JPH02242488A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

Info

Publication number
JPH02242488A
JPH02242488A JP1065047A JP6504789A JPH02242488A JP H02242488 A JPH02242488 A JP H02242488A JP 1065047 A JP1065047 A JP 1065047A JP 6504789 A JP6504789 A JP 6504789A JP H02242488 A JPH02242488 A JP H02242488A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
output
image
pixels
weighting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1065047A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayoshi Umeno
正義 梅野
Takashi Jinbo
神保 孝志
Shiyouen Shiyu
朱 小燕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Erumano Sumiwa Kk
Original Assignee
Erumano Sumiwa Kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Erumano Sumiwa Kk filed Critical Erumano Sumiwa Kk
Priority to JP1065047A priority Critical patent/JPH02242488A/ja
Publication of JPH02242488A publication Critical patent/JPH02242488A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、画像の特徴点を並列処理により高速に検出で
きる画像処理装置に関する。
【従来技術】
従来、画像の特徴点を検出する画像処理装置では、各画
素毎にディジタル化された濃淡画像を各画素毎に順次処
理する逐次処理方式が採用されている。そして、その特
徴点の検出においても、通常は、濃淡画像を微分してエ
ツジ画像を求め、さらにそのエツジ画像から稜線を抽出
して、物体の輪郭を把握したり、その稜線を追跡して、
角、交点、端点等の特徴点を抽出することが行われてい
る。
【発明が解決しようとする課題】
このような逐次処理のため、特徴点検出に時間がかかる
さいう問題がある。 本発明は、上記の課題を解決するために成されたもので
あり、その目的は並列処理により直ちに特徴点、特に、
線画像の端点と交点の抽出を可能とすることである。
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための発明の構成は、画像平面の各
画素を構成する2次元配列された光電変換素子と、画像
平面の各画素に対応し、その各画素を中心とする中心対
称な微小領域を画像平面上に仮想したとき、その微小領
域に存在する各画素の光電変換素子の各出力をその画素
の微小領域内での相対位置に応じた重み係数で重み付け
て加算する加算手段きを設けたことである。
【作用】
各画素に対応して加算手段が設けられている。 その1つの加算手段は、画像平面上にその加算手段に対
応する画素を中心として中心対称な微小領域を仮想した
時に、その微小領域に存在する各画素の光電変換素子の
各出力を、所定の重み係数で重み付けて加算する。この
加算手段の出力から画像の輪郭、端点、交点等の特徴点
を抽出することができる。所定の重み係数は微小領域内
での各画素の相対位置によって変化する関数であり、抽
出される特徴点の種類はその重み関数によって決定され
る。
【実施例】
以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説明する。 第1図において、1は初段の画像入力部である。 画像入力部1は文字等の認識画像が投影される画像平面
10を有しており、その画像平面10は2次元マl−’
Jックス状に配設された多数の画素Pで構成されている
。その画素Pはフォトトランジスタで構成されている。 画像平面10の各画素Pはアドレス(X、 Y)で特定
される。本実施例では、画素数は24X24で構成され
ている。 第2図において、2は第2段の信号処理部であり、画像
平面10の各画素Pに対応して信号処理回路Sが設けら
れている。そして、その信号処理回路も画素アドレス(
X、Y)で特定され、各画素に対応し、24X24のマ
トリッスクに構成されている。 1つの画素P(i、j)を中心とする微小頭域Aは、画
素P (i−1,j−1)、 P (i、 j−1)、
 P (i+l、 j−1)。 P  (i−1,j)、P  (i、j>、P  (i
+1.j)。 P (i−1,j+IL P (i、 j+1)、 P
 (i+1. j+1)の3×3のマトリックス領域で
ある。 任意の1つの信号処理回路S(i、j)には、その回路
S(i、j)に対応する画素P(i、j)を中心とする
微小領域A内にある9個の画素の出力信号が入力してい
る。但し、i=1. n又はj=1.mとなる画像平面
10の端部にある信号処理回路では、微小領域Aに存在
する画素の出力信号だけが入力している。 画像入力部1の各画素Pは、第3図に示すように、フォ
トトランジスタPTキ負荷抵抗Rrで構成されており、
各画素Pの出力信号UはフォトトランジスタPTのコレ
クタから取り出されている。 尚、画像平面1に投影される画像はポジ型、ネガ型何れ
でも処理可能であるが、本実施例では、背景が明部で文
字等の認識画像部が暗部となっている画像とする。又、
フォトトランジスタPTは、受光量(1画素当たりの受
光面積に比例する受光量を含む)に比例して動作する能
動領域でも使用されるが、以下の説明では、簡単の為に
、各画素は明暗の2値をとり、フォトトランジスタPT
はそれに応じてオン、オフの2値状態をとるものとする
。 したがって、文字等のMEWI画像部に対応するフォト
トランジスタPTはオフ状態であり、出力信号Uは電圧
Vccの「1」状態をとり、背景部に対応するフォトト
ランジスタPTはオン状態であり、出力信号Uは電圧0
の「O」状態をとる。 信号処理回路S(i、j)は、第4図に示すように、加
減算回路20を有している。その加減算回路20は、画
素P(i、j)を中心とする微小頭域Aに存在する9個
の画素P (i−1,j−1)〜画素P (i+L j
+1)の出力信号U (i−1,j−1)〜U (i+
1. j+1)を入力している。そのうち、中心画素P
(i、j)から出力される出力信号U (i、 j)は
インバータINIで反転される。但し、インバータIN
Iは、+Vccと−Vccとの2電源を用いているので
、画素P(i、j)からの出力信号U (i、 j)は
「0」と「1」の2値状態をとるが、インバータINI
で反転された信号は、電圧−Vccの「−1」と電圧0
の「0」と電圧+Vccの「1」との3値状態をとり得
る。即ち、中心画素P(i、j)が暗部画素のときは出
力信号U (i、 j)は「1」状態であるが、インバ
ータINIで反転されて「−1」状態となり、中心画素
P(i、j)が明部画素のときは出力信号U (i、 
j)は「0」状態であり、インバータINIで反転され
た結果も「0」状態となる。 そして、中心画素P(i、j)の出力信号U (i、 
j)の反転信号と他の画素の出力信号は、抵抗RIO〜
R1Bを介して演算増幅器OPIの反転入力端子に入力
している。又、演算増幅器OPIの非反転入力端子は接
地されており、電源には+Vccと−Vccとの2電源
を用いているので、演算増幅器DPIの出力はVccか
ら+Vccまでアナログ的に変化する。 このように加減算回路20では、中心画素P(ij)の
出力信号U(i、j)を除く入力信号はRLI/R10
〜RLI/R18(RLI/R14を除く)の重み係数
を掛けて加算され、中心画素P(i、j)の出力信号U
(i、j)はRLI/R14の重み係数を掛けて減算さ
れる。そして、演算増幅器叶1は反転増幅器であるので
、演算増幅器OPIの出力レベルは、その加減算結果の
符号を反転した値に対応する。 上記の重み係数RLI/R10=RL1/R18は、第
5図に示す値に設定されている。したがって、演算増幅
器OPIの出力電圧V21は、第6図(a)に示す各画
素に対応した数値のうちで、暗部画素の数値の和X V
ccとなる。又、演算増幅器OPIの出力電圧v21を
インバータlN2で反転して得られる電圧V22は、第
6図(b)に示す各画素に対応した数値のうちで、暗部
画素の数値の和X Vccとなる。 上記の電圧V21はコンパレータCPIでしきい値電圧
Th1(>0)と比較され、電圧0の「0」状態又は電
圧Vccの「1」状態に2値化される。同様に電圧V2
2はコンパレータCP2でしきい値電圧Th2(〉0)
と比較され、「0」状態又は「1」状態に2値化される
。そして、それらの2値化された信号はORゲート21
に入力し、いづれか一方の電圧、が「1」状態の時にO
Rゲート21の出力が「1」状態となる。この「1」状
態の信号を出力する信号処理回路に対応した画素に画像
の特徴点が存在する。 尚、電圧V21は後述するONタイプ受受容野出力に対
応し、電圧V22は叶Fタイプ受容野の出力に対応する
。 上記のフォトトランジスタPTから成る初段の画像入力
部1は人間の網膜の視細胞層を、加減算回路20を含む
第2段の信号処理部2は人間の神経節細胞層をモデル化
したものである。1つの神経節細胞の出力が「1」の時
、その神経節細胞は発火していると言われ、それは、信
号処理部2の1つの出力a (i、 j)が「1」状態
であることに対応する。 視細胞層Gと神経節細胞層Hとの関係は、第7図に示さ
れている。1つの神経節細胞層Hに影響を与える視細胞
層Gの領域を受容野と言うが、その受容野には、中心部
に光刺激を与えた時に正の信号が出力されるON中心叶
F周辺型受受容(ONタイプ)Flと、中心部に光刺激
を与えた時に、負の信号が出力されるOFF中心ON周
辺型受容受容OFI?タイプ) F2とが考えられてい
る。そして、その受容野の加重W(r)は次式で与えら
れる。 W (r)=W c (r)+ W s (r)   
       −(1)但し、 Wc(r)4cmexp(−(r/rc)2)Ws(r
)=Ks−exp(−(r/rs)2)であり、rは中
心点からの距離、rc、 rsは標準偏差である。ON
タイプ受容野Flの場合には、Kcは正でKsは負であ
る。又、OFFタイプ受容受容2の場合には、Kcは負
でKsは正である。このような、加重W(r)は、距離
rに対して第8図に示す特性となっている。 このようなONタイプ受容野F1及びOf’Fタイプ受
容野受容野次2て、上記加重で重み付けて加算された出
力値は、第9図(a)、 (bHこ示すようになる。即
ち、ONタイプ受容野F1では画像の端点て大きい正の
出力値が得られ、DPI?タイプ受容野受容では、画像
の交点で大きい正の出力値が得られる。そして、これら
の出力のしきい値開数又はシグモイド関数の値が神経節
細胞層Hの出力となる。 上記の加減算回路20の加算比率(重み係数)は、(1
)式に基づいて設定されたものである。 このように、加減算回路20の出力電圧V21が大きな
正値をとる画素が端点てあり、出方電圧v21の反転電
圧V22が大きな正値をとる画素が交点となる。したが
って、しいき値電圧Thl、 Th2で2値化された信
号の論理和出力V23が「1」状態をとる時、それに対
応する画素は端点又は交点の特徴点となる。 例えば、「十」字体について、信号処理部2における電
圧V21と電圧V22の画素に関する出力分布は第10
図(a)、(b)に示すものとなる。第10図(a)か
ら分かるように端点画素A1〜A4の電圧V21は、0
、899Vccとなり、最大値となっている。したがっ
て、しきい値電圧Thlを0.845Vccとすること
で、その画素のみを抽出することができる。 又、第10図(b)から分かるように、「+」字体の交
点における4つの角の画素81〜B4の電圧V22は、
0.649Vccとなり、最大値となっている。又、「
Y」字体の場合には、電圧V22の画素分布は第10図
(C)に示すようになり、交点の角の画素B5の電圧V
22は0.601Vccであるので、しきい値電圧Th
2を0.550VCG;止することで、その交点の角に
存在する画素のみを抽出することができる。 したがって、信号処理部2の出力は、「+」字体の場合
には第11図(a)に示すように、端点画素A1〜A4
と交点の角の画素81〜B4で出力は「1」状態となり
、「Y」字体の場合には端点画素A5〜A7と交点の角
の画素B5で出力は「1」状態となる。 即ち、神経節細胞で言えば発火状態である。 次に、特徴区画検出手段と線分散検出手段を有する特徴
検出部3について説明する。信号処理部2の画素に対応
した24X24の出力は、第12図に示すように3×3
の画素領域を1区画とする8×8区画に区分される。そ
して、その1区画D (k、 12)の3×3の画素の
中に特徴点が存在すると、その区画D(k、l)は特徴
点の存在する区画(以下「特徴区画」という)と決定さ
れる。 特徴区画検出回路は、1区画D (k、 i5に対して
信号処理部2の3×3の領域の9個の出力a (3に、
 31)〜a (3に+2.3A+2)を入力する第1
3図のORゲート30によって実現される。ORゲート
30の出力が「IJ状態となっている区画が特徴区画と
なる。 ORゲート30の出力する特徴区画であることを示す判
定信号はアナログゲート37のゲート入力となり、特徴
区画の場合にはそのゲートを開いて、特徴点につながる
線分数を示す信号V32を通過させており、特徴区画で
ない場合にはアナログゲート37の出力はアースレベル
となっている。したがって、任意区画D (k、 6)
の出力する特徴信号b (k。 β〕は、特徴点が内部に存在しない場合には0、特徴点
が内部に存在する場合には、その特徴点につながる線分
数を示すレベルの信号となる。 次に、線分散検出回路について説明する。 第12図の1つの区画D (k、β〕に対して、第14
図に示すように、画像入力部1において1行又は1列お
いて外側に存在する周辺の20個の画素、即ち、画素P
 (3に−2,3A−2) 、 P (3に+4.3A
−2) 、 P (3に+4゜3β+4)、 P (3
に−2,3β+4)を4隅とする正方形の周辺画素でそ
れらの4隅の画素を除いた画素のフォトトランジスタが
オン又はオフ状態に有るか否かにより、その区画に存在
する特徴点につながる線分数が検出される。 その線分数検出回路は第13図に示すように、1行の5
個の画素P (3に−1,3A−2)〜P (3に+3
.3A2)(以下「下段画素列」という)のフォトトラ
ンジスタの出力がORゲート31に入力し、1行の5個
の画素P (3に−1,:H!+4)〜P (3に+3
.3β+4)(以下「上段画素列」という)のフォトト
ランジスタの出力がORゲート32に入力し、1列の5
個の画素P (3に−2,3A−1)〜P (3に−2
,3A+3) (以下「左端画素列」という)がORゲ
ート33に入力し、1列の5個の画素P (3に+4.
3β−1)〜P(3に+4,3j2+3) (以下「右
端画素列」という)がORゲート34に入力している。 そして、ORゲート31〜34の出力は、等比率の加算
器35に入力している。尚、加算器35の比率Rtl/
Rslは1/4に設定されている。従って、加算器35
の出力V31はORゲート31〜34の出力に応じて、
O,−Vcc/4.−2Vcc/4.−3Vcc/4゜
4Vcc/4の4つの離散的な電圧レベルをとる。 この加算器35の出力V31は比率Rt2/Rs2が1
の反転増幅器36に入力している。従って、反転増幅器
36の出力V32は、O,Vcc/4.2Vcc/4.
3Vcc/4、4Vcc/4の4つの離散的な電圧レベ
