JPH0223539A

JPH0223539A - 光ディスク検査装置における光学ヘッド制御装置

Info

Publication number: JPH0223539A
Application number: JP17226088A
Authority: JP
Inventors: Hisaaki Sugita; 寿明杉田
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1988-07-11
Filing date: 1988-07-11
Publication date: 1990-01-25

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分鼾］この発明は、光ディスクに対する光学ヘッドの制御装置
に関し、詳しくはスパイラル形式の案内溝を有しフォー
マットが未設定の光ディスクの原盤に対する検査装置に
おける光学ヘッドの制御装置に関するものである。

［従来の技術］情報記録媒体として多用されている光ディスクにおいて
は、ディスク面にスパイラルの案内溝を設け、これに沿
って制御コード、情報データが記録される。第３図（ａ
）はこれを示すもので、光ディスク１の中心を０重外周
を１８とし、スパイラル状の案内溝１ｂが設けられる。

また、適当な半径Ｒｓの円周１ｃと、゛ｉ半径ｅの円周
１ｄの間を記録範囲として、この範囲内で各案内溝の中
間にデータトラック（図示省略）が設けられ、トラック
上にデータが記録される。トラックのピッチは１μｍオ
ーダーの微小なもので、トラックの記録密度は極めて高
密度である。ディスク面に欠陥があるときは記録品質が
劣化するので、案内溝が形成され、制御コードなどのフ
ォーマットが未設定（以−ド、案内溝付きノンフォーマ
ットという）の段階で欠陥検査が行われる。

［解決しようとする課題］従来−・般に、情報が未記録すなわち平滑なディスク面
の欠陥検査においては、ディスクまたは検査用光学ヘッ
ドをステップ送りとするか、あるいは適当なピッチのス
パイラル送りとしてディスク全山が走査されるが、上記
の案内溝付きノンフォーマットの光ディスクの場合は、
案内溝に沿って走査することが必要である。この場合、
スパイラル送りとするときは、案内溝のスパイラルと一
致させることは困難である。これに対してステップ送り
とするときは、第３図（ｂ）の（イ）に示すように案内
溝１ｂと走査の円周Ｃが全周に直って一致しない。また
、（０）に示すように、案内溝の偏心により走査円周Ｃ
に対して偏心ｅｌ　　ｅ２が周期的に変動する。偏心が
大きいときは、１個以上数個の案内溝に亘ることかある
。さらに案内溝の精度によ１）、部分的な偏位が重なる
ものである。このような案内溝に対して、実用ドライバ
においてはステップ移動機構により案内溝に接近し、さ
らに光学ヘッドを微小偏位して正確に追従する方式が行
われてお１）、この方式を検査装着に適用することがで
きる。しかし、検査装置のスピンドルに装着された光デ
ィスクにおいては案内溝の偏心が大きい場合があ１）、
これに対応することが必要である。また、欠陥検査は図
（ａ）で説明した記録範囲内について行うもので、範囲
外に対しては誤解のちととなるので検査を停止すること
が必要である。

さらに１２回転速度を数段階に変化させる線速一定力式
による検査を行う場合には、半径位置を正確に検出する
ことが必要である。これらの機能は従来の実用ドライバ
には具備されていない。

この発明は以」二の事情に鑑みてなされたもので、案内
溝付きノンフォーマットの光ディスクを対象とし、スピ
ンドルに装着された光ディスクの大きい偏心に対応して
忠実に案内溝を追従でき、また移動する光学ヘッドの半
径位置を逐次算出することによ１）、所定の記録範囲内
の欠陥検査を行い、記録範囲外に対して検査を停止上す
ることができる光学ヘッドの制御装置を提供することを
目的とするものである。

