JPH02221823A - 光度計 - Google Patents
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- JPH02221823A JPH02221823A JP1040253A JP4025389A JPH02221823A JP H02221823 A JPH02221823 A JP H02221823A JP 1040253 A JP1040253 A JP 1040253A JP 4025389 A JP4025389 A JP 4025389A JP H02221823 A JPH02221823 A JP H02221823A
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、近赤外波長領域における測定において、特に
、Ｓ／Ｎ比の向上、感度の向上に好適な分光光度計に関
する。
、Ｓ／Ｎ比の向上、感度の向上に好適な分光光度計に関
する。
従来の分光光度計では、近赤外領域の検出器として、硫
化鉛（ｐｂｓ）検出器が、室温下で使用されている。
化鉛（ｐｂｓ）検出器が、室温下で使用されている。
上記従来技術は、検出器の感度が小さく、Ｓ／Ｎ比が低
かった。また室温下では、素子の劣化の問題があった。
かった。また室温下では、素子の劣化の問題があった。
本発明の目的は、近赤外領域において、感度の向上、及
び、Ｓ／Ｎ比を向上することにある。また素子の劣化を
防止することにある。
び、Ｓ／Ｎ比を向上することにある。また素子の劣化を
防止することにある。
上記目的は、ＰｂＳ検出器と電子冷熱素子、感温素子を
取り付け、温度制御装置により、ＰｂＳ検出器を一定温
度に保つことにより、達成される。
取り付け、温度制御装置により、ＰｂＳ検出器を一定温
度に保つことにより、達成される。
電子冷熱素子の上部に、ＰｂＳ検出器と、感温素子が配
置され１分光光度計の検出部に設置される。また、基準
温度と比較する比較器と電力増幅器より構成された温度
制御装置が設置される。
置され１分光光度計の検出部に設置される。また、基準
温度と比較する比較器と電力増幅器より構成された温度
制御装置が設置される。
感温素子で検知された温度と温度制御装置内の比較器で
基準温度と比較され、その出力により電子冷熱素子に流
れる電力を変化させ、一定温度になるように制御する。
基準温度と比較され、その出力により電子冷熱素子に流
れる電力を変化させ、一定温度になるように制御する。
以下、本発明の一実施例を第１図〜第５図を参照して説
明する。
明する。
第１図は検出器の切り換え機能を表わす概略図を示す。
紫外可視領域の光は、光電子増倍管１により検知され、
その出力電流は電流電圧変換器５０により電圧に変換さ
れる。また、近赤外領域の光は、ＰｂＳ検出器２により
検出され、その出力電圧は交流増幅器５１で増幅される
。各々の検出器からの信号は常時出力されており、測定
する波長領域によって光電子増倍管又はＰｂＳ検出器の
いずれか一方を選択するように、マイクロコンピュータ
５３により検出器からの出力信号を切り替えている。選
択された検出器の出力信号はＡ／Ｄ変換器５２によりデ
ィジタル信号に変換され、マイクロコンピュータ５３に
より処理され、各種測定結果が算出される。
その出力電流は電流電圧変換器５０により電圧に変換さ
れる。また、近赤外領域の光は、ＰｂＳ検出器２により
検出され、その出力電圧は交流増幅器５１で増幅される
。各々の検出器からの信号は常時出力されており、測定
する波長領域によって光電子増倍管又はＰｂＳ検出器の
いずれか一方を選択するように、マイクロコンピュータ
５３により検出器からの出力信号を切り替えている。選
択された検出器の出力信号はＡ／Ｄ変換器５２によりデ
ィジタル信号に変換され、マイクロコンピュータ５３に
より処理され、各種測定結果が算出される。
第２図は分光光度計の全体の構成を示す図である。光源
には紫外可視領域用の重水素ランプ（Ｄａランプ）３と
近赤外領域用のヨウ素タングステンランプ（ＷＩ）４を
使用しており、測定波長に対応してランプ３又は４を選
択する。このランプの選択は、波長と連動してミラー５
の角度を切り換えることにより行われる。波長に対応し
て選択された光源ランプからの白色光は分光器５４に導
かれる０分光器５４に導かれた白色光は、まずメカニカ
ルチョッパ６によりチョッピングされる。メカニカルチ
ョッパ６は１／４周期だけ白色光をカットする羽根を持
ち、この羽根を回転することにより、光の通過しない零
信号を周期的につくる。この光は第１スリツト７を通り
、トロイダル鏡８．凹面鏡９により反射され、プリズム
１゜に入射し、プリズム１０による光の屈折により分光
される０分光された光は、平面１Ａ１１．１２を通り、
第２入射スリツト１７を通過する。さらに凹面鏡１３に
より反射され、紫外可視用平面解析格子１４又は近赤外
用平面回折格子１５に入射して分光される０回折格子１
４及び１５は、紫外可視領域と近赤外領域とを分離し、
各々の波長領域で最適になる格子定数になっている。ま
た、回折格子１４．１５は測定波長に連動して切り換え
られて使用する。
には紫外可視領域用の重水素ランプ（Ｄａランプ）３と
