JPH0231435A - ワイヤボンディング装置 - Google Patents
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はワイヤボンディング装置に係り、特に半導体素
子を超音波熱圧着法によりワイヤボンディングを行なう
ために用いて好適な超音波ワイヤボンディング装置の改
良に関する。
子を超音波熱圧着法によりワイヤボンディングを行なう
ために用いて好適な超音波ワイヤボンディング装置の改
良に関する。
たとえばIC,LSIおよびトランジスタ等の半導体装
置を製造するにあたって、半導体素子側の表面電極とこ
の半導体素子載置台側の外部接続用電極とを、金線など
の金属鋼線を繰出しながら順次接続するワイヤボンディ
ングが従来から一般に行なわれている。
置を製造するにあたって、半導体素子側の表面電極とこ
の半導体素子載置台側の外部接続用電極とを、金線など
の金属鋼線を繰出しながら順次接続するワイヤボンディ
ングが従来から一般に行なわれている。
このようなワイヤボンディングを行なう従来の超音波ワ
イヤボンディング装置を第4図を用いて簡単に説明する
と、符号1は超音波振動を用いてポンディングを行なう
ポンディングヘッド本体で、このヘッド本体lはベツド
2上でXテーブル2aおよびYテーブル2bによりX、
Y方向(前後、左右方向)に移動可能に構成されている
。
イヤボンディング装置を第4図を用いて簡単に説明する
と、符号1は超音波振動を用いてポンディングを行なう
ポンディングヘッド本体で、このヘッド本体lはベツド
2上でXテーブル2aおよびYテーブル2bによりX、
Y方向(前後、左右方向)に移動可能に構成されている
。
3はワイヤボンディングを行なう金線などの金属鋼線で
、ヘッド本体1の上方に配設される図示しない供給スプ
ール側からポンディング消費量に見合った必要量が徐々
に繰出し供給されるようになっている。
、ヘッド本体1の上方に配設される図示しない供給スプ
ール側からポンディング消費量に見合った必要量が徐々
に繰出し供給されるようになっている。
4.5はヘッド本体1前面部に上、下に並んで保持され
ている第1および第2のクランパで、図示しない電磁ソ
レノイド等のオン・オフ動作によりヘッド本体l前面部
において上方から吊下げ状態で供給される金属鋼線3を
、ポンディング動作に連動して緊縛、弛緩するような開
閉動作を行なうように構成されている。ここで、第1の
クランパ4はヘッド本体1に固定され、第2のクランパ
5は後述するキャピラリ7と連動して上下方向に動くよ
うにヘッド本体1に装着されている。
ている第1および第2のクランパで、図示しない電磁ソ
レノイド等のオン・オフ動作によりヘッド本体l前面部
において上方から吊下げ状態で供給される金属鋼線3を
、ポンディング動作に連動して緊縛、弛緩するような開
閉動作を行なうように構成されている。ここで、第1の
クランパ4はヘッド本体1に固定され、第2のクランパ
5は後述するキャピラリ7と連動して上下方向に動くよ
うにヘッド本体1に装着されている。
6はこれらクランパ4,5の下方でヘッド本体lの前面
部下方に突出して設けられた超音波ホーン、7はこの超
音波ホーン6に保持されて所要のポンディング動作を行
なうキャピラリで、金属鋼線3が第1および第2のクラ
ンパ4,5、さらにキャピラリ7を通りワイヤボンディ
ングされる。
部下方に突出して設けられた超音波ホーン、7はこの超
音波ホーン6に保持されて所要のポンディング動作を行
なうキャピラリで、金属鋼線3が第1および第2のクラ
ンパ4,5、さらにキャピラリ7を通りワイヤボンディ
ングされる。
なお、8はポンディング時において金属鋼線3先端にポ
ールを形成するためのトーチ電極である。
ールを形成するためのトーチ電極である。
このような構成による超音波ワイヤボンディング装置に
よるボンディング動作は、概略第5図に示すように行な
われる。なお、図中9aは半導体素子、9bはリードフ
レームで、これら間の電極間にワイヤボンディングが行
なわれる。
よるボンディング動作は、概略第5図に示すように行な
われる。なお、図中9aは半導体素子、9bはリードフ
レームで、これら間の電極間にワイヤボンディングが行
なわれる。
これを簡単に説明すると、同図(a)は半導体素子9a
にポールポンドする状態を示し、このときには第2のク
ランパ5は開き、第1のクランパ4は閉じている。そし
て、同図(b)に示すようにキャピラリ7が半導体素子
9a上に下降して当接し、超音波熱圧着を行なった後、
同図(C)に示すように上昇する。このとき、前記第2
のクランパ5は開状態を維持されてキャピラリ7の上下
移動と連動して上下移動しており、また前記第1のクラ
ンパ4は閉じており、キャピラリ7が上述したように上
昇した後に開動作する。
にポールポンドする状態を示し、このときには第2のク
ランパ5は開き、第1のクランパ4は閉じている。そし
て、同図(b)に示すようにキャピラリ7が半導体素子
9a上に下降して当接し、超音波熱圧着を行なった後、
同図(C)に示すように上昇する。このとき、前記第2
のクランパ5は開状態を維持されてキャピラリ7の上下
移動と連動して上下移動しており、また前記第1のクラ
ンパ4は閉じており、キャピラリ7が上述したように上
昇した後に開動作する。
そして、同図(d)に示すように第1および第2のクラ
ンパ4,5が開状態のままでヘッド本体1がリードフレ
ーム9b側に移動し、この移動に伴なって第2のクラン
パ5も移動し、ワイヤループを形成する0次に、同図(
e)に示すように、リードフレーム9b側にもポンディ
ングを行ない、キャピラリ7が上昇しながら第2のクラ
ンパ5も上昇し、第2のクランパ5が閉じて金属鋼線3
を切断する。そして、同図(f)に示すようにトーチ電
極8で金属鋼線3の先端にポールを作る。このときには
、第1および第2のクランパ4.5は閉状態となってい
る。なお、上述した第2のクランパ5は、このトーチ電
極8のグランドを兼ている。
ンパ4,5が開状態のままでヘッド本体1がリードフレ
ーム9b側に移動し、この移動に伴なって第2のクラン
パ5も移動し、ワイヤループを形成する0次に、同図(
e)に示すように、リードフレーム9b側にもポンディ
ングを行ない、キャピラリ7が上昇しながら第2のクラ
ンパ5も上昇し、第2のクランパ5が閉じて金属鋼線3
を切断する。そして、同図(f)に示すようにトーチ電
極8で金属鋼線3の先端にポールを作る。このときには
、第1および第2のクランパ4.5は閉状態となってい
る。なお、上述した第2のクランパ5は、このトーチ電
極8のグランドを兼ている。
従来装置は以上の構成とされているので、第2のクラン
パ5が確実に閉じてなければ、金属鋼線3を切断するこ
とができず、またポールを作ることもできないものであ
り、さらに第1および第2のクランプ4.5等の閉じる
タイミングが異なるとポールの大きさも変化し、半導体
素子上へのポンディング時にポールの圧着径が変わるこ
とになり、ポンディングの信頼性を確保できない等の問
題もあった。
パ5が確実に閉じてなければ、金属鋼線3を切断するこ
とができず、またポールを作ることもできないものであ
り、さらに第1および第2のクランプ4.5等の閉じる
タイミングが異なるとポールの大きさも変化し、半導体
素子上へのポンディング時にポールの圧着径が変わるこ
とになり、ポンディングの信頼性を確保できない等の問
題もあった。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたも
のであって、クランパの動きをセンサにより監視し、タ
イミングのずれによる不具合をも検知し、半導体装置を
製造するにあたってのポンディング不良をなくし、品質
向上を図ってなるワイヤボンディング装置を得ることを
目的とじている。
のであって、クランパの動きをセンサにより監視し、タ
イミングのずれによる不具合をも検知し、半導体装置を
製造するにあたってのポンディング不良をなくし、品質
向上を図ってなるワイヤボンディング装置を得ることを
目的とじている。
このような要請に応えるために本発明に係るワイヤボン
ディング装置は、ヘッド本体前面部に設けられるクラン
パのクランプ動作が確実に行なわれているかどうかを検
知するセンサを、それぞれに配置したものである。
ディング装置は、ヘッド本体前面部に設けられるクラン
パのクランプ動作が確実に行なわれているかどうかを検
知するセンサを、それぞれに配置したものである。
本発明によれば、クランパにおけるクランプ動作のタイ
ミングを、センサで監視することにより、ボンディング
動作とのタイミング調整を図り、ポンディング不良の発
生を防止するものである。
ミングを、センサで監視することにより、ボンディング
動作とのタイミング調整を図り、ポンディング不良の発
生を防止するものである。
第1図ないし第3図(a)、(b)は本発明を適用した
超音波ワイヤボンディング装置の一実施例を示すもので
あり、これらの図において前述した第4図等と同一また
は相当する部分には同一番号を付してその説明は省略す
る。
超音波ワイヤボンディング装置の一実施例を示すもので
あり、これらの図において前述した第4図等と同一また
は相当する部分には同一番号を付してその説明は省略す
る。
さて、本発明によれば、前述したような超音波ワイヤボ
ンディング装置においてヘッド本体1前面部に設けられ
る第1および第2のクランパ4゜5のクランプ動作、つ
まり開閉動作が確実に行なわれているかどうかを検知す
ることで監視するセンサとして、たとえば反射型センサ
10,10を、それぞれのクランパ4,5におけるクラ
ンプ板11.11の真下などに近接対向させて配置し、
各クランプ板11.11の動きを反射によって監視する
ようにしたものである。
ンディング装置においてヘッド本体1前面部に設けられ
る第1および第2のクランパ4゜5のクランプ動作、つ
まり開閉動作が確実に行なわれているかどうかを検知す
ることで監視するセンサとして、たとえば反射型センサ
10,10を、それぞれのクランパ4,5におけるクラ
ンプ板11.11の真下などに近接対向させて配置し、
各クランプ板11.11の動きを反射によって監視する
ようにしたものである。
そして、このような構成によれば、第3図(a)。
(b)から明らかなように、正常なりランプ開動作では
、反射型センサ10は、クランプ板11のみの反射によ
りオンし、一方クランプした状態ではクランプ支持板1
2が反射しないのでオフとなるように設定することがで
きる。したがって、コントローラzOからクランプ指令
が送出されたタイミングから、ある一定時間内にセンサ
lOの信号がオンからオフに変化しなければ、コントロ
ーラ20はアラーム(警告信号)を送出し、装置動作を
停止させる等の制御を行なえるもので、その結果従来の
ようなポンディング不良の発生を防止し得るものである
。
、反射型センサ10は、クランプ板11のみの反射によ
りオンし、一方クランプした状態ではクランプ支持板1
2が反射しないのでオフとなるように設定することがで
きる。したがって、コントローラzOからクランプ指令
が送出されたタイミングから、ある一定時間内にセンサ
lOの信号がオンからオフに変化しなければ、コントロ
ーラ20はアラーム(警告信号)を送出し、装置動作を
停止させる等の制御を行なえるもので、その結果従来の
