JPH02281766A - 酸化物超電導体を用いた超電導素子 - Google Patents
酸化物超電導体を用いた超電導素子Info
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- JPH02281766A JPH02281766A JP1104061A JP10406189A JPH02281766A JP H02281766 A JPH02281766 A JP H02281766A JP 1104061 A JP1104061 A JP 1104061A JP 10406189 A JP10406189 A JP 10406189A JP H02281766 A JPH02281766 A JP H02281766A
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明の超電導素子は超電導体の超電導−常電導転移を
利用して、例えば限流素子として使用できるようにした
ものである。
利用して、例えば限流素子として使用できるようにした
ものである。
(従来技術)
電力用M!4機器においては、事故発生時に短絡電流を
抑えて遮断器の責務を軽減する事故時限流器(限流器)
を組合わせて使用すると短絡電流対策が容易になる。
抑えて遮断器の責務を軽減する事故時限流器(限流器)
を組合わせて使用すると短絡電流対策が容易になる。
従来、限流器には限流素子形、整流形、リアクトル形の
ものがあった このうち限流素子形のものは超電導体の超電導−常電導
転移を利用するものであり、これには超電導状態におけ
る通電損失が小さく、常電導状態における電気抵抗が高
いことが要求される。
ものがあった このうち限流素子形のものは超電導体の超電導−常電導
転移を利用するものであり、これには超電導状態におけ
る通電損失が小さく、常電導状態における電気抵抗が高
いことが要求される。
従来の限流素子は金属超電導体が用いられ、液体ヘリウ
ム温度で使用されていた。これは超電導体が常電導転移
することにより発生する自己抵抗により、超電導体への
通電電流を抑えるようにしたものである。
ム温度で使用されていた。これは超電導体が常電導転移
することにより発生する自己抵抗により、超電導体への
通電電流を抑えるようにしたものである。
しかし金属超電導体は常電導状態での電気抵抗値が低く
、またコストの高い液体ヘリウム温度で使用される必要
があるため、所望とする抵抗値を得るためには金属超電
導体を大きくしなければならず、また液体ヘリウムを使
用するため装置が大型化し、また高価になるという#1
題があった。
、またコストの高い液体ヘリウム温度で使用される必要
があるため、所望とする抵抗値を得るためには金属超電
導体を大きくしなければならず、また液体ヘリウムを使
用するため装置が大型化し、また高価になるという#1
題があった。
そこで近年は常電導状態での電気抵抗が高く、コストの
安い液体窒素で超電導状態を維持できる酸化物超電導体
を用いた限流素子が検討されている。
安い液体窒素で超電導状態を維持できる酸化物超電導体
を用いた限流素子が検討されている。
この限流素子は第7図のように基板aの上に酸化物超電
導体膜による超電導体導電路すが形成され、それと並列
に常電導体による常電導体導電路Cが形成されているも
のである。
導体膜による超電導体導電路すが形成され、それと並列
に常電導体による常電導体導電路Cが形成されているも
のである。
(従来技術の問題点)
しかし第7図の限流素子には次のような問題があった。
■、超電導体導電路すの膜厚が0.9mm前後と厚いた
め、大きな電流を流し易いC軸配向膜を得に<(、金属
超電導体に比して大電流を流しにくいという問題があっ
た。
め、大きな電流を流し易いC軸配向膜を得に<(、金属
超電導体に比して大電流を流しにくいという問題があっ
た。
■、超電導体導電路すの超電導−常電導転移は超電導体
導電路すのどこか一部からおこって全体に広がって行く
が、第7図のものは超電導導電路すの幅が均一であるた
め、どこで転移がおこり始めるかわからない、このため
同限流素子の臨界電流を設計通りに制御することが難し
かった。
導電路すのどこか一部からおこって全体に広がって行く
が、第7図のものは超電導導電路すの幅が均一であるた
め、どこで転移がおこり始めるかわからない、このため
同限流素子の臨界電流を設計通りに制御することが難し
