JPH02228092A - 両面配線基板の製造方法 - Google Patents

両面配線基板の製造方法

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JPH02228092A
JPH02228092A JP1048777A JP4877789A JPH02228092A JP H02228092 A JPH02228092 A JP H02228092A JP 1048777 A JP1048777 A JP 1048777A JP 4877789 A JP4877789 A JP 4877789A JP H02228092 A JPH02228092 A JP H02228092A
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JP
Japan
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thin film
metal thin
insulating substrate
plating layer
plating
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JP1048777A
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English (en)
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Yoshio Yarita
鑓田 好男
Yoshihiro Kawamura
義裕 河村
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Casio Computer Co Ltd
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Casio Computer Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野J この発明は両面配線基板の製造方法に関する。
[従来の技術] 従来、絶縁基板の両面に配線パターンが形成された両面
配線基板においては、パンチングやドリル加1等により
絶縁基板の表面から裏面に貫通する小径のスルーホール
を形成し、このスルーホールの内壁に銅等の金属メッキ
を施し、この金属メッキにより両面の配線パターンを相
Wに接続している。このような両面配線基板においては
、絶縁基板が合成樹脂製であるから、スルーホールの内
壁に金属メッキを直接施すことはできない、そのため、
前処理によりスルーホールの内壁を粗面にしてメッキを
付着しやすくしたり、化学メッキにより下地メッキを施
したりして、電解メッキにより金属メッキを施している
[発明が解決しようとする課WJ] しかし、このような両面配線基板の製造方法では、スル
ーホールの内壁に金属メッキを施すために、予めスルー
ホールの内壁に前処理や下地メッキ等を施さなければな
らないので、メッキTA!が複雑で、生産性が悪く、製
造コストが高くなるという問題がある。
この発明の目的は、メッキ工程が簡単で、律産性に優れ
、安価に製作することができる両面配線基板の製造方法
を提供することにある。
[課題を解決するための手段] この発明は、絶縁基板の表面、裏面、側面に蒸着または
スパッタリングにより金属薄膜を形成した後、この金属
fJ膜の配線パターン形成領域および側面にメッキ層を
パターン形成し、しかる後、メッキ層をマスクとして配
線パターン形成領域以外の金属薄膜をエツチングして除
去するとともに、絶縁基板の側縁部を部分的に切断して
、この切断した部分と共に側面のメッキ層および金属薄
膜の不要な部分を除去することにより、両面配線基板を
製造する方法である。
この場合、絶縁基板の側縁部の切断は金属薄膜にメッキ
層を形成した後であれば、レジスト層の除去および金属
薄膜のエツチング等の前後に行なってもよい。
さらに、予め、絶縁基板に貫通孔または切欠部を形成し
ておき、この内部側面に上述した金属薄膜およびメッキ
層を形成し、この内部側面を切断して内部側面と共に不
要な金属g膜およびメッキ層を除去することにより、内
