JPS59203927A - 複光束分光光度計 - Google Patents

複光束分光光度計

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Publication number
JPS59203927A
JPS59203927A JP7747483A JP7747483A JPS59203927A JP S59203927 A JPS59203927 A JP S59203927A JP 7747483 A JP7747483 A JP 7747483A JP 7747483 A JP7747483 A JP 7747483A JP S59203927 A JPS59203927 A JP S59203927A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
side light
light beam
sample
double
Prior art date
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Pending
Application number
JP7747483A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Akitomo
秋友 信雄
Isao Nemoto
根本 勲
Masayoshi Kawakami
正義 川上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP7747483A priority Critical patent/JPS59203927A/ja
Publication of JPS59203927A publication Critical patent/JPS59203927A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明のオリ用分野〕 本発明は複光束分光光度計に係夛、特に、近赤外域から
紫外域までと広い波長範囲に使用される複光束分光光度
計の光検出部に関するものである。
〔発明の背景〕
第1図は従来の複光束分光光度計の光学系統図でるる。
光源のタングステンラング1aの光は集光鏡2によって
集光されて入射フリット3上に集まる。また、集光鏡2
の向きを破腺の如く切換えるときは重水素放電管1bの
光を集光して同じく入射スリット3上に集める。入射ス
リット3よシ入射した光はコリメータ鏡4で反射される
と共に平行光束となシ、石英ガラス製のりドロー型プリ
ズム5に入射して分散てれ、再びコリメータ鏡4に入射
して第1の分光管の出射スリン)6aよシその中に入る
。この第2の分光器内ではコリメータ鏡7で平行光束と
さ詐て平面回折格子8に入射して回折し、再びコリメー
タ鏡7で反射されて出射スリット6b上にスペクトル分
散像を生じ、その1部が選択されて単色光として取り出
さする。
この単色光は回転セクタミラー9で2光東に時分割され
て試料側光束10と参照側光束11となる。この両光束
は夫々平面鏡12,13、集光鏡14.15で反射され
光電子増倍管17に集光されて検知される。
一般に可視域から近赤外域まではタングステンラング光
を用い、紫外域は重水素放電管の光を用いている。また
、紫外可視域光は光電子増倍管17を用い、近赤外域光
はPbS等の赤外線検出素子18で検出するが、このと
きは切換ミラー16を光路に押入して側方に設置した赤
外線検出素子18に集光でせるようにしている。なお、
セクターミラー9はセクターモータ19で定速回転させ
られる。
第2図は第1図のA部拡大平面図である。光電子増倍管
17の前には切換ミラー16を設置して試料側光束10
と参照側光束11を側方に反射集光させ、赤外線検出素
子18で検出している。また、両光束を検出面の同一場
所り点で検出するようにしているが、凹面反射鏡である
切換ミラー16を傾斜させて使用しているので両光束の
入射方向が異な9、受光面全照射する光束は一様な光量
分布とはなっていない。一般に光電検却面における検出
感度は受光面のローカリティのために同一場所を異なる
光分布の光束が照射したと@は、照射光量が同じでも七
の検出信号は異なることが常に経験されているので、こ
の切換波長においてベースラインやノイズレベルが乱れ
ることになる。
このようになると側足梢度が低下すると共に測定記録係
の段付きを補正するのに苦労するという欠点をもってい
た。
〔発明の目的〕
本発明は上記従来技術の欠点を解消し、合理的に切換ミ
ラーと赤外線検出素子とを配設することによって高精度
な測定を可能にする複光束分光光度計を提供することを
目的とする。
〔発明の概要〕
本発明の特徴とするところは、試料側光束と参照側光束
とが交叉する第1の結像位置に一方の光検出器を設置し
、この一方の光検出器の前に切換ミラーを設置したとき
は、試料側光束とび照射光束と全対称的に反射して夕叉
する第2の結像位置に他方の光検出器を設置して構成す
ることにある。
〔発明の実施例〕
第3図は本発明の一実施例である複光束分光光度計の光
学系統図、第4図は第3図の破線で囲ったB部の拡大正
面図であり、第1図と同じ部分には同−符号全村しであ
る。この場合は赤外線検出素子18を試料側光束10と
参照側光束11が通る平面の下部で集光鏡14,15と
光電子増倍管17との間に設置しである。
第4図は近赤外域測定時の状態を示すもので、紫外可視
域測定時に破線で示すように赤外線検出素子18の上部
を水平に棟っていたトロイド反射面を有する切換ミラー
16を45°回転させ、試料側光束10ζ参照側光束1
1を真下に反射させて赤外線検出素子18上に集光させ
