JPS5920642Y2 - タツチ信号プロ−ブ - Google Patents
タツチ信号プロ−ブInfo
- Publication number
- JPS5920642Y2 JPS5920642Y2 JP1979118251U JP11825179U JPS5920642Y2 JP S5920642 Y2 JPS5920642 Y2 JP S5920642Y2 JP 1979118251 U JP1979118251 U JP 1979118251U JP 11825179 U JP11825179 U JP 11825179U JP S5920642 Y2 JPS5920642 Y2 JP S5920642Y2
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- JP
- Japan
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- probe
- pair
- insulated
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- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/002—Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はタッチ信号プローブ、特にあらゆる方向に対し
て高感度で接触信号を検出することのできる改良された
タッチ信号プローブに関するものである。
て高感度で接触信号を検出することのできる改良された
タッチ信号プローブに関するものである。
被測定物の位置、大きさあるいは形状を正確に検出測定
するために種々の測長機あるいは３次元座標測定機等が
用いられており、これらの測定機器には被測定物との接
触を検出するためのタッチ信号プローブが設けられ、プ
ローブの接触子を被測定物の所定の測定位置に接触させ
た状態が電気的に検出される。
するために種々の測長機あるいは３次元座標測定機等が
用いられており、これらの測定機器には被測定物との接
触を検出するためのタッチ信号プローブが設けられ、プ
ローブの接触子を被測定物の所定の測定位置に接触させ
た状態が電気的に検出される。
通常のタッチ信号プローブは接触子と連動する接点装置
を有し、被測定物との接触による接触子の機械的変位が
電気的な導通あるいは非導通状態として検出される。
を有し、被測定物との接触による接触子の機械的変位が
電気的な導通あるいは非導通状態として検出される。
しかしながら、従来のタッチ信号プローブにおいては、
高精度のプローブを得るために各部品精度を著しく厳し
く管理しなければならず、またプローブの組立調整に多
大の労力を必要とするという欠点があった。
高精度のプローブを得るために各部品精度を著しく厳し
く管理しなければならず、またプローブの組立調整に多
大の労力を必要とするという欠点があった。
本考案は上記従来の課題に鑑みなされたものであり、そ
の目的は、比較的粗い部品精度でかつ組立時の調整を必
要とすることなく高精度の検出作用を得ることのできる
改良されたタッチ信号プローブを提供することにある。
の目的は、比較的粗い部品精度でかつ組立時の調整を必
要とすることなく高精度の検出作用を得ることのできる
改良されたタッチ信号プローブを提供することにある。
上記目的を達成するために、本考案は、先端に接触子が
設けられたプローブ軸と、プローブケースに固定され中
央部にプローブ軸が貫通する開口が設けられた絶縁接点
基板と、絶縁接点基板の上側に設けられた２組の上側接
点対であって、各接点対は互いに絶縁状態で近接配置さ
れた２個の接点片を有しプローブ軸に対してほぼ対称的
な位置に設けられている上側接点対と、絶縁接点基板の
下側に設けられた２組の下側接点対であって各接点対は
互いに絶縁状態で近接配置された２個の接点片を有し上