部側面を通して表面および裏面の配線パターンを接続す
るようにしてもよい。
[作 用] この発明に係る両面配線基板の製造方法によれば、絶縁
基板の表面、裏面、側面に蒸着またはスパッタリングに
より金属薄膜を形成するので、絶縁基板に直接金属U膜
を形成することができる。
しかも、この金属F4膜はメッキ層の下地メッキとなる
ので、電解メッキ等により金属薄膜にメッキ層を簡単か
つ容易に形成することができる。そのため、メー、キ工
程が簡単となり、生産性がよく、安価に製作することが
できる。この場合、金属薄膜の配線パターン形成領域以
外にレジスト層を形成し、このレジスト層が形成されて
いない金属薄膜にメッキ層を形成すれば、配線パターン
形成領域および側面の金属薄膜にしかメッキ層は形成さ
れないので、メッキ液が無駄にならず、効率よくメッキ
を施すことができる。また、メッキ層をマスクとして金
属gi膜をエツチングし、不要な金属薄膜を除去するこ
とにより、絶縁基板の表面および裏面に金属薄膜とメッ
キ層とからなる配線パターンを形成するので、配線パタ
ーンと同時に絶縁基板の側面に表裏の配線パターンを導
通ずる金属薄膜およびメッキ層を積層形成することがで
きる。さらに、絶縁基板の側縁部あるいは予め絶縁基板
に形成された貫通孔や切欠部の内部側面を部分的に切断
して、その部分の金1f8J膜およびメッキ層を除去す
るので、側縁部や内部側面にメッキレジストおよびエツ
チングレジストを被覆する必要がない、これらの作用に
より製造工程が簡素化され且つ生産能率が格段に向上す
る。
[実施例] 以下1図面を参照して、この発明の詳細な説明する。
第1図および第2図は両面配線基板の製造工程を示す、
まず、第1図(A)および第2図(A)に示すように、
絶縁基板1を用意し、この絶縁基板lのL面、下面、お
よび側面の全表面に蒸着またはスパッタリングにより金
属g膜2を形成する。この場合、絶縁基板1はポリイミ
ド、ポリエステル、ガラスエポキシ等の絶縁性を有する
合成樹脂よりなり、シート状に形成されている。また、
金属薄膜2は1例えば銅(Cu)、アルミニウム(A1
)等の金属を用い、その厚さは数百λ〜数千λ程度に形
成される。
この後、第1図(B)および第2図(B)に示すように
、絶縁基板lの上面および下面の金属薄膜2の表面にお
ける配線パターン形成領域以外にレジスト層3をスクリ
ーン印刷もしくはフォトパターニング法により形成する
。このレジスト層3は熱溶融性樹脂あるいはフォトレジ
スト等のレジストを用いる。そして、このレジスト層3
をスクリーン印刷により形成する場合には、金属薄膜2
Lにスクリーンを介してレジストを印刷することにより
、レジスト層3が形成される。また。
フォトパターニング法によりレジスト層3を形成する場
合には、金Mflll!12の表面にフォトレジストを
塗布し、このフォトレジストをマスクを介して露光し現
像することにより、レジスト層3がパターン形成される
しかる後、第1図(C)および第2図(C)に示すよう
に、レジスト層3が形成されていない金属薄膜2の全表
面、つまり配線パターン形成領域および側面に電解メッ
キによりメッキ層4を形成する。このメッキ層4は金属
@WJ2が下地メッキとなるので、電解メッキにより簡
単に金属薄W!J2の表面のみに形成することができ、
レジスト層3の表面には形成されない、これは、電解メ
ッキであるため、レジスト層3の表面にはメッキ液の全
屈粒子が付着しないからである。この場合、メッキ層4
の材質は上述した金属薄膜2と同じものを用いれば、金
属薄膜2に対する付着性はよいが。
異なるものでもよい、また、メッキ層4の厚さは数gm
−数士JLm程度に形成されるが、メッキ層4の材質が
金属fiJtIJ2と同じ場合には、後工程で金属fj
1192と共にエツチングされるため、これを見込んで
予め金属薄膜2の厚さ分だけ厚く形成しておく、なお、
メッキ層4の金属薄膜2と異なる場合には、金属薄膜2
と同時にエツチングされないので、メッキ層4を予め厚
く形成しておく必要はない。
次に、第1図(D)および第2図(D)に示すように、
レジスト層3を除去する。この場合には、レジスト層3
を加熱して溶融することにより除去するか、あるいはエ
ツチングにより除去する。この後、第1図(E)および
第2図(E)に示すように、メッキ層4をマスクとして