近赤外領域用のヨウ素タングステンランプ（ＷＩ）４を
使用しており、測定波長に対応してランプ３又は４を選
択する。このランプの選択は、波長と連動してミラー５
の角度を切り換えることにより行われる。波長に対応し
て選択された光源ランプからの白色光は分光器５４に導
かれる０分光器５４に導かれた白色光は、まずメカニカ
ルチョッパ６によりチョッピングされる。メカニカルチ
ョッパ６は１／４周期だけ白色光をカットする羽根を持
ち、この羽根を回転することにより、光の通過しない零
信号を周期的につくる。この光は第１スリツト７を通り
、トロイダル鏡８．凹面鏡９により反射され、プリズム
１゜に入射し、プリズム１０による光の屈折により分光
される０分光された光は、平面１Ａ１１．１２を通り、
第２入射スリツト１７を通過する。さらに凹面鏡１３に
より反射され、紫外可視用平面解析格子１４又は近赤外
用平面回折格子１５に入射して分光される０回折格子１
４及び１５は、紫外可視領域と近赤外領域とを分離し、
各々の波長領域で最適になる格子定数になっている。ま
た、回折格子１４．１５は測定波長に連動して切り換え
られて使用する。
回折格子１４又は１５により分光された光は、凹面鏡１
６により反射され、第２出射スリツト１８、平面！！１
９を通り１回転鏡２０に到達する。
６により反射され、第２出射スリツト１８、平面！！１
９を通り１回転鏡２０に到達する。
この光は、プリズム１０と回折格子１４又は１５で分光
された純度の高い単色光である。
された純度の高い単色光である。
この単色光を、試料に照射する試料光と、参照先に分別
するのが回転鏡２０である０回転鏡２゜は４分割され、
その対称部分に図示しないミラーが配置されている。こ
の回転鏡２０が回転することにより、入射光を反射する
場合と、入射光を透過する場合とに分ける。回転鏡２０
により反射された光は、シリンドリカル鏡２４により試
料室５５の試料側５６に導かれ、試料２５．レンズ２６
を通って積分球５８に入る。一方、回転鏡２０を透過し
た光は、平面鏡２１．シリンドリカル鏡２２により、試
料室５５の参照側５７に導がれ、平面鏡２３により反射
され積分球５８に入る。
するのが回転鏡２０である０回転鏡２゜は４分割され、
その対称部分に図示しないミラーが配置されている。こ
の回転鏡２０が回転することにより、入射光を反射する
場合と、入射光を透過する場合とに分ける。回転鏡２０
により反射された光は、シリンドリカル鏡２４により試
料室５５の試料側５６に導かれ、試料２５．レンズ２６
を通って積分球５８に入る。一方、回転鏡２０を透過し
た光は、平面鏡２１．シリンドリカル鏡２２により、試
料室５５の参照側５７に導がれ、平面鏡２３により反射
され積分球５８に入る。
なお、積分球５８には光電子増倍管１が紙面の奥行方向
に、また、ＰｂＳ検出器２は紙面の手前方向に配置され
ている。さらに、光電子増倍管１゜ＰｂＳ検出器２の出
力は、各々図示しない電流電圧変換器交流増幅器を経由
して、Ａ／Ｄ変換器５２、マイクロコンピュータ５３に
接続される。
に、また、ＰｂＳ検出器２は紙面の手前方向に配置され
ている。さらに、光電子増倍管１゜ＰｂＳ検出器２の出
力は、各々図示しない電流電圧変換器交流増幅器を経由
して、Ａ／Ｄ変換器５２、マイクロコンピュータ５３に
接続される。
また、ＰｂＳ検出器２には温度制御装置５９が接続され
ている。
ている。
第３図及び第４図は検出部を示す図である。試料を照射
した光と参照先は、積分球５８の各々別の入射窓から入
射し、積分球５８の内面に到達する。積分球５８の内面
は硫酸バリウムがコーティングされており、内面に到達
した光はすべて一様に散乱する。この散乱光は、試料光
又は参照光の入射面の下側に配置された紫外可視光検出
用の光電子増倍管１及び入射面の上側に配置された近赤
外光検出用のＰｂＳ検出器２により検出される。
した光と参照先は、積分球５８の各々別の入射窓から入
射し、積分球５８の内面に到達する。積分球５８の内面
は硫酸バリウムがコーティングされており、内面に到達
した光はすべて一様に散乱する。この散乱光は、試料光
又は参照光の入射面の下側に配置された紫外可視光検出
用の光電子増倍管１及び入射面の上側に配置された近赤
外光検出用のＰｂＳ検出器２により検出される。
第５図及び第６図は近赤外光検出用のＰｂＳ検出部の縦
断面図及び平面図を示す。図において、ＰｂＳ検出器２
は、電子冷熱素子３１上に配置され、その同一面上に感
温素子３２が配置されている。また、この電子冷熱素子
３１は熱伝導性の良い金属板３０上に配置されており、
さらに、金属筒３３及びサファイヤ製の窓により全体が
外気と遮断されている。また、その外周部は熱交換を考
慮した放熱フィン３５．３６を備えている。
断面図及び平面図を示す。図において、ＰｂＳ検出器２
は、電子冷熱素子３１上に配置され、その同一面上に感
温素子３２が配置されている。また、この電子冷熱素子
３１は熱伝導性の良い金属板３０上に配置されており、
さらに、金属筒３３及びサファイヤ製の窓により全体が
外気と遮断されている。また、その外周部は熱交換を考
慮した放熱フィン３５．３６を備えている。
電子冷熱素子３１は、素子に流す電流の方向により加熱