側接点対とほは゛直角方向に設けられている下側接点対
と、プローブ軸に絶縁固定され雨上側接点対の各接点片
に跨がって接触保持される２個の上側接点子と、プロー
ブ軸に摺動自在に遊嵌されたプローブ筒と、プローブ筒
に絶縁固定され雨下側接点対の各接点片に跨がって接触
保持される２個の下側接点子と、プローブ軸とプローブ
筒との間に設けられ上側接点子と下側接点子とで上側及
び下側接点対を挾持する付勢力を与える付勢ばねと、各
接点片を直列接続する検出導線と、を含む。
設けられたプローブ軸と、プローブケースに固定され中
央部にプローブ軸が貫通する開口が設けられた絶縁接点
基板と、絶縁接点基板の上側に設けられた２組の上側接
点対であって、各接点対は互いに絶縁状態で近接配置さ
れた２個の接点片を有しプローブ軸に対してほぼ対称的
な位置に設けられている上側接点対と、絶縁接点基板の
下側に設けられた２組の下側接点対であって各接点対は
互いに絶縁状態で近接配置された２個の接点片を有し上
側接点対とほは゛直角方向に設けられている下側接点対
と、プローブ軸に絶縁固定され雨上側接点対の各接点片
に跨がって接触保持される２個の上側接点子と、プロー
ブ軸に摺動自在に遊嵌されたプローブ筒と、プローブ筒
に絶縁固定され雨下側接点対の各接点片に跨がって接触
保持される２個の下側接点子と、プローブ軸とプローブ
筒との間に設けられ上側接点子と下側接点子とで上側及
び下側接点対を挾持する付勢力を与える付勢ばねと、各
接点片を直列接続する検出導線と、を含む。
以下図面に基づいて本考案の好適な実施例を説明する。
第１図には本考案に係るタッチ信号プローブの好適な実
施例が示され、またそのＩＩ −ＩＩ断面が第２図に、
そしてケース蓋を取外した平面図が第３図に示されてい
る。
施例が示され、またそのＩＩ −ＩＩ断面が第２図に、
そしてケース蓋を取外した平面図が第３図に示されてい
る。
プローブケース１０にはプローブ蓋１２がねし固定され
、プローブ蓋１２に固定されたシャンク１４が固定して
いない測長機あるいは３次元測定機等に装着される。
、プローブ蓋１２に固定されたシャンク１４が固定して
いない測長機あるいは３次元測定機等に装着される。
プローブケース１０の内部には後述するように変位自在
に支持されたプローブ軸１６が内蔵され、プローブ軸１
６の先端に接触子１８が固定されている。
に支持されたプローブ軸１６が内蔵され、プローブ軸１
６の先端に接触子１８が固定されている。
実施例において、接触子１８はねじ部２０によってプロ
ーブ軸１６に着脱することができ、被測定物の形状に応
じて任意の接触子１８が選択される。
ーブ軸１６に着脱することができ、被測定物の形状に応
じて任意の接触子１８が選択される。
プローブ軸１６とプローブケース１０との間にはベロー
ズ２２が設けられ、プローブ軸１６が任意の方向に変位
可能であるとともにプローブケース１０内への塵埃ある
いは水の浸入が防止されている。
ズ２２が設けられ、プローブ軸１６が任意の方向に変位
可能であるとともにプローブケース１０内への塵埃ある
いは水の浸入が防止されている。
プローブケース１０の内部には絶縁接点基板２４が接着
その他により固定され、該基板２４の中央部には開口２
４ ａが設けられ、前述したプローブ軸１６が開口２４
ａを貫通することができる。
その他により固定され、該基板２４の中央部には開口２
４ ａが設けられ、前述したプローブ軸１６が開口２４
ａを貫通することができる。
絶縁接点基板２４の上側には２個の上側接点対２６．２
８が設けられ、各接点対２６．２８は互いに絶縁状態で
近接配置された２個の接点片２６ ａ 、２６ ｂ 、
２８ ａ 、２８ｂを有し、接点対２６ 、２８はプロ
ーブ軸１６に対してほぼ対称的な位置に設けられている
。
８が設けられ、各接点対２６．２８は互いに絶縁状態で
近接配置された２個の接点片２６ ａ 、２６ ｂ 、
２８ ａ 、２８ｂを有し、接点対２６ 、２８はプロ
ーブ軸１６に対してほぼ対称的な位置に設けられている
