JPH0221537B2 - - Google Patents
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- JPH0221537B2 JPH0221537B2 JP56125847A JP12584781A JPH0221537B2 JP H0221537 B2 JPH0221537 B2 JP H0221537B2 JP 56125847 A JP56125847 A JP 56125847A JP 12584781 A JP12584781 A JP 12584781A JP H0221537 B2 JPH0221537 B2 JP H0221537B2
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- light
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- photodetector
- particles
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 12
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
- G01N15/0618—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Measuring Oxygen Concentration In Cells (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光源と、それから発せられ粒子によ
り影響される光を検出する光検出器と、その後に
接続された評価回路とから成り、粒子の存在に応
答する測定装置が設けられており、気体の流れの
なかに含まれている粒子を検出するのに用いられ
る気体中粒子検出装置に関するものである。
り影響される光を検出する光検出器と、その後に
接続された評価回路とから成り、粒子の存在に応
答する測定装置が設けられており、気体の流れの
なかに含まれている粒子を検出するのに用いられ
る気体中粒子検出装置に関するものである。
このような装置はたとえば電子写真印刷原理に
よる非機械高速印刷装置において必要である。こ
の場合、転写後に光導体ドラム上に残留するトナ
ーは吸い出されて、紙フイルタに捕集されなけれ
ばならない（たとえば米国特許第3795025号明細
書参照）。このフイルタは、故障の際に印刷装置
が直ちに遮断され、トナーが排気と共に印刷装置
の周囲にまかれないように、監視されなければな
らない。従つて、フイルタから後方の気体の流れ
のなかに粒子が含まれているか否かを検出し得る
装置が必要である。
よる非機械高速印刷装置において必要である。こ
の場合、転写後に光導体ドラム上に残留するトナ
ーは吸い出されて、紙フイルタに捕集されなけれ
ばならない（たとえば米国特許第3795025号明細
書参照）。このフイルタは、故障の際に印刷装置
が直ちに遮断され、トナーが排気と共に印刷装置
の周囲にまかれないように、監視されなければな
らない。従つて、フイルタから後方の気体の流れ
のなかに粒子が含まれているか否かを検出し得る
装置が必要である。
特開昭53−70481号公報に記載されている装置
では、気体の流れのなかに光透過性の中空体から
成るゾンデが配置されている。この中空体のなか
に、気体の流れが当り気体中に含まれている粒子
が堆積する壁面を照射する光源が設けられてい
る。さらに中空体のなかに、この壁面で反射した
光線が当る光検出器が設けられている。光検出器
は反射した光線の強さに比例する信号を発し、こ
の信号が評価される。この装置の欠点は、非常に
精密ではないことである。
では、気体の流れのなかに光透過性の中空体から
成るゾンデが配置されている。この中空体のなか
に、気体の流れが当り気体中に含まれている粒子
が堆積する壁面を照射する光源が設けられてい
る。さらに中空体のなかに、この壁面で反射した
光線が当る光検出器が設けられている。光検出器
は反射した光線の強さに比例する信号を発し、こ
の信号が評価される。この装置の欠点は、非常に
精密ではないことである。
本発明の目的は、高い感度を有する気体中粒子
検出装置を提供することである。この目的は、本
発明によれば、気体流が通流する中空体と、粒子
が沈積する、中空体内い配置された面と、該面を
照らすための光源、該面に沈積された粒子により
影響される光を検出するための光検出器および該
光検出器に接続された評価回路から成る測定装置
とを備えた気体流のなかに含まれている粒子を検
出するための装置において、中空体が主管部と主
管部から分岐した支管部とを有し、主管部の一端
が気体流の流入口として開いており、支管部の一
端が気体流の流出口として開いており、主管部の
他端が粒子沈積面と測定装置とが配置されている
蓋で閉じられていることによつて達成される。
検出装置を提供することである。この目的は、本
発明によれば、気体流が通流する中空体と、粒子
が沈積する、中空体内い配置された面と、該面を
照らすための光源、該面に沈積された粒子により
影響される光を検出するための光検出器および該
光検出器に接続された評価回路から成る測定装置
とを備えた気体流のなかに含まれている粒子を検
出するための装置において、中空体が主管部と主
管部から分岐した支管部とを有し、主管部の一端
が気体流の流入口として開いており、支管部の一
端が気体流の流出口として開いており、主管部の
他端が粒子沈積面と測定装置とが配置されている
蓋で閉じられていることによつて達成される。
本発明による装置では、気体の流れは湾曲軌道
で中空体を通過する。その際に生ずる遠心力が気
体中に場合によつては含まれている粒子に作用
