JPH02254455A - フォトレジスト露光方法およびその装置 - Google Patents

フォトレジスト露光方法およびその装置

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JPH02254455A
JPH02254455A JP1077094A JP7709489A JPH02254455A JP H02254455 A JPH02254455 A JP H02254455A JP 1077094 A JP1077094 A JP 1077094A JP 7709489 A JP7709489 A JP 7709489A JP H02254455 A JPH02254455 A JP H02254455A
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resist
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light source
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JP1077094A
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Minoru Watanuki
綿貫 稔
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Orc Manufacturing Co Ltd
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Orc Manufacturing Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70425Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電着塗装法によりプリント配線用基板の表面
およびスルーホール内壁面にコーティングされた感光性
樹脂(電着性フォトレジスト)を、フィルムを介して露
光するフォトレジスト露光方法およびその装置に関する
ものである。
〔従来の技術〕
プリント配線板の製造法は、サブトラクティブ法とアデ
ィティブ法に分れる。後者のアディティブ法は、絶縁基
材の上に心嚢な部分のみ無電解めっきにより導体回路を
直接形成する方法であるが、無電解めっき皮膜の物性を
維持するための高度な技術力と工程管理を必要とするこ
とから、あまり普及していない。前者のサブトラクティ
ブ法は、銅張積層板を用い回路部分以外の銅をエツチン
グにより除去する方法であり、精密回路画像形成用とし
て現在この方法が主流をなしている。
サブトラクティブ法は、スルーホールめっきされた銅張
積層板の表面に、感光性レジストフィルムを熱ラミネー
トし、ネガティブフィルムを通して紫外線露光したのち
表面のフィルムをはがし、現像して非露光部を除去する
ものである。この場合、従来のレジスト感剤は、スルー
ホール内壁面にまでコートすることができなかったため
、スルーホールめっき導体が現像液やエツチング液によ
り浸蝕されることのないようにこれを保護する手段を必
要とした。つまり、スルーホールをドライフィルムある
いはレジストインクによりカバーして、銅張層を直接エ
ツチングする方法(テンティング法)、導体回路パター
ンおよびスルーホールめっき導体の上にハンダめっきし
て、ハンダ層を耐酸膜としてエツチングする方法(ハン
ダスルーホール法)がそれである。
しかし、最近開発された高分子電着法を用いると、スル
ーホール内壁面にまでレジストを塗布することができ、
現像後、電着レジストによりスルーホールが覆われた状
態でエツチングを行なうことが可能である。この高分子
電着法は、スルーホールめっきされたプリント配線用基
板に、電着性と感光性の2つの機能を合せもった怒光性
樹脂(電着性フォトレジスト)を電着塗装法でコーティ
ングする方法であって、従来の如くテンティングの必要
がないので、高解像度のレジストパターンが形成できる
ものとして注目されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記高分子電着法において、スルーホールめっきされた
プリント配線用基板の表面およびスルーホール内壁面に
一様に電着塗装されたフォトレジストは、露光装置によ
りフィルムを介して紫外線が露光照射されるが、基板表
面の回路画像形成用のレジスト露光と、スルーホールの
レジスト露光とは、それぞれに要する露光照射エネルギ
ーが大きく異なるので、従来、単一の露光装置で共用さ
せることは不可能であった。この理由を詳しく述べると
、電着フォトレジストは、基板表面においてもスルーホ
ール内壁面においても等しいコーティング厚さに形成さ
れているが、スルーホールは基板表面から鉛直方向に貫
通されており、深度があって(基板表面のレジストコー
ティング厚さにくらべ、スルーホールの厚さに相当する
レジスト層の長さは約80倍となる)しかもホール径が
0.25〜0.8ONmと小さ(光が入りに(いことに
加えて、ホール数が基板1枚当り5.000〜13,0
00個と多いことから、スルーホールのレジスト露光は
、画像形成用のレジスト露光にくらべて大きな露光照射
エネルギーを要し、同一の光線照射では、エネルギー不
足によるレジスト未硬化が生じる。これに対応して光線
を大容量化し、露光エネルギーを極端に増大すると、基
板の精密回路画像形成に影響が出る。すなわち、光量が
