JPH02311012A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents
Semiconductor integrated circuitInfo
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- JPH02311012A JPH02311012A JP13313289A JP13313289A JPH02311012A JP H02311012 A JPH02311012 A JP H02311012A JP 13313289 A JP13313289 A JP 13313289A JP 13313289 A JP13313289 A JP 13313289A JP H02311012 A JPH02311012 A JP H02311012A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特にクロック信号に同
期して動作する半導体集積回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and particularly to a semiconductor integrated circuit that operates in synchronization with a clock signal.
従来の半導体集積回路は、第7図に示すように、半導体
チップ1.に設けた入力端子2がら入力した外部からの
クロック信号は、入力バッファ3を介してその出力から
それぞれの内部バッファ15へ入力され、内部回路のク
ロック端子へ供給されている。また、クロック信号を半
導体チップ1、外に出力する場合は入力バッファ3の出
力から出力バッファ14の入力に供給し、出力端子14
から出力していた。As shown in FIG. 7, a conventional semiconductor integrated circuit includes a semiconductor chip 1. An external clock signal input from an input terminal 2 provided in the circuit is input to each internal buffer 15 from its output via an input buffer 3, and is supplied to a clock terminal of an internal circuit. In addition, when outputting the clock signal to the outside of the semiconductor chip 1, it is supplied from the output of the input buffer 3 to the input of the output buffer 14, and the clock signal is supplied to the output terminal 14.
It was outputting from.
上述した従来の半導体集積回路では、クロック信号は入
力バッファ及び内部バッファを通じて各回路に供給され
るので、入力バッファ及び内部バッファの信号の立上り
時間及び立下り時間が異なって設計されている場合や、
製造のばらつき、特にMOSFETのしきい値が不平衡
になった場合、入力されたクロック信号の立上り時間と
立下り時間は更に差が助長されクロック信号のデユーテ
ィ比が劣化するという欠点がある。In the conventional semiconductor integrated circuit described above, a clock signal is supplied to each circuit through an input buffer and an internal buffer, so the rise time and fall time of the input buffer and internal buffer signals may be designed to be different, or
There is a drawback that manufacturing variations, especially when the threshold values of MOSFETs become unbalanced, further increase the difference between the rise time and fall time of the input clock signal, and the duty ratio of the clock signal deteriorates.
本発明の半導体集積回路は、入力したクロック信号のデ
ユーティを外部からのセレクタ信号により可変できるデ
ユーティ可変回路と、該デユーティ可変回路の出力が接
続される同一基板内に設けた少くとも1個のクロック端
子とを有している。The semiconductor integrated circuit of the present invention includes a variable duty circuit that can vary the duty of an input clock signal by an external selector signal, and at least one clock provided on the same substrate to which the output of the variable duty circuit is connected. It has a terminal.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1の実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention.
第1図に示すように、半導体チップ1に設けた入力端子
2から入力された外部からのクロック信号は、入力バッ
ファ3を介してデユーティ可変回路4に入力される。デ
ユーティ可変回路4は、後述するように、セレクタ信号
端子5.6からのセレクタ信号Sl、S2の値により入
力されたクロック信号CL、に対してデユーティの異な
るクロック信号CL2を出力する。入力バッファ3から
のクロック信号CL、及びデユーティ可変回路4からの
クロック信号CL2はそれぞれ半導体チップ1内に設け
られる内部回路のクロック端子に入力される。As shown in FIG. 1, an external clock signal input from an input terminal 2 provided on a semiconductor chip 1 is input to a variable duty circuit 4 via an input buffer 3. As will be described later, the variable duty circuit 4 outputs a clock signal CL2 having a different duty with respect to the clock signal CL input according to the values of the selector signal Sl and S2 from the selector signal terminal 5.6. The clock signal CL from the input buffer 3 and the clock signal CL2 from the variable duty circuit 4 are input to clock terminals of internal circuits provided in the semiconductor chip 1, respectively.
第2図は第1図のデユーティ可変回路の詳細ブロック図
である。FIG. 2 is a detailed block diagram of the variable duty circuit shown in FIG. 1.