。
各接点対２６ａ 、２６ ｂ 、２８ ａ 、２８ ｂ
は、第４図に詳細に示されるように、互いに近接する面
が、斜面部にて形成され、この結果、各接点対２６ 、
２８はそれぞれＶ字状の溝を形成することとなる。
は、第４図に詳細に示されるように、互いに近接する面
が、斜面部にて形成され、この結果、各接点対２６ 、
２８はそれぞれＶ字状の溝を形成することとなる。
前記各上側接点対２６゜２８を所定の位置に位置決めす
るために、絶縁接点基板２４の上側には半円状の位置決
めリング３０゜３２が固定され前記接点片２６ ａ 、
２６ ｂ 、２８ ａ 、２８ ｂは各リング３０ 、
３２の端面に位置決め固定されている。
るために、絶縁接点基板２４の上側には半円状の位置決
めリング３０゜３２が固定され前記接点片２６ ａ 、
２６ ｂ 、２８ ａ 、２８ ｂは各リング３０ 、
３２の端面に位置決め固定されている。
同様にして、絶縁接点基板２４の下側には下側接点対３
４．３６が固定され、各下側接点対３４．３６は接点片
３４ ａ 、３４ ｂ 、３６ ａ 、３６ ｂを含み
、下側に向って開いたＶ字状の溝を形成するように各接
点片は互いに絶縁状態で近接配置され、それらの固定位
置は半月状の位置決めリング３８ 、４０により前記上
側接点対２６．２８とはほは゛直角方向に配置されるよ
うに位置決めされている。
４．３６が固定され、各下側接点対３４．３６は接点片
３４ ａ 、３４ ｂ 、３６ ａ 、３６ ｂを含み
、下側に向って開いたＶ字状の溝を形成するように各接
点片は互いに絶縁状態で近接配置され、それらの固定位
置は半月状の位置決めリング３８ 、４０により前記上
側接点対２６．２８とはほは゛直角方向に配置されるよ
うに位置決めされている。
プローブ軸１６の上端には絶縁ブツシュ４２．４４を介
して上側接点子４６．４８が固定され、各接点子４６．
４８の先端に設けられた接点法４６ ａ 、４８ ａが
前述した雨上側接点対２６．２８の各接点片２６ ａ
、２６ｂそして２８ ａ 、２８ ｂに跨がって接触保
持される。
して上側接点子４６．４８が固定され、各接点子４６．
４８の先端に設けられた接点法４６ ａ 、４８ ａが
前述した雨上側接点対２６．２８の各接点片２６ ａ
、２６ｂそして２８ ａ 、２８ ｂに跨がって接触保
持される。
プローブ軸１６にはプローブ筒５０が摺動自在に遊嵌さ
れ、両者の摺動を容易にするためにプローブ筒５０とプ
ローブ軸１６との間には複数のボールガイド５２が設け
られている。
れ、両者の摺動を容易にするためにプローブ筒５０とプ
ローブ軸１６との間には複数のボールガイド５２が設け
られている。
そしてプローブ軸１６に固定された受座５４とプローブ
筒５０の下端との間には付勢ばね５６が圧縮状態で挿入
され、プローブ軸１６とプローブ筒５０との間に付勢力
が与えられている。
筒５０の下端との間には付勢ばね５６が圧縮状態で挿入
され、プローブ軸１６とプローブ筒５０との間に付勢力
が与えられている。
プローブ筒５０には下側接点子５８．６０が固定され、
その先端に設けられた接点法５８ ａ 、６０ ａが前
述した下側接点対３４ 、３６の各接点片３４ａ、２４
ｂ。
その先端に設けられた接点法５８ ａ 、６０ ａが前
述した下側接点対３４ 、３６の各接点片３４ａ、２４
ｂ。
３６ ａ 、３６ ｂに跨がって接触保持されている。
下側接点子５８．６０を他の部材から絶縁するために、
実施例においては、プローブ筒５０を絶縁材から形成す
ることが好適である。
実施例においては、プローブ筒５０を絶縁材から形成す
ることが好適である。
図示した組立状態において、付勢ばね５６の付勢力によ
り、上側接点子４６゜４８と下側接点子５８．６０は上
側接点対２６．２８及び下側接点対３４ 、３６を挟持
し、この結果、各部の組立状態において、接触子１８は
その保持状態が定められることとなる。
り、上側接点子４６゜４８と下側接点子５８．６０は上