大きすぎて光がフィルムのポジ部まで突き抜けてしまう
、フィルムが熱により伸縮する。レジスト破壊を生じる
おそれがある。線幅回路が太り又は細るため精密画像の
形成が困難となる。といった問題を生じる。したがって
、従来は、基板表面の回路画像形成用のレジスト露光を
行なうための光源と、スルーホールのレジスト露光を行
なうための光源とを個別に準備し、光源からの所要の距
離と所要の照射エネルギーの光線で露光する必要があり
、能率が悪く、画像形成の精度も落ちるものであった。
本発明は、上記従来装置の欠点を解消し、電着フォトレ
ジストがコーティングされたプリント配線用基板におけ
るスルーホールのレジスト露光に続く基板表面のレジス
ト露光を、単一の露光装置により効率よく行ない得るフ
ォトレジストの露光方法およびその装置を提供すること
を目的とする。
(課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するための具体的手段として、本発明
は、 (1)  スルーホールめっきされたプリント配線用基
板の表面およびスルーホール内壁面に、電着塗装法によ
りフォトレジストをコーティングし、フィルムを介して
上記電着レジストの露光を行なうに当り、ワーク体の表
面に近接した位置で、ワーク体に対面状に紫外線を直接
照射し、ネガティブフィルムを介して、スルーホール内
壁面の電着レジストの露光を行なった後、ワーク体より
離隔した位置から紫外線を平板面反射鏡を介して間接的
に照射し、精密回路画像形成用のフィルムを介して、基
板表面の電着レジストの露光を行なうことを特徴とする
フォトレジスト露光方法。
(2)スルーホールめっきされたプリント配線用基板の
表面およびスルーホール内壁面に、電着塗装法によりコ
ーティングされたフォトレジストを、フィルムを介して
紫外線を照射し、露光するフォトレジスト露光装置にお
いて、ワーク体と、このワーク体の上下面に近接して対
面状に配設した光源と、この光源をその一側端部を支点
として鉛直方向に揺動可能に支持するヒンジ機構と、上
記鉛直方向に揺動した光源からの光線を反射しワーク体
に平行光路として照射する平板面反射鏡を具備すること
を特徴とするフォトレジスト露光装置。
を提示するものである。
〔作用〕
上記の手段により、プリント配線用基板のスルーホール
内壁面にコーティングされた電着レジストは、ワーク体
に近接した位置において直接露光され、また基板表面に
コーティングされた電着レジストは、ワーク体より離隔
した位置から反射鏡を介して間接的に露光される。
〔実施例〕
以下に、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明に係るフォトレジスト露光方法および
その装置を説明するための装置の斜視図である。図中、
1は露光装置本体で、脚台部1a。
la上に水平状態を保持するように載置されている。本
体1の前部には操作盤21を、後部の上段には冷却装置
部22を、同じく下段には電源配置部23をそれぞれ設
けである。
本体l中央部の所定位置には、露光照射されるべきワー
ク体2、すなわち電着塗装法により基板表面およびスル
ーホール内壁面にフォトレジストをコーティングしたプ
リント配線用基板を配設する。3は、上記ワーク体2の
幅および長さをカバーする所要本数の高圧水銀灯3a、
3b、3c。
3dからなる光源である。高圧水銀灯は、第4図および
第5図に拡大して示す如く、紫外線発生源31を冷却管
32に内挿し、その間に冷却水33を介在させた光源部
30の一側に、半円筒形の直射光線遮断反射鏡34を設
け、また光源部30の他側には、放物面反射鏡35を備
える。この光源部30には、実公昭62−32287号
において提案した液冷式瞬時点灯型水銀灯が用いられて
おり、弊害光線である熱線を連続点釘形放電灯の1/2
に押えたことを特徴としている。
上記光源3,3は、第2図に示す如く、ワーク体2の上
下面に近接して対面状に水平配列されており、光源部3
0からの光線が直射光線遮断反射鏡34、放物面反射鏡
35により反射され、ネガティブフィルム4.4を介し
てワーク体2に照射される。また、光源3,3は、その
−側端部を支点として鉛直方向に揺動可能に支持し得る
ヒンジ機構5,5を有する。
このヒンジ機構5,5により鉛直方向に揺動した光源3
,3は、第1図および第3図に示す如く、ワーク体2に
対して垂直配列されており、ワーク体2の被照射面と平
行(水平方向)に光線を照射する。上記垂直配列された
光源3.3の上方および下方の本体1内壁面には、反射
鏡取付支持具6゜6が枢支され、この支持具6.6に平
板面反射鏡7.7を取付けている。平板面反射鏡7,7
は、反射鏡基材7aの表面に、傷のない反射鏡面材7b
例えば金属ラミネート加工したプラスチックフィルムを
貼着したコールドミラーで、垂直配列された光源3,3
から照射された光線をワーク体2に向は反射するように
、支持具6.6に、鉛直方向に対し約45°の角度で懸
垂されている。平板面反射鏡7.7により反射された光
線は、ワーク体2との間に配設されたルーパー8.8を
通過して補正され平行光線となって、精密回路画像形成
用のフィルム4’、4’を介してワーク体2に照射され
る。
さて、上記の機構を備えるフォトレジスト露光装置にお
いて、ワーク体2のスルーホール内壁面のレジスト露光
を行なう第1のレジスト露光は、ワーク体2の上下面に
近接して対面状に水平配列された第2図に示す光源3,
3により、スルーホール専用のネガティブフィルム4.
