JPH02296166A - 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置 - Google Patents
電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置Info
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- JPH02296166A JPH02296166A JP1115035A JP11503589A JPH02296166A JP H02296166 A JPH02296166 A JP H02296166A JP 1115035 A JP1115035 A JP 1115035A JP 11503589 A JP11503589 A JP 11503589A JP H02296166 A JPH02296166 A JP H02296166A
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Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、電気信号波形を^い時間分解能で観測する装
置に係り、特にプローブ信号にレーザ光を用い、電気光
学効果を有する結晶を媒介して電界による光強度変調量
から間接的に電気信号波形を高感度で観測することが可
能な、電気光学効果を利用した電気信号波形観i!l!
l装置に関する。
置に係り、特にプローブ信号にレーザ光を用い、電気光
学効果を有する結晶を媒介して電界による光強度変調量
から間接的に電気信号波形を高感度で観測することが可
能な、電気光学効果を利用した電気信号波形観i!l!
l装置に関する。
[従来の技術]
半導体技術の進歩により遮断周波数が100G+−I
Zを越える超高速半導体デバイスが出現している。これ
らの超i0i速デバイスが出力する電気信号波形を高い
時間分解能で観測する手段として、半導体技術によるリ
ンブリング装置に比べて1桁以−Fの高時間分解能が原
理士実現できる電気光学り」果を利用したリングリング
技術の開発が近年進められている。これらの従来技術に
おいては、電気光学結晶(ポッケルス結晶)表面、また
は直近に導いた単=−の電気信号に対して、該電気化す
によってポッケルス結晶中に生ずる局所的な電界変動部
分にレーザ光を照射し、電界によるその透過光の強度変
調量を検出して電気信号を観測していた。
Zを越える超高速半導体デバイスが出現している。これ
らの超i0i速デバイスが出力する電気信号波形を高い
時間分解能で観測する手段として、半導体技術によるリ
ンブリング装置に比べて1桁以−Fの高時間分解能が原
理士実現できる電気光学り」果を利用したリングリング
技術の開発が近年進められている。これらの従来技術に
おいては、電気光学結晶(ポッケルス結晶)表面、また
は直近に導いた単=−の電気信号に対して、該電気化す
によってポッケルス結晶中に生ずる局所的な電界変動部
分にレーザ光を照射し、電界によるその透過光の強度変
調量を検出して電気信号を観測していた。
ポッケルス結晶を透過したレーザ光の強度を測定−46
際、S/N比、即ち電圧感度を向上させるため、公知文
献(J、A、Valdmanis and G、Hou
rou (CH,LceJd、 ) 、 Picose
cond 0ptoelectronic Di−vi
ces、 0rland、 FL:^cademic
Press PP、24’l−270、1984)
の第251頁の第1図に丞された従来装置の構成例のよ
うにポッケルス結晶透過後のレーデ光を口”1線偏光し
で得られるnいに直交した2つの偏光成分を各々検出し
これらを差動増幅しT:同相雑&を除去していた。
際、S/N比、即ち電圧感度を向上させるため、公知文
献(J、A、Valdmanis and G、Hou
rou (CH,LceJd、 ) 、 Picose
cond 0ptoelectronic Di−vi