かった。
(発明の目的)
本発明の目的は小型で、安価で、しかも大きな電流を流
すことができ、限流器として使用することができ、しか
も臨界電流の制御が容易な超電導素子を提供することに
ある。
すことができ、限流器として使用することができ、しか
も臨界電流の制御が容易な超電導素子を提供することに
ある。
(問題点を解決するための手段)
本発明の酸化物超電導体を用いた超電導素子は第2図〜
第5図に示されるように、基板l上に液体窒素温度以上
の臨界温度を有する超電導体膜による超電導体導電路2
が設けられ、該導電路2と並列に電気抵抗を有する常電
導体導電路3が設けられ、該常電導体導電路3の電気抵
抗が前記超電導体導電路2の常電導抵抗より小さ(設定
されてなる超電導素子において、前記超電導体導電路2
の一部に断面積の小さな超電導−常電導転移開始部4が
設けられてなるものである。
第5図に示されるように、基板l上に液体窒素温度以上
の臨界温度を有する超電導体膜による超電導体導電路2
が設けられ、該導電路2と並列に電気抵抗を有する常電
導体導電路3が設けられ、該常電導体導電路3の電気抵
抗が前記超電導体導電路2の常電導抵抗より小さ(設定
されてなる超電導素子において、前記超電導体導電路2
の一部に断面積の小さな超電導−常電導転移開始部4が
設けられてなるものである。
前記基板lには例えばMgO,5rTiOx、Sl等の
ような単結晶基板が用いられる。
ような単結晶基板が用いられる。
前記超電導体導電路2には例えば酸化物超電導体薄膜(
薄膜=μm単位の厚さのもの)とか酸化物超電導体厚膜
(厚i1:l/10mm単位の厚さのもの)等が使用さ
れるが、電流を流し易いC軸配向をもった膜を作り易い
酸化物超電導体薄膜が望ましい、この酸化物超電導体薄
膜は例えばPVD法、CVD法などの成膜法によりエピ
タキシャル成膜される。その材料にはRE系、Bi系。
薄膜=μm単位の厚さのもの)とか酸化物超電導体厚膜
(厚i1:l/10mm単位の厚さのもの)等が使用さ
れるが、電流を流し易いC軸配向をもった膜を作り易い
酸化物超電導体薄膜が望ましい、この酸化物超電導体薄
膜は例えばPVD法、CVD法などの成膜法によりエピ
タキシャル成膜される。その材料にはRE系、Bi系。
TI2系のものが使用される。
常電導体導電路3はAu、Ag、CIJなとの金属が線
或は膜の形で基板lに圧着あるいは蒸着されて形成され
ている。
或は膜の形で基板lに圧着あるいは蒸着されて形成され
ている。
超電導−常電導転移開始部4の幅Wは超電導体導電路2
の幅L(通常は約1mm)の約1/2程度が望ましい。
の幅L(通常は約1mm)の約1/2程度が望ましい。
(作用)
本発明の超電導素子は超電導体導電路2と常電導体導電
路3とが並列に設けられているので、超電導体導電路2
の臨界電流以下の電流を同素子に流すと、すべての電流
が超電導状態である超電導体導電路2を流れる。しかし
常電導体導電路3の抵抗値が超電導体導電路2の常電導
抵抗値よりも小さくなっているので、同素子に超電導体
導電路2の臨界電流を越える電流を流すと、超電導体導
電路2は常電導転移をおこし、その抵抗値が常電導体導
電路3の抵抗値よりも大きくなる。このため同素子を流
れる電流の大半は常電導体導電路3を流れ、常電導状態
時に同素子内に発生した抵抗により超電導体導電路2を
流れる電流が抑えられて限流効果を示す、このため本発
明の超電導素子は限流素子として使用することができる
。
路3とが並列に設けられているので、超電導体導電路2
の臨界電流以下の電流を同素子に流すと、すべての電流
が超電導状態である超電導体導電路2を流れる。しかし
常電導体導電路3の抵抗値が超電導体導電路2の常電導
抵抗値よりも小さくなっているので、同素子に超電導体
導電路2の臨界電流を越える電流を流すと、超電導体導
電路2は常電導転移をおこし、その抵抗値が常電導体導
電路3の抵抗値よりも大きくなる。このため同素子を流
れる電流の大半は常電導体導電路3を流れ、常電導状態
時に同素子内に発生した抵抗により超電導体導電路2を
流れる電流が抑えられて限流効果を示す、このため本発
明の超電導素子は限流素子として使用することができる
。
また、前記超電導−常電導転移は必ず超電導体導電路2
の超電導−常電導転移開始部4からおこり始まるので、
臨界電流を設計通りに制御し易くなる。
の超電導−常電導転移開始部4からおこり始まるので、
臨界電流を設計通りに制御し易くなる。
