JPH02311061A - 加入者線試験方式 - Google Patents
加入者線試験方式Info
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- JPH02311061A JPH02311061A JP13318889A JP13318889A JPH02311061A JP H02311061 A JPH02311061 A JP H02311061A JP 13318889 A JP13318889 A JP 13318889A JP 13318889 A JP13318889 A JP 13318889A JP H02311061 A JPH02311061 A JP H02311061A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 89
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は加入者線試験方式に関し、特に加入者線試験台
より試験トランクを介して加入者線の試験を行う交換シ
ステムの加入者線試験方式に関する。
より試験トランクを介して加入者線の試験を行う交換シ
ステムの加入者線試験方式に関する。
従来、この種の加入者線試験方式として、試験トランク
が、加入者線試験台からの４種類の試験モード指示信号
をトランクごとに割当てられた２ビツトのスキャン信号
で表現し、１ピツ１へずつシーケンシャルに交換システ
ムの中央処理装置に報告する方式がある。
が、加入者線試験台からの４種類の試験モード指示信号
をトランクごとに割当てられた２ビツトのスキャン信号
で表現し、１ピツ１へずつシーケンシャルに交換システ
ムの中央処理装置に報告する方式がある。
上述した従来の加入者線試験方式は、中央処理装置への
報告に使用される２ビツトのスキャン信号が１ビツトず
つ独立したタイミングの信号であり、中央処理装置は、
このスキャン信号を１回の読取りでは認識できず、２回
読取ってその組合わせにより認識する方式となっている
。
報告に使用される２ビツトのスキャン信号が１ビツトず
つ独立したタイミングの信号であり、中央処理装置は、
このスキャン信号を１回の読取りでは認識できず、２回
読取ってその組合わせにより認識する方式となっている
。
このため、加入者線試験台が試験モード指示信号を送信
するタイミングによっては、中央処理装置側で２ビツト
の組合わせを正常に読取ることができず、試験モード指
示信号を誤認する場合がある。
するタイミングによっては、中央処理装置側で２ビツト
の組合わせを正常に読取ることができず、試験モード指
示信号を誤認する場合がある。
本発明の目的は、加入者線試験台からの試験モード指示
信号を、その送信タイミングにかかわらず、中央処理装
置が正常に認識できる加入者線試験方式を提供すること
である。
信号を、その送信タイミングにかかわらず、中央処理装
置が正常に認識できる加入者線試験方式を提供すること
である。
本発明の加入者線試験方式は、加入者線の試験指示を行
う加入者線試験台と、前記加入者線試験台からの試験情
報を受信し前記試験情報を中央処理装置に伝達する試験
トランクとを備えた交換システムの加入者線試験方式に
おいて、前記試験トランクが、前記加入者線試験台から
の各試験情報それぞれを通話周波数帯域の信号の組合わ
せで表現し、前記中央処理装置に伝達することを特徴と
する。
う加入者線試験台と、前記加入者線試験台からの試験情
報を受信し前記試験情報を中央処理装置に伝達する試験
トランクとを備えた交換システムの加入者線試験方式に
おいて、前記試験トランクが、前記加入者線試験台から
の各試験情報それぞれを通話周波数帯域の信号の組合わ
せで表現し、前記中央処理装置に伝達することを特徴と
する。
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
試験トランク４は、通話線２および試験モード指示制御
線３を介して試験指示を行う加入者線試験台１と接続さ
れ、ハイウェイ５を介してタイムスイッチ７と接続され
、メタリック・アクセス線６を介して加入者線テストリ
ンク１３と接続されている。
線３を介して試験指示を行う加入者線試験台１と接続さ
れ、ハイウェイ５を介してタイムスイッチ７と接続され
、メタリック・アクセス線６を介して加入者線テストリ
ンク１３と接続されている。
この試験トランク４は、試験モード指示制御線３に接続
され加入者線試験台１がらの試験モード指示信号を受信
する試験モード指示信号受信回路４１と、試験モード指
示信号受信回路４１の受信信号に従ってＭＦ倍信号出力
するＭＦＦ出回路４２と、ハイウェイ５に接続され入出
力信号のアナログ・ディジタル変換を行うコープイック
