JPH02216989A - 通話路試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は通信用交換装置の通話路を試験するた°めの通
話路試験システムに関する。

〔従来の技術〕

通信用交換装置の通話路を試験する際には、−般に、被
試験通話路装置の側に試験回路を持ってきて、被試験通
話路装置のすべての端子とこの試験回路を引込スイッチ
で接続していた。そして、引込スイッチを介して試験信
号を被試験通話路装置に人力し、ここから出力される信
号を試験回路でチエツクするようになっていた。本明細
書では、被試験通話路装置と試験回路およびこれに付帯
する・回路装置をまとめて通話路試験システムと呼ぶこ
とにする。

第７図は、従来の通話路試験システムを表わしたもので
ある。

被試験通話路装置１１のそれぞれの入力端子には、これ
らに対応させて引込スイッチ１２．１２、・・・・・・
が、またそれぞれの出力端子には同様にこれらに対応さ
せて引込スイッチ１３．１３、・・・・・・が接続され
ている。試験用信号発生器１４の出力側は試験回路を構
成する入側セレクタ１５の入力側に接続されており、こ
の出力側はそれぞれの引込スイッチ１２．１２、・・・
・・・に接続されている。これにより、入力セレクタ１
５によって選択された特定の引込スイッチ１２に試験用
信号が入力されることになる。

一方、被試験通話路装置１１の出力側に接続されたそれ
ぞれの引込スイッチからは試験回路を構成する出側セレ
クタ１６に信号が入力されるようになっている。出側セ
レクタ１６はこれらのうちの特定の１つを選択して信号
検出回路１７に入力するようになっている。信号検出回
路１７は、これにより被試験通話路装置１１を経由した
試験信号を検出することになる。

なお、この第７図では両引込スイッチ１２．１３、入側
セレクタ１５および出側セレクタ１６の各制御回路の図
示を省略している。

〔発明が解決しようとする課題〕

このような従来の通話路試験システムでは、通話路装置
の入出力端子１回線ごとに試験回路への引込スイッチを
必要としたため、装置が大掛かりとなり物量的にも経済
的にも問題があった。

そこで本発明の目的は、装置の金物量を低減することの
できる通話路試験装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明では、（ｉ）それぞれ複数の入力端子と出力端子
を備え、所望の入力端子と出力端子を接続するサブリン
クと、（ｊ）被試験通話路の入力端子のうちの所定の端
子群とサブリンクの出力側端子群とを端子ごとに１対１
で接続する第１の接続手段と、（ｉｎ）被試験通話路の
出力端子のうちの所定の端子群とサブリンクの入力側端
子群とを端子ごとに１対１で接続する第２の接続手段と
、（ｉｖ）サブリンクの入力端子の１つに接続された試
験用信号発生器と、（Ｖ）サブリンクの出力端子の１つ
に接続され、試験用信号発生器から出力される試験用信
号を検出する検出回路とを通話路試験システムに具備さ
せる。

すなわち、本発明では、所望の入力端子と出力端子を接
続することのできるサブリンクを用意し、これに被試験
通話路のうちの必要な端子群と試験用信号発生器および
試験用信号を検出する検出回路を接続することにより、
前記した目的を達成する。

〔実施例〕

第１図は、本発明の一実施例における通話路試験システ
ムを表わしたものである。この通話路試験システムは、
サブリンク２１を有している。被試験通話路装置１１の
入力端端子のうち特定の端子群は、コネクタや多芯ケー
ブル等から構成される第１の接続手段２２によってサブ
リンク２１の対応する出力側端子と接続されている。ま
た、被試験通話路装置１１の出力側端子のうち特定の端
子群は、同じくコネクタや多芯ケーブル等から構成され
る第２の接続手段２３によってサブリンク２１の対応す
る入力側端子と接続されている。サブリンク２１の１つ
の入力端子には、試験用信号発生器１４が、またサブリ
ンク２１の１つの出力端子には信号検出回路１７がそれ
ぞれ接続されている。