ルをとる。この電圧レベルにより、線分数を、それぞれ
、0,1゜2、3.4と判定することができる。 この線分数検出回路において、上段画素列の任意の1つ
の画素のフォトトランジスタの出力が「1」状態であれ
ば、画像は上方向に伸びていることを意味している。同
様に、下段画素列、左端画素列、右端画素列に関しても
、各画素列における任意の1つの画素のフォトトランジ
スタの出力が「1」状態であれば、それぞれ、下方向、
左方向、右方向に画像が伸びていることを意味している
。したがって、この回路の出力V32により区画D (
k、 !l)につながる画像の線分数を検出することが
できる。 尚、8X8の区画のうちで周辺に存在する28個の区画
では、画像入力部1の周辺部に当たるので、上記の上段
画素列、下段画素列、左端画素列、右端画素列の全ては
存在しない。しかし、通常、認識画像は画像入力部1の
周辺端部を越えることはないので、その方向に伸びてい
る線分を検出する必要はないので、線分散検出に何ら問
題は生じない。 このように1つの区画に対して1行又は1列おいて外側
に存在する画素列の出力に基づいて線分数を検出するよ
うにしているので、区画内の3×3の画素のどの領域に
特徴点が存在しても、正確にその特徴点につながる線分
数を検出することが可能となる。 実際に、「+」字体の場合には、第15図(a)。 (b)に示すように、区画の内部の3X3のどの画素に
特徴点があっても、特徴信号b (k、 1)は4Vc
c/4、即ち、誤りなく、線分数は4として検出される
。 又、「Y」字体に関しても同様に、第15図(C)。 (d)に示すように、特徴点B5を3x3のどの画素に
含んでも、特徴区画の出力は3Vcc/4、即ち、誤り
なく線分数3として検出されることが理解される。 次に、第16図に示すように、この8×8の特徴信号b
 (k、 II) (k=1〜8. A−1〜8)を第
1のニューロネットワーク4に入力している。このニュ
ーロネットワークは1つの出力c (t)に対して、前
段の64個の特徴信号を全て入力して重み係数を掛けて
加算している。その重み係数は入力の了ドレス及び自己
の出力のアドレスに応じて異なる値である。そして、重
み係数を掛けて加算した値はシグモイド関数演算器fw
によって変換されて、出力C(1)〜C(W)となる。 それらの出力は、同様な構成の第2のニューロネットワ
ーク5に入力し、それらの出力d(1)〜d (q)の
うちどの出力が「1」状態であるかによって、認識文字
が指定される。 これらの二、ユーロネットワークにおける重み係数は、
8×8の特徴信号を入力として、コンピュータによりシ
ュミレートして認識結果を学習させることによって決定
される。 第17図は、上記装置を用いて「A」字体を認識した場
合の各段の出力信号を概念的に示したものである。 このように、本実施例では文字等の認識画像において端
点、交点から成る特徴点の位置関係とその特徴点につな
がる線分数を特徴量として抽出しているので、文字認識
等の情報量を極めて少なくすることができ、1JWi効
率が向上する。 尚、上記実施例において、画像入力部1を24×24の
画素数で構成したが、他の任意の画素数を用いても良い
。又、微小頭域Aを3×3としているが、5×5の正方
形、そのた任意大きさの円形としても良い。又、特徴区
画検出部は1区画当たり3×3の画素に対応した信号処
理部の出力を入力し、全体を8×8に区画しているが、
1区画内の対応画素数や区画数は任意である。又、線分
数検出回路は区画の1行又は1列おいて外側に存在する
画素列の出力を入力するようにしているが、特徴点の存
在する画素を中心として、1行又は1列以上おいて外側
に存在する画素列の出力を入力するようにしても良い。 この場合には8×8の区画は存在しないし、各画素に対
応して線分数検出回路が存在する。しかし、本実施例の
ように、特徴点の存在領域を8×8の区画に区分して検
出することにより、配線数が少なくなり装置の製作が容
易となる。
【発明の効果】
本発明は、画像平面の各画素を構成する2次元配列され
た光電変換素子と、微小領域に存在する各画素の光電変
換素子の各出力をその画素の微小領域内での相対位置に
応じた重み係数で重み付けて加算する加算手段とを有す
るため、各画素の信号を並列的に処理することができ、
重み関数を適当に設定することで、画像の各種の特徴点
が同時に検出されるという効果を有する。 又、他の発明においては加算手段は、微小領域の中心画
素が正値、周辺画素が負値であり、微小領域内の全画素
の重み係数の総和が零となる重み関数又は微小領域の中
心画素が負値、周辺画素が正値であり、微小領域内の全
画素の重み係数の総和が零となる重み関数で重み付けて
加算する手段であるので、認識画像の端点や交点から成
る特徴点を高精度で求めることができ、その特徴点を利
用した文字等の高速認識が可能となるという効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の具体的な実施例に係る画像処理装置の
画像入力部の構成図、第2図は同装置の第2段の信号処
理部の構成図、第3図は画像入力部の1画素の回路図、
第4図は第2段の信号処理部の回路図、第5図は信号処
理部の加算器における加算比率と画素との関係を示した
説明図、第6図はONタイプと叶Fタイプの受容野の加
算比率を示した説明図、第7図は網膜の機能を概念的に
示した説明図、第8図はONタイプ受受容上Of’Fタ