4を介してワーク体2に拡散した光線を照射して行な、
う。すなわち、ワーク体2に近接した位置より、強力な
光線を均一に照射し、スルーホール内壁面にコーティン
グされた電着レジストを直接露光して、硬化せしめるも
のである。
次に、ワーク体2の表面のレジスト露光を行なう第2の
レジスト露光は、光源3,3をその一側端部を支点とし
て鉛直方向に揺動するとともに、スルーホール専用のネ
ガティブフィルム4.4に代えて、精密回路画像形成用
のフィルム4’、4’を、真空フレームを介して同位置
に密着させ、第3図に示す垂直配列された光源3.3か
らの光線を、平板面反射鏡7.7により反射させ、ワー
ク体2に平行に照射して行なう。すなわち、ワーク体2
に対面状に水平配列されていた光源3.3を、ヒンジ機
構5,5をもって鉛直方向に揺動し、垂直配列とするこ
とにより、光源はワーク体2から離隔されて位置するこ
ととなり、ワーク体2表面にコーティングされた電着レ
ジストを、平板面反射鏡7,7を介して間接的に露光し
、硬化せしめるものである。
上記第1および第2のレジスト露光を行うごとに、光源
3.3は、その−側端部のヒンジ機構5゜5をもって水
平方向または鉛直方向に揺動されるが、揺動の際は、そ
の他側端部が平板面反射鏡7゜7に当接することのない
ように、平板面反射鏡7゜7が支持具6,6を支点とし
て吊り上げられ、水平方向に維持される。本例では、第
3図に示す如く、反射鏡基材7aの中間部に折曲部7c
を形成し、裏面の揺動側の端部7dと中間部7eおよび
上記支持具6に、支持部材9,10.11を設けると共
に、本体1内の反射鏡取付支持具6と対向する隅部に配
設したモータ12の駆動軸12aと、上記各支持部材9
,10.11との間にワイヤ13を吊架し、光源3,3
の揺動の際に、このワイヤ12をモータ12により巻き
上げ、平板面反射鏡7,7を図の実線の位置から鎖線の
位置に吊持し、折曲部7Cにおいて折れ曲がる態様で水
平状態に保持する。
第2のレジスト露光、すなわち基板表面の電着レジスト
の露光は、光源3,3を水平位置から揺動し、鉛直方向
に垂直配列して行うが、揺動後の光源と平板面反射鏡と
は、照射された光線がワーク体2に向は平行となるよう
に反射方向を微調整し、相対的に位置決めがなされる。
光源3.3からの光線は、第4図および第5図に示す如
く、光源部30からの光を放物面反射鏡35で反射し、
平板面反射鏡7に向は平行光路帯14として照射される
が、この平行光路帯14の中、半円筒形の直射光線遮断
反射鏡34に遮られた光路15(図中に斜線で示す。)
は、陰影部となり、平板面反射鏡7により反射された当
該光路15’も陰影部となって、照度が弱くなる。この
ため、画像精度に支障をきたすおそれがある。そこで、
本例においては、平板面反射鏡7自体を、公知の手段に
より、矢印16の方向に微少揺動せしめ、平行光路の平
均化を図り、陰影部の影響を画像精度に極力及ばせない
ように構成した。
第6図は、光源部30からの光を放物面反射鏡35で反
射する反射光線についての説明図で、図中、符号a、b
、c、dおよびe、  fは、放電管に直角な放物面反
射鏡による平行光線を示す。−方、符号gは、放電管に
直角でない光の成分、つまり拡散光線を示す。本例にお
いては、上記の平板面反射鏡7の微少揺動によって、拡
散光線を発生させ、平行光線の陰影部を補正すると共に
、過度光線は中間のルーパー8にて補正させている。
〔発明の効果〕
上記の構成からなる本発明のフォトレジストの露光方法
およびその装置によれば、電着塗装法によりフォトレジ
ストをコーティングしたプリント配線用基板のスルーホ
ール内壁面の電着レジストの露光を行なう第1のレジス
ト露光は、ワーク体の表面に近接した位置で、ネガティ
ブフィルムを介して、ワーク体に対面状に紫外線を直接
照射し、次いで基板表面の電着レジストの露光を行なう
第2のレジスト露光は、ワーク体より離隔した位置から
紫外線を平板面反射鏡により反射させ、精密回路画像形
成用のフィルムを介して間接的に照射するようにしたの
で、下記の効果を奏する。
スルーホール内壁面の電着レジストの露光は、ワーク体
に近接した位置より、強力な光線を直接均一に照射して
行なうので、露光照射エネルギーが大きく、従来の如き
レジスト未硬化を生ずるおそれがない。また基板表面の
電着レジストの露光は、ワーク体より離隔した位置から
間接的な紫外線照射により行なうので、従来の如く光量