第２図および第３図を用いて被試験通話路装置の試験方
法の概念を説明する。なお、これらの図で第１図と同一
部分には同一の符号を付している。

第２図で試験用信号発生器１４から出力された試験信号
は、サブリンク２１に入力される。この試験信号はサブ
リンク２１の１つの出力端子から出力されて被試験通話
路装置１１の入力端子の１つに入力し、ここからその出
力端子の１つに出力されてサブリンク２１の入力端子の
１つに入力される。そして、更に他の出力端子から出力
され、被試験通話路装置１１の入力端子の他の１つに人
力される。以下同様にして試験信号は、サブリンク２１
および被試験通話路装置１１を“鉢巻き”状に挽回か行
き来し、最終的にサブリンク２１の出力側に収容された
信号検出回路１７に引き込まれる。この結果として、被
試験通話路装置１１が正常に動作していれば、信号検出
回路１７は試験用信号発生器１４から送出された試験信
号を正しく受信することが・できることになる。

第３図は各通話路のパスの設定を変更する場合を表わし
たものである。こうすると、試験用信号発生器１４から
出力された試験信号は、サブリンク２１を経て被試験通
話路装置１１の１つの入力端子に入力されるが、ここか
ら通話路のパスの変更によって、サブリンク２１に戻る
出側端子以外の出側端子にも出力することができる。こ
れにより、この第３図には示していないが、これらサブ
リンク２１に戻る出側端子以外の出側端子に別の信号検
出器を接続することで、被試験通話路装置１１の正常性
を確認したり、被試験通話路装置１１の後位装置側の試
験機能を利用して正常性を確認することも可能である。

以上、第２図および第３図では、被試験通話路装置１１
の特定された入出力端子をサブリンク２１と接続した場
合を示した。実際の装置では、コネクタを利用してこの
ような接続を行う。

第４図および第５図はこの例を説明するためのものであ
る。このうち第４図は、通話路試験を行う前の状態を表
わしたものである。この図でそれぞれ多芯のケーブル３
１〜３３は、これらに対応して設けられたコネクタ３４
〜３６を介して被試験通話路装置１１の入側端子に収容
されている。

また、それぞれ多芯のケーブル３７〜３９は、これらに
対応して設けられたコネクタ４１〜４３を介して被試験
通話路装置１１の出側端子に収容されている。

試験用信号発生器１４および信号検出回路１７を接続し
たサブリンク２１には、一方のコネクタ５１．５２を出
側端子あるいは入側端子に接続した多芯ケーブル５３．
５４が配置されており、これらの他端のコネクタ５５．
５６は接続されてない状態すなわちオーブンの状態とな
っている。

第４図と同一部分には同一の符号を付した第５図は、通
話路試験が行われる状態を表わしたものである。この場
合、試験前の状態で被試験通話路装置１１に接続されて
いた２つのコネクタ３６．４３が外され、代ってサブリ
ンク２１側のコネクタ５５．５６が被試験通話路装置１
１の入側あるいは出側に接続されている。このようにコ
ネクタ３６．４３．５５．５６の差替えを行うと、今ま
で被試験通話路装置１１に引き込まれていた多芯ケーブ
ル３３による入側端子群・と、多芯ケーブル３９による
出側端子群が一括してサブリンク２１にコネクタ５５．
５６を介して引き込まれたことになる。

第６図は、以上説明した通話路試験システムに使用され
ているサブリンクの構成の一例を表わしたものである。

このサブリンク２１には、Ｉ。

Ｉ９、・・・・・・１．の入側端子と、０．．０．　、
・・・・・・０、の出側端子と、試験用信号発生器１４
を接続する信号入力端子Ｓｌおよび信号検出回路１７を
接続する信号検出端子ＳＤが配置されている。また、内
部の接続点を切り換えるための第１の選択信号６１を入
力するための第１の制御信号入力端子Ｃ３と、第２の選
択信号６２を入力するための第２の制御信号入力端子Ｃ
２も備えている。第１の選択信号６１は′第１のデコー
ダ６３に入力され、この出力側と電源（ＢＡＴ）との間
に並列に接続されたｎ＋１個のリレーＡＯ〜Ａｎのいず
れかを選択的に励磁するようになっている。同様に第２
の選択信号６２は第１のデコーダ６４に人力され、この
出力側と電源（ＢＡＴ）との間に並列に接続されたｎ＋
１個のリレーＢＯ〜Ｂｎのいずれかを選択的に励磁する
ようになっている。