にも冷却にも使える機能を持っている。
にも冷却にも使える機能を持っている。
いま、ＰｂＳ検出器２を冷却するように電子冷熱素子３
１に電流を流す。こうしてＰｂＳ検出器２が冷却される
と、感熱素子３２がその温度を検知し、電子冷熱素子３
１に流す電流を変えることにより温度を一定に保持する
。また、Ｎ予冷熱素子３１の冷却面と反対側に発生した
熱は、金属板３０を介して放熱フィン３５．３６により
効率よく放熱できる。
１に電流を流す。こうしてＰｂＳ検出器２が冷却される
と、感熱素子３２がその温度を検知し、電子冷熱素子３
１に流す電流を変えることにより温度を一定に保持する
。また、Ｎ予冷熱素子３１の冷却面と反対側に発生した
熱は、金属板３０を介して放熱フィン３５．３６により
効率よく放熱できる。
次に、ＰｂＳ検出器の温度制御装置を第７図により説明
する。感温素子３２は、設定温度に相当する基準抵抗４
０とともにブリッジ回路が組み込まれ、比較器４１で測
定温度と基準温度が比較され、その出力はアンプ４２で
増幅され、さらにブースタ装置３８により電流増幅され
、電子冷熱素子３１に電流が供給される。この温度制御
は装置の電源投入と同時に開始し、常に恒温状態にする
６次に、本発明の分光光度計による測定例を示す。
する。感温素子３２は、設定温度に相当する基準抵抗４
０とともにブリッジ回路が組み込まれ、比較器４１で測
定温度と基準温度が比較され、その出力はアンプ４２で
増幅され、さらにブースタ装置３８により電流増幅され
、電子冷熱素子３１に電流が供給される。この温度制御
は装置の電源投入と同時に開始し、常に恒温状態にする
６次に、本発明の分光光度計による測定例を示す。
第８図は、ＰｂＳ検出器を冷却した場合の検出感度を波
長８００〜３２００ｎｍの範囲で測定した結果である。
長８００〜３２００ｎｍの範囲で測定した結果である。
室温の場合に比較して、温度が低くなるとともに感度が
向上し、より長い波長まで測定できることがわかる。例
えば感度の場合は、最大感度が得られる１２００〜１４
００ｎｍの波長領域で比較すると、従来の室温の場合よ
りも０℃では約２．５倍、１０℃では約３，５倍５０℃
・さ では約４．０ 倍感度が向上する。また、測定可能な波
長は、室温の場合における長波長側は２６００ｎｍ程度
であるが、０℃以下の場合には、測定した３２００ｎｍ
程度まで長波長側に拡大される。
向上し、より長い波長まで測定できることがわかる。例
えば感度の場合は、最大感度が得られる１２００〜１４
００ｎｍの波長領域で比較すると、従来の室温の場合よ
りも０℃では約２．５倍、１０℃では約３，５倍５０℃
・さ では約４．０ 倍感度が向上する。また、測定可能な波
長は、室温の場合における長波長側は２６００ｎｍ程度
であるが、０℃以下の場合には、測定した３２００ｎｍ
程度まで長波長側に拡大される。
また、Ｓ／Ｎ比は感度上昇に見合った倍率で向上するこ
とがわかった。
とがわかった。
さらに、検出器を低温で、かつ恒温化できるのでＰｂＳ
検出器の劣化を防止できる効果がある。
検出器の劣化を防止できる効果がある。
第９図は、ＰｂＳ検出器の出力波形の立上り時間を示す
図である。検出器の温度は０℃と一２０℃の場合である
。検出器の温度が０℃の場合の立上り時間は１ｍｓであ
るが、−２０°Ｃの場合は１ 、８ ｍ ｓ であり
、０℃よりも一２０℃の場合には立上り時間が遅く（約
５６％）なる。
図である。検出器の温度は０℃と一２０℃の場合である
。検出器の温度が０℃の場合の立上り時間は１ｍｓであ
るが、−２０°Ｃの場合は１ 、８ ｍ ｓ であり
、０℃よりも一２０℃の場合には立上り時間が遅く（約
５６％）なる。
なお、検出器の温度を一２０℃以下に設定する場合には
、本実施例で使用した電子冷熱素子の容量が小さいため
温度が下がるまでに長時間を要した。また、検出器に霜
が多く付着し、測定精度も低下することがわかった。
、本実施例で使用した電子冷熱素子の容量が小さいため
温度が下がるまでに長時間を要した。また、検出器に霜
が多く付着し、測定精度も低下することがわかった。
また、検出器の温度が室温近くになると温度コントロー
ルが難しくなる問題が生じた。
ルが難しくなる問題が生じた。
以上のように、検出感度、測定可能波長領域。
立上り時間、温度コントロール、測定精度等を考慮する
と、本実施例によるＰｂＳ検出器の最適温度範囲は０〜
−２０℃がよい。
と、本実施例によるＰｂＳ検出器の最適温度範囲は０〜
−２０℃がよい。
本発明によれば、ＰｂＳ検出器の温度を冷却することが
できるので、近赤外領域の検出感度が向上し、測定波長
領域を長波長側に拡大できる。また、感度の向上により
Ｓ／Ｎ比が向上する。また、検出器を低温で、かつ恒温
化できるのでＰｂＳ検出器の特性の劣化を防止できる効
果がある。
できるので、近赤外領域の検出感度が向上し、測定波長
領域を長波長側に拡大できる。また、感度の向上により
Ｓ／Ｎ比が向上する。また、検出器を低温で、かつ恒温
化できるのでＰｂＳ検出器の特性の劣化を防止できる効
果がある。
さらに、ＰｂＳ検出器の使用温度がＯ〜−２０℃の範囲
であれば、検出感度が向上し、測定可能波長領域が長波
長側に拡大する効果がある。