側接点対２６．２８及び下側接点対３４ 、３６を挟持
し、この結果、各部の組立状態において、接触子１８は
その保持状態が定められることとなる。
すなわち、絶縁接点基板２４の上側においては第５図に
例示されるように、上側接点子４６．４８の接点法４６
ａ 、４８ ａは各上側接点対２６．２８のＶ字状溝
に跨がって保持され、同様に絶縁接点基板２４の下側に
おいては下側接点子５８゜６０の接点法５８ ａ 、６
０ ａが下側接点対３４．３６のＶ字状溝に、第６図で
示されるように、跨がって保持されることとなる。
例示されるように、上側接点子４６．４８の接点法４６
ａ 、４８ ａは各上側接点対２６．２８のＶ字状溝
に跨がって保持され、同様に絶縁接点基板２４の下側に
おいては下側接点子５８゜６０の接点法５８ ａ 、６
０ ａが下側接点対３４．３６のＶ字状溝に、第６図で
示されるように、跨がって保持されることとなる。
第４図には本考案における各接点片の電気的な接続状態
が示され、各接点子４６．４８．５８．６０が接点対２
６ 、２８ 、３４．３６に正しく跨座した状態で、端
子６２から接点片２６ｂ、接点法４６ａ、接点片２６
ａ 、３６ｂ、接点法６０ａ、接点片３６ ａ 、２８
ｂ、接点法４８ａ、接点片２８ ａ 、３４ ｂ、接
点法５８ ａ接点片３４ ａを介して端子６４へ直列回
路が形成されている。
が示され、各接点子４６．４８．５８．６０が接点対２
６ 、２８ 、３４．３６に正しく跨座した状態で、端
子６２から接点片２６ｂ、接点法４６ａ、接点片２６
ａ 、３６ｂ、接点法６０ａ、接点片３６ ａ 、２８
ｂ、接点法４８ａ、接点片２８ ａ 、３４ ｂ、接
点法５８ ａ接点片３４ ａを介して端子６４へ直列回
路が形成されている。
各端子６２．６４は図示していない外部の電気回路に接
続され、接触子１８が被測定物に接触していない状態で
は外部へ導通信号が出力され、また接触子１８が被測定
物に接触していずれかの接点法が各対応する接点対から
離れた時に外部回路へ非導通信号を出力する。
続され、接触子１８が被測定物に接触していない状態で
は外部へ導通信号が出力され、また接触子１８が被測定
物に接触していずれかの接点法が各対応する接点対から
離れた時に外部回路へ非導通信号を出力する。
本考案の実施例は以上の構成から成り、以下にその作用
を説明する。
を説明する。
図示した状態は接触子１８が被測定物と接触していない
状態を示し、この状態では、前述したように、各接点子
の接点法は対応する接点対に跨座してその保持状態が位
置決めされ、この位置決め状態は必ず１個の固定位置に
定められている。
状態を示し、この状態では、前述したように、各接点子
の接点法は対応する接点対に跨座してその保持状態が位
置決めされ、この位置決め状態は必ず１個の固定位置に
定められている。
そして、接触子１８が被測定物にいかなる方向で接触し
ても、いずれかの接点法が対応する接点片から離れ、外
部へ非導通信号を出力し、被測定物の位置を高精度で検
出することが可能となる。
ても、いずれかの接点法が対応する接点片から離れ、外
部へ非導通信号を出力し、被測定物の位置を高精度で検
出することが可能となる。
以上のようにして、本考案によれば、あらゆる方向の接
触を高精度で検出することのできるタッチ信号プローブ
を得ることが可能となる。
触を高精度で検出することのできるタッチ信号プローブ
を得ることが可能となる。
例えば、第１図において、接触子１８が左から右へ移動
して被測定物に接触したと仮定する。
して被測定物に接触したと仮定する。
このとき、プローブ軸１６には上側接点子４６．４８の
軸を中心とした時計方向の回転が生じる。
軸を中心とした時計方向の回転が生じる。
そして、この回転時、各上側接点子４６．４８の接点法
４６ ａ 、４８ ａはそれぞれ上側接点対２６．２８
と接触状態を保ちなか゛ら回動するので、検出回路が開
放することはない 一方、下側接点子５８．６０について考えると、前記プ
