JPH02296166A - 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置 - Google Patents

電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置

Info

Publication number
JPH02296166A
JPH02296166A JP1115035A JP11503589A JPH02296166A JP H02296166 A JPH02296166 A JP H02296166A JP 1115035 A JP1115035 A JP 1115035A JP 11503589 A JP11503589 A JP 11503589A JP H02296166 A JPH02296166 A JP H02296166A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser light
intensity
light
electric
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1115035A
Other languages
English (en)
Inventor
Taiichi Otsuji
泰一 尾辻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP1115035A priority Critical patent/JPH02296166A/ja
Publication of JPH02296166A publication Critical patent/JPH02296166A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明は、電気信号波形を^い時間分解能で観測する装
置に係り、特にプローブ信号にレーザ光を用い、電気光
学効果を有する結晶を媒介して電界による光強度変調量
から間接的に電気信号波形を高感度で観測することが可
能な、電気光学効果を利用した電気信号波形観i!l!
l装置に関する。
[従来の技術] 半導体技術の進歩により遮断周波数が100G+−I 
Zを越える超高速半導体デバイスが出現している。これ
らの超i0i速デバイスが出力する電気信号波形を高い
時間分解能で観測する手段として、半導体技術によるリ
ンブリング装置に比べて1桁以−Fの高時間分解能が原
理士実現できる電気光学り」果を利用したリングリング
技術の開発が近年進められている。これらの従来技術に
おいては、電気光学結晶(ポッケルス結晶)表面、また
は直近に導いた単=−の電気信号に対して、該電気化す
によってポッケルス結晶中に生ずる局所的な電界変動部
分にレーザ光を照射し、電界によるその透過光の強度変
調量を検出して電気信号を観測していた。
ポッケルス結晶を透過したレーザ光の強度を測定−46
際、S/N比、即ち電圧感度を向上させるため、公知文
献(J、A、Valdmanis and G、Hou
rou (CH,LceJd、 ) 、 Picose
cond 0ptoelectronic Di−vi
ces、  0rland、 FL:^cademic
 Press  PP、24’l−270、1984)
の第251頁の第1図に丞された従来装置の構成例のよ
うにポッケルス結晶透過後のレーデ光を口”1線偏光し
で得られるnいに直交した2つの偏光成分を各々検出し
これらを差動増幅しT:同相雑&を除去していた。
[発明が解決しようとする課題] このような従来構成で(ま2偏光成分がηいに直交する
ことから検出系の構成が3次元的となり、多くの占有空
間余地を必要としていた。また、差動増幅するまでの両
信号線路長を互いに等しくしなければならなかった。
この従来技術では、高感度化を図る場合に装置構成が大
型・複雑になるといった問題点を右していた。
ここにおいて本発明は、当該課題解決に有効適切な高感
度かつ小型な電気光学効果を利用した電気信号波形観測
装置を提供じんとするものである。