金属薄膜2をエツチングして不要な部分、つまり配線パ
ターン形成領域以外の金属gr/!J2を除去する。こ
の場合、メッキ層4が金属薄膜2と同じ材質であれば、
金属薄膜2と共にメッキ層4もエツチングされる力ζ、
L述したように予め金属薄膜2の厚さ分だけ厚く形成さ
れているので、最絆的には数pm〜数十gm程度の厚さ
に形成される。このように配線パターン形成領域以外の
表面に露出した金属薄膜2の厚さだけエツチングすれば
よいので、エツチング液を用いて短時間でエツチングす
ることができる。この結果、金属6182とメッキ層4
とからなる2層構造の配線パターン5・・・が絶縁基板
lの上面および下面に形成される。この配線パターン5
・・・は絶縁基板lの側面に金属薄膜2とメッキ層4と
が形成されているため、絶縁基板lの上下面の総てが導
通する。
そして、第1図(F)に示すように、絶縁基板lの側縁
部を部分的に切断して切断部6・・・を形成することに
より、この切断部6・・・と対応する側縁部と共に金属
薄膜2およびメッキ層4の不要な部分、つまり絶縁基板
lの側縁部において上下に対応する配線パターン5・・
・の部分を除く部分を除去する。これにより、配線パタ
ーン5・・・は切断部6・・・が形成されていない絶縁
基板lの側縁部において上下に対応する部分のみが互い
に導通し、切断i’m6・・・により隣接する配線パタ
ーン5・・・同士の導通を防ぐ、この結果、絶縁基板l
の上下面の配線パターン5・・・が絶縁基板lの側縁部
で互いに導通する両面配線基板が得られる。
したがって、上述したような両面配線基板の製造方法に
よれば、絶縁基板lの上面、下面、および側面に金属薄
膜2を蒸着またはスパー、タリングにより形成するので
、金属薄膜2を数百λ〜数千λ程度の極めて薄い厚さに
形成することができる。しかも、この金属薄!I2はメ
ッキ層4の下地メッキとなるので、金属薄1!12の表
面に電解メッキによりメッキ層4を簡単かつ良好に形成
することができる。そのため、メッキ工程が簡単で、生
産性がよく、安価に製作することができる。この場合、
メッキ層4を形成する前に、絶縁基板lのL面および下
面における金属薄膜2の配線パターン形成領域以外にレ
ジスト層3をパターン形成し、このレジスト層3をマス
クとしてメッキを施すので、レジスト層3の表面にはメ
ッキ層4が形成されず、表面に露呈した配線パターン形
成領域と対応する金m薄膜2の表面のみにメッキ層4を
形成することができる。そのため、メッキ液が無駄にな
らず、効率よくメッキを施すことができる。
また、金属薄H2をエツチングして、配線パターン形成
領域以外の金属薄膜2を除去する際には、メッキ層4が
マスクとなるので、レジスト層3を除去した後、速やか
に金属RH2をエツチングすることがでさ、しかも金属
91112のみをエツチングすればよいので、エツチン
グ時間を大幅に短縮することができ、これによっても、
生産性を高めることができる。このように金属薄膜2お
よびレジスト層3よりなる配線パターン5・・・を形成
するので、配線パターン5と同時に、絶縁基板lの側面
にも金属i膜2およびメッキ層4を形成することができ
る。
さらに、絶縁基板lの側縁部を部分的に切断して切断部
6・・・を形成することにより、側面の金属薄膜2およ
びメッキ層4の不要な部分を除去するので、側面部に予
めメッキレジストを被着したりエツチングレジストを被
着したりする工程を省略することができる。これらの理
由によって、両面配線基板の製造1程を簡素化すること
ができ、催事よく製作することができる。この場合、絶
縁基板lの側縁部に形成された金属薄膜2およびメッキ
層4は、導電インク等からなるものと比べて。
電気的な抵抗値が低く、耐候性および電流容量の点にお
いて信頼性が高いので、上下の配線パターン5をより確
実に接続することができ、導通信頼性の極めて高いもの
を得ることができる。
なお、上述した実施例では、金属薄M2をエツチングし
て不要な部分を除去した後、最後に絶縁基板lの側縁部
を切断して切断部6・・・を形成することにより、側面
の金属薄Jl!J2およびメッキ層4を除去したが、こ
れに限らず、金属薄膜2の表面にメッキ層4を形成した
後であれば、いつでも絶縁基板lの側縁部を切断して切
断部6・・・を形成することにより、側面に金属%18