第2図に示すように、入力端子11から直接マルチプレ
クサ10へ入力される信号をクロック信号D1とし、入
力端子11からのクロック信号D1が遅延バッファ7を
介してマルチプレクサ10へ入力される信号をクロック
信号D2とし、入力端子11からのクロック信号D1と
遅延バッファ7の出力のクロック信号D2とがOR回路
8を介してマルチプレクサ10へ入力される信号をクロ
ック信号D3とし、入力端子11からのクロック信号D
Iと遅延バッファ7の出力のクロック信号D2とがAN
D回路9を介してマルチプレクサ10へ入力される信号
をクロック信号D4として、マルチプレクサ10のセレ
クタ端子5,6を外部端子とする。As shown in FIG. 2, the signal directly input from the input terminal 11 to the multiplexer 10 is referred to as a clock signal D1, and the clock signal D1 from the input terminal 11 is used as the clock signal input to the multiplexer 10 via the delay buffer 7. A signal D2 is a signal in which the clock signal D1 from the input terminal 11 and the clock signal D2 output from the delay buffer 7 are input to the multiplexer 10 via the OR circuit 8, and a clock signal D3 is the clock signal from the input terminal 11. D
I and the clock signal D2 output from the delay buffer 7 are AN
A signal input to multiplexer 10 via D circuit 9 is used as clock signal D4, and selector terminals 5 and 6 of multiplexer 10 are used as external terminals.
第3図は第2図のデユーティ可変回路の動作を説明する
ためのクロック信号の波形図である。FIG. 3 is a waveform diagram of a clock signal for explaining the operation of the variable duty circuit of FIG. 2.
第3図に示すように、入力端子11に入力した信号をデ
ユーティ50%のクロック信号D1としたときのクロッ
ク信号D2 、D3 、D4の波形である。As shown in FIG. 3, these are the waveforms of the clock signals D2, D3, and D4 when the signal input to the input terminal 11 is the clock signal D1 with a duty of 50%.
第4図は第2図のデユーティ可変回路のクロック信号と
セレクタ信号の真理値との相関を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the correlation between the clock signal of the variable duty circuit of FIG. 2 and the truth value of the selector signal.
第4図に示すように、セレクタ端子5,6へのセレクタ
信号S、、S、の真理値を対応させることにより、マル
チプレクサ10からデユーティの異なった波形のタロツ
ク信号を出力端子12から出力できる。As shown in FIG. 4, by associating the truth values of the selector signals S, .
次に、第5図は本発明の第2の実施例のブロック図であ
る。Next, FIG. 5 is a block diagram of a second embodiment of the present invention.
第5図に示すように、第2の実施例はクロック信号が入
力端子2から入力バッファ3を介して、1つは半導体チ
ップ1bの内部回路のクロック信号CLIとして供給さ
れ、他はデユーティ可変回路4へ入力されその出力が出
力バッファ13を介して半導体チップ1bの出力端子1
4に接続されている。As shown in FIG. 5, in the second embodiment, a clock signal is supplied from an input terminal 2 via an input buffer 3, one of which is supplied as a clock signal CLI to the internal circuit of the semiconductor chip 1b, and the other is supplied to a variable duty circuit. 4 and its output is sent to the output terminal 1 of the semiconductor chip 1b via the output buffer 13.
Connected to 4.
第6図は第5図の第2の実施例を用いて形成したクロッ
ク信号供給システムのブロック図である。FIG. 6 is a block diagram of a clock signal supply system formed using the second embodiment of FIG. 5.
第6図に示すように、半導体チップ1bの出力端子14
にデユーティ可変回路の出力クロック信号を出力するこ
とにより、デユーティ比の良好なりロック信号を出力で
きる半導体集積回路を提供できるため、第6図に示すよ
うなりロック信号の供給システムを構築できる。As shown in FIG. 6, the output terminal 14 of the semiconductor chip 1b
By outputting the output clock signal of the variable duty circuit at the same time, it is possible to provide a semiconductor integrated circuit that can output a lock signal with a good duty ratio, so that a lock signal supply system as shown in FIG. 6 can be constructed.
