JPH02206027A - プリグルーブ横断信号検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、光ディスク等の光記録媒体に半導体レーザ
ー、ガスレーザー等の収束光を照射させて光学的に情報
の記録・再生、あるいは記録・再生・消去を行う光学的
記録再生装置に使用されるプリグルーブ横断信号検出装
置に関する。

［従来の技術］ 従来、上記光学的記録再生装置に使用される光記録媒体
としては、例えば第１１図に示すようなものがある。こ
の光記録媒体１００は、片面側に記録層を備えるタイプ
のものであり、プリグルーブ１０１が施された透明基板
１０２と、この透明基板１０２の全面に設けられた記録
層１０３と、この記録層１０３の全面に設けられた保；
１１層１０４とでその主要部が構成されている。そして
、上記プリグルーブ１０１には、第１２図に示すように
、ピット１０５が記録情報に対応して設けられている。

このピット１０５は、再生専用の光記録媒体１００の場
合には、光記録媒体１００の製造と同時に記録情報に対
応した平面略円形状の溝として形成される。また、記録
・再生が可能な光記録媒体１００の場合には、第１３図
に示すように、光学ヘッド１０６に搭載された図示外の
集光レンズによって集光された半導体レーザー等の光源
からの記録用収束光１０７をプリグルーブ１０１内の記
録層１０３に照射し、記録用収束光１０７が照射された
記録層１０３に相変化あるいは変形等を起こさせること
によって、非照射部位とは反射率等が異なる記録ビット
１０５を形成する。

一方、上記光記録媒体１００に記録された情報を再生す
るには、第１２図に示すように、再生用集光１０８を光
記録媒体１００の記録面に照射し、この反射光を光ダイ
オード等の受光素子へ入力させて記録情報の再生を行う
。

ところで、上記光記録媒体の目的のトラックを呼出し、
ぞの目的のトラックのプリグルーブに記録された記録情
報を再生する場合には、第１３図に示すように、光学ヘ
ッド１０６をプリグルーブ１０１を横切るように移動さ
せ、再生用集光１０８がプリグルーブ１０１を横断する
信号を検出する。そして、このプリグルーブ横断信号の
数を計数し、光学ヘッド１０６を目的のプリグルーブ１
０１に移動させる。

このプリグルーブ横断信号を検出するだめの装置として
は、第１４図に示すようなものがある。

すなわち、このプリグルーブ横断信号検出装置は、半導
体レーザー１１０から出射されたレーザービムをコリメ
ータレンズ１１１によって平行光に変換し、この平行光
化されたビームをビーム整形プリズム１１２によって円
形のビームに整形する。

そして、この円形ビームをビームスプリッタ１１３及び
１／４波長板１１４を通して対物レンズ１１５によ）で
、第１５図に示すように、プリグルーブ１０１の幅より
やや大きい直径の円形のビームに絞って光記録媒体１０
０に照射する。

次に、光記録媒体１００からの反射光を上記と同じ光路
を通して戻し、ビームスプリッタ１１３によって側方に
反射して、この反射されたビームをレンズ１１６及びシ
リンドリカルレンズ１１７を介して二分割受光素子１１
８上に照射する。そして、この二分割受光素子１１８の
出力信号の差分信号を増幅して、第１６図に示すように
、プリグルーブ１０１を光学ヘッド１０６が横切るとき
に発生するプリグルーブ横断信号１１９を検出し、この
検出されたプリグルーブ横断信号１１９の個数をカウン
トして、光学ヘッド１０６の位置を制御する方法がとら
れている。

この場合、目的のトラックに光学ヘッド１０６を移動さ
せるシーク動作中において、光学ヘッド１０６から出射
されたビームは、第１５図に示すように、プリグルーブ
１０１と同時にこのプリグルーブ１０１内に記録された
ビット１０５をも横切る。そのため、ビームによってプ
リグルーブ１０１の横断信号を検出する際に、プリグル
ーブ１０１だけでなく、記録ピット１０５の部分でも信
号が発生ずることになる。