イプ受容野受容重分布を示した特性図、第9図はONタ
イプ受受容上OFFタイプ受容受容出力特性と画像との
関係を示した説明図、第10図は各画素における加減算
器の出力を具体的な字体で示した説明図、第11図は特
徴点の検出を示す信号処理部の出力位置と字体及び画素
との関係を示した説明図、第12図は特徴検出部と画素
との関係を示した説明図、第13図は特徴検出部の具体
的な回路図、第14図は特徴検出部の区画と線分数を検
出するための周辺画素との関係を示した説明図、第15
図は具体的な字体において、特徴点の存在位置と検出さ
れた線分数との関係を示した説明図、第16図はニュー
ロネットワークの構成を示した回路図、第17図は実施
例装置の全体を示した構成図である。 1−画像入力部 3 特徴検出部 4.5−ニューロネットワーク 10 画像平面 30 加減算回路 特許出願人  梅  野    正  接置    エ
ルマノスミワ株式会社

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)画像平面の各画素を構成する2次元配列された光
    電変換素子と、 画像平面の各画素に対応し、その各画素を中心とする中
    心対称な微小領域を画像平面上に仮想したとき、その微
    小領域に存在する各画素の光電変換素子の各出力をその
    画素の微小領域内での相対位置に応じた重み係数で重み
    付けて加算する加算手段と を有する画像処理装置。
  2. (2)前記加算手段は、前記微小領域の中心画素が正値
    、周辺画素が負値であり、前記微小領域内の全画素の重
    み係数の総和が零となる重み関数で重み付けて加算する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の画像処理
    装置。
  3. (3)前記加算手段は、前記微小領域の中心画素が負値
    、周辺画素が正値であり、前記微小領域内の全画素の重
    み係数の総和が零となる重み関数で重み付けて加算する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の画像処理
    装置。
  4. (4)前記画像平面をマトリックスに区画し、その区画
    された領域に存在する各画素に対応した前記加算手段の
    出力から、その区画内に線画像の交点又は端点である特
    徴点が存在するか否かを判定して、その結果に応じた判
    定信号を出力する特徴区画検出手段と、 前記特徴区画検出手段により、特徴点が存在すると判定
    された区画において、その区画の周辺画素を構成する前
    記光電変換素子の出力から、前記特徴点につながる線分
    の数を検出し、その数に応じた信号を出力する線分数検
    出手段と を有することを特徴とする特許請求の範囲第2項又は第
    3項記載の画像処理装置。
  5. (5)各出力に対し前記線分数検出手段から出力される
    各信号を入力し、その各入力信号毎に異なる重み係数が
    各出力毎に設定され、その各入力信号にその重み係数を
    掛けて加算して各出力を得るニュロネットワークを有し
    、その出力を認識結果とすることを特徴とする特許請求
    の範囲第4項記載の画像処理装置。
JP1065047A 1989-03-16 1989-03-16 画像処理装置 Pending JPH02242488A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1065047A JPH02242488A (ja) 1989-03-16 1989-03-16 画像処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1065047A JPH02242488A (ja) 1989-03-16 1989-03-16 画像処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02242488A true JPH02242488A (ja) 1990-09-26

Family

ID=13275658

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1065047A Pending JPH02242488A (ja) 1989-03-16 1989-03-16 画像処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02242488A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007072569A (ja) * 2005-09-05 2007-03-22 Namco Bandai Games Inc プログラム、情報記憶媒体及び手書き図類似度判定装置
JP2011076374A (ja) * 2009-09-30 2011-04-14 Ntt Comware Corp 図形形状認識装置、図形形状認識方法、およびプログラム
WO2018025116A1 (en) * 2016-08-03 2018-02-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device, imaging module, electronic device, and imaging system
