JPH0231154A - 超音波探傷画像処理装置 - Google Patents

超音波探傷画像処理装置

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Publication number
JPH0231154A
JPH0231154A JP63179038A JP17903888A JPH0231154A JP H0231154 A JPH0231154 A JP H0231154A JP 63179038 A JP63179038 A JP 63179038A JP 17903888 A JP17903888 A JP 17903888A JP H0231154 A JPH0231154 A JP H0231154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw detection
signal
flaw
ultrasonic
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63179038A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromasa Sakaigawa
境川 洋聖
Tetsuo Taguchi
哲夫 田口
Hirotoshi Kino
裕敏 木野
Mitsuo Kakoi
美津男 拵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
Priority to JP63179038A priority Critical patent/JPH0231154A/ja
Publication of JPH0231154A publication Critical patent/JPH0231154A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、超音波探傷画像処理装置に係り、特に、欠陥
の形状、傾きを、より正確に表示させるのに好適な超音
波探傷画像処理装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の装置は、特開昭62−34101号公報に記載の
ように、超音波探傷器からの超音波エコー信号を、バッ
ファメモリーに取込む際、超音波エコー信の全てを取込
み、その時の探傷角度データ、及び、探傷位置データを
処理することにより欠陥像を表示している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術は、超音波特有のビームの拡がり、縦波、
横波での反射強度の異差等の点について考慮がされてお
らず、また、欠陥の評価上置も重要となる分鮮能の点に
ついても考慮がされていない。
このため、実欠陥に対し、過大、過少の評価を行なう恐
れがあり、画像上での評価が困難であった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、超音波の進行方向に対し、直角方向の反射体
、つまり、欠陥での反射効率が最も高くなることに着目
し、ある探傷範囲での超音波の反射波が最大となる探傷
角度を求め、その角度データ、路程データ(探傷角度上
)、探傷位置データを処理することにより、実欠陥に近
い欠陥像を表示するようにしたものである。
〔作用〕
被検査体内の欠陥に、扇状の超音波を照射した場合、特
に、割れ状欠陥等では、扇状のいずれかの探傷角度が、
欠陥に対して直角となる。また、ドリルホール状の欠陥
にも同様のことが言えるゆここで、仮に、被検査体の探
傷面に対し、45度方向の割れ状欠陥があるとした場合
、この欠陥からの超音波反射強度の最大は、探傷面の垂
線に対し45度方向の探傷角度となる。45度以外の探
傷角度を見た場合、割れ状欠陥との垂直度がなくなる程
超音波反射強度も低下していく。
そこで、扇状の超音波照射−回で一点の探傷角度データ
をもどに、欠陥像を表示し5次に、探触子を走査し、同
一のデータを表示させていけばよい。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面にもとづいて説明する。
第1図に、超音波探傷画像表示装置の全体構成図を示す
、探触子1は、超音波探傷器3の送信パルス101aに
より被検査体6内に超音波を送信する。この超音波が欠
陥で反射された反射波が、探触子1で電気信号に変換さ
れる。この変換された電気信号101bを超音波探傷器
3は、増幅し。
超音波エコー信号102として画像処理部4へ出力する
。この信号と1位置検出器2からの探触子1の位置を示
す位置信号103、及び、探触子1からの探傷角度を示
す探傷角度信号104により。
画像処理部4では、被検査体6の断面像を作成し表示器
5に表示する。
第2図に、本発明における一実施例である画像処理部の
構成を示す。
マイクロコンピュータ10より同期信号105を超音波
探傷器3に出力する。この結果、超音波エコー信号10
2がエコー比較回路11に入力される。エコー比較回路
11は、あらかじめ設定する探傷範囲での最大ピークの
超音波エコー信号を保持し、このエコー信号をディジタ
ル化する。
次に、探傷角度保持回路12は、エコー比較回路11か
らの角度保持信号106により、超音波エコー信号10
2が最大ピークとなる探傷角度を保持し、これをディジ
タル化する。
偏向回路7には、位置信号103が入力される。
そこで、マイクロコンピュータ10からの探傷終了信号
107と、データ転送制御回路9の制御によりディジタ
