ら引出されるにつれて、次に観察すべき試験要素
Ｅを放射計１１０で読取る前に該要素Ｅと係合す
る摩擦材（図示せず）を設けておくことが好まし
い。この摩擦材は取出し装置１３０に最も近い壁
５２に対して試験要素Ｅを引張るよう作用する。
ウレタン製の小さなパツトが有用な摩擦材の代表
例である。

もしそのような摩擦材を使用すれば、エジエク
タ部材１３２は第１の試験要素Ｅがインキユベー
ター５０へ挿入される時該インキユベーター５０
中へ完全に延びることが好ましい。また、試験要
素Ｅは取出し装置１３０に最も近い壁に対して垂
直である壁５２（第３図）の１つの対して直交方
向に可動フインガ（図示せず）によつて押圧され
ることが好ましい。そのようなフインガはエジエ
クタ部材１３２の運動にリンクされることによつ
て取出し装置が作動すると室５４を空にする様に
なされている。

分析装置の作動は前述の説明から容易に明らか
となる。試験要素Ｅはプラツトフオーム３２上に
おかれ、そこで加熱され計量部所４０で液体の一
滴が滴下される。前記液体の滴はのどのような寸
法でも有用であるが、前述した形式の試験要素Ｅ
に対しては10μlが好ましい量であることが判明し
た。計量作業に続いて、操作者はハンドル３６を
インキユベーター５０に向つて押し、押出しフイ
ンガ３４が試験要素Ｅを室５４に向つて運動させ
るようにする。同時に、カム作用バー８６がリン
ク８０をして棒６６を上方へ運動させるように
し、カバー６２を室５４内で上方に夏動させる。
このように試験要素Ｅは室５４中におかれ、かつ
ハンドル３６が初期位置に戻ることによつてバー
８６をしてリンク８０を解放せしめ、カバー６２
は室５４の位置５８で試験要素Ｅ上へ落下する。
次に一定期間の培養が続くが、その間に色濃度あ
るいはその他の反応、例えば螢光光度反応が進行
する。この時間中に、別の試験要素Ｅに液体を滴
下させ前記と同様に順次室５４中へ該要素Ｅを置
くことができる。試験要素Ｅの試料を入れた部分
１４から発生するかもしれないガスも、その上方
にある試験要素の被覆関係、あるいは最上部の試
験要素Ｅ上のカバー６２により捕集されかつ囲ま
れる。その結果発生する圧力がガスを試験要素内
で保持しておこうとする。最終的に、かつ試験要
素Ｅに滴下したのと同じ順序で試験要素Ｅを放射
計１１０で読取り、信号が濃度に変換される。放
射計１１０による検出の後、試験要素Ｅはエジエ
クタ部材１３２によつて突出させられるか、取出
される。試験要素Ｅを取出すようエジエクタ部材
１３２が作動する毎に、コーテイング１４２と、
コーテイング１４４とがあればそれらが放射計１
１０により読取られ、分析装置２０の適正な較正
を保持する。

インキユベーター５０は、例えば37℃のよう
な、一定で所定の昇温温度に壁５２を保持するた
めに温度制御装置を含ませることも所要に応じて
できる。広範囲の通常の加熱技術が使用できる。
例えば壁５２の内部に、あるいは該壁と接触して
電気エレメント１６９（第３図）を取付け可能で
ある。そのような実施例においては、壁５２によ
り受動的に加熱されるか、あるいはそこに装着し
た電気エレメントにより能動的に加熱されるため
にカバー６２は熱伝導性金属であることが好まし
い。例えばアナライトが酵素である場合のよう
に、検出されたアナライトが温度によつて著しく
変わる場合には前述の温度制御装置が好ましい。

更に別の任意的な特徴としては最下部の試験要
素Ｅの支持面１９に沿つて矢印１７２の方向に空
気を導くノズル１７０（第７図）を位置５８に設
けることができる。そのような空気の流れは発生
水蒸気によつて支持面１９上に凝縮する可能性の
ある湿気を除去する。ノズル１７０には壁５２の
加熱部から通路１７４を介して送られた空気を供
給する。透明プレート１７８は、空気の流れが観
察されつつある試験要素Ｅに密着するにつれてコ
アンダ（Coanda）効果が発生するよう充分に該
要素Ｅの支持面から離して配置されている。