しかし、上記光記録媒体１００は回転しており、光学ヘ
ッド１０６がプリグルーブ１０１を横切る間に、このプ
リグルーブ１０１に記録された多数の記録ピット１０５
を読取ることになる。そのだめ、記録ピット１０５の部
分で発生する信号は、１〜５Ｍ１−１ｚ程度の周波数成
分を有する高周波信号となる。これに対し、トラックア
クセス中に発生するプリグルーブ横断信号１１９は、上
記プリグルーブ１０１を横切るときに発生ずるもので、
１００〜３００ＫＨｚ以下の程度の低周波の信号である
。

従って、上記プリグルーブ横断信号検出装置では、光学
ヘッド１０６の出力信号をローパスフィルタ等で周波数
的に分離し、低周波成分を取出すことによって、第１６
図に示すようにプリグルーブ横断信号１１９のみを抽出
し、プリグルーブ１０１の横断を正確に検出可能となっ
ている。

［発明が解決しようとする課題］ しかし、上記従来技術の場合には、次に示すような問題
点を有している。すなわち、上記シーク動作時における
光学ヘッド１０６の移動速度を高速化し、トラックアク
セス時間の短縮を図った場合には、第１７図に示すよう
に、光学ヘッド１０６がプリグルーブ１０１を横切ると
きに発生するプリグルーブ横断信号１１９の周波数が高
くなり、記録ビット１０５部分で発生する信号１２０と
の周波数差が少なくなって両信号を周波数的に分離する
ことが困難となる。そのため、ブリグルーブ横断信号を
正確に検出することができなくなり、アクセスエラーを
起こし易クイ【す、光学ヘッド１０６移動の高速化に対
応することができないという問題点があった。

［課題を解決するための手段］ そこで、この発明は、上記従来技術の問題点を解決する
ためになされたもので、その目的とするところは、光学
ヘッドの移動速度を高速化してトラックアクセス時間の
短縮を図った場合でも、プリグルーブ横断信号を確実に
検出することが可能なプリグルーブ横断信号検出装置を
提供することにある。

すなわち、この発明は、プリグルーブに沿って記録ピッ
トを有する光記録媒体に収束光を照射して、この光記録
媒体からの反射光を光学系を介して受光素子によって受
光し、この受光素子からの出力信号によって、上記収束
光がプリグルーブを横断するときの信号を検出するプリ
グルーブ横断信号検出装置において、上記収束光の形状
を、同時に複数のピットが照明されるようにプリグルー
ブに沿って細長い形状とするように構成されている。

上記光記録媒体としては、プリグルーブの内部に記録ピ
ットを有するものでもあるいはプリグルーブ以外の部分
に記録ピットを有するものでもどちらでも良い。

また、上記記録ピットとしては、例えば光記録媒体を製
造する時に同時に形成された溝が挙げられるが、これに
限定されるものではなく、記録ピットとしでは、光記録
媒体の記録層に記録用の収束光を照射して、記録用収束
光が照射された記録層に変化あるいは変形等を起こさせ
ることによって、非照射部位とは反射率等が異なるよう
に形成したものでも勿論良い。

さらに、上記収束光を細長い形状にするには、例えば円
形状に整形された収束光をシリンドリカルレンズと凸レ
ンズを介して照射することによって、収束光を細長い形
状にしたものが用いられる。

しかし、これに限定されるものではなく、収束光を細長
い形状にできる手段であれば、どのような手段を用いて
も良いことは勿論である。例えば、半導体レーザーから
出射されるレーザービームは、本来楕円形状をしている
ので、このレーザービームをそのまま用いるようにして
も良い。

［作用］ この発明においては、収束光の形状を、同時に複数のピ
ットが照明されるようにプリグルーブの長手方向に沿っ
て細長い長円形状とすることにより、上記収束光がプリ
グルーブを横断するときに、この収束光によって常時複
数のピットが照明される。そのため、記録情報の相違に
より、収束光がプリグルーブを横断するときに、収束光
が照明するピットの数が変化しても、そのことによって
反射光は、はとんど影響を受けない。従って、ブリグー
ブの横断を検出づるための収束光は、プリグルーブの横
断のみによって影響を受け、プリグルーブの内部等に形
成されたピットの数の変化によってはほとんど影響を受
けないため、収束光を照射する光学ヘッドの移動速度を
高速化した場合でも、プリグルーブ横断信号には、ピッ
トを横切る際の信号がほとんど混入しないので、プリグ
ルーブの横断を正確に検出することができる。