ces、 0rland、 FL:^cademic
Press PP、24’l−270、1984)
の第251頁の第1図に丞された従来装置の構成例のよ
うにポッケルス結晶透過後のレーデ光を口”1線偏光し
で得られるnいに直交した2つの偏光成分を各々検出し
これらを差動増幅しT:同相雑&を除去していた。
[発明が解決しようとする課題]
このような従来構成で(ま2偏光成分がηいに直交する
ことから検出系の構成が3次元的となり、多くの占有空
間余地を必要としていた。また、差動増幅するまでの両
信号線路長を互いに等しくしなければならなかった。
ことから検出系の構成が3次元的となり、多くの占有空
間余地を必要としていた。また、差動増幅するまでの両
信号線路長を互いに等しくしなければならなかった。
この従来技術では、高感度化を図る場合に装置構成が大
型・複雑になるといった問題点を右していた。
型・複雑になるといった問題点を右していた。
ここにおいて本発明は、当該課題解決に有効適切な高感
度かつ小型な電気光学効果を利用した電気信号波形観測
装置を提供じんとするものである。
度かつ小型な電気光学効果を利用した電気信号波形観測
装置を提供じんとするものである。
[課題を解決するための手段]
前記課題は、本発明の電気光学効果を利用した電気信号
波形v2測装置が、IX電性の薄膜を用いて互いに交差
しない1以上のコプレーナ線路を表面に形成したポッケ
ルス効果を有する結晶板と、し1F光源と、該レーリ′
光源がらの出射光を直I!11(lZl光する偏光子と
、該偏光子を透過したレーザ光の位相を1/4波長回転
して前記ポッケルス結晶板表面に形成した前記コプレー
ナ線路を包含する領域を照射させる1/4波艮板と、該
ポッケルス結晶板を透過したレーザ光を再度直線偏光に
戻づ検光子と、該検光子を通して得られる2つの偏光成
分の一方に対し、前記コプレーナ線路とその両隣の接地
バタン線との間隙を透過したレープ“光の強度を検出す
る光強度検出器と、該光強度検出器の検出強度を各々差
動増幅する差動増幅器と、前記レーザ光源の照射と同1
jJ して出力電気イエ号をパルス発生する同期回路と
、該同期回路の出りをトリガとして前記差動増幅器の出
力型[Fレベル(ゴ1を記憶・蓄積する電丹強度記憶回
路とを消えることにより解決される。
波形v2測装置が、IX電性の薄膜を用いて互いに交差
しない1以上のコプレーナ線路を表面に形成したポッケ
ルス効果を有する結晶板と、し1F光源と、該レーリ′
光源がらの出射光を直I!11(lZl光する偏光子と
、該偏光子を透過したレーザ光の位相を1/4波長回転
して前記ポッケルス結晶板表面に形成した前記コプレー
ナ線路を包含する領域を照射させる1/4波艮板と、該
ポッケルス結晶板を透過したレーザ光を再度直線偏光に
戻づ検光子と、該検光子を通して得られる2つの偏光成
分の一方に対し、前記コプレーナ線路とその両隣の接地
バタン線との間隙を透過したレープ“光の強度を検出す
る光強度検出器と、該光強度検出器の検出強度を各々差
動増幅する差動増幅器と、前記レーザ光源の照射と同1
jJ して出力電気イエ号をパルス発生する同期回路と
、該同期回路の出りをトリガとして前記差動増幅器の出
力型[Fレベル(ゴ1を記憶・蓄積する電丹強度記憶回
路とを消えることにより解決される。
[伯 用1
本発明では、被測定出力電気信号を、ポッケルス結晶板
にコプレーナ線路で導き、コプレーナ線路とその両隣の
接地バタン線との間隙にお【)る1を異成分が逆位相と
なることを利用して、両間隙を透過したレーザ光強度を
直線偏光した後、直交する2つの偏光成分の一方のみに
対し、各々光強度検出器で電圧信号に変換した後、両型
圧信号を差動増幅することによって、低雑盲でに!i感
度な電気イ;1号の観測を可能とするbのであり、ポッ
ケルス結晶板透過後のレーザ光を直線偏光して得られる
nいにv1交した2つの偏光成分を利用しCいたために
検出系の構成が3次元的となり、装置構成が大型になる