一方、第０の入側端子Ｉ０　と第０の出側端子Ｏ０の間
には、リレーＡＯの接点ａＯとリレーＢＯの接点ｂＯが
直列に接続されており、これらのリレーＡＵ、ＢＯが共
に励磁されていない状態ではこれらの接点ａＯ１ｂＯが
共に閉じている。このとき、第０の入側端子■。と第０
の出側端子０゜の間は電気的に導通状態となっている。

これに対して、リレーＡＯが励磁されると、その接点ａ
Ｏが開き、第０の出側端子０゜は信号入力端子Ｓｌ側と
接続される。リレーＢＯが励磁されると、その接点ｂＯ
が開き、第０の入側端子Ｉ。と信号検出端子ＳＤ側と接
続される。第１の入側端子１゜と第１の出側端子０１０
間にも、同様にリレーＡ１の接点ａ１とリレーＢ１の接
点ｂ１が直列に接続されており、リレーＡＩおよびＢ１
の励磁の有無によってこれらの両端子１．　、　Ｏ，の
間と、信号入力端子３１および信号検出端子ＳＤとの間
で同様の接続動作が行われる。他の入側端子Ｉ２、・・
・・・・工、および出側端子０２　　・・・・・・０７
についても同様である。

〔発明の効果〕

このように本発明によれば、被試験通話路の特定の入側
と出側の回線を試験用のサブリンクに引き込むことによ
り、コネクタ等を用いて手操作で回線の引き込みのため
の作業を行うことで、従来行われてきた試験方式と同等
の試験項目と試験精度を実現することができる。そして
、試験用の治具として簡単な構成で実現することのでき
るサブリンクを使用することで、大幅に金物量を削減す
ることができる。また、人、出回線ごとに引込スイッチ
を配置する必要がなくなるので、装置の簡易化を図るこ
とができ、部品点数の減少によりシステムの信頼性も向
上する。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第６図は本発明の一実施例を説明するためのも
ので、このうち第１図は通話路試験システムの概要を示
すシステム構成図、第２図はこの実施例における通常の
試験形態の概念を説明するための概要説明図、第３図は
各通話路のパスの設定の変更可能性を示した概要説明図
、第４図は試験前の各装置部分の実際の接続状態を表わ
した接続説明図、第５図は試験時の各装置部分の実際の
接続状態を表わした接続説明図、第６図はサブリンクの
構成の一例を表わした回路図、第７図は従来の通話路試
験システムを表わしたシステム構成図である。 １１・・・・・・被試験通話路装置、 ２１・・・・・・サブリンク、 １４２・・・・・試験用信号発生器、 １７・・・・・・信号検出回路、 ２２・・・・・・第１の接続手段、 ２３・・・・・・第２の接続手段、 ３６．４３．５５．５６・・・・・・コネクタ、５３．
５４・・・・・・多芯ケーブル。 筋７圏 篤６図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 それぞれ複数の入力端子と出力端子を備え、所望の入力
   端子と出力端子を接続するサブリンクと、被試験通話路
   の入力端子のうちの所定の端子群と前記サブリンクの出
   力側端子群とを端子ごとに１対１で接続する第１の接続
   手段と、 前記被試験通話路の出力端子のうちの所定の端子群と前
   記サブリンクの入力側端子群とを端子ごとに１対１で接
   続する第２の接続手段と、 前記サブリンクの入力端子の１つに接続された試験用信
   号発生器と、 前記サブリンクの出力端子の１つに接続され、前記試験
   用信号発生器から出力される試験用信号を検出する検出
   回路 とを具備することを特徴とする通話路試験システム。