であれば、検出感度が向上し、測定可能波長領域が長波
長側に拡大する効果がある。
第１図は本発明による検出器の切り換え機能を表わす概
略図、第２図は未発明による分光光度計の全体の構成図
、第３図は本発明による検出部の斜視図、第４図は第３
図に示す検出部のＡ−Ａ断面図、第５図は本発明による
ＰｂＳ検出部の縦断面図、第６図は第Ｓ図のＰｂＳ検出
部の平面図、第７図は本発明によるＰｂＳ検出器の温度
制御装置、第８図はｐｂｓ検出器を冷却した場合の測定
波長と検出感度の温度依存性、第９図はｐｂｓ検出器の
出力波形の立上り時間を示す図である。 １・・・光電子増倍管、２・・・硫化鉛（ｐｂｓ）検出
器。 ３１１０重水素ランプ、４・・・ヨウ化タングステンラ
ンプ（ＷＩ）、３１・・・電子冷熱素子、３２・・・感
温素子、３４・・・サファイア製窓、５２・・・Ａ／Ｄ
変換器、５３・・・マイクロコンピュータ、５４・・・
分光器、５９・・・温度制御装置。 第 図 第 図 ２・・・ＰＩ）δ恢山書 第 図 第 図 波長（ｎｍ） 第 図 第 図 第 図 時間（Ｓ）
略図、第２図は未発明による分光光度計の全体の構成図
、第３図は本発明による検出部の斜視図、第４図は第３
図に示す検出部のＡ−Ａ断面図、第５図は本発明による
ＰｂＳ検出部の縦断面図、第６図は第Ｓ図のＰｂＳ検出
部の平面図、第７図は本発明によるＰｂＳ検出器の温度
制御装置、第８図はｐｂｓ検出器を冷却した場合の測定
波長と検出感度の温度依存性、第９図はｐｂｓ検出器の
出力波形の立上り時間を示す図である。 １・・・光電子増倍管、２・・・硫化鉛（ｐｂｓ）検出
器。 ３１１０重水素ランプ、４・・・ヨウ化タングステンラ
ンプ（ＷＩ）、３１・・・電子冷熱素子、３２・・・感
温素子、３４・・・サファイア製窓、５２・・・Ａ／Ｄ
変換器、５３・・・マイクロコンピュータ、５４・・・
分光器、５９・・・温度制御装置。 第 図 第 図 ２・・・ＰＩ）δ恢山書 第 図 第 図 波長（ｎｍ） 第 図 第 図 第 図 時間（Ｓ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源からの光を試料室に導いて試料からの光を検出
する検出部を備えた光度計において、前記検出部は、紫
外可視光を検出する紫外可視光用検出器と、近赤外光を
検出する近赤外光用検出器を備え、上記近赤外用検出器
は該近赤外用検出器を冷却する電子冷熱素子に接合され
、前記電子冷熱素子は、上記可視光用検出器の温度を所
望の温度に保つように制御されることを特徴とする光度
計。 ２、請求項第１項において、上記可視光用検出器は光電
子増倍管であり、上記近赤外用検出器は硫化鉛検出器で
あることを特徴とする光度計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1040253A JPH02221823A (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 光度計 |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP1040253A JPH02221823A (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 光度計 |
Publications (1)
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| JPH02221823A true JPH02221823A (ja) | 1990-09-04 |
Family
ID=12575523
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1040253A Pending JPH02221823A (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 光度計 |
Country Status (3)
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0552489A (ja) * | 1991-08-20 | 1993-03-02 | Baldwin Printing Controls Ltd | ヒートパイプを用いた冷熱ローラ |
| JP2009121990A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| WO2011112185A1 (en) * | 2010-03-09 | 2011-09-15 | Halliburton Energy Services, Inc. | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2560560B2 (ja) * | 1991-04-22 | 1996-12-04 | 株式会社島津製作所 | 熱型光検出器およびその支持台の製造方法 |
| US5235191A (en) * | 1992-03-06 | 1993-08-10 | Miller Robert N | Real-time x-ray device |