という従来の課題を解決し、小型化・高感度化が実現で
きる。
にコプレーナ線路で導き、コプレーナ線路とその両隣の
接地バタン線との間隙にお【)る1を異成分が逆位相と
なることを利用して、両間隙を透過したレーザ光強度を
直線偏光した後、直交する2つの偏光成分の一方のみに
対し、各々光強度検出器で電圧信号に変換した後、両型
圧信号を差動増幅することによって、低雑盲でに!i感
度な電気イ;1号の観測を可能とするbのであり、ポッ
ケルス結晶板透過後のレーザ光を直線偏光して得られる
nいにv1交した2つの偏光成分を利用しCいたために
検出系の構成が3次元的となり、装置構成が大型になる
という従来の課題を解決し、小型化・高感度化が実現で
きる。
[実施例]
本発明の実施例を第1図につき説明する。
同図中シンセサイザ1とバタン発生器2と被測定デバイ
ス3からなる同期回路Aにおいて、被測定デバイス3の
出り電気信@SOの繰り返しレートを決めるバタン発生
器2のクロックレートとレーザ光源4の繰り返しレート
とシンセサイザ1で高安定に同期させる。レーザ光源4
の出射光[0は可変遅延線5を経由してビームスプリッ
タ6で2分岐し、その−hをリーンプリングレーザ光[
1として用い、偏光子7によって直線偏光し、1/4波
長板8で偏光量にオフセットをかけた後、サンプリング
レーザ光L2を第2図に示すようポッケルス結晶板11
と検光子13と光強度検出器14.15と差動増幅器1
6と電圧強度記憶回路17とからなる測定記憶回路Bに
J3いて、表面1.:”ff電気信号線とその両隣の接
地パターンI910a。
ス3からなる同期回路Aにおいて、被測定デバイス3の
出り電気信@SOの繰り返しレートを決めるバタン発生
器2のクロックレートとレーザ光源4の繰り返しレート
とシンセサイザ1で高安定に同期させる。レーザ光源4
の出射光[0は可変遅延線5を経由してビームスプリッ
タ6で2分岐し、その−hをリーンプリングレーザ光[
1として用い、偏光子7によって直線偏光し、1/4波
長板8で偏光量にオフセットをかけた後、サンプリング
レーザ光L2を第2図に示すようポッケルス結晶板11
と検光子13と光強度検出器14.15と差動増幅器1
6と電圧強度記憶回路17とからなる測定記憶回路Bに
J3いて、表面1.:”ff電気信号線とその両隣の接
地パターンI910a。
10bからなるコプレーナ線路を形成したポッケルス結
晶板11の該電気信号線9とその両隣の該接地パタン線
10a、10bとの両間隙部分12a、12bを含む領
域に照射させる。ポッケルス結晶板11を透過して楕円
偏光となった透過レ−ず光L3を再び検光子13によっ
て直線偏光し、qいに直交する2つの偏光成分の内の一
方のみの透過光強度を、該両間隙12a、12bに対応
して該両間隙12a、12bの直下に配置した2個以上
の例えば抵抗を出力負荷とするフォトダイオード等の光
θ度検出冴14,15によって、各間隙12a、12b
を透過した透過レーザ光13毎に電圧信号81.82に
変換する。ポッケルス結晶板11上の該電気信号線9上
の電圧に対応して間隙12aと間隙12bでは電界強度
が生じ、該電気信号線9と直交する電界成分が第3図の
ように逆位相となるため、第3図に示す電界による透過
レーザ光13強度変化の例のように、該電気信号線9上
の電圧変化による透過レーザ光し3強肛の増加・減少が
両間隙12a、12b間で逆転する。従って、各間隙1
2a、12bを透過した透過レーザ光L3毎に光強度検
出器14.15によって変換した電圧信号Sl、32同
志を差動増幅器16で差動増幅することにより、法電気
イ8号線9Fの電圧変化に対応した電圧信号S1.82
を得ることができる。従って、レーザ光源4からのサン
プリングレーザ光L1の透過レーザ光し3強度によって
該差動増幅信号S3の電圧に変化が生じているタイミン
グに同期して、該差動増幅信号S3の電圧レベルを例え
ばA/D変換器などからなる電圧強度記憶回路17によ
って配憶・蓄積し、可変遅延線5を制御して被測定デバ