2およびメッキ層4を除去してもよい0例えば、第3図
(A)に示すように、金属薄H2の配線パターン形成領
域以外にレジスト層3を形成するとともに、このレジス
ト層3が形成されていない金属薄膜2の配線パターン形
成領域および側面にメッキ層4を形成する。この後、絶
縁基板1の側縁部を部分的に切断して切断部6・・・を
形成し、側面の金属薄膜2およびメッキ層4を除去する
。そして、第3図(B)に示すように、レジスト層3を
除去し、メッキ層4をマスクとして金属薄膜2を゛エツ
チングすれば、ト述した実施例と同じ両面配線基板を得
ることができる。
また、F−、述した実施例では、絶縁基板lの側縁部を
通して上下の配線パターン5を接続したが、これに限ら
ず、絶縁基板lに貫通孔や切欠部等を形成し、その内部
側面を通して上下の配線パターン5を接続するようにし
てもよい0例えば、第4図に示すように、予め、絶縁基
板lの所定箇所に四角形状の貫通孔lOを上面から下面
に貫通して形成する。この後、上述した実施例と同様に
、絶縁基板lの上面および下面に金属薄膜2およびメッ
キ層4からなる配線パターン5を形成するとともに、貫
通孔lOの内部側面に金属F!J膜2およびメッキ層4
を形成する。そして、絶縁基板lの内部側面を部分的に
切断して切断ff1ll・・・を形成し、この切断部1
1・・・と対応する内部側面と共に全屈QiJ模2およ
びメッキ層4の不要な部分を除去する。この結果、上述
した実施例と同様な絶縁基板1の上下面の配線パターン
5・・・が絶縁基板1の貫通孔10の内部側面に形成さ
れた金属薄膜2およびメッキ層4により互いに導通した
両面配線基板が得られる。この場合、絶縁基板lの外周
側面にも第1実施例の場合と同様に金属薄膜が被着され
てしまうのではないかという貸間も生じる。しかし、蒸
着やスパッタによって金属薄膜を形成する段階において
は、一般に、絶縁基板は、最終完成品の数倍の形状のも
のを用い、メッキ終了後に所要の大Sさに切断する方法
が採用されている。
従って、1単位の絶縁基板は、その外周側面を有してい
ないとも言える。勿論、本発明の方法は、金属薄膜を形
成する前に絶縁基板1を略々最終完成品の大きさにして
おく場合にも適用可1七である。しかし、この場合にも
、外周側面に形成された金属薄膜およびメッキ層を切断
できるように外周側縁部に切断用の空白部を配慮してお
く必要がある。ただし1貫通穴や切欠部の内部側面とと
もに外周側面も表裏面の配線パターンの接続に使用する
場合には、その空白部も不要である。
さらに、この発明は上述した実施例に限定されず、種々
応用変形が回部である8例えば、絶縁基板lは表面処理
や適当なコーテイング材を塗布したものを用いたり、複
数枚ラミネートしたものを用いたりすることもできる。
また、金属薄膜2およびメッキ層4のエツチングはエツ
チング液を用いるウェットなエツチングである必要はな
く、ドライエツチングで行なってもよい、また、メッキ
層4の全屈材料として、半田や金(Au)等を用いれば
、腐食し難いので、配線パターン5・・・の表面を絶縁
性の保護膜で覆う必要がない、金属薄膜2は必ずしも1
層構造である必要はなく、多層構造にしてもよい、さら
に1両面配線基板は回路基板としてのみ用いる必要はな
く、回路基板と回路基板、あるいは回路基板と電子部品
、もしくは電子部品と電子部品との接続等にも用いられ
るコネクタとしても用いることができる。
[発明の効果] 以に詳細に説明したように、この発明に係る両面配線基
板の製造方法によれば、絶縁基板の表面、裏面、側面に
薄着またはスパッタリングにより金属薄膜を形成するの
で、絶縁基板に直接金属f=[を形成することができる
。しかも、この金属薄膜はメッキ層の下地メッキとなる
ので、′FL解メツメッキより金属薄膜にメッキ層を簡
単かつ容易に形成することができる。そのため、メッキ
工程が筒中となり、生産性がよく、安価に製作すること
ができる。また、メッキ層をマスクとして金属薄膜をエ
ツチングし、不要な金属薄膜を除去することにより、絶
縁基板の表面および裏面に金属薄膜とメッキ層とからな
る配線パターンを形成するので、配線パターンと同時に
絶縁基板の側面に表裏の配線パターンを導通する金H,
薄膜およびメッキ層をm層形成することができる。さら
に。