[課題を解決するための手段] 前記課題は、本発明の電気光学効果を利用した電気信号
波形v2測装置が、IX電性の薄膜を用いて互いに交差
しない1以上のコプレーナ線路を表面に形成したポッケ
ルス効果を有する結晶板と、し1F光源と、該レーリ′
光源がらの出射光を直I!11(lZl光する偏光子と
、該偏光子を透過したレーザ光の位相を1/4波長回転
して前記ポッケルス結晶板表面に形成した前記コプレー
ナ線路を包含する領域を照射させる1/4波艮板と、該
ポッケルス結晶板を透過したレーザ光を再度直線偏光に
戻づ検光子と、該検光子を通して得られる2つの偏光成
分の一方に対し、前記コプレーナ線路とその両隣の接地
バタン線との間隙を透過したレープ“光の強度を検出す
る光強度検出器と、該光強度検出器の検出強度を各々差
動増幅する差動増幅器と、前記レーザ光源の照射と同1
jJ して出力電気イエ号をパルス発生する同期回路と
、該同期回路の出りをトリガとして前記差動増幅器の出
力型[Fレベル(ゴ1を記憶・蓄積する電丹強度記憶回
路とを消えることにより解決される。
[伯 用1 本発明では、被測定出力電気信号を、ポッケルス結晶板
にコプレーナ線路で導き、コプレーナ線路とその両隣の
接地バタン線との間隙にお【)る1を異成分が逆位相と
なることを利用して、両間隙を透過したレーザ光強度を
直線偏光した後、直交する2つの偏光成分の一方のみに
対し、各々光強度検出器で電圧信号に変換した後、両型
圧信号を差動増幅することによって、低雑盲でに!i感
度な電気イ;1号の観測を可能とするbのであり、ポッ
ケルス結晶板透過後のレーザ光を直線偏光して得られる
nいにv1交した2つの偏光成分を利用しCいたために
検出系の構成が3次元的となり、装置構成が大型になる
という従来の課題を解決し、小型化・高感度化が実現で
きる。
[実施例] 本発明の実施例を第1図につき説明する。
同図中シンセサイザ1とバタン発生器2と被測定デバイ
ス3からなる同期回路Aにおいて、被測定デバイス3の
出り電気信@SOの繰り返しレートを決めるバタン発生
器2のクロックレートとレーザ光源4の繰り返しレート
とシンセサイザ1で高安定に同期させる。レーザ光源4
の出射光[0は可変遅延線5を経由してビームスプリッ
タ6で2分岐し、その−hをリーンプリングレーザ光[
1として用い、偏光子7によって直線偏光し、1/4波
長板8で偏光量にオフセットをかけた後、サンプリング
レーザ光L2を第2図に示すようポッケルス結晶板11
と検光子13と光強度検出器14.15と差動増幅器1
6と電圧強度記憶回路17とからなる測定記憶回路Bに
J3いて、表面1.:”ff電気信号線とその両隣の接
地パターンI910a。
10bからなるコプレーナ線路を形成したポッケルス結
晶板11の該電気信号線9とその両隣の該接地パタン線
10a、10bとの両間隙部分12a、12bを含む領
域に照射させる。ポッケルス結晶板11を透過して楕円
偏光となった透過レ−ず光L3を再び検光子13によっ
て直線偏光し、qいに直交する2つの偏光成分の内の一
方のみの透過光強度を、該両間隙12a、12bに対応
して該両間隙12a、12bの直下に配置した2個以上
の例えば抵抗を出力負荷とするフォトダイオード等の光
θ度検出冴14,15によって、各間隙12a、12b
を透過した透過レーザ光13毎に電圧信号81.82に
変換する。ポッケルス結晶板11上の該電気信号線9上
の電圧に対応して間隙12aと間隙12bでは電界強度
が生じ、該電気信号線9と直交する電界成分が第3図の
ように逆位相となるため、第3図に示す電界による透過
レーザ光13強度変化の例のように、該電気信号線9上
の電圧変化による透過レーザ光し3強肛の増加・減少が
両間隙12a、12b間で逆転する。従って、各間隙1
2a、12bを透過した透過レーザ光L3毎に光強度検
出器14.15によって変換した電圧信号Sl、32同
志を差動増幅器16で差動増幅することにより、法電気
イ8号線9Fの電圧変化に対応した電圧信号S1.82
を得ることができる。従って、レーザ光源4からのサン
プリングレーザ光L1の透過レーザ光し3強度によって