イス3からの出力電気信号SOが萌記ポッケルス結晶板
11上のリンプリングレーザ光L2照射部分に到達する
タイミングとサンプリングレーザ光L2が該照射部分に
到達するタイミングとを調整することにより、該出力電
気assoの繰り返しサイクル中のfI意のタイミング
に於ける電圧レベルを測定することができる。また可変
遅延線5を制御して被測定デバイス3からの出力電気信
号SOがポッケルス結晶板11上の1ナンプリングレ一
ザ光L2照射部分に到達するタイミングとサンプリング
レーザ光L2が該照Q4部分に到達するタイミングとを
連続的に変更しながら逐次差動増幅信号S3の電圧レベ
ルを記憶・蓄積することにより、即ち、サンプリングの
手法により、電気信号波形Wを再現することができる。
晶板11の該電気信号線9とその両隣の該接地パタン線
10a、10bとの両間隙部分12a、12bを含む領
域に照射させる。ポッケルス結晶板11を透過して楕円
偏光となった透過レ−ず光L3を再び検光子13によっ
て直線偏光し、qいに直交する2つの偏光成分の内の一
方のみの透過光強度を、該両間隙12a、12bに対応
して該両間隙12a、12bの直下に配置した2個以上
の例えば抵抗を出力負荷とするフォトダイオード等の光
θ度検出冴14,15によって、各間隙12a、12b
を透過した透過レーザ光13毎に電圧信号81.82に
変換する。ポッケルス結晶板11上の該電気信号線9上
の電圧に対応して間隙12aと間隙12bでは電界強度
が生じ、該電気信号線9と直交する電界成分が第3図の
ように逆位相となるため、第3図に示す電界による透過
レーザ光13強度変化の例のように、該電気信号線9上
の電圧変化による透過レーザ光し3強肛の増加・減少が
両間隙12a、12b間で逆転する。従って、各間隙1
2a、12bを透過した透過レーザ光L3毎に光強度検
出器14.15によって変換した電圧信号Sl、32同
志を差動増幅器16で差動増幅することにより、法電気
イ8号線9Fの電圧変化に対応した電圧信号S1.82
を得ることができる。従って、レーザ光源4からのサン
プリングレーザ光L1の透過レーザ光し3強度によって
該差動増幅信号S3の電圧に変化が生じているタイミン
グに同期して、該差動増幅信号S3の電圧レベルを例え
ばA/D変換器などからなる電圧強度記憶回路17によ
って配憶・蓄積し、可変遅延線5を制御して被測定デバ
イス3からの出力電気信号SOが萌記ポッケルス結晶板
11上のリンプリングレーザ光L2照射部分に到達する
タイミングとサンプリングレーザ光L2が該照射部分に
到達するタイミングとを調整することにより、該出力電
気assoの繰り返しサイクル中のfI意のタイミング
に於ける電圧レベルを測定することができる。また可変
遅延線5を制御して被測定デバイス3からの出力電気信
号SOがポッケルス結晶板11上の1ナンプリングレ一
ザ光L2照射部分に到達するタイミングとサンプリング
レーザ光L2が該照Q4部分に到達するタイミングとを
連続的に変更しながら逐次差動増幅信号S3の電圧レベ
ルを記憶・蓄積することにより、即ち、サンプリングの
手法により、電気信号波形Wを再現することができる。
なお、レーザ光源4からのリンプリングレーザ光L2の
透過レーザ光し3強度によって該差動増幅信号S3の電
圧に変化が生じているタイミングに同期して、該差動I
H幅仁1] S 3の電圧レベルを例えばA/D変換器
とレジスタなどによって構成された電圧強度記憶回路1
7に記憶・蓄積させるためには、レーず光源4の出射光
LOをビームスプリッタ6で2分岐した残り一方の分岐
レーデ光L1−をミラー18で反則し光強度検出器19
で電気信号に変換しこれをA/D変換器などからなる電
圧強度記憶回路17のデータ取り込み用ストローブ信号
S4として用いればよい。なおレーザ光源4としてはパ
ルス発成型と?!続発成型とが存在するが、パルス発振
型の場合は光源4そのらのを用いればよく、連続発振を
の場合には、被測定出り電気信号SOの繰り返しレート
と同期させるために、例えばArガス等の気体レーザや