［課題を解決するための手段］この発明は、案内溝付きノンフォーマットの光ディスク
を対象とし、光ディスクの半径方向の一定の限界内で案
内溝に追従するミラーを有する光学ヘッドと、光学ヘッ
ドを搭載して光ディスクに対して半径方向にステップ移
動するステップ移動機構とよりなる光ディスク検査装置
における光学ヘッドの制御装置であって、ミラーの追従
位置を検出するミラー偏位検出４と、その出力電圧によ
りミラーの追従位置が、［−記の一定の限界を越えたこ
とを判定して判定信号を出力するミラー限界判定部と、
マイクロプロセッサの指令によりステップ移動機構の移
動動作き、ミラー限界判定部の’Ｉ’１１定信号によ１
）、ステップ移動機構のステップ移動を行ってミラーの
追従位置を一定限界内に維持する動作とをそれぞれ制御
する２重制御部とにより構成される。さらに、マイクロ
プロセッサの演算によ１）、光ディスクの１回転におけ
るミラーの追従位置の平均値を求め、ステップ移動機構
のステップ数と加算することにより案内溝の半径位置を
算出する。

上記において、マイクロプロセッサにより算出された案
内溝の半径位置が、予め設定されている検査開始／終了
位置となった時点で検査を開始／終了する。または、予
め設定されている位置となった時点でディスクの回転速
度を変更するものである。

口作用］上記した構成によるこの発明の光学ヘッド制御装置にお
いては、案内溝に対する光学ヘッドの追従動作は、前記
の実用ドライバにおけると同様に、それぞれ独立なステ
ップ移動とミラーの微小偏位の２段階により行われるも
のであるが、さらにミラー偏位検出器によりミラーが一
定の限界を越えたときに、これを検出した判定信号によ
りステップ移動機構を動作させ、ミラーの追従位置を限
界内に維持するもので、案内溝の大きい偏心に対して安
定に追従することができる。これにより検査装置におけ
るディスクの偏心に対する許容範囲を人き（することが
できる。

次に、ミラー偏位検出器の出力電圧の、光ディスクの１
回転中の平均値を求め、これにステップ移動数を加算し
て、半径位置を正確に算出するもので、予め設定された
検査開始／終了位置において正確に検査を開始／終了す
ることができる。また、逐次算出される゛ｉ径位置によ
１）、予め設定されている位置でディスクの回転速度を
段階的に変更することが可能となるものである。

［実施例コ第１図は、この発明の光ディスク検査装置における光学
ヘッド制御装置の実施例のブロック構成を示すものであ
る。図によりその動作を説明すると、マイクロプロセッ
サ１よりの指令によ１）、スピンドルモータドライバ３
より所定の駆動電流がスピンドルモータ４に与え１；れ
て、スピンドル４ａに載置された光ディスク！が回転す
る。光ディスクに対応した光学ヘッド８はスライダ７ａ
に固定されてお１）、次の手順で光ディスクに対して走
査する。マイクロプロセッサよりのステップ移動パルス
［：Ｓｐｌと回転方向の信号［ＣＷ／ＣＣＷＩが、２重
制御部５を経由してステップモータドライバ６に与えら
れ、ドライバによりステップモータ７が回転し、ステッ
プモータに直結されたスライダ７ａが指定の方向にステ
ップ移動する。ここで、２重制御部のステップパルスは
カウンタ９によりカウントされてマイクロプロセッサに
人力し、所定の位置でスライダ７ａは停止ヒする。ここ
で、光学ヘッド８には、ステップ移動と独立に半径方向
の一定の限界内で偏位できるミラー８ａと、これに対す
る追従機構８ｂが設けられ、追従機構の偏位量がミラー
偏位検出器９により検出され、その検出信号が２重制御
部５にフィードバックされてミラーは案内溝に追従する
。

一力、ミラー偏位検出器９の検出信号はミラー限界判定
部ｌＯに入力し、コンパレータｌｅａ、ｊｏｂによ１）
、ミラーか−・定の限界内にあるか否かがチエツクされ
、限界を越える場合は、アンド回路１０ｃに与えられて
いるクロックパルスｃｋにより２重制御部５に判定信号
が転送される。判定信号により２重制御部よりステップ
パルスと方向信号がステップモータドライバ６に与えら
れて、以下前記と同様の動作によ１）、光学ヘッドすな
わちミラーが移動して上記の限界内に維Ｆ：１される。