| US5227631A (en) * | 1992-04-30 | 1993-07-13 | Nicolet Instrument Corporation | Infrared detector of the type used in infrared spectrometers |
| DE4226820A1 (de) * | 1992-08-13 | 1994-02-17 | Bodenseewerk Geraetetech | Kühlsystem zum Abkühlen eines Kühlobjektes auf tiefe Temperaturen mittels eines Joule-Thomson-Kühlers |
| US5298742A (en) * | 1993-02-24 | 1994-03-29 | The United States Of America As Represented By Department Of Health & Human Services | Light sensor for photo-dynamic therapy having a transparent housing |
| US5670784A (en) * | 1994-08-26 | 1997-09-23 | Ametek Aerospace Products | High temperature gas stream optical flame sensor |
| US5644134A (en) * | 1995-07-21 | 1997-07-01 | Edo Corporation, Barnes Engineering Division | Sun sensors |
| US5763885A (en) * | 1995-12-19 | 1998-06-09 | Loral Infrared & Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for thermal gradient stabilization of microbolometer focal plane arrays |
| JP2003130961A (ja) * | 2001-07-19 | 2003-05-08 | Siemens Ag | 検出器モジュール、ｘ線コンピュータトモグラフ用の検出器およびｘ線コンピュータトモグラフによる断層像の作成方法 |
| KR100501717B1 (ko) * | 2003-05-09 | 2005-07-18 | 삼성전자주식회사 | Ｕｄｐ/ｔｃｐ/ｉｐ 네트워크에서 버퍼관리를 기반으로 한음성 및 데이터 통합 전송방법 |
| KR100513728B1 (ko) * | 2003-06-26 | 2005-09-08 | 삼성전자주식회사 | 광전 신호 검출기 |
| CN100414286C (zh) * | 2003-08-14 | 2008-08-27 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 利用近红外光谱测量固体物质成份含量的装置 |
| FR2862839B1 (fr) * | 2003-11-20 | 2006-12-08 | Sagem | Doigt froid et dispositif d'observation comportant un tel doigt |
| IL201915A0 (en) * | 2009-11-04 | 2010-11-30 | Lior Segal | Warm body presence portable detection device and method |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3942010A (en) * | 1966-05-09 | 1976-03-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Joule-Thomson cryostat cooled infrared cell having a built-in thermostat sensing element |
| JPS5562321A (en) * | 1978-11-02 | 1980-05-10 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| JPS55116217A (en) * | 1979-03-02 | 1980-09-06 | Hitachi Ltd | Display unit |
| JPS59203927A (ja) * | 1983-05-04 | 1984-11-19 | Hitachi Ltd | 複光束分光光度計 |
| US4542295A (en) * | 1983-09-29 | 1985-09-17 | Mattson David R | Spectrometer with selectable area detector |