該差動増幅信号S3の電圧に変化が生じているタイミン
グに同期して、該差動増幅信号S3の電圧レベルを例え
ばA/D変換器などからなる電圧強度記憶回路17によ
って配憶・蓄積し、可変遅延線5を制御して被測定デバ
イス3からの出力電気信号SOが萌記ポッケルス結晶板
11上のリンプリングレーザ光L2照射部分に到達する
タイミングとサンプリングレーザ光L2が該照射部分に
到達するタイミングとを調整することにより、該出力電
気assoの繰り返しサイクル中のfI意のタイミング
に於ける電圧レベルを測定することができる。また可変
遅延線5を制御して被測定デバイス3からの出力電気信
号SOがポッケルス結晶板11上の1ナンプリングレ一
ザ光L2照射部分に到達するタイミングとサンプリング
レーザ光L2が該照Q4部分に到達するタイミングとを
連続的に変更しながら逐次差動増幅信号S3の電圧レベ
ルを記憶・蓄積することにより、即ち、サンプリングの
手法により、電気信号波形Wを再現することができる。
なお、レーザ光源4からのリンプリングレーザ光L2の
透過レーザ光し3強度によって該差動増幅信号S3の電
圧に変化が生じているタイミングに同期して、該差動I
H幅仁1] S 3の電圧レベルを例えばA/D変換器
とレジスタなどによって構成された電圧強度記憶回路1
7に記憶・蓄積させるためには、レーず光源4の出射光
LOをビームスプリッタ6で2分岐した残り一方の分岐
レーデ光L1−をミラー18で反則し光強度検出器19
で電気信号に変換しこれをA/D変換器などからなる電
圧強度記憶回路17のデータ取り込み用ストローブ信号
S4として用いればよい。なおレーザ光源4としてはパ
ルス発成型と?!続発成型とが存在するが、パルス発振
型の場合は光源4そのらのを用いればよく、連続発振を
の場合には、被測定出り電気信号SOの繰り返しレート
と同期させるために、例えばArガス等の気体レーザや
Nd:YAG等の固体レーザで1ま外部変調器を付加す
る必要がある。
さらに、第4図に示した本発明に於ける電気光学効果を
利用した電気信号線路観1llll装置の一構成要素で
あるポッケルス結晶板11上に複数のコプレーナ線路を
豆いに平行に形成し、各々の電気信号F119a〜9d
および接地パターン線10a〜10dに対応して前記し
たのと同様のレーデ光強度検出系を構成し、それらを包
含1−るff4域をサンプリングレーザ光L2で照射す
ることによって、各々の電気信号線98〜9dに導いた
複数の責なる電気信号線路Wを回部に測定することらi
′11能である。
前記したように、ポッケルス結晶透過後のレーザ光を直
線偏光して得られる互いに直交した2つの偏光成分の一
方のみを利用するため、検出系を小ケ1化できる。また
、電気信号線路としC」プレーナ線路の特徴を活かして
差動増幅することにより、?3感度化を実現できる。
[発明の効果1 かくして本発明によれば、装置構成が小型でかつ高感度
な電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置を実現
ぐきるへ優れた効果を発揮する9、
【図面の簡単な説明】
第1図は水弁1月の実施例を小゛づブロックダイX7グ
ラム、第2図は木発Illを構成する測定記憶回路Bの
、−JII説明図、第3図μ本発明において電界による
透過レーザ光強度変化の例を示す測定1京埋説明図、第
4図は本発明の構成要素をなすポッケルス結晶板上の他
制の」ブレーナ線路の図である。1△・・・同期回路 
   B・・・測定記憶回路10・・・出側光 Ll、L2・・・サンプリングレーザ光L3・・・透過
レープ“光  SO・・・出力電気信号Sl、S2・・
・電圧信号 S3・・・差動増幅信号S4・・・ストロ
ーブ信号  W・・・電気信)]波形1・・・シンセサ
イザー  2・・・バタン発生器3・・・被測定デバイ
ス  4・・・レーザ光源5・・・可変遅k〔線   
 6・・・ビームスプリッタ7・・・偏光I     
 8・・・1/4波長板9.9a〜9d・・・電気信号
線 Qa〜10d・・・接地パターン線 1・・・ポッケルス結晶板 2a〜12g・・・間隙 13・・・検光I4.15.