ローブ軸１６の回転は下側接点子５８ 、６０に対して
接点法６０ ａを中心として時計方向の回転を生起させ
る。
４６ ａ 、４８ ａはそれぞれ上側接点対２６．２８
と接触状態を保ちなか゛ら回動するので、検出回路が開
放することはない 一方、下側接点子５８．６０について考えると、前記プ
ローブ軸１６の回転は下側接点子５８ 、６０に対して
接点法６０ ａを中心として時計方向の回転を生起させ
る。
本考案においては、プローブ軸１６とプローブ筒５０と
は互いに摺動自在であり、この結果、両者か摺動しなが
ら、プローブ軸１６は上側接点子４６．４８の軸を中心
として、また下側接点子５８．６０は接点法６０ ａを
中心としてそれぞれ時計方向に回転する。
は互いに摺動自在であり、この結果、両者か摺動しなが
ら、プローブ軸１６は上側接点子４６．４８の軸を中心
として、また下側接点子５８．６０は接点法６０ ａを
中心としてそれぞれ時計方向に回転する。
従ってこの回転により、接点法５８ ａは下側接点対３
４から開離し、検出回路の開放にて被測定物との接触検
出を行うことができる。
４から開離し、検出回路の開放にて被測定物との接触検
出を行うことができる。
そして、接触子１８が被測定物から離れると、付勢ばね
５６の付勢力によってプローブ軸１６及びプローブ筒５
０は第１図の状態に復帰する。
５６の付勢力によってプローブ軸１６及びプローブ筒５
０は第１図の状態に復帰する。
同様に、第２図において、接触子１８が被測定物と接触
して時計方向に回転する場合には、プローブ軸１６は接
点法４６ ａを中心として時計方向に回転する。
して時計方向に回転する場合には、プローブ軸１６は接
点法４６ ａを中心として時計方向に回転する。
そして、このとき、プローブ筒５０は下側接点子５８．
６０の軸を中心として時計方向に回転し、また、前記プ
ローブ軸１６はプローブ筒５０内を摺動する。
６０の軸を中心として時計方向に回転し、また、前記プ
ローブ軸１６はプローブ筒５０内を摺動する。
この状態で接触検出は接点法４８ ａと上側接点対２８
との開離により行なわれる。
との開離により行なわれる。
以上の説明は２方向のみについてなされたが、他のあら
ゆる方向に関して同様の単独あるいは組合わせ作動が行
われ、いずれの場合についても、良好な接触検出が行わ
れる。
ゆる方向に関して同様の単独あるいは組合わせ作動が行
われ、いずれの場合についても、良好な接触検出が行わ
れる。
なお、実施例における接点子の絶縁保持は絶縁ブツシュ
あるいは絶縁材から成るプローブ筒に行われているが、
本考案においてはこれらに限られることなく任意の絶縁
構造とすることが可能であり、また絶縁接点基板２４は
金属板に絶縁被覆を施こした構造とすることも可能であ
る。
あるいは絶縁材から成るプローブ筒に行われているが、
本考案においてはこれらに限られることなく任意の絶縁
構造とすることが可能であり、また絶縁接点基板２４は
金属板に絶縁被覆を施こした構造とすることも可能であ
る。
以上説明したように、本考案によれば、特別に高精度の
部品を用いることなく極めて簡単に組立ることかでき、
更に、組立状態の調整を必要とすることなく接触子の固
定位置を１個に定めることができ、高精度の取扱いの容
易なタッチ信号プローブを得ることが可能となる。
部品を用いることなく極めて簡単に組立ることかでき、
更に、組立状態の調整を必要とすることなく接触子の固
定位置を１個に定めることができ、高精度の取扱いの容
易なタッチ信号プローブを得ることが可能となる。
第１図は本考案に係るタッチ信号プローブの好適な実施
例を示す断面図、第２図は第１図のＩＩ −ＩＩ断面図
、第３図は第１図のケース蓋を取外した状態の平面図、
第４図は第１図の実施例における電気的接続状態を示す
説明図、第５図は第３図のｖ−■断面図、第６図は第３
図のＶＩ−ＶＩ断面図である。 １０・・・・・・プローブケース、１６・・・・・・プ
ローブ軸、１８・・・・・・接触子、２４・・・・・・
