JPH02234066A - インサーキットテスタ用プローブピン - Google Patents
インサーキットテスタ用プローブピンInfo
- Publication number
- JPH02234066A JPH02234066A JP5561389A JP5561389A JPH02234066A JP H02234066 A JPH02234066 A JP H02234066A JP 5561389 A JP5561389 A JP 5561389A JP 5561389 A JP5561389 A JP 5561389A JP H02234066 A JPH02234066 A JP H02234066A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- electrode
- spring
- sleeve
- shaft
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、インサーキットテスタのフィクスチャに使用
されるインサーキットテスタ用ブローブビンに関する． ［従来の技術］ 従来、この種のインサーキットテスタ用プローブピンは
、インサーキットテスタの２ィクスチャのベースプレー
トに差し込まれるプロープ軸部分と、そのブローブ軸に
バネを介して支持され長手方向に伸縮自在な電極部分と
から構成されており、その電極部分の先端は針状．クラ
ウン状などの形状に形成されていて、この電極部分の先
端を被測定端子に接触させて導通なとるようになってい
た。
されるインサーキットテスタ用ブローブビンに関する． ［従来の技術］ 従来、この種のインサーキットテスタ用プローブピンは
、インサーキットテスタの２ィクスチャのベースプレー
トに差し込まれるプロープ軸部分と、そのブローブ軸に
バネを介して支持され長手方向に伸縮自在な電極部分と
から構成されており、その電極部分の先端は針状．クラ
ウン状などの形状に形成されていて、この電極部分の先
端を被測定端子に接触させて導通なとるようになってい
た。
［発明が解決しようとする課題］
然しながら、上述した従来のインサーキットテスタ用プ
ローブビンは、電極部分の先端が点状又は面状に被測定
端子と接触するので、接触部分が滑り易く、電極部分が
被測定端子からはずれて導通がとれなくなったり、電極
部分が曲って使えなくなったりする欠点がある。
ローブビンは、電極部分の先端が点状又は面状に被測定
端子と接触するので、接触部分が滑り易く、電極部分が
被測定端子からはずれて導通がとれなくなったり、電極
部分が曲って使えなくなったりする欠点がある。
［課題を解決するための手段］
このような欠点を解決するための本発明の技術的手段は
、ブローブ軸に設けられ被測定端子に接触する電極を備
えたインサーキットテスタ用ブローブピンにおいて、上
記電極をプローブ軸端部に軸方向へ移動可能にバネを介
して支持するとともに、該電極に″！Ｉｉ嵌する筒状の
スリーブを設け、該スリーブをプローブ軸に軸方向へ移
動可能にスプリングで支持したものである。
、ブローブ軸に設けられ被測定端子に接触する電極を備
えたインサーキットテスタ用ブローブピンにおいて、上
記電極をプローブ軸端部に軸方向へ移動可能にバネを介
して支持するとともに、該電極に″！Ｉｉ嵌する筒状の
スリーブを設け、該スリーブをプローブ軸に軸方向へ移
動可能にスプリングで支持したものである。
［実施例］
次に、本発明の実施例に係るインサーキットテスタ用プ
ローブビンについて図面を参照して説明する。
ローブビンについて図面を参照して説明する。
第１図は本発明の実施例に係るインサーキットテスタ用
プローブピンを示す部分断面図である。
プローブピンを示す部分断面図である。
゛図において、電極１は円柱状に形成されており、その
上面にはコイルバネ２が溶接などにより取りつけられて
いる。コイルバネ２の他端はブローブ軸５の先端部５ａ
に溶接などにより接続され、電４１ｌＩ１を軸方向へ移
動可能に支持している。ブローブ軸５は、上部軸５ｂ及
び下部軸５Ｃの２本の円柱体を接続して形成され、下部
軸５Ｃの直径は上部軸５ｂの直径より小径に形成されて
いる。電極１．コイルバネ２及びプローブ軸５の下部軸
５ｃの一部分は、これらに遊嵌する円筒状のスリーブ３
で覆われている。スリーブ３の上端にはコイルスプリン
グ４が溶接などで取り付けられている。このコイルスプ
リング４はプローブ軸５の下部軸５Ｃに遊挿され、その
上端は溶接などによりプローブ軸５の上部軸５ｂ端部に
接続されており、該スリーブ３を軸方向へ移動可能に支
持している．常態時においては、電極１の先端はスリー
ブ３の先端より少し引込んた位置に位置するようになっ
ている。また、電極１．コイルバネ２，スリーブ３，コ
イルスプリング４及びブローブ軸５は全て導電性の金属
で作られている。
上面にはコイルバネ２が溶接などにより取りつけられて
いる。コイルバネ２の他端はブローブ軸５の先端部５ａ
に溶接などにより接続され、電４１ｌＩ１を軸方向へ移
動可能に支持している。ブローブ軸５は、上部軸５ｂ及
び下部軸５Ｃの２本の円柱体を接続して形成され、下部
軸５Ｃの直径は上部軸５ｂの直径より小径に形成されて
いる。電極１．コイルバネ２及びプローブ軸５の下部軸
５ｃの一部分は、これらに遊嵌する円筒状のスリーブ３
で覆われている。スリーブ３の上端にはコイルスプリン
グ４が溶接などで取り付けられている。このコイルスプ
リング４はプローブ軸５の下部軸５Ｃに遊挿され、その
上端は溶接などによりプローブ軸５の上部軸５ｂ端部に
接続されており、該スリーブ３を軸方向へ移動可能に支