次に、案内溝が偏心しているときは、第２図に示すよう
に、ディスクの１回転を周期として偏心Ｉｎｓが変動す
る。この偏心を検出したミラー鯛位検出器９の検出信号
Ｍは、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１１において、
適当な間隔でサンプリングしてホールドされ、そのサン
プリングデータはＡ／Ｄ変換器１２によりデジタル化さ
れて逐次マイクロプロセッサに転送される。マイクロプ
ロセッサにおいては、光ディスクの１回転中のデータの
平均値を求めて、これを案内溝の中心線Ｃとし、これに
ステップ移動数を加算して、その時点において追従して
いる案内溝の半径位置を算出する。

この半径位置は予めマイクロプロセッサに設定されてい
る検査開始／終了位置にＩＫ１合されて、検査が開始／
終了する。また、定線速回転方式の場合は予め速度変更
位置を設定しておき、案内溝の］′。

径がこれに一致した時点で速度を変更できる。

［発明の効果コ以−Ｌの説明により明らかなように、この発明による光
学ヘラ制御装置においては、案内溝の偏心の大きい場合
においても、光学ヘッドのミラーの追従位置が一定の限
界内に維持され、従ってスピンドルに載置されたディス
クの偏心に対する許容範囲を大きくできる。また、案内
溝の中心線を求め、これと予めマイクロプロセッサに設
定されている検査の開始／終了位置とによ１）、有効な
記録範囲のみが検査され、範囲外に対しては検査が停止
されて検査データの信頼性が向−ヒする。また、ディス
クの回転速度の変更が予定の位置に対して正確に行われ
るもので、案内溝付きノンフォーマットの光ディスクに
対して位置精度の高い検査装置を提供する効果には大き
いものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明による光ディスク検査装置における
光学ヘッド制御装置の実施例のブロック構成図、第２図
は第１図におけるミラー偏位検出信号より案内溝の中心
線を求める方法の説明図、第３図（ａ）および（ｂ）は
、案内溝付きノンフォーマットの光ディスクと、案内溝
の偏心の説明図である。１・・・光ディスク、　　　　ｌａ・・・外周、１ｂ・
・・案内溝、　　　　ｌ　ｃ、　ｌ　ｄ・・・円周、２
・・・マイクロプロセッサ、３・・・スピンドルモータ、３ａ・・・スピンドル、４
・・・スピンドルモータドライバ、５・・・２重制御部、６・・・ステップモータドライバ
、７・・・ステップモータ、　　７ａ・・・スライダ、
８・・・光学ヘッド、　　　　８ａ・・・ミラー、８ｂ
・・・追従機構、　　　９・・・ミラー偏位検出器、１
０・・・ミラー限界判定部、ＩＯａ、１．Ｏｂ・・・コ
ンパ１ノータ１０ｃ・・・アンド回路、【１・・・サン
プルホールド回路、１２−Ａ／Ｄ変ｔｊｌ’ａ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）、スパイラル形式の案内溝が設定され、フォーマ
ットが未設定の光ディスクを対象とし、該光ディスクの
半径方向の一定の限界内で上記案内溝に追従するミラー
を有する光学ヘッドと、該光学ヘッドを搭載して上記光
ディスクに対して上記半径方向にステップ移動するステ
ップ移動機構とよりなる光ディスク検査装置において、
上記ミラーの追従位置を検出するミラー偏位検出器と、
該ミラー偏位検出器の出力電圧により、上記ミラーの追
従位置が上記一定の限界に越えたことを判定して判定信
号を出力するミラー限界判定部と、マイクロプロセッサ
の指令による上記ステップ移動機構の移動動作と、該ミ
ラー限界判定部の判定信号により、上記ステップ移動機
構によるステップ移動を行って上記ミラーの追従位置を
上記一定限界内に維持する動作をそれぞれ制御する２重
制御部とにより構成され、かつ、上記マイクロプロセッ
サの演算により、上記光ディスクの１回転における上記
ミラー偏位検出器の出力電圧の平均値を求めて上記ステ
ップ移動機構のステップ数に加算することにより上記案
内溝の半径位置を算出することを特徴とする、光ディス
ク検査装置における光学ヘッド制御装置。
（２）、上記において、マイクロプロセッサにより算出
された案内溝の半径位置のデータが、予め設定された検
査開始／終了位置に相当する値となった時点で検査を開
始／終了し、または予め設定された位置となった時点で
ディスクの回転速度を変更する、請求項１記載の光ディ
スク検査装置における光学ヘッド制御装置。