し、それを中空体の主管部の他端に導く。そこに
設けられている孔に、光ゲートを形成する光源お
よび光検出器が配置されていることは有利であ
る。この孔は外端をねじにより閉じられていてよ
い。この光ゲートにより孔のなかの汚れが監視さ
れる。
で中空体を通過する。その際に生ずる遠心力が気
体中に場合によつては含まれている粒子に作用
し、それを中空体の主管部の他端に導く。そこに
設けられている孔に、光ゲートを形成する光源お
よび光検出器が配置されていることは有利であ
る。この孔は外端をねじにより閉じられていてよ
い。この光ゲートにより孔のなかの汚れが監視さ
れる。
光源および光検出器が、蓋にその一部分として
はめ込まれるホルダーのなかに配置されているこ
とは有利である。ホルダーに隣接して蓋のなかに
評価回路を配置することもできる。さらに、故障
が検出された場合に発光する発光ダイオードが蓋
のなかに配置されていることは有利である。
はめ込まれるホルダーのなかに配置されているこ
とは有利である。ホルダーに隣接して蓋のなかに
評価回路を配置することもできる。さらに、故障
が検出された場合に発光する発光ダイオードが蓋
のなかに配置されていることは有利である。
本発明による装置は気体の流れのなかの粒子の
存在に対して大きな感度を有する。蓋のねじを外
せば、測定装置を簡単に掃除することができる。
さらに、装置が小形かつ安価に構成されるという
利点がある。
存在に対して大きな感度を有する。蓋のねじを外
せば、測定装置を簡単に掃除することができる。
さらに、装置が小形かつ安価に構成されるという
利点がある。
以下、図面に示されている実施例により本発明
を一層詳細に説明する。
を一層詳細に説明する。
本装置は第１図のように主管部１２とそれから
斜めに分岐した支管部１４とから成る中空体１０
を有する。気体流は主管部１２の一端Ｅで中空体
１０に入り、湾曲軌道で支管部１４に流れ、そこ
の出口Ａから出る。
斜めに分岐した支管部１４とから成る中空体１０
を有する。気体流は主管部１２の一端Ｅで中空体
１０に入り、湾曲軌道で支管部１４に流れ、そこ
の出口Ａから出る。
主管部１２の他端は蓋１６で閉じられている。
蓋１６のなかに測定装置が配置されている。測定
装置は光源１８、光検出器２０および評価回路２
２から成る。光源１８および光検出器２０は孔２
４の両側に配置されている。孔２４は中空体１０
の側では開いているが、反対側はねじ２６により
閉じられている。こうして光源１８および光検出
器２０は孔２４の内部を監視する光ゲートを形成
している。
蓋１６のなかに測定装置が配置されている。測定
装置は光源１８、光検出器２０および評価回路２
２から成る。光源１８および光検出器２０は孔２
４の両側に配置されている。孔２４は中空体１０
の側では開いているが、反対側はねじ２６により
閉じられている。こうして光源１８および光検出
器２０は孔２４の内部を監視する光ゲートを形成
している。
粒子を含む気体流が入口Ｅから湾曲軌道で出口
Ａに偏向されると、その際に生ずる遠心力が粒子
に作用して、粒子を蓋１６、従つてまた孔２４に
向かわせる。こうして孔の内壁に粒子が付着す
る。光源１８および光検出器２０から成る光ゲー
トは孔２４の内壁に付着した粒子の層厚を検出す
る。光検出器２０は粒子層厚に比例した信号を発
し、この信号は評価回路２２に導かれる。この信
号が特定のしきい値を超過すると、評価回路から
アラーム信号が発せられる。このアラーム信号
は、たとえば同様に蓋１６のなかに配置されてい
る発光ダイオード２８に導かれる。この発光ダイ
オードはアラーム信号の発生時に発光する。
Ａに偏向されると、その際に生ずる遠心力が粒子
に作用して、粒子を蓋１６、従つてまた孔２４に
向かわせる。こうして孔の内壁に粒子が付着す
る。光源１８および光検出器２０から成る光ゲー
トは孔２４の内壁に付着した粒子の層厚を検出す
る。光検出器２０は粒子層厚に比例した信号を発
し、この信号は評価回路２２に導かれる。この信
号が特定のしきい値を超過すると、評価回路から
アラーム信号が発せられる。このアラーム信号
は、たとえば同様に蓋１６のなかに配置されてい
る発光ダイオード２８に導かれる。この発光ダイ
オードはアラーム信号の発生時に発光する。
光源１８および光検出器２０は、蓋１６にはめ
込まれるホルダー３０のなかに配置されていてよ
い。ホルダー３０は第２図および第３図に一層拡
大した尺度で示されている。このホルダーは孔２
４を設けられており、その一端にはねじがねじ込
まれ得る。孔２４は前記のように光源１８と光検
出器２０との間を貫いている。光源および光検出
器の接続線３２，３４はホルダー３０から直接に
評価回路２２に通じている。
込まれるホルダー３０のなかに配置されていてよ
い。ホルダー３０は第２図および第３図に一層拡
大した尺度で示されている。このホルダーは孔２
４を設けられており、その一端にはねじがねじ込
まれ得る。孔２４は前記のように光源１８と光検
出器２０との間を貫いている。光源および光検出
器の接続線３２，３４はホルダー３０から直接に
評価回路２２に通じている。
評価回路の１つの実施例は第４図に示されてい
る。２つの動作電位端子Ｐ１とＰ２との間に抵抗
３８と光源１８たとえば発光ダイオードとの直列
回路が接続されている。それに対して並列に、抵
抗４０と光検出器２０たとえばフオトトランジス
タとの直列回路が接続されている。抵抗４０と光
検出器２０との間の接続点は公知の構成のしきい
値回路３６と接続されている。しきい値回路３６
は光検出器２０の出力信号を監視し、この信号が
特定のしきい値を超過すると、アラーム信号WS
を出力端に発する。アラーム信号は同時に発光ダ
イオード２８に与えられ、それにより発光ダイオ
ード２８が発光する。出力端におけるアラーム信