Nd:YAG等の固体レーザで1ま外部変調器を付加す
る必要がある。
透過レーザ光し3強度によって該差動増幅信号S3の電
圧に変化が生じているタイミングに同期して、該差動I
H幅仁1] S 3の電圧レベルを例えばA/D変換器
とレジスタなどによって構成された電圧強度記憶回路1
7に記憶・蓄積させるためには、レーず光源4の出射光
LOをビームスプリッタ6で2分岐した残り一方の分岐
レーデ光L1−をミラー18で反則し光強度検出器19
で電気信号に変換しこれをA/D変換器などからなる電
圧強度記憶回路17のデータ取り込み用ストローブ信号
S4として用いればよい。なおレーザ光源4としてはパ
ルス発成型と?!続発成型とが存在するが、パルス発振
型の場合は光源4そのらのを用いればよく、連続発振を
の場合には、被測定出り電気信号SOの繰り返しレート
と同期させるために、例えばArガス等の気体レーザや
Nd:YAG等の固体レーザで1ま外部変調器を付加す
る必要がある。
さらに、第4図に示した本発明に於ける電気光学効果を
利用した電気信号線路観1llll装置の一構成要素で
あるポッケルス結晶板11上に複数のコプレーナ線路を
豆いに平行に形成し、各々の電気信号F119a〜9d
および接地パターン線10a〜10dに対応して前記し
たのと同様のレーデ光強度検出系を構成し、それらを包
含1−るff4域をサンプリングレーザ光L2で照射す
ることによって、各々の電気信号線98〜9dに導いた
複数の責なる電気信号線路Wを回部に測定することらi
′11能である。
利用した電気信号線路観1llll装置の一構成要素で
あるポッケルス結晶板11上に複数のコプレーナ線路を
豆いに平行に形成し、各々の電気信号F119a〜9d
および接地パターン線10a〜10dに対応して前記し
たのと同様のレーデ光強度検出系を構成し、それらを包
含1−るff4域をサンプリングレーザ光L2で照射す
ることによって、各々の電気信号線98〜9dに導いた
複数の責なる電気信号線路Wを回部に測定することらi
′11能である。
前記したように、ポッケルス結晶透過後のレーザ光を直
線偏光して得られる互いに直交した2つの偏光成分の一
方のみを利用するため、検出系を小ケ1化できる。また
、電気信号線路としC」プレーナ線路の特徴を活かして
差動増幅することにより、?3感度化を実現できる。
線偏光して得られる互いに直交した2つの偏光成分の一
方のみを利用するため、検出系を小ケ1化できる。また
、電気信号線路としC」プレーナ線路の特徴を活かして
差動増幅することにより、?3感度化を実現できる。
[発明の効果1
かくして本発明によれば、装置構成が小型でかつ高感度
な電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置を実現
ぐきるへ優れた効果を発揮する9、
な電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置を実現
ぐきるへ優れた効果を発揮する9、
第1図は水弁1月の実施例を小゛づブロックダイX7グ
ラム、第2図は木発Illを構成する測定記憶回路Bの
、−JII説明図、第3図μ本発明において電界による
透過レーザ光強度変化の例を示す測定1京埋説明図、第
4図は本発明の構成要素をなすポッケルス結晶板上の他
制の」ブレーナ線路の図である。1△・・・同期回路
B・・・測定記憶回路10・・・出側光 Ll、L2・・・サンプリングレーザ光L3・・・透過
レープ“光 SO・・・出力電気信号Sl、S2・・
・電圧信号 S3・・・差動増幅信号S4・・・ストロ
ーブ信号 W・・・電気信)]波形1・・・シンセサ
イザー 2・・・バタン発生器3・・・被測定デバイ
ス 4・・・レーザ光源5・・・可変遅k〔線
6・・・ビームスプリッタ7・・・偏光I
8・・・1/4波長板9.9a〜9d・・・電気信号
線 Qa〜10d・・・接地パターン線 1・・・ポッケルス結晶板 2a〜12g・・・間隙 13・・・検光I4.15.