持している．常態時においては、電極１の先端はスリー
ブ３の先端より少し引込んた位置に位置するようになっ
ている。また、電極１．コイルバネ２，スリーブ３，コ
イルスプリング４及びブローブ軸５は全て導電性の金属
で作られている。
第２図は実施例に係るプローヅピンの使用例を示す図で
ある。実施例に係るプローブピンのブローブ軸５はイン
サーキットテスタ用フィクスチャのベースプレート６に
埋め込まれて固定されている。ブローブ軸５の上端には
インサーキットテスタに至るリード線７が接続されてい
る。被測定体としては、例えば、第２図に示すように、
部品９のリード１０をプリント基板８に半田付けしたも
のがある。この半田付け部ｌ１は被測定端子になってお
り、一般に山形に形成されている。
ある。実施例に係るプローブピンのブローブ軸５はイン
サーキットテスタ用フィクスチャのベースプレート６に
埋め込まれて固定されている。ブローブ軸５の上端には
インサーキットテスタに至るリード線７が接続されてい
る。被測定体としては、例えば、第２図に示すように、
部品９のリード１０をプリント基板８に半田付けしたも
のがある。この半田付け部ｌ１は被測定端子になってお
り、一般に山形に形成されている。
従って、この実施例に係るインサーキットテスタ用ブロ
ーブピンを用いて測定する場合は、まず、ベースプレー
ト６を下方に動かす。この場合、スリーブ３は半田付け
部１１を包むように覆いかぶさり、その先端は半田付け
部１１の裾野部分に接触する．同時に電極１６半田付け
部１１の山頂部分に接触する．更に、ベースプレート６
を下方に動かすと、電極１とスリーブ３はそれぞれコイ
ルバネ２とコイルスプリング４の付勢力によって半田付
け部１１に押え付けられるため、半田付け部１１の高さ
のバラッキに影響されずに適当な接触圧が得られる。こ
の状態でインサーキットテスタによる測定が行なわれる
。
ーブピンを用いて測定する場合は、まず、ベースプレー
ト６を下方に動かす。この場合、スリーブ３は半田付け
部１１を包むように覆いかぶさり、その先端は半田付け
部１１の裾野部分に接触する．同時に電極１６半田付け
部１１の山頂部分に接触する．更に、ベースプレート６
を下方に動かすと、電極１とスリーブ３はそれぞれコイ
ルバネ２とコイルスプリング４の付勢力によって半田付
け部１１に押え付けられるため、半田付け部１１の高さ
のバラッキに影響されずに適当な接触圧が得られる。こ
の状態でインサーキットテスタによる測定が行なわれる
。
なお、本発明の実施例に係るブローブピンも従来のプロ
ーブピンと同様に、ベースプレート６に直接ブロープビ
ンを埋め込まず、ブローブソケットをベースプレートに
埋め込みそこにプローブピンを差し込んで使用すること
も可能である。
ーブピンと同様に、ベースプレート６に直接ブロープビ
ンを埋め込まず、ブローブソケットをベースプレートに
埋め込みそこにプローブピンを差し込んで使用すること
も可能である。
［発明の効果］
以上説明したように本発明のインサーキットテスタ用ブ
ローブピンによれば、電極の回りをスリーブで覆うこと
により、スリーブが被測定端子を包み込むので、電極が
被祠定端子から滑ってはずれることがなくなり、フ゜ロ
ーブピンが曲って破損することを防ぐ効果がある。また
、電極とスリーブの両方が被測定端子と接触するため、
確実に導通がとれる効果がある。
ローブピンによれば、電極の回りをスリーブで覆うこと
により、スリーブが被測定端子を包み込むので、電極が
被祠定端子から滑ってはずれることがなくなり、フ゜ロ
ーブピンが曲って破損することを防ぐ効果がある。また
、電極とスリーブの両方が被測定端子と接触するため、
確実に導通がとれる効果がある。
第１図は本発明の一実施例に係るインサーキットテスタ
用プローブビンを示す部分断面図、第 ２図はその作用を示す図である。 １：電極 ３：スリーブ ５：ブローヅ軸 ７：リード線 ９：部品 １１二半田付け部 ２：コイルバネ ４：コイルスプリング ６：ベースプレート ８：プリント基板 １０：リード
用プローブビンを示す部分断面図、第 ２図はその作用を示す図である。 １：電極 ３：スリーブ ５：ブローヅ軸 ７：リード線 ９：部品 １１二半田付け部 ２：コイルバネ ４：コイルスプリング ６：ベースプレート ８：プリント基板 １０：リード
Claims (1)
- プローブ軸に設けられ被測定端子に接触する電極を備
えたインサーキットテスタ用プローブピンにおいて、上
記電極をプローブ軸端部に軸方向へ移動可能にバネを介
して支持するとともに、該電極に遊嵌する筒状のスリー
ブを設け、該スリーブをプローブ軸に軸方向へ移動可能
にスプリングで支持したことを特徴とするインサーキッ
トテスタ用プローブピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5561389A JPH02234066A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | インサーキットテスタ用プローブピン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5561389A JPH02234066A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | インサーキットテスタ用プローブピン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02234066A true JPH02234066A (ja) | 1990-09-17 |
Family
ID=13003621