４３と、通話線２．メタリック・アクセス線６．ＭＦ送
出回路４２およびコープイック４３相互間の接続を切替
える通話路切替回路４４とを備えている。
され加入者線試験台１がらの試験モード指示信号を受信
する試験モード指示信号受信回路４１と、試験モード指
示信号受信回路４１の受信信号に従ってＭＦ倍信号出力
するＭＦＦ出回路４２と、ハイウェイ５に接続され入出
力信号のアナログ・ディジタル変換を行うコープイック
４３と、通話線２．メタリック・アクセス線６．ＭＦ送
出回路４２およびコープイック４３相互間の接続を切替
える通話路切替回路４４とを備えている。
タイムスイッチ７は、中央処理装置８と接続され制御を
受けるとともに、ＭＰ倍信号受信し解読した信号を中央
処理装置８に送信するサービストランクつと接続され、
加入者線テストリンク１３経由で加入者線１１．加入者
端末１２を収容した加入者回路１０と接続されている。
受けるとともに、ＭＰ倍信号受信し解読した信号を中央
処理装置８に送信するサービストランクつと接続され、
加入者線テストリンク１３経由で加入者線１１．加入者
端末１２を収容した加入者回路１０と接続されている。
次に動作を説明する。
まず、加入者線試験台１から通話線２を通して試験トラ
ンク４へ起動信号を送信する。この起動信号は通話路切
替回路４４を介してコープイック４３に入力され、１ビ
ツトのスキャン信号としてハイウェイ５．タイムスイッ
チ７を経由して中央処理装置８に送られる。中央処理装
置８は、この信号を受信すると、試験用接続動作の準備
を開始する。
ンク４へ起動信号を送信する。この起動信号は通話路切
替回路４４を介してコープイック４３に入力され、１ビ
ツトのスキャン信号としてハイウェイ５．タイムスイッ
チ７を経由して中央処理装置８に送られる。中央処理装
置８は、この信号を受信すると、試験用接続動作の準備
を開始する。
引き続き、加入者線試験台１から被試験加入者番号がＭ
Ｆ倍信号して送られる。この信号は試験トランク４．ハ
イウェイ５．タイムスイッチ７を通してサービストラン
ク９で受信され、解読された被試験加入者番号が中央処
理装置８へ送られる。
Ｆ倍信号して送られる。この信号は試験トランク４．ハ
イウェイ５．タイムスイッチ７を通してサービストラン
ク９で受信され、解読された被試験加入者番号が中央処
理装置８へ送られる。
その後、加入者線試験台１から試験モード指示制御線３
を通して試験モード指示信号が試験トランク４に送られ
てくる。この試験モード指示には、加入者回路１０の試
験、加入者線１１の試験、加入者端末１２の試験、試験
の終了の４種類の指示がある。
を通して試験モード指示信号が試験トランク４に送られ
てくる。この試験モード指示には、加入者回路１０の試
験、加入者線１１の試験、加入者端末１２の試験、試験
の終了の４種類の指示がある。
試験トランク４は、試験モード指示信号受信回路４１で
受信した試験モード指示信号を、ＭＦ送送出絡路４２通
話周波数帯域の６周波のうち２周波の組合せを使用した
ＭＦ倍信号変換し、これを通話路切替回路４４．コープ
イック４３経由でハイウェイ５に送出する。サービスト
ランク９は、このＭＰ倍信号タイムスイッチ７経由で受
信し、解読した試験モード指示信号を中央処理装置８へ
送信する。
受信した試験モード指示信号を、ＭＦ送送出絡路４２通
話周波数帯域の６周波のうち２周波の組合せを使用した
ＭＦ倍信号変換し、これを通話路切替回路４４．コープ
イック４３経由でハイウェイ５に送出する。サービスト
ランク９は、このＭＰ倍信号タイムスイッチ７経由で受
信し、解読した試験モード指示信号を中央処理装置８へ
送信する。
この後の動作は従来と同様に行われる。中央処理装置８
は、加入者線テストリンク１３を制御し、メタリック・
アクセス線６を介して加入者回路１０．加入者線１１．
加入者端末１２を試験トランク４に引込む。試験トラン
ク４は通話路切替回路４４によりメタリック・アクセス
線６と通話線２とを接続する。これにより、加入者線試
験台１から加入者回路１０．加入者線１１．加入者端末
１２の各種試験を行うことができる。
は、加入者線テストリンク１３を制御し、メタリック・
アクセス線６を介して加入者回路１０．加入者線１１．
加入者端末１２を試験トランク４に引込む。試験トラン
ク４は通話路切替回路４４によりメタリック・アクセス
線６と通話線２とを接続する。これにより、加入者線試
験台１から加入者回路１０．加入者線１１．加入者端末
１２の各種試験を行うことができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の加入者線試験方式は、加
入者線試験台からの試験モード指示信号を通話周波数帯
域の信号の組合わせで表現し、この組合わせた信号を同