19・・・光強度検出)S O・・・差動増幅器 17・・・電圧強度記憶回路
8・・・ミツ− 第1図 第2図
ラム、第2図は木発Illを構成する測定記憶回路Bの
、−JII説明図、第3図μ本発明において電界による
透過レーザ光強度変化の例を示す測定1京埋説明図、第
4図は本発明の構成要素をなすポッケルス結晶板上の他
制の」ブレーナ線路の図である。1△・・・同期回路
B・・・測定記憶回路10・・・出側光 Ll、L2・・・サンプリングレーザ光L3・・・透過
レープ“光 SO・・・出力電気信号Sl、S2・・
・電圧信号 S3・・・差動増幅信号S4・・・ストロ
ーブ信号 W・・・電気信)]波形1・・・シンセサ
イザー 2・・・バタン発生器3・・・被測定デバイ
ス 4・・・レーザ光源5・・・可変遅k〔線
6・・・ビームスプリッタ7・・・偏光I
8・・・1/4波長板9.9a〜9d・・・電気信号
線 Qa〜10d・・・接地パターン線 1・・・ポッケルス結晶板 2a〜12g・・・間隙 13・・・検光I4.15.
19・・・光強度検出)S O・・・差動増幅器 17・・・電圧強度記憶回路
8・・・ミツ− 第1図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、導電性の薄膜を用い互いに交差しない1以上のコプ
レーナ線路を表面に形成したポッケルス効果を有する結
晶板と、 レーザ光源と、 該レーザ光源からの出射光を直線偏光する偏光子と、 該偏光子を透過したレーザ光の位相を1/4波長回転し
て前記ポッケルス結晶板表面に形成した前記コプレナー
線路を包含する領域に照射させる1/4波長板と、 該ポッケルス結晶板を透過したレーザ光を再度直線偏光
に戻す検光子と、 該検光子を通して得られる2つの偏光成分の一方に対し
、前記コプレーナ線路とその両隣の接地パタン線との間
隙を透過したレーザ光の強度を検出する光強度検出器と
、 該光強度検出器の検出強度を各々差動増幅する差動増幅
器と、 前記レーザ光源の照射と同期して出力電気信号をパルス
発生する同期回路と、 該同期回路の出力をトリガとして前記差動増幅器の出力
電圧レベル値を記憶・蓄積する電圧強度記憶回路と、 を備えてなることを特徴とする電気光学効果を利用した
電気信号波形観測装置。 2、レーザ光源と偏光子間に、可変遅延線を介接したこ
とを特徴とする請求項1記載の電気光学効果を利用した
電気信号波形観測装置 3、偏光子の直前に、ビームスプリッタを前置挿入して
レーザ光を分岐し、差動増幅器へデータ取込み用ストロ
ーブ信号を入力することを特徴とする請求項1又は2記
載の電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1115035A JPH02296166A (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1115035A JPH02296166A (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02296166A true JPH02296166A (ja) | 1990-12-06 |
Family
ID=14652594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1115035A Pending JPH02296166A (ja) | 1989-05-10 | 1989-05-10 | 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02296166A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04110929U (ja) * | 1991-03-15 | 1992-09-25 | 横河電機株式会社 | 光サンプリング装置 |
JPH07151837A (ja) * | 1993-06-16 | 1995-06-16 | Tektronix Inc | 特性測定システム |
CN111721994A (zh) * | 2020-06-19 | 2020-09-29 | 贵州江源电力建设有限公司 | 一种分布式高压输电线路的电压检测系统 |
CN113406453A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-09-17 | 平顶山学院 | 一种基于mcu的prpd/prps图谱数据处理方法及检测装置 |
-
1989
- 1989-05-10 JP JP1115035A patent/JPH02296166A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04110929U (ja) * | 1991-03-15 | 1992-09-25 | 横河電機株式会社 | 光サンプリング装置 |
JPH07151837A (ja) * | 1993-06-16 | 1995-06-16 | Tektronix Inc | 特性測定システム |
CN111721994A (zh) * | 2020-06-19 | 2020-09-29 | 贵州江源电力建设有限公司 | 一种分布式高压输电线路的电压检测系统 |
CN111721994B (zh) * | 2020-06-19 | 2022-09-06 | 贵州江源电力建设有限公司 | 一种分布式高压输电线路的电压检测系统 |
CN113406453A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-09-17 | 平顶山学院 | 一种基于mcu的prpd/prps图谱数据处理方法及检测装置 |
CN113406453B (zh) * | 2021-06-30 | 2023-06-23 | 平顶山学院 | 一种基于mcu的prpd/prps图谱数据处理方法及检测装置 |
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