第１０図には、前述の実施例のように垂直でな
くむしろ水平方向に向けられた室をインキユベー
ターが有する代替的な実施例が示されている。前
述の実施例におけるものと類似の部材は、この代
替実施例でも同じ参照番号をつけており、代替実
施例による部材の参照番号には区別上の接尾辞
「ａ」を付している。従つて、長手方向の軸線６
０ａと、試験要素読取り位置５８ａとを有する細
長い室５４ａを形成する壁５２ａを有するインキ
ユベーター５０ａが示されている。試験要素Ｅは
各々次の隣接する試験要素Ｅと接触するよう室５
４ａ中へ挿入され、フレーム部材１５は軸線６０
ａに対して概ね横断方向に延びている。しかしな
がら、試験要素Ｅはこの場合垂直の開口５５ａを
通して挿入され、位置５６ａから５８ａへと移動
する場合に概ね垂直方向に保持される。このよう
に試験要素Ｅを押圧運動させる装置はカバー６２
ａであり、該カバー６２ａは棒６６ａに取付けら
れてばね２１０によつてカバー６２ａを位置５８
ａに向つて運動させるよう押圧されている。棒６
６ａは、前述の実施例で説明したのと同様に取出
し装置と協働して往復運動する。検出後の試験要
素Ｅを突出させることも前述と同様に行われる。

インキユベーターおよびその他の説明した構成
装置の部材は通常の設計上の配慮によつて決定さ
れるが、金属あるいはプラスチツク製である。壁
５２と、位置５８の部分２１２（第３図）は加熱
するとなれば、例えば銅のような金属製が好まし
く、一方通路１１３と１２１とを画成する部分は
熱損失を制止するためプラスチツク製が好まし
い。

更に別の実施例（図示せず）においては、試験
要素がインキユベーターから出された後に各々の
反応を個々に支持面１３３の下方から検出するた
めに、放射計がインキユベーターの外側で作動す
るように配置されている。検出装置のこのような
配置は、もし放射計が前述のようにインキユベー
ターの底部に位置した場合、透明すぎて隣接する
試験要素までも感知してしまうような試験要素に
対しては特に好ましい。そのような実施例におい
ては、支持面の上方に裏打ち面（図示せず）が配
置され、この面は試験要素が介在していない場合
に走査される白色の基準コーテイングを含むこと
が好ましい。インキユベーターの室５４の外側で
作動するように配置された放射計は、試験要素が
通路１３４に沿つて飛び出す際、窓１８において
該要素の読取り可能な支持部分へ光線を導く。

本発明による分析装置の利点は前述の説明から
容易に明らかとなる。時間には無関係に試験要素
への近接が高処理能力で可能である。インキユベ
ーター自体が回転しているのでなくみしろ静止し
ているため、インキユベーターに対してモータ、
歯車、あるいは制御、即ち回転を許容する加熱制
御は必要とされない。通常の前述した装置以外、
試験要素をインキユベーター中から適切に取出す
ために、アドレス指示とかコンピユータによるア
ドレス追跡の必要性はない。試験要素間に空間が
必要とされないため、インキユベーターの寸法は
最小に下げられる。最後に、発生ガス制御につい
ては、試験要素自体の配置により提供されるの
で、インキユベーター室内での特殊な部材の必要
性を排除する。その結果例えば医師の事務所にお
いて特に有用な分析装置が提供される。

【図面の簡単な説明】

第１図は、ある部分は破断し、他の部分は概略
的に示す本発明により構成した分析装置の部分斜
視図；第２図は組立てられた分析装置の部分斜視
図；第３図はエジエクタ部材側からみた、分析装
置の培養装置の部分断面図；第４図は、判り易く
するために計量区画を除去し、部分的に断面で示
す分析装置の側面図；第５図は分析装置の平面
図；第６図は試験要素積込み装置の一部の部分斜
視図；第７図は、一部を断面で示す、試験要素取
出し装置のエジエクタ部材の側面図；第８図は全
体的に第７図の線８−８に沿つてみた断面図；第
９図はエジエクタ部材の斜視図；第１０図は第３
図と類似であるが、インキユベーターの代替的な
実施例を示す図面である。図において、Ｅ……試験要素；１４……試料を
入れた部分；１９……支持面；３０……試験要素
を装填する手段；１１０…検出するための手段。

Claims

【特許請求の範囲】１試料を入れた部分を含む主要面と、該主要面
を支持するための一つ、又はそれ以上の支持面と
を有する概ね平坦な試験要素における試料アナラ
イトを分析する装置であつて、上記試験要素を当該装置に第１の位置で装填す
るための手段と、上記試験要素内の試料アナライトによつて形成
された検出可能の反応物を第２の位置で検出する
ための手段と、第１と第２の位置の間に形成された通路を有
し、該通路に沿つて複数の上記試験要素を、隣接
する試験要素が相互に接触するようにし、かつ、
同試験要素のうち最も新しく装填されたもの以外
のすべての試料を入れた部分が隣接する試験要素
の前記一つ、又はそれ以上の支持面によつて覆わ
れた状態で当該通路に沿つて動かされるように支
持する手段と、を有することを特徴とする試料ア
ナライト分析装置。