(実施例)
本発明の超電導素子の原理は第1図に示されているよう
に、基板lの上に酸化物超電導体膜による超電導体導電
路2が設けられ、それに並列に常電導体導電路3が設け
られ、前記超電導体導電路2の長手方向中央部に断面積
が最小である超電導−常電導転移部4が形成されている
。
に、基板lの上に酸化物超電導体膜による超電導体導電
路2が設けられ、それに並列に常電導体導電路3が設け
られ、前記超電導体導電路2の長手方向中央部に断面積
が最小である超電導−常電導転移部4が形成されている
。
第2図〜第5図は本発明の超電導素子の各種実施例であ
る。
る。
このうち第2図aの超電導素子は酸化物超電導体膜によ
る超電導体導電路2と常電導体による常電導体導電路3
とを、同図すのように同一基板lの同一面上に蒸着法に
より薄膜状(μm1位の厚さ)に形成したものである。
る超電導体導電路2と常電導体による常電導体導電路3
とを、同図すのように同一基板lの同一面上に蒸着法に
より薄膜状(μm1位の厚さ)に形成したものである。
この構造にすることにより小型でしかも機械的にも強い
超電導素子を作ることができる。
超電導素子を作ることができる。
第3図の超電導素子は基板lの上に酸化物超電導体膜に
よる超電導体導電路2を形成し、その上に常電導体膜に
よる常電導体導電路3を蒸着法により薄膜状に形成した
ものである。この場合は常電導体導電路3に導電路とし
ての機能だけでな(超電導体導電路2を機械的に保護す
る保護膜としての機能をももたせである。
よる超電導体導電路2を形成し、その上に常電導体膜に
よる常電導体導電路3を蒸着法により薄膜状に形成した
ものである。この場合は常電導体導電路3に導電路とし
ての機能だけでな(超電導体導電路2を機械的に保護す
る保護膜としての機能をももたせである。
第4図の超電導素子は基板lの上面に酸化物超電導体膜
による超電導体導電路2が複数本並列に形成され、各超
電導体導電路2の上に常電導体膜による常電導体導電路
3が積層されてなるものである。この超電導体導電路2
も常電導体導電路3も蒸着法により薄膜状に形成されて
いる。これは大電流用のものである。
による超電導体導電路2が複数本並列に形成され、各超
電導体導電路2の上に常電導体膜による常電導体導電路
3が積層されてなるものである。この超電導体導電路2
も常電導体導電路3も蒸着法により薄膜状に形成されて
いる。これは大電流用のものである。
第2図〜第4図の超電導素子はいずれも基板lの上面だ
けにしか超電導体導電路2と常電導体導電路3とが設け
られていないが、第5図の超電導素子は基板lの上面だ
けでなく下面にも超電導体導電路2を設け、その外側に
常電導体導電路3を設けたものである。
けにしか超電導体導電路2と常電導体導電路3とが設け
られていないが、第5図の超電導素子は基板lの上面だ
けでなく下面にも超電導体導電路2を設け、その外側に
常電導体導電路3を設けたものである。
なお、第2図〜第5図ではいずれの超電導体導電路2に
も超電導−常電導転移部4がバヨ成されている。
も超電導−常電導転移部4がバヨ成されている。
また、第2図〜第4図の5は通電電流端子である。
本発明の超電導素子は具体的には例えば次のようにして
製作される。
製作される。
幅1mm、長さ10mmのIVIgO単結晶基板1を5
00℃〜650℃に加熱し、Y、Ba、Cu金属をソー
スにもつ3元共蒸着を酸素圧1−10m1−1O下で行
なって、前記単結晶基板1の上にY + B a 2
Cu s OxのC軸配向膜を0.4umの厚さに成膜
する。
00℃〜650℃に加熱し、Y、Ba、Cu金属をソー
スにもつ3元共蒸着を酸素圧1−10m1−1O下で行
なって、前記単結晶基板1の上にY + B a 2
Cu s OxのC軸配向膜を0.4umの厚さに成膜
する。
この酸化物超電導体薄膜の臨界電流は約0.8Aであり
、臨界温度直上での常電導抵抗値は約8Ωとなる。この
薄膜の両端をφ50μm、長さ1cmのAg線で短絡す
ると、同Ag#ilの液体窒素での抵抗値は約1.4Ω
となる。
、臨界温度直上での常電導抵抗値は約8Ωとなる。この
薄膜の両端をφ50μm、長さ1cmのAg線で短絡す
ると、同Ag#ilの液体窒素での抵抗値は約1.4Ω
となる。
このようにして作られた超電導素子を液体窒素に入れ、
第5図のように交流電源と直列に接続された外部負荷8
.9との間に入れた。このとき回路に流れる電流は0.