絶縁基板の側縁部あるいは予め絶縁基板に形成された貫
通孔や切欠部の内部側面を部分的に切断してその部分の
金属E!J膜およびメッキ層を除去するので、側縁部や
内部側面にメッキレジストおよびエツチングレジストを
被覆する必要がな、い、これらの作用により製造工程が
筒素化され且つ生産f駐車が格段に向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は実施例を示し、第1図(A)〜(F)
は両面配線基板の製造工程を示す要部斜視図、第2図(
A)〜(E)はその要部拡大断面図、第3図(A)(B
)は切断工程の他の例を示す要部斜視部、m4図は絶縁
基板に貫通孔を形成する他の製造方法を示す要部斜視図
である。 l・・・・・・絶縁基板、2・・・・・・金属薄膜、3
・・・・・・レジスト層、4・・・・・・メッキ層、5
・・・・・・配線パターン、6.11・・・・・・切断
部、10・・・・・・貫通孔。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁基板の表面、裏面、側面に蒸着またはスパッ
    タリングにより金属薄膜を形成する工程と、 前記絶縁基板の表面および裏面における前記金属薄膜の
    配線パターン形成領域以外にレジスト層をパターン形成
    する工程と、 前記金属薄膜の配線パターン形成領域および側面にメッ
    キ層を形成する工程と、 前記レジスト層を除去する工程と、 前記メッキ層をマスクとして配線パターン形成領域以外
    の前記金属薄膜をエッチングして除去する工程と、 前記絶縁基板の側縁部を部分的に切断して、その切断し
    た部分と共に側面の前記メッキ層および前記金属薄膜の
    不要な部分を除去する工程と、からなる両面配線基板の
    製造方法。
  2. (2)請求項第1項において、予め、前記絶縁基板に貫
    通孔または切欠部を形成しておき、前記絶縁基板の表面
    および裏面に前記金属薄膜およびメッキ層を形成する際
    に、前記側面に代えて前記貫通孔および切欠部の内部側
    面に前記金属薄膜およびメッキ層を形成し、その内部側
    面を部分的に切断して不要な部分の金属薄膜およびメッ
    キ層を除去することを特徴とする両面配線基板の製造方
    法。
JP1048777A 1989-01-20 1989-03-01 両面配線基板の製造方法 Pending JPH02228092A (ja)

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US07/464,412 US5049244A (en) 1989-01-20 1990-01-12 Method of manufacturing double-sided wiring substrate
KR1019900000685A KR920005072B1 (ko) 1989-01-20 1990-01-20 양면배선기판의 제조방법

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995012907A1 (fr) * 1993-11-01 1995-05-11 Poripurasuchikkusu Co., Ltd. Fabrication de connecteur
WO2006115232A1 (en) * 2005-04-21 2006-11-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting element, light emitting device, and electronic device

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WO2006115232A1 (en) * 2005-04-21 2006-11-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting element, light emitting device, and electronic device
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