一タイミングで送受信するため、中央処理装置が試験モ
ード指示信号を誤認することがないという効果がある。
入者線試験台からの試験モード指示信号を通話周波数帯
域の信号の組合わせで表現し、この組合わせた信号を同
一タイミングで送受信するため、中央処理装置が試験モ
ード指示信号を誤認することがないという効果がある。
図面の簡単な説明
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
１・・・加入者線試験台、２・・・通話線、３・・・試
験モード指示制御線、４・・・試験トランク、５・・・
ハイウェイ、６・・・メタリック・アクセス線、７・・
・タイムスイッチ、８・・・中央処理装置、９・・・サ
ービストランク、１０・・・加入者回路、１１・・・加
入者線、１２・・・加入者端末、１３・・・加入者線テ
ストリンク、４１・・・試験モード指示信号受信回路、
４２・・・ＭＦ送出回路、４３・・・コープイック、４
４・・・通話路切替回路。
験モード指示制御線、４・・・試験トランク、５・・・
ハイウェイ、６・・・メタリック・アクセス線、７・・
・タイムスイッチ、８・・・中央処理装置、９・・・サ
ービストランク、１０・・・加入者回路、１１・・・加
入者線、１２・・・加入者端末、１３・・・加入者線テ
ストリンク、４１・・・試験モード指示信号受信回路、
４２・・・ＭＦ送出回路、４３・・・コープイック、４
４・・・通話路切替回路。
Claims (1)
- 加入者線の試験指示を行う加入者線試験台と、前記加入
者線試験台からの試験情報を受信し前記試験情報を中央
処理装置に伝達する試験トランクとを備えた交換システ
ムの加入者線試験方式において、前記試験トランクが、
前記加入者線試験台からの各試験情報それぞれを通話周
波数帯域の信号の組合わせで表現し、前記中央処理装置
に伝達することを特徴とする加入者線試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13318889A JPH02311061A (ja) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | 加入者線試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13318889A JPH02311061A (ja) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | 加入者線試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02311061A true JPH02311061A (ja) | 1990-12-26 |
Family
ID=15098755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13318889A Pending JPH02311061A (ja) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | 加入者線試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02311061A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998000944A3 (en) * | 1996-07-01 | 1998-05-28 | Advanced Micro Devices Inc | Test detection apparatus and method |
-
1989
- 1989-05-26 JP JP13318889A patent/JPH02311061A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998000944A3 (en) * | 1996-07-01 | 1998-05-28 | Advanced Micro Devices Inc | Test detection apparatus and method |
| US5982815A (en) * | 1996-07-01 | 1999-11-09 | Advanced Micro Devices Inc. | Circuit for setting a device into a test mode by changing a first port to a fixed clock and a second port to a non-fixed clock |
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