6Aであり、限流素子は超電導状態である。スイッチS
Wにより外部負荷9を短絡すると、限流素子のないとき
は6Aの短絡電流が流れるが、限流素子が入ると2Aと
なり、この素子の限流効果が確認された。
第5図のように交流電源と直列に接続された外部負荷8
.9との間に入れた。このとき回路に流れる電流は0.
6Aであり、限流素子は超電導状態である。スイッチS
Wにより外部負荷9を短絡すると、限流素子のないとき
は6Aの短絡電流が流れるが、限流素子が入ると2Aと
なり、この素子の限流効果が確認された。
(発明の効果)
本発明の超電導素子は次のような効果がある。
■、超電導体導電路2に超電導−常電導転移開始部4が
形成されているので、超電導−常電導転移が必ず同開始
部4からおこり始める。このため臨界電流を設計通りに
制御することが可能となる。
形成されているので、超電導−常電導転移が必ず同開始
部4からおこり始める。このため臨界電流を設計通りに
制御することが可能となる。
■、超電導体導電路2が液体窒素温度以上の臨界温度を
有する酸化物超電導体膜で形成されているので、超電導
体導電路2を超電導状態に維持するのに液体窒素を使用
することができ、ランニングコストが低減され、しかも
小型化できる。
有する酸化物超電導体膜で形成されているので、超電導
体導電路2を超電導状態に維持するのに液体窒素を使用
することができ、ランニングコストが低減され、しかも
小型化できる。
■、常電導体導電路3の電気抵抗値が超電導体導電路2
の常電導抵抗値より小さ(設定されているので、超電導
体導電路2が常電導状態になると電流が常電導体導電路
3を流れる。このため大電流を制御する限流素子として
使用することができる。
の常電導抵抗値より小さ(設定されているので、超電導
体導電路2が常電導状態になると電流が常電導体導電路
3を流れる。このため大電流を制御する限流素子として
使用することができる。
■、超電導体導電路2をμm単位の薄い酸化物超電導体
薄膜で形成すれば、電流の流れ易いC軸配向膜が得られ
易く、そのようにすれば従来の酸化物超電導体厚膜を使
用する場合よりも大電流を流すことができる。
薄膜で形成すれば、電流の流れ易いC軸配向膜が得られ
易く、そのようにすれば従来の酸化物超電導体厚膜を使
用する場合よりも大電流を流すことができる。
第1図は本発明の超電導素子の原理図、第2図aは同超
電導素子の一実施例の斜視図、同図すは側面図、第3図
〜第5図は同超電導素子の他の実施例の斜視図、第6図
は同超電導素子の使用説明図、第7図は従来の超電導素
子の原理説明図である。 lは基板 2は超電導体導電路 3は常電動体導電路 4は超電導−常電導転移開始部
電導素子の一実施例の斜視図、同図すは側面図、第3図
〜第5図は同超電導素子の他の実施例の斜視図、第6図
は同超電導素子の使用説明図、第7図は従来の超電導素
子の原理説明図である。 lは基板 2は超電導体導電路 3は常電動体導電路 4は超電導−常電導転移開始部
Claims (1)
- 基板l上に液体窒素温度以上の臨界温度を有する超電導
体膜による超電導体導電路2が設けられ、該導電路2と
並列に電気抵抗を有する常電導体導電路3が設けられ、
該常電導体導電路3の電気抵抗が前記超電導体導電路2
の常電導抵抗より小さく設定されてなる超電導素子にお
いて、前記超電導体導電路2の一部に断面積の小さな超
電導−常電導転移開始部4が設けられたことを特徴とす
る酸化物超電導体を用いた超電導素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1104061A JPH02281766A (ja) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | 酸化物超電導体を用いた超電導素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1104061A JPH02281766A (ja) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | 酸化物超電導体を用いた超電導素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02281766A true JPH02281766A (ja) | 1990-11-19 |
Family
ID=14370666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1104061A Pending JPH02281766A (ja) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | 酸化物超電導体を用いた超電導素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02281766A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016164907A (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | バンド間位相差ソリトンの発生方法 |
-
1989
- 1989-04-24 JP JP1104061A patent/JPH02281766A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016164907A (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | バンド間位相差ソリトンの発生方法 |
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