絶縁接点基板、２４ ａ・・・・・・開口、２６，２８
・・・・・・上側接点対、２６ ａ 、２６ ｂ 、２
８ ａ 、２８ ｂ・・・・・・接点片、３４ 、３６
・・・・・・下側接点対、３４ ａ 、３４ ｂ 、３
６ａ、３６ｂ・・・・・・接点片、４６．４８・・・・
・・上側接点子、５０・・・・・・プローブ筒、５６・
・・・・・付勢ばね、５８．６０・・・・・・下側接点
子。
例を示す断面図、第２図は第１図のＩＩ −ＩＩ断面図
、第３図は第１図のケース蓋を取外した状態の平面図、
第４図は第１図の実施例における電気的接続状態を示す
説明図、第５図は第３図のｖ−■断面図、第６図は第３
図のＶＩ−ＶＩ断面図である。 １０・・・・・・プローブケース、１６・・・・・・プ
ローブ軸、１８・・・・・・接触子、２４・・・・・・
絶縁接点基板、２４ ａ・・・・・・開口、２６，２８
・・・・・・上側接点対、２６ ａ 、２６ ｂ 、２
８ ａ 、２８ ｂ・・・・・・接点片、３４ 、３６
・・・・・・下側接点対、３４ ａ 、３４ ｂ 、３
６ａ、３６ｂ・・・・・・接点片、４６．４８・・・・
・・上側接点子、５０・・・・・・プローブ筒、５６・
・・・・・付勢ばね、５８．６０・・・・・・下側接点
子。
Claims (1)
- 先端に接触子が設けられたプローブ軸と、プローブケー
スに固定され中央部にプローブ軸が貫通する開口が設け
られた絶縁接点基板と、絶縁接点基板の上側に設けられ
た２組の上側接点対であって各接点対は互いに絶縁状態
で近接配置された２個の接点片を有しプローブ軸に対し
てほぼ対称的な位置に設けられている上側接点対と、絶
縁接点基板の下側に設けられた２組の下側接点対であっ
て各接点対は互いに絶縁状態で近接配置された２個の接
点片を有し上側接点対とほぼ直角方向に設けられている
下側接点対と、プローブ軸に絶縁固定され雨上側接点対
の各接点片に跨がって接触保持される２個の上側接点子
と、プローブ軸に摺動自在に遊嵌されたプローブ筒と、
プローブ筒に絶縁固定され雨下側接点対の各接点片に跨
がって接触保持される２個の下側接点子と、プローブ軸
とプローブ筒との間に設けられ上側接点子と下側接点子
とで上側及び下側接点対を挟持する付勢力を与える付勢
ばねと、各接点片を直列接続する検出導線と、を含むタ
ッチ信号プローブ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1979118251U JPS5920642Y2 (ja) | 1979-08-28 | 1979-08-28 | タツチ信号プロ−ブ |
| DE3031770A DE3031770C2 (de) | 1979-08-28 | 1980-08-22 | Berührungs-Signalsonde |
| GB8027597A GB2062234B (en) | 1979-08-28 | 1980-08-26 | Touch signalling probe |
| US06/181,657 US4279080A (en) | 1979-08-28 | 1980-08-26 | Touch signalling probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1979118251U JPS5920642Y2 (ja) | 1979-08-28 | 1979-08-28 | タツチ信号プロ−ブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5635009U JPS5635009U (ja) | 1981-04-06 |
| JPS5920642Y2 true JPS5920642Y2 (ja) | 1984-06-15 |
Family
ID=14731976
Family Applications (1)
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