ている。なお、この場合は切換ミラー16で下方に反射
させているが、切換ばラー16を上向きとして上方に設
置した赤外線検出素子18に集光させるようにしてもよ
い。
このようにすれば試料側光束1oと参照側光束11とは
対称的な光路を経て集束されるので赤外線検出素子18
の受光面上の光束の寸法や明るさの分布が等しくなシ測
光誤差を生じない。また、切換ミラー16の反射道ヲト
ロイド面としであるので小ざな受光面@をもつ分外線恢
出索子18に適合した小光束として検知部せることがで
きる。
本実施例の複光束分光光度計は、光電子増倍管の直前に
凹面鏡を着脱可能に設けて光路の上又は下に設置した赤
外線検出素子に集光きせるようにしているので、試料側
光束と参照側光束とは赤外線検出素子上に均等な光束を
照射させて測光精度を向上させるという効果が得られる
第5図本発明の他の実施例である複光束分光光度計の近
赤外域測定時の検知部の平面図で、第2図と同じ部分に
は同一符号を付しである。この場合は球面反射面をもつ
切換ミラー16を試料側光束10と参照側光束11に対
向して同一面上に設置し、両光束の中間に設置した赤外
線検出素子18の受光面に集束させている。
このように両光束は対称的に集束させられて同一検知面
上で検知されるので、測光精度は向上している。また、
切換ミラー16は両光束に対して対称的に設置きれるの
で球面鏡でも良好に集光させることができる。また、球
面鏡は製作が容易で安価であるという効果も得られる。
〔発明の効果〕
本発明の複光束分光光度計は、試料側光束と参照側光束
とを光電子増倍管の受光面と赤外線検出素子の受光面上
に正しく集光させることができるので、高精度な測光が
可能となるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の複光束分光光度計の光学系統図、第2図
は第1図のA部拡大平面図、第3図は本発明の一実施例
である複光束分光光度計の光学系統本 図、第4図は第3図のB部拡大正面図、第5図はA発明
の他の実施例である複光束分光光度計の近赤外域測定時
の検出部の平面図である。 1a・・・タングステンランプ、1b・・・重水素放電
管、2・・・集光鏡、3・・・入射スリット、4.7・
・・コリメータ鏡、6・・・出射スリット、8・・・平
面回折格子、9・・・セクターミラー、10・・・試料
側光束、11・・・参照側光束、12.13・・・平面
鏡、14.15・・・集光鏡、16・・・切換ミ・ラー
、17・・・光電子増倍管、先I図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、測定波長域によって選択使用する複数の光検出器と
    、この複数の光検出器のいずれか一方に試料側光束とび
    照側光束とを交互に照射きせる反照測光系とを有する複
    光束分光光度計において、上記試料側光束と上記参照側
    光束とが交叉する第1の結像位置に一方の光検出器を設
    置し、この一方の光検出器の前に切換ミラーを設置した
    ときは、上記試料側光束と上記参照側光束とが対称的に
    反射して交叉する第2の結像位置に他方の光検出器を設
    置して開成することを%徴とする複光束分光光度計。 2、上記第2の結像位置が、上記試材側光束と上記参照
    側光束とを富む平凹外の位置である特許請求の範囲第1
    項記載の複光束分光光度計。 3、上記第2の結像位置が、上記試料側光束と上記参照
    側光束とを含む平面上で両光束の中間位置である特許請
    求の範囲第1項記載の複光束分光光度計。
JP7747483A 1983-05-04 1983-05-04 複光束分光光度計 Pending JPS59203927A (ja)

Priority Applications (1)

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JP7747483A JPS59203927A (ja) 1983-05-04 1983-05-04 複光束分光光度計

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JP7747483A JPS59203927A (ja) 1983-05-04 1983-05-04 複光束分光光度計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59203927A true JPS59203927A (ja) 1984-11-19

Family

ID=13634978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7747483A Pending JPS59203927A (ja) 1983-05-04 1983-05-04 複光束分光光度計

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JP (1) JPS59203927A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5041727A (en) * 1989-02-22 1991-08-20 Hitachi, Ltd. Spectrophotometer with near infrared radiation sensor having an improved sensitivity

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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