号WSは監視対象装置を遮断するために用いられ
る。抵抗４０により測定装置の感度設定が行なわ
れる。
る。２つの動作電位端子Ｐ１とＰ２との間に抵抗
３８と光源１８たとえば発光ダイオードとの直列
回路が接続されている。それに対して並列に、抵
抗４０と光検出器２０たとえばフオトトランジス
タとの直列回路が接続されている。抵抗４０と光
検出器２０との間の接続点は公知の構成のしきい
値回路３６と接続されている。しきい値回路３６
は光検出器２０の出力信号を監視し、この信号が
特定のしきい値を超過すると、アラーム信号WS
を出力端に発する。アラーム信号は同時に発光ダ
イオード２８に与えられ、それにより発光ダイオ
ード２８が発光する。出力端におけるアラーム信
号WSは監視対象装置を遮断するために用いられ
る。抵抗４０により測定装置の感度設定が行なわ
れる。
測定装置の掃除は、ねじ２６を外して孔２４を
ブラシで掃除することにより簡単に行なわれる。
その際、同時に機能点検も行なわれる。すなわ
ち、掃除ブラシが光ゲートの間に入れば、発光ダ
イオード２８は発光しなければならず、またブラ
シが抜かれれば、再び消えなければならない。
ブラシで掃除することにより簡単に行なわれる。
その際、同時に機能点検も行なわれる。すなわ
ち、掃除ブラシが光ゲートの間に入れば、発光ダ
イオード２８は発光しなければならず、またブラ
シが抜かれれば、再び消えなければならない。
第１図は本発明による気体中粒子検出装置の構
成を示す図、第２図は光ゲート・ホルダーの正面
図、第３図は第２図のホルダーの側面図、第４図
は評価回路の原理図である。 １０……中空体、１２……主管部、１４……支
管部、１６……蓋、１８……光源、２０……光検
出器、２２……評価回路、２４……孔、２６……
ねじ、２８……発光ダイオード（アラーム用）、
３０……ホルダー、３２，３４……接続線、３６
……しきい値回路。
成を示す図、第２図は光ゲート・ホルダーの正面
図、第３図は第２図のホルダーの側面図、第４図
は評価回路の原理図である。 １０……中空体、１２……主管部、１４……支
管部、１６……蓋、１８……光源、２０……光検
出器、２２……評価回路、２４……孔、２６……
ねじ、２８……発光ダイオード（アラーム用）、
３０……ホルダー、３２，３４……接続線、３６
……しきい値回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 気体流が通流する中空体と、粒子が沈積す
る、中空体内に配置された面と、該面を照らすた
めの光源、該面に沈積された粒子により影響され
る光を検出するための光検出器および該光検出器
に接続された評価回路から成る測定装置とを備え
た気体流のなかに含まれている粒子を検出するた
めの装置において、中空体１０が主管部１２と主
管部から分岐した支管部１４とを有し、主管部１
２の一端が気体流の流入口Ｅとして開いており、
支管部の一端が気体流の流出口Ａとして開いてお
り、主管部１２の他端が粒子沈積面と測定装置と
が配置されている蓋１６で閉じられていることを
特徴とする気体中粒子検出装置。 ２ 光源１８および光検出器２０が蓋１６を貫通
している孔２４に対して隣接して配置されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の装
置。 ３ 孔２４が蓋１６の外面でねじ２６により閉じ
られていることを特徴とする特許請求の範囲第２
項記載の装置。 ４ 光源１８、光検出器２０および孔２４が、蓋
１６の一部分としてこの蓋にはめ込まれるホルダ
ー３０のなかに配置されていることを特徴とする
特許請求の範囲第２項または第３項記載の装置。 ５ ホルダー３０に隣接して蓋１６のなかに評価
回路２２が配置されていることを特徴とする特許
請求の範囲第４項記載の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3030499A DE3030499C2 (de) | 1980-08-12 | 1980-08-12 | Anordnung zur Feststellung von Partikeln in einer Gasströmung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5754841A JPS5754841A (en) | 1982-04-01 |
| JPH0221537B2 true JPH0221537B2 (ja) | 1990-05-15 |
Family
ID=6109461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56125847A Granted JPS5754841A (en) | 1980-08-12 | 1981-08-11 | Detector for particles in air |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4474472A (ja) |
| EP (1) | EP0045878B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5754841A (ja) |
| AT (1) | ATE17787T1 (ja) |
| DE (1) | DE3030499C2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62220833A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Sigma Tec:Kk | 光散乱式微粒子センサ |