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5561389A Pending JPH02234066A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | インサーキットテスタ用プローブピン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02234066A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0625768U (ja) * | 1992-07-16 | 1994-04-08 | 大西電子株式会社 | プリント配線板の回路検査用治具 |
| US5823818A (en) * | 1997-01-21 | 1998-10-20 | Dell U.S.A., L.P. | Test probe for computer circuit board test fixture |
| WO2013051675A1 (ja) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
-
1989
- 1989-03-08 JP JP5561389A patent/JPH02234066A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0625768U (ja) * | 1992-07-16 | 1994-04-08 | 大西電子株式会社 | プリント配線板の回路検査用治具 |
| US5823818A (en) * | 1997-01-21 | 1998-10-20 | Dell U.S.A., L.P. | Test probe for computer circuit board test fixture |
| WO2013051675A1 (ja) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| KR20140065467A (ko) * | 2011-10-07 | 2014-05-29 | 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 | 프로브 유닛 |
| JPWO2013051675A1 (ja) * | 2011-10-07 | 2015-03-30 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| US9291645B2 (en) | 2011-10-07 | 2016-03-22 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5534787A (en) | High-frequency coaxial interface test fixture | |
| JPH06151532A (ja) | プローブ装置 | |
| US3562643A (en) | Spring loaded test probe assembly | |
| US4754555A (en) | Apparatus for inspecting the coplanarity of leaded surface mounted electronic components | |
| US5446393A (en) | Electrical measuring and testing probe having a malleable shaft facilitating positioning of a contact pin | |
| JPH02234066A (ja) | インサーキットテスタ用プローブピン | |
| JP2002022768A (ja) | 集積回路パッケージ検査用ポゴピン | |
| JP4667253B2 (ja) | 四探針測定用同軸プローブ及びこれを備えたプローブ治具 | |
| JP2000065892A (ja) | 導通検査用治具 | |
| JPH0829475A (ja) | 実装基板検査装置のコンタクトプローブ | |
| US6164982A (en) | IC socket for holding IC having multiple parallel pins | |
| JP4713332B2 (ja) | コンタクトプローブ装置および回路基板検査装置 | |
| JPH0145029B2 (ja) | ||
| JP2971491B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPH0317974A (ja) | 導電性接触子 | |
| JPH048374Y2 (ja) | ||
| JPH02114470A (ja) | 導電性接触子 | |
| JP7313849B2 (ja) | 電気的接触子及び電気的接続装置 | |
| JPS6236137Y2 (ja) | ||
| JPH0738861Y2 (ja) | 微細プローブピン挿入治具 | |
| JPH04370768A (ja) | ポゴピン及びｌｓｉ試験装置 | |
| KR200182523Y1 (ko) | 검사용 탐침장치 | |
| JP2018165670A (ja) | 導電性接触子、導電性接触子ユニット、および導電性接触子ユニットを備える半導体検査装置 | |
| JPH06294815A (ja) | 実装部品の検査方法 | |
| JPH0351766A (ja) | 導電接触子 |