| US4678914A (en) * | 1984-04-30 | 1987-07-07 | Environmental Tectonics Corporation | Digital IR gas analyzer |
| US4602158A (en) * | 1984-10-26 | 1986-07-22 | Itek Corporation | PbS-PbSe IR detector arrays |
| US4682032A (en) * | 1986-01-17 | 1987-07-21 | Itek Corporation | Joule-Thomson cryostat having a chemically-deposited infrared detector and method of manufacture |
| US4734584A (en) * | 1986-09-16 | 1988-03-29 | Trebor Industries, Inc. | Quantitative near-infrared measurement instrument for multiple measurements in both reflectance and transmission modes |
| GB2207501A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-01 | Philips Electronic Associated | Radiation detector arrangements and methods using resistors with high positive temperature coefficients |
-
1989
- 1989-02-22 JP JP1040253A patent/JPH02221823A/ja active Pending
-
1990
- 1990-02-15 US US07/480,614 patent/US5041727A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-22 DE DE19904005670 patent/DE4005670C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0552489A (ja) * | 1991-08-20 | 1993-03-02 | Baldwin Printing Controls Ltd | ヒートパイプを用いた冷熱ローラ |
| JP2009121990A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| WO2011112185A1 (en) * | 2010-03-09 | 2011-09-15 | Halliburton Energy Services, Inc. | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| GB2490757A (en) * | 2010-03-09 | 2012-11-14 | Halliburton Energy Serv Inc | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| US9304227B2 (en) | 2010-03-09 | 2016-04-05 | Halliburton Energy Services, Inc. | Detector, preamplifier selection apparatus, systems, and methods |
| GB2490757B (en) * | 2010-03-09 | 2017-08-02 | Halliburton Energy Services Inc | Optical detection apparatus with means for selecting an optical detector and/or a detector amplifier |
| US9766369B2 (en) | 2010-03-09 | 2017-09-19 | Halliburton Energy Services, Inc. | Detector, preamplifier selection apparatus, systems, and methods |
| NO342425B1 (no) * | 2010-03-09 | 2018-05-22 | Halliburton Energy Services Inc | Optisk deteksjonsanordning med middel for valg av en optisk detektor og/eller en detektorforsterker |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| DE4005670C2 (de) | 1994-12-01 |
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