以上説明したように本発明の半導体集積回路は、入力し
たクロック信号のデユーティを外部端子からのセレクタ
信号によって可変する回路を内蔵し、この回路の出力が
半導体チップ内の1部の回路、もしくは、全ての回路の
タロツク端子に供給されることにより、半クロツク動作
する回路に対してはクロック信号のデユーティを補正し
た波形で供給することができるので、入力されたクロッ
ク信号のデユーティが悪くても正常動作させることがで
き、動作の信頼性を向上できるという効果がある。As explained above, the semiconductor integrated circuit of the present invention has a built-in circuit that changes the duty of an input clock signal using a selector signal from an external terminal, and the output of this circuit is transmitted to a part of the circuit in the semiconductor chip, or By supplying the clock signal to the clock terminals of all circuits, it is possible to supply a waveform with the duty of the clock signal corrected to circuits that operate in half clock mode, so even if the duty of the input clock signal is bad, the clock signal remains normal. This has the effect of improving the reliability of the operation.
図面の簡単な説明
第1図は本発明の第1の実施例のブロック図、第2図は
第1図のデユーティ可変回路の詳細ブロック図、第3図
は第2図のデユーティ可変回路の動作を説明するための
クロック信号の波形図、第4図は第2図のデユーティ可
変回路のクロック信号とセレクタ信号の真理値との相関
を示す図、第5図は本発明の第2の実施例のブロック図
、第6図は第5図の第2の実施例を用いて形成したクロ
ック信号供給システムのブロック図、第7図は従来の半
導体集積回路の一例のブロック図である。Brief Description of the Drawings Fig. 1 is a block diagram of the first embodiment of the present invention, Fig. 2 is a detailed block diagram of the variable duty circuit shown in Fig. 1, and Fig. 3 is an operation of the variable duty circuit shown in Fig. 2. FIG. 4 is a diagram showing the correlation between the clock signal of the variable duty circuit of FIG. 2 and the truth value of the selector signal, and FIG. 5 is a diagram of the second embodiment of the present invention. 6 is a block diagram of a clock signal supply system formed using the second embodiment of FIG. 5, and FIG. 7 is a block diagram of an example of a conventional semiconductor integrated circuit.
1.1.〜1d・・・半導体チップ、2・・・入力端子
、3・・・入力バッファ、4・・・デユーティ可変回路
、5.6・・・セレクタ信号端子、7・・・遅延バッフ
ァ、8・・・OR回路、9・・・AND回路、10・・
・マルチプレクサ、11・・・入力端子、12・・・出
力端子、13・・・出力バッファ、14・・・出力端子
、15・・・内部バッファ、CL、、C12・・・クロ
ック信号、DI〜D4・・・クロック信号、S、、S2
・・・セレクタ信号。1.1. ~1d...Semiconductor chip, 2...Input terminal, 3...Input buffer, 4...Duty variable circuit, 5.6...Selector signal terminal, 7...Delay buffer, 8...・OR circuit, 9...AND circuit, 10...
・Multiplexer, 11...Input terminal, 12...Output terminal, 13...Output buffer, 14...Output terminal, 15...Internal buffer, CL, , C12...Clock signal, DI~ D4...Clock signal, S,, S2
...Selector signal.
Claims (1)
タ信号により可変できるデューティ可変回路と、該デュ
ーティ可変回路の出力が接続される同一基板内に設けた
少くとも1個のクロック端子とを有することを特徴とす
る半導体集積回路。It is characterized by having a variable duty circuit that can vary the duty of an input clock signal by an external selector signal, and at least one clock terminal provided within the same board to which the output of the variable duty circuit is connected. semiconductor integrated circuits.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13313289A JPH02311012A (en) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | Semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13313289A JPH02311012A (en) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | Semiconductor integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02311012A true JPH02311012A (en) | 1990-12-26 |
Family
ID=15097526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13313289A Pending JPH02311012A (en) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | Semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02311012A (en) |
-
1989
- 1989-05-26 JP JP13313289A patent/JPH02311012A/en active Pending
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