［実施例］ 以下にこの発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第３図はこの発明に係るプリグルーブ横断信号検出装置
を適用した光学的記録再生装置を示すものである。

この光学的記録再生装置１は、第３図に一点鎖線で囲ん
で示すように、フォーカシングエラー信号を得るための
光学系２を備えている。この光学系２は、波長λ１のレ
ーザービームを出射する半導体レーザー３と、この半導
体レーザー３がら出射された楕円形状のビームを平行光
に変換するコリメータレンズ４と、このレーザー光を断
面円形状の光に整形するビーム整形プリズム５と、ビー
ムを分割するビームスプリッタ６と、直線偏光の光と円
偏光の光を相互に変換する１／４波長板７と、波長λ１
のレーザービームを反射し、しかも後述する波長λ２の
レーザービームを透過するダイクロイツクミラ−８と、
対物レンズ９と、ビームスプリッタ６によって分離され
たビームを集光する集光レンズ１０と、シリトリカルレ
ンズ１１と、四分割受光素子１２とから構成されている
。

上記光学的記録再生装置１によって情報の記録・再生が
行われる光記録媒体としての光ディスク１３は、第４図
に示ずように、プリグルーブ１４が施された透明基板１
５と、この透明基板１５の全面に設けられた記録層１６
と、この記録層１６の全面に設【プられた保護層１７と
でその主要部が構成されている。そして、上記プリグル
ーブ１４には、第２図に示すように、記録情報に対応し
て平面略円形状の溝からなるピット１８．１８・・・が
形成されている。

そして、上記光学系２においては、半導体レザー３から
出射された楕円形状のレーザービームが、］コリメータ
レンズによって平行光化された後、ビーム整形プリズム
５によって円形のビームに成形される。その後、このビ
ームは、ビームスプリッタ６及び１／４波長板７を通り
、ダイクロイックミラー８によって反射され、対物レン
ズ９によって絞られて光ディスク１３に照射される。

この光ディスク１３からの反射光は、上記と同じ光路を
戻り、ビームスプリッタ６で反射されて集光レンズ１０
及びシリンドリカルレンズ１１によって、四分割受光素
子１２上に結像される。シリトリカルレンズ１１と四分
割受光素子１２は、非点収差法とよばれる焦点エラーを
検出する方法によって焦点のエラーを検出し、図示しな
いアクチュエータに信号を送って対物レンズ９を上下さ
せ、光ディスク１３に対して正しい焦点の調整を行うサ
ーボ制御が行われる。

ところで、この実施例に係るプリグルーブ横断信号検出
装置は、次に示すように構成されている。

すなわち、上記光学的記録再生装置１は、上記フォーカ
シングエラー信号を得るための光学系２の他に、トラッ
キングエラー信号を得るための別の光学系２０を備えて
いる。

この光学系２０は、第５図に示すように、波長λ２のレ
ーザービームを出射する半導体レーザー２１と、この半
導体レーザー２１から出射された楕円形状のビームを平
行光に変換するためのコリメータレンズ２２と、このレ
ーザービームを断面円形状の光に整形するビーム整形プ
リズム２３と、レーザービームを分割するためのビーム
スプリッタ２４と、直線偏光の光と円偏光の光を相互に
変換する１／４波長板２５と、前記対物レンズ９ととも
に作用してレーザービームを長円形状にりるためのシリ
ンドリカルレンズ２６と、前記ダイクロイックミラー８
と、前記対物レンズ９と、二分割受光素子２７とから構
成されている。上記ダイクロイックミラー８と対物レン
ズ９は、前記フォーカシングエラー信号を得るための光
学系２と共通して用いられているものである。

そして、光ディスク１３を走査する光学ヘッド２８には
、上記部材のうち対物レンズ９と光路を変更する図示し
ないミラーのみが搭載され、他の部材は、装置本体側に
固定して設Ｃノられる。この光学ヘッド２８は、目的の
トラックに光学ヘッド２８を移動させるシーク動作時に
は、光ディスク１３のプリグルーブを横切るように移動
する。

なお、この実施例では、ダイクロイックミラー８を用い
ているが、これに限定されるものではