JPH0223801B2 - - Google Patents
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- JPH0223801B2 JPH0223801B2 JP58150440A JP15044083A JPH0223801B2 JP H0223801 B2 JPH0223801 B2 JP H0223801B2 JP 58150440 A JP58150440 A JP 58150440A JP 15044083 A JP15044083 A JP 15044083A JP H0223801 B2 JPH0223801 B2 JP H0223801B2
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- head housing
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- 238000012856 packing Methods 0.000 claims description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B5/012—Contact-making feeler heads therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Pivots And Pivotal Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特許請求の範囲第1項の前提概念によ
る多座標検出ヘツドに関する。
る多座標検出ヘツドに関する。
この種の多座標検出ヘツドは多くの文献から公
知である。一般にこれらの文献には多座標(3次
元)検出ヘツドの機械的構造に関する詳細が記載
されている。
知である。一般にこれらの文献には多座標(3次
元)検出ヘツドの機械的構造に関する詳細が記載
されている。
例えば西独国特許公開公報3031770、西独国特
許明細書2347633、英国特許明細書1237813、及び
英国特許明細書1599758から検出ヘツドが公知で
あり、そこには検出ヘツドハウジングの底部の検
出ピン貫通開口がダイヤフラムの形の弾性パツキ
ングによつて遮蔽され、ダイヤフラムは一方では
検出ヘツドハウジングに、他方では開口の緊塞の
ために検出ピンに固定されているが、検出ピンの
角運動は不可能である。ゴム又は類似の合成樹脂
から成るダイヤフラムは検出ヘツドハウジングの
内部への塵及び湿気の侵入を阻止する。
許明細書2347633、英国特許明細書1237813、及び
英国特許明細書1599758から検出ヘツドが公知で
あり、そこには検出ヘツドハウジングの底部の検
出ピン貫通開口がダイヤフラムの形の弾性パツキ
ングによつて遮蔽され、ダイヤフラムは一方では
検出ヘツドハウジングに、他方では開口の緊塞の
ために検出ピンに固定されているが、検出ピンの
角運動は不可能である。ゴム又は類似の合成樹脂
から成るダイヤフラムは検出ヘツドハウジングの
内部への塵及び湿気の侵入を阻止する。
これらのダイヤフラムパツキングは検出ヘツド
が座標測定機に使用される限りは充分であつた。
しかし検出ヘツドは数値制御工作機械に多く使用
され、その際切屑及び冷却液又は切削油がかか
る。そのような汚染に対する保護はダイヤフラム
では欠ける、そのわけは熱い切屑はダイヤフラム
を損傷しうるからである。
が座標測定機に使用される限りは充分であつた。
しかし検出ヘツドは数値制御工作機械に多く使用
され、その際切屑及び冷却液又は切削油がかか
る。そのような汚染に対する保護はダイヤフラム
では欠ける、そのわけは熱い切屑はダイヤフラム
を損傷しうるからである。
本発明はダイヤフラムカバーを備えた検出ヘツ
ドの欠点を有さず、むしろ熱い切屑に対しても耐
え、しかも大きな検出ピン偏位を可能にするよう
な検出ピン貫通開口の遮蔽部を備えた検出ヘツド
を創造することを課題の基礎とする。この課題は
特許請求の範囲第1項の特徴によつて解決され
る。
ドの欠点を有さず、むしろ熱い切屑に対しても耐
え、しかも大きな検出ピン偏位を可能にするよう
な検出ピン貫通開口の遮蔽部を備えた検出ヘツド
を創造することを課題の基礎とする。この課題は
特許請求の範囲第1項の特徴によつて解決され
る。
そのようなカバを備えた検出ヘツドの利点は検
出ピン貫通開口が耐熱かつ耐湿性のプレートによ
つて安全に緊塞されるが、検出ピンはあらゆる方
向に偏位可能であることにある。
出ピン貫通開口が耐熱かつ耐湿性のプレートによ
つて安全に緊塞されるが、検出ピンはあらゆる方
向に偏位可能であることにある。
図面を使つて本発明を実施例に基いて説明す
る。
る。
検出ヘツド1は検出ヘツドハウジング2を有す
る。検出ヘツドハウジング2は収容マンドレル3
によつて図示しない測定機又は工作機械のスピン
ドルに組込まれることができる。ばねFの力に抵
抗してあらゆる方向に変位可能な検出ピン4は検
出ヘツドハウジング2の内方にその自由端5が休
止位置において常に正確なゼロ位置を占めるよう
に支承されている。
る。検出ヘツドハウジング2は収容マンドレル3
によつて図示しない測定機又は工作機械のスピン
ドルに組込まれることができる。ばねFの力に抵
抗してあらゆる方向に変位可能な検出ピン4は検
出ヘツドハウジング2の内方にその自由端5が休
止位置において常に正確なゼロ位置を占めるよう
に支承されている。
検出ヘツドハウジング2の底には開口6があ
り、開口を通つて検出ピン4が検出ヘツドハウジ
ング2から突出しており、従つて開口は検出ピン
貫通開口6と称される。
り、開口を通つて検出ピン4が検出ヘツドハウジ
ング2から突出しており、従つて開口は検出ピン
貫通開口6と称される。