| US4825094A (en) * | 1988-02-04 | 1989-04-25 | High Yield Technology | Real time particle fallout monitor with tubular structure |
| US7729633B2 (en) * | 2007-01-12 | 2010-06-01 | Infoprint Solutions Company, Llc | Printer dynamically monitoring printer environment contamination |
| JP2010530964A (ja) * | 2007-06-13 | 2010-09-16 | オーワイ ハルトン グループ リミテッド | ダクト油脂付着物検知装置、システム及び方法 |
| DE102011109734A1 (de) * | 2011-08-08 | 2013-02-14 | Veritas Ag | Filterschutzkappe |
| DE102012222425B4 (de) * | 2012-12-06 | 2014-08-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur Reinhaltung von vorgebbaren Bereichen in einem Gehäuse |
| KR102300405B1 (ko) * | 2015-04-30 | 2021-09-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH064071A (ja) * | 1992-06-23 | 1994-01-14 | Kawai Musical Instr Mfg Co Ltd | 楽譜表示装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE491185C (de) * | 1930-02-06 | Paul Rosin Dr Ing | Abscheidevorrichtung fuer pneumatische Umlauftrockner | |
| US2489286A (en) * | 1946-05-17 | 1949-11-29 | Specialties Dev Corp | Dust collecting and optical measuring device |
| FR2200961A5 (en) * | 1972-09-27 | 1974-04-19 | Air Ind | Checking dust content in gas stream - particularly to assess automatically the efficiency of pre-filtration of the gas |
| US3795025A (en) * | 1972-11-21 | 1974-03-05 | Xerox Corp | Electrophotographic photoreceptor cleaning apparatus |
| FR2244384A6 (en) * | 1973-09-18 | 1975-04-11 | Air Ind | Determination of dust content of flowing gas stream - by intermittently purged sampling tube |
| DE2654726C2 (de) * | 1976-12-02 | 1978-11-23 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Einrichtung zur Überwachung einer Gasströmung auf in dieser vorhandene Partikel |
-
1980
- 1980-08-12 DE DE3030499A patent/DE3030499C2/de not_active Expired
-
1981
- 1981-07-21 EP EP81105747A patent/EP0045878B1/de not_active Expired
- 1981-07-21 AT AT81105747T patent/ATE17787T1/de active
- 1981-07-31 US US06/288,940 patent/US4474472A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-08-11 JP JP56125847A patent/JPS5754841A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH064071A (ja) * | 1992-06-23 | 1994-01-14 | Kawai Musical Instr Mfg Co Ltd | 楽譜表示装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4474472A (en) | 1984-10-02 |
| JPS5754841A (en) | 1982-04-01 |
| DE3030499C2 (de) | 1982-05-27 |
| ATE17787T1 (de) | 1986-02-15 |
| EP0045878A3 (en) | 1983-06-15 |
| EP0045878B1 (de) | 1986-01-29 |
| DE3030499A1 (de) | 1982-02-25 |
| EP0045878A2 (de) | 1982-02-17 |
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