19・・・光強度検出)S O・・・差動増幅器   17・・・電圧強度記憶回路
8・・・ミツ− 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、導電性の薄膜を用い互いに交差しない1以上のコプ
    レーナ線路を表面に形成したポッケルス効果を有する結
    晶板と、 レーザ光源と、 該レーザ光源からの出射光を直線偏光する偏光子と、 該偏光子を透過したレーザ光の位相を1/4波長回転し
    て前記ポッケルス結晶板表面に形成した前記コプレナー
    線路を包含する領域に照射させる1/4波長板と、 該ポッケルス結晶板を透過したレーザ光を再度直線偏光
    に戻す検光子と、 該検光子を通して得られる2つの偏光成分の一方に対し
    、前記コプレーナ線路とその両隣の接地パタン線との間
    隙を透過したレーザ光の強度を検出する光強度検出器と
    、 該光強度検出器の検出強度を各々差動増幅する差動増幅
    器と、 前記レーザ光源の照射と同期して出力電気信号をパルス
    発生する同期回路と、 該同期回路の出力をトリガとして前記差動増幅器の出力
    電圧レベル値を記憶・蓄積する電圧強度記憶回路と、 を備えてなることを特徴とする電気光学効果を利用した
    電気信号波形観測装置。 2、レーザ光源と偏光子間に、可変遅延線を介接したこ
    とを特徴とする請求項1記載の電気光学効果を利用した
    電気信号波形観測装置 3、偏光子の直前に、ビームスプリッタを前置挿入して
    レーザ光を分岐し、差動増幅器へデータ取込み用ストロ
    ーブ信号を入力することを特徴とする請求項1又は2記
    載の電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置
JP1115035A 1989-05-10 1989-05-10 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置 Pending JPH02296166A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1115035A JPH02296166A (ja) 1989-05-10 1989-05-10 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1115035A JPH02296166A (ja) 1989-05-10 1989-05-10 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02296166A true JPH02296166A (ja) 1990-12-06

Family

ID=14652594

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1115035A Pending JPH02296166A (ja) 1989-05-10 1989-05-10 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02296166A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04110929U (ja) * 1991-03-15 1992-09-25 横河電機株式会社 光サンプリング装置
JPH07151837A (ja) * 1993-06-16 1995-06-16 Tektronix Inc 特性測定システム
CN111721994A (zh) * 2020-06-19 2020-09-29 贵州江源电力建设有限公司 一种分布式高压输电线路的电压检测系统
CN113406453A (zh) * 2021-06-30 2021-09-17 平顶山学院 一种基于mcu的prpd/prps图谱数据处理方法及检测装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04110929U (ja) * 1991-03-15 1992-09-25 横河電機株式会社 光サンプリング装置
JPH07151837A (ja) * 1993-06-16 1995-06-16 Tektronix Inc 特性測定システム
CN111721994A (zh) * 2020-06-19 2020-09-29 贵州江源电力建设有限公司 一种分布式高压输电线路的电压检测系统
CN111721994B (zh) * 2020-06-19 2022-09-06 贵州江源电力建设有限公司 一种分布式高压输电线路的电压检测系统
CN113406453A (zh) * 2021-06-30 2021-09-17 平顶山学院 一种基于mcu的prpd/prps图谱数据处理方法及检测装置
CN113406453B (zh) * 2021-06-30 2023-06-23 平顶山学院 一种基于mcu的prpd/prps图谱数据处理方法及检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3273501B2 (ja) 測定経路内のガスの屈折率の変動を測定する装置及び方法
US3891321A (en) Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid
GB1450692A (en) Optical dilatometer
JPS61207903A (ja) ヘテロダイン干渉計システム
US4180328A (en) Interferometer which corrects for spurious vibrations
CA1240174A (en) Method of and device for real time measurement of the state of polarization of a quasi-monochromatic light beam
US5642195A (en) Dispersion interferometer using orthogonally polarized waves
JPH02296166A (ja) 電気光学効果を利用した電気信号波形観測装置
JPH08313600A (ja) 光化学ホールバーニング測定装置及び光偏波ホールバーニング測定装置
JPS63241440A (ja) 光学検出器の周波数応答を測定する方法および装置
JP2004163384A (ja) 時間分解・非線形複素感受率測定装置
CN214893682U (zh) 一种快速超高分辨瞬态吸收光谱测量装置
GB1362340A (en) Method of measuring small objects
EP2161535B1 (en) Interferometer using polarization modulation
US3520615A (en) Optical phase measuring apparatus
JP2742473B2 (ja) 高速電圧測定装置
JPH08278202A (ja) 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置
JPH08160110A (ja) 電気信号測定装置
SU1140009A1 (ru) Способ эллипсометрической спектроскопии
JP3020687B2 (ja) 光データパルス列検出法
Le Gouët et al. Atomic processing of optically carried RF signals
Elhanine et al. Zeeman-modulation Fourier transform spectroscopy
JP2827264B2 (ja) 光を用いた物理量測定装置
JP3662370B2 (ja) 光学式測定装置および方法
RU1775622C (ru) Дисперсионный интерферометр