検出ヘツド1の内方を外部からの有害な影響か
ら安全に緊塞するために、検出ピン貫通開口6は
プレート7を備え、プレートは外周の空所8内に
配設されている。空所8は検出ヘツドハウジング
2の底にあり、かつ小さい横断面の円形を有す
る。空所8は外周を突出部9によつて区画され、
内周は検出ピン貫通開口6に移行する。空所8の
そのようにしてつくられたリング状隙間にプレー
ト7は僅かな遊隙をもつてかつ摩擦なしに支承さ
れておりその結果プレート7のラジアル方向の運
動のみが可能である。プレート7の直径は検出ピ
ン4の許容最大の偏位の際にプレート周囲の、空
所8を区画する突出部9への突当りが生ずるよう
に定められている。プレート7の中心にはボール
11の収容のための球欠軸受10がある。ボール
11は穴12を有し、穴は検出ピン4の直径に適
合し、その結果穴12内における検出ピン4の遊
びのないかつ摩擦のないアキシヤル運動が可能で
ある。
ら安全に緊塞するために、検出ピン貫通開口6は
プレート7を備え、プレートは外周の空所8内に
配設されている。空所8は検出ヘツドハウジング
2の底にあり、かつ小さい横断面の円形を有す
る。空所8は外周を突出部9によつて区画され、
内周は検出ピン貫通開口6に移行する。空所8の
そのようにしてつくられたリング状隙間にプレー
ト7は僅かな遊隙をもつてかつ摩擦なしに支承さ
れておりその結果プレート7のラジアル方向の運
動のみが可能である。プレート7の直径は検出ピ
ン4の許容最大の偏位の際にプレート周囲の、空
所8を区画する突出部9への突当りが生ずるよう
に定められている。プレート7の中心にはボール
11の収容のための球欠軸受10がある。ボール
11は穴12を有し、穴は検出ピン4の直径に適
合し、その結果穴12内における検出ピン4の遊
びのないかつ摩擦のないアキシヤル運動が可能で
ある。
検出ピン4のアキシヤル偏位の際検出ピン4は
穴12中をアキシヤル方向上方へ滑動し、かつ詳
しく図示しない測定値変換器を負荷する。
穴12中をアキシヤル方向上方へ滑動し、かつ詳
しく図示しない測定値変換器を負荷する。
アキシヤル方向から偏位した検出ピン4の偏位
があると、検出ヘツドハウジング2の内方の検出
ピン支承部13のために検出ピン4は旋回し、即
ちその軸線はスピンドルによつて特定された中心
軸線に対してある角度をなす。検出ピン4の偏位
は図示しない測定値変換器の偏位信号を生じさせ
る。この過程はこの種の検出ヘツドで10μmの偏
位では安全に行われる。
があると、検出ヘツドハウジング2の内方の検出
ピン支承部13のために検出ピン4は旋回し、即
ちその軸線はスピンドルによつて特定された中心
軸線に対してある角度をなす。検出ピン4の偏位
は図示しない測定値変換器の偏位信号を生じさせ
る。この過程はこの種の検出ヘツドで10μmの偏
位では安全に行われる。
検出ピン4と穴12との間の隙間の僅かな遊び
は検出ピン4と穴12との間の僅かな隙間を緊塞
する弾性パツキング14の使用を可能にする。偏
位が20〜100μmのオーダである範囲においては
偏位信号の発信過程は安全に行われるが、検出ヘ
ツドハウジング2の内方を弾性パツキング14を
損傷しうる熱い切屑から護るために、隙間範囲は
充分小さい。このことは機構の摩擦のない運動に
必要な小さい隙間は場合によつてはそれによつて
公知の機構の欠点が生じうることなく弾性パツキ
ング14によつて緊塞されうることを意味する。
は検出ピン4と穴12との間の僅かな隙間を緊塞
する弾性パツキング14の使用を可能にする。偏
位が20〜100μmのオーダである範囲においては
偏位信号の発信過程は安全に行われるが、検出ヘ
ツドハウジング2の内方を弾性パツキング14を
損傷しうる熱い切屑から護るために、隙間範囲は
充分小さい。このことは機構の摩擦のない運動に
必要な小さい隙間は場合によつてはそれによつて
公知の機構の欠点が生じうることなく弾性パツキ
ング14によつて緊塞されうることを意味する。
安全上の理由から可能にされなければならない
検出ピンのそれ以上の偏位は続いての過程を行わ
しめる。検出ピン4を取囲んでいるボール11は
球欠軸受10中で回動される。軸受13の点のま
わりの検出ピン4の傾倒によつて検出ピン4は僅
かな量だけラジアル方向に移動する。その際ボー
ル11を備えた球欠軸受10は検出ピン4と共に
ラジアル方向に動かされる。プレート7は空所8
内でラジアル方向に移動する。検出ピン4のアキ
シヤル方向から偏位した方向の偏位は強制的にプ
レート7のラジアル方向の移動を生じさせる。詳
しく図示しない測定値変換器はこれに対して常に
検出ピン4が偏位するアキシヤル方向に負荷され
る。
検出ピンのそれ以上の偏位は続いての過程を行わ
しめる。検出ピン4を取囲んでいるボール11は
球欠軸受10中で回動される。軸受13の点のま
わりの検出ピン4の傾倒によつて検出ピン4は僅
かな量だけラジアル方向に移動する。その際ボー
ル11を備えた球欠軸受10は検出ピン4と共に
ラジアル方向に動かされる。プレート7は空所8
内でラジアル方向に移動する。検出ピン4のアキ
シヤル方向から偏位した方向の偏位は強制的にプ
レート7のラジアル方向の移動を生じさせる。詳
しく図示しない測定値変換器はこれに対して常に
検出ピン4が偏位するアキシヤル方向に負荷され
る。
測定値変換器は任意の検出ピン偏位では公知の
方法で評価されることができる信号を供給する。
方法で評価されることができる信号を供給する。
最大可能な検出ピン偏位はプレート7の直径と
空所8の合成直径とによつて決定される。最大可
能の検出ピン偏位は空所8のある検出ヘツドハウ
ジング2の底がスリツト案内の方法により戻し力
に抗してラジアル方向に移動可能である場合に一
層高められることができる。
空所8の合成直径とによつて決定される。最大可