ようなポンディング不良の発生を防止し得るものである
。
なお、本発明は上述した実施例構造に限定されず、ワイ
ヤボンディング装置各部の形状、構造等を、適宜変形、
変更することは自由で、種々の変形例が考えられよう、
たとえば前述した実施例では、クランパ4.5のクラン
プ動作を監視するセンサとして、反射型のものを用いた
場合を例示したが、透過型センサなとであってもよいこ
とは勿論である。また、クランプ板11側に歪ゲージ等
の歪センサを設け、その信号でクランプ動作を検知する
ようにしてもよい。
ヤボンディング装置各部の形状、構造等を、適宜変形、
変更することは自由で、種々の変形例が考えられよう、
たとえば前述した実施例では、クランパ4.5のクラン
プ動作を監視するセンサとして、反射型のものを用いた
場合を例示したが、透過型センサなとであってもよいこ
とは勿論である。また、クランプ板11側に歪ゲージ等
の歪センサを設け、その信号でクランプ動作を検知する
ようにしてもよい。
以上説明したように本発明に係るワイヤボンディング装
置によれば、ヘッド本体前面部に設けられるクランパの
クランプ動作を監視するセンナを付設するようにしたの
で、ポンディング動作とクランプ動作とのタイミングを
対比し、タイミングが合わないときには装置動作を停止
させることで、不良品の発生を防ぎ、半導体装置を製造
するにあたっての品質を大幅に向上させることができる
という優れた効果がある。
置によれば、ヘッド本体前面部に設けられるクランパの
クランプ動作を監視するセンナを付設するようにしたの
で、ポンディング動作とクランプ動作とのタイミングを
対比し、タイミングが合わないときには装置動作を停止
させることで、不良品の発生を防ぎ、半導体装置を製造
するにあたっての品質を大幅に向上させることができる
という優れた効果がある。
第1図は本発明を適用した超音波ワイヤボンディング装
置の一実施例を示す概略側面図、第2図はその要部正面
図、第3図(a)、(b)はその要部とするクランパに
付設したセンサの動作状態を説明するための要部拡大図
、第4図は従来装置を例示する概略側面図、第5図(a
)〜(f)はポンディング動作を説明するための図であ
る。 1・・・・ポンディングへラド本体、3・・・・金属鋼
線、4.5・・・・第1および第2のクランパ、7・・
・・キャピラリ、10−・・・センサ(反射型センナ)
、11・・・・クランプ板、12・・・・クランプ支持
板、20・・・・コントローラ。
置の一実施例を示す概略側面図、第2図はその要部正面
図、第3図(a)、(b)はその要部とするクランパに
付設したセンサの動作状態を説明するための要部拡大図
、第4図は従来装置を例示する概略側面図、第5図(a
)〜(f)はポンディング動作を説明するための図であ
る。 1・・・・ポンディングへラド本体、3・・・・金属鋼
線、4.5・・・・第1および第2のクランパ、7・・
・・キャピラリ、10−・・・センサ(反射型センナ)
、11・・・・クランプ板、12・・・・クランプ支持
板、20・・・・コントローラ。
Claims (1)
- ワイヤボンディングを行なうためのヘッド本体の金属鋼
線クランプ機構に、そのクランプ動作を監視するセンサ
を設けたことを特徴とするワイヤボンディング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63181107A JPH0231435A (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | ワイヤボンディング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63181107A JPH0231435A (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | ワイヤボンディング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0231435A true JPH0231435A (ja) | 1990-02-01 |
Family
ID=16094971
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63181107A Pending JPH0231435A (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | ワイヤボンディング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0231435A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007009250A (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-18 | Daiken Kagaku Kogyo Kk | 電子部品の結線方法及び電子部品 |
-
1988
- 1988-07-20 JP JP63181107A patent/JPH0231435A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007009250A (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-18 | Daiken Kagaku Kogyo Kk | 電子部品の結線方法及び電子部品 |
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