ル画像メモリ8上に展開する。
この展開に際しては、偏向回路8により、選択された条
件に基づいて展開される。そして、ディジタル画像メモ
リ9からテレビ信号108として読み出し1表示器5に
欠陥像を表示する。
第3図(a)、(b)に、本発明における欠陥検出方法
を示す。
まず、第3図(a)は、被検査体6内の欠陥13におけ
る各探、傷角度A1〜Anのビーム路程を示したもので
ある0次に、第3図(b)は、各探傷角度での超音波の
反射強度を示す。
そこで、探触子位置P点では、第3図(b)に示すよう
に、反射強度が最大となる探傷角度A2における角度デ
ータと、超音波エコーデータを取込み処理するようにし
た。
また、探触子位置P′点でも同様の条件でデータを取込
む。
第4図は1本発明における具体的回路例を示す。
超音波エコー信号102は、ピークホールド回路14、
及び、A/D変換回路15によりディジタル化する。ま
た、探傷角度信号104は、A/D変換回路19により
ディジタル化される。
初期設定回路16は、超音波エコー信号102と比較す
る際の初期データを設定するものである。
エコー比較回路17は、ディジタル化されたエコーデー
タと、初期データを比較すると共に、データの値が大き
い方を保持回路18に出力し、角度保持信号106を、
探傷角度保持回路12に出力する。ここで、比較回路1
7の比較するタイミングは、マイクロコンピュータ10
の同期信号105に同期しており、この周期で、角度保
持信号106も出力される。
次に、保持回路18のエコーデータと、探傷角度保持回
路12の角度データは、マイクロコンピュータ10であ
らかじめ設定する探傷範囲の終了信号107により出力
される。
〔発明の効果〕
本発明によれば、被検査体内の欠陥の形状及び傾きを、
実欠陥に近いかたちで表示することができる。また、超
音波特有のビームの拡がりによる欠陥像の過大表度を防
ぎ、高分解能で表示することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の超音波探傷画像表示装置
のブロック図、第2図は1本発明における画像処理部の
ブロック図、第3図は、本発明における欠陥検出方法の
説明図、第4図は、本発明における具体的回路のブロッ
ク図を示す。 1・・・探触子、2・・・位置検出器、3・・・超音波
探傷器、4・・・画像処理部、5・・・表示器、6・・
・被検査体、7・・・偏向回路、8・・・ディジタル画
像メモリ、9・・・データ転送制御回路、10・・・マ
イクロコンピュータ、11.17・・エコー比較回路、
12・・・探傷角度保持回路、13・・・欠陥、14・
・・ピークホールド回路、15.19・・・A/D変換
回路、16・・・初期設定回路、18・・・保持回路。 第 1 図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、超音波の送受信を行なう探触子と、前記接触子を駆
    動し、超音波エコー信号を出力する探傷器と、前記探触
    子の走査位置信号を出力する位置検出器と、前記超音波
    エコー信号及び、前記走査位置信号により画像処理を行
    なう画像処理部と、処理結果を表示する表示器とからな
    る超音波探傷画像処理装置において、 前記超音波エコー信号の比較を行なう比較回路と、前記
    超音波エコー信号の基準値における探傷角度を保持する
    保持回路を設けたことを特徴とする超音波探傷画像処理
    装置。 2、特許請求の範囲第1項において、 前記比較回路及び、前記保持回路を複数個設けることを
    特徴とする超音波探傷画像処理装置。
JP63179038A 1988-07-20 1988-07-20 超音波探傷画像処理装置 Pending JPH0231154A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63179038A JPH0231154A (ja) 1988-07-20 1988-07-20 超音波探傷画像処理装置

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JP63179038A JPH0231154A (ja) 1988-07-20 1988-07-20 超音波探傷画像処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0231154A true JPH0231154A (ja) 1990-02-01

Family

ID=16059034

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63179038A Pending JPH0231154A (ja) 1988-07-20 1988-07-20 超音波探傷画像処理装置

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JP (1) JPH0231154A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5590969A (en) * 1992-09-28 1997-01-07 Tdk Corporation Wear-resistant protective film for thermal printing heads

Cited By (1)

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