能の検出ピン偏位は空所8のある検出ヘツドハウ
ジング2の底がスリツト案内の方法により戻し力
に抗してラジアル方向に移動可能である場合に一
層高められることができる。
球欠軸受10及び中に支承され検出ピン4をア
キシヤル方向に運動可能に収容するボール11を
備えたラジアル方向に運動可能なプレート7とし
ての前記のハウジング緊塞の構成によつて有害な
周囲の影響に鋭敏でなくかつ熱い切屑に耐える検
出ヘツドハウジング2の頑強な緊塞が可能にされ
る。
キシヤル方向に運動可能に収容するボール11を
備えたラジアル方向に運動可能なプレート7とし
ての前記のハウジング緊塞の構成によつて有害な
周囲の影響に鋭敏でなくかつ熱い切屑に耐える検
出ヘツドハウジング2の頑強な緊塞が可能にされ
る。
図面は本発明の実施例を示す。
図中符号、2……検出ヘツドハウジング、4…
…検出ピン、7……プレート、10……球欠軸
受、11……ボール、12……穴。
…検出ピン、7……プレート、10……球欠軸
受、11……ボール、12……穴。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 検出ヘツドハウジングと、検出ヘツドハウジ
ングに支承され、その自由端が検出ヘツドハウジ
ングから突出している可動検出ピンと、検出ヘツ
ドハウジングの検出ピン出口開口を遮蔽するため
の検出ピンが貫通している装置とを備えた多座標
検出ヘツドにおいて、 遮蔽装置は検出ヘツドハウジング2内に摩擦な
くラジアル方向に運動可能なプレート7を有し、
プレートの中心はボール11を収容するための球
欠軸受10として形成されており、ボール11は
孔12中に検出ピン4を摩擦なくアキシヤル方向
に運動可能に収容していることを特徴とする多座
標検出ヘツド。 2 検出ヘツドハウジング2の底にプレート7が
設けられており、リング状の突出部9がプレート
7のラジアル方向の運動を規制している、特許請
求の範囲第1項記載の多座標検出ヘツド。 3 摩擦なしの機能のために必要な可動構成部分
間の隙間の少なくとも一つが弾性パツキング14
によつて緊塞されている、特許請求の範囲第1項
記載の多座標検出ヘツド。 4 空所8を含む検出ヘツドハウジング2の底部
がスリツト案内の方法によつてラジアル方向に移
動可能である、特許請求の範囲第1項又は第2項
記載の多座標検出ヘツド。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3231159A DE3231159C2 (de) | 1982-08-21 | 1982-08-21 | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
DE32311591 | 1982-08-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5954906A JPS5954906A (ja) | 1984-03-29 |
JPH0223801B2 true JPH0223801B2 (ja) | 1990-05-25 |
Family
ID=6171409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58150440A Granted JPS5954906A (ja) | 1982-08-21 | 1983-08-19 | 多座標検出ヘツド |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4549356A (ja) |
EP (1) | EP0101857B1 (ja) |
JP (1) | JPS5954906A (ja) |
AT (1) | ATE37087T1 (ja) |
DE (2) | DE3231159C2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS617402A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Sotsukishiya:Kk | 位置検出装置 |
JPS62134011U (ja) * | 1986-02-18 | 1987-08-24 | ||
JPS6332315A (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-12 | Mitsutoyo Corp | デジタル表示型測定器 |
DE3706767A1 (de) * | 1987-03-02 | 1988-09-15 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-tastkopf |
DE3728578A1 (de) * | 1987-08-27 | 1989-03-09 | Zeiss Carl Fa | Tastsystem fuer koordinatenmessgeraete |
DE3742154A1 (de) * | 1987-12-10 | 1989-06-22 | Licentia Gmbh | Gelenkmesskopf |
US5491904A (en) * | 1990-02-23 | 1996-02-20 | Mcmurtry; David R. | Touch probe |
US5253428A (en) * | 1990-02-23 | 1993-10-19 | Renishaw Plc | Touch probe |
GB9004117D0 (en) * | 1990-02-23 | 1990-04-18 | Renishaw Plc | Touch probe |
IT1238266B (it) * | 1990-03-06 | 1993-07-12 | Marposs Spa | Testa per il controllo di dimensioni lineari di pezzi. |