WO2018215882A1 (ja) * 2017-05-26 2018-11-29 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置および電子機器
WO2018224910A1 (ja) * 2017-06-08 2018-12-13 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置および電子機器
WO2018229594A1 (ja) * 2017-06-14 2018-12-20 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、及び電子機器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62111370A (ja) * 1985-11-11 1987-05-22 Res Dev Corp Of Japan パタ−ン識別装置
JPS63223978A (ja) * 1987-03-13 1988-09-19 Fujitsu Ltd 線図形の整形方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62111370A (ja) * 1985-11-11 1987-05-22 Res Dev Corp Of Japan パタ−ン識別装置
JPS63223978A (ja) * 1987-03-13 1988-09-19 Fujitsu Ltd 線図形の整形方法

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4598631B2 (ja) * 2005-09-05 2010-12-15 株式会社バンダイナムコゲームス プログラム、情報記憶媒体及び手書き図類似度判定装置
JP2007072569A (ja) * 2005-09-05 2007-03-22 Namco Bandai Games Inc プログラム、情報記憶媒体及び手書き図類似度判定装置
JP2011076374A (ja) * 2009-09-30 2011-04-14 Ntt Comware Corp 図形形状認識装置、図形形状認識方法、およびプログラム
WO2018025116A1 (en) * 2016-08-03 2018-02-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device, imaging module, electronic device, and imaging system
US11699068B2 (en) 2016-08-03 2023-07-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device, imaging module, electronic device, and imaging system
JP2020156096A (ja) * 2017-05-26 2020-09-24 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置
WO2018215882A1 (ja) * 2017-05-26 2018-11-29 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置および電子機器
US11728355B2 (en) 2017-05-26 2023-08-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and electronic device
CN110651468A (zh) * 2017-05-26 2020-01-03 株式会社半导体能源研究所 摄像装置及电子设备
JPWO2018215882A1 (ja) * 2017-05-26 2020-05-21 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置および電子機器
CN110651468B (zh) * 2017-05-26 2022-03-22 株式会社半导体能源研究所 摄像装置及电子设备
US11101302B2 (en) 2017-05-26 2021-08-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and electronic device
WO2018224910A1 (ja) * 2017-06-08 2018-12-13 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置および電子機器
US11195866B2 (en) 2017-06-08 2021-12-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device including photoelectic conversion element and transistor
JPWO2018224910A1 (ja) * 2017-06-08 2020-06-18 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置および電子機器
JPWO2018229594A1 (ja) * 2017-06-14 2020-07-02 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、及び電子機器
US11388360B2 (en) 2017-06-14 2022-07-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and electronic device
KR20200019181A (ko) * 2017-06-14 2020-02-21 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 촬상 장치 및 전자 기기
WO2018229594A1 (ja) * 2017-06-14 2018-12-20 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、及び電子機器
US11805335B2 (en) 2017-06-14 2023-10-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and electronic device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106683048B (zh) 一种图像超分辨率方法及设备
Kussul et al. Improved method of handwritten digit recognition tested on MNIST database
JP3583535B2 (ja) 光学的にアドレスされたニューラルネットワーク
Lu et al. Neuro-fuzzy synergism to the intelligent system for edge detection and enhancement
CN104299006A (zh) 一种基于深度神经网络的车牌识别方法
CN110070115B (zh) 一种单像素攻击样本生成方法、装置、设备及存储介质
US20200279166A1 (en) Information processing device
Thirumavalavan et al. An improved teaching–learning based robust edge detection algorithm for noisy images
CN106874879A (zh) 基于多特征融合和深度学习网络提取的手写数字识别方法
US20150356350A1 (en) unsupervised non-parametric multi-component image segmentation method
Alshikho et al. Artificial Intelligence and Neutrosophic Machine learning in the Diagnosis and Detection of COVID 19
JP2723118B2 (ja) 2次元オブジェクトの認識に用いるためのニューラル・ネットワーク及び光学式文字認識装置
JPH0695192A (ja) 画像認識装置及び画像入力方法
JPH02242488A (ja) 画像処理装置
Nguyen et al. Towards trust of explainable ai in thyroid nodule diagnosis
CN110263808A (zh) 一种基于lstm网络和注意力机制的图像情感分类方法
Ebrahimpour et al. Recognition of Persian handwritten digits using Characterization Loci and Mixture of Experts
Becerikli et al. Alternative neural network based edge detection
Kim et al. Computer determination of placement in a drawing for art therapy assessments
Afsari et al. Interval-valued intuitionistic fuzzy generators: Application to edge detection
JP2001094888A (ja) 撮像装置
Vishwakarma et al. Two‐dimensional DFT with sliding and hopping windows for edge map generation of road images
WO2020091259A1 (ko) 비대칭 tanh 활성 함수를 이용한 예측 성능의 개선
Grus et al. Identification and classification of autoantibody repertoires (Western blots) with a pattern recognition algorithm by an artificial neural network
Sapkal et al. Satellite image classification using the back propagation algorithm of artificial neural network