が大きすぎて光がフィルムのポジ部まで突き抜けるよう
なことがなく、フィルムの熱による伸縮やレジスト破壊
のおそれもない。したがって、基板の精密回路画像形成
の精度を向上し得る。さらに、上記スルーホールの内壁
面の露光を行なう第1のレジスト露光および基板表面の
レジスト露光を行なう第2のレジスト露光を、光源の一
側端部を支点として鉛直方向に揺動可能に支持するヒン
ジ機構と平板面反射鏡とを露光光源に具備せしめること
により、単一の装置で行なえるようにしたので、従来の
如く光源を各露光工程で個別に準備する必要がなく、能
率的である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係るフォトレジスト露光方法および
その装置の実施例を説明するための装置の斜視図である
。第2図および第3図は、第1図に示す装置の正面断面
図で、第2図は光源をワーク体に近接して配設した状態
、第3図は同装置を揺動しワーク体より離隔した状態を
それぞれ示す。 第4図および第5図は、第3図の一部拡大断面図および
同斜視図、第6図は、光源部からの光を放物面反射鏡で
反射する反射光線についての説明図である。 1・・・露光装置本体   1a・・・脚台部2・・・
ワーク体     3・・・光源3a〜3d・・・高圧
水銀灯 4・・・ネガティブフィルム 4′・・・精密回路画像形成用フィルム5・・・ヒンジ
機構    6・・・反射鏡取付支持具7・・・平板面
反射鏡   7a・・・反射鏡基材7b・・・反射鏡面
材   7C・・・折曲部7d・・・端部      
8・・・ルーバー9.10.11・・・支持部材 12・・・モータ     12a・・・駆動軸13・
・・ワイヤ     14・・・平行光路帯15.15
’・・・光路  16・・・矢印21・・・操作盤  
   22・・・冷却装置部23・・・電源配置部  
 30・・・光源部31・・・紫外線発生源  32・
・・冷却管33・・・冷却水 34・・・直射光線遮断反射鏡 35・・・放物面反射鏡

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)スルーホールめっきされたプリント配線用基板の
    表面およびスルーホール内壁面に、電着塗装法によりフ
    ォトレジストをコーティングし、フィルムを介して上記
    電着レジストの露光を行なうに当り、 ワーク体の表面に近接した位置で、ワーク体に対面状に
    紫外線を直接照射し、ネガティブフィルムを介して、ス
    ルーホール内壁面の電着レジストの露光を行なった後、 ワーク体より離隔した位置から紫外線を平板面反射鏡を
    介して間接的に照射し、精密回路画像形成用のフィルム
    を介して、基板表面の電着レジストの露光を行なうこと
    を特徴とするフォトレジスト露光方法。
  2. (2)基板表面の電着レジストの露光を行なうに当り、
    平板面反射鏡を微少揺動させ、過度光線を中間のルーバ
    ーで補正することを特徴とする請求項(1)に記載のフ
    ォトレジスト露光方法。
  3. (3)スルーホールめっきされたプリント配線用基板の
    表面およびスルーホール内壁面に、電着塗装法によりコ
    ーティングされたフォトレジストを、フィルムを介して
    紫外線を照射し、露光するフォトレジスト露光装置にお
    いて、 ワーク体と、このワーク体の上下面に近接して対面状に
    配設した光源と、この光源をその一側端部を支点として
    鉛直方向に揺動可能に支持するヒンジ機構と、上記鉛直
    方向に揺動した光源からの光線を反射しワーク体に平行
    光路として照射する平板面反射鏡を具備することを特徴
    とするフォトレジスト露光装置。
JP1077094A 1989-03-29 1989-03-29 フォトレジスト露光方法およびその装置 Pending JPH02254455A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5258808A (en) * 1991-08-28 1993-11-02 Orc Manufacturing Co., Ltd. Exposure apparatus for forming image
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