JPH0743350Y2 (ja) * | 1991-10-11 | 1995-10-09 | ユニテック株式会社 | モルタル充填機 |
DE19929557B4 (de) | 1999-06-18 | 2006-01-19 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Schaltkreis zur Einstellung einer Schaltschwelle eines Tastschalters |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE916378C (de) * | 1941-11-19 | 1954-08-09 | Siemens Ag | Fuehlergesteuerte Nachformwerkzeugmaschine |
GB741414A (en) * | 1951-09-11 | 1955-12-07 | Fairbairn Lawson Combe Barbour | Improved method of, and means for, controlling the operation of copy machine tools or copy producing devices |
US3121370A (en) * | 1961-06-21 | 1964-02-18 | Gorton George Machine Co | Automatic electro-hydraulic tracer |
US3235222A (en) * | 1961-07-21 | 1966-02-15 | Claude H Nickell | Tracer equipment |
DE1184972B (de) * | 1962-07-13 | 1965-01-07 | Hommelwerke Ges Mit Beschraenk | Laengenmesstaster |
US3571934A (en) * | 1968-06-24 | 1971-03-23 | Lockheed Aircraft Corp | Three-axis inspection probe |
US3660906A (en) * | 1969-03-17 | 1972-05-09 | Aerojet General Co | Three-axis inspection probe |
DE2019895A1 (de) * | 1970-04-24 | 1971-11-04 | Frohne Heinrich Prof Dr Ing | Tastkopf zur dynamischen Messung raeumlicher Konturen |
DD99221A1 (ja) * | 1972-04-06 | 1973-07-20 | ||
GB1445977A (en) * | 1972-09-21 | 1976-08-11 | Rolls Royce | Probes |
GB1599758A (en) * | 1978-02-10 | 1981-10-07 | Lk Tool Co Ltd | Measuring machine |
DE2814579A1 (de) * | 1978-04-05 | 1979-10-18 | Heyligenstaedt & Co | Elektrischer fuehler fuer kopierwerkzeugmaschinen |
US4229010A (en) * | 1978-12-20 | 1980-10-21 | Bellofram Corporation | Self-aligning shaft seal |
JPS5920642Y2 (ja) * | 1979-08-28 | 1984-06-15 | 株式会社 三豊製作所 | タツチ信号プロ−ブ |
-
1982
- 1982-08-21 DE DE3231159A patent/DE3231159C2/de not_active Expired
-
1983
- 1983-07-13 DE DE8383106853T patent/DE3377933D1/de not_active Expired
- 1983-07-13 EP EP83106853A patent/EP0101857B1/de not_active Expired
- 1983-07-13 AT AT83106853T patent/ATE37087T1/de active
- 1983-08-19 JP JP58150440A patent/JPS5954906A/ja active Granted
-
1985
- 1985-01-11 US US06/690,830 patent/US4549356A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0101857A3 (en) | 1985-10-09 |
JPS5954906A (ja) | 1984-03-29 |
US4549356A (en) | 1985-10-29 |
DE3231159A1 (de) | 1984-02-23 |
DE3377933D1 (en) | 1988-10-13 |
EP0101857B1 (de) | 1988-09-07 |
DE3231159C2 (de) | 1985-04-18 |
ATE37087T1 (de) | 1988-09-15 |
EP0101857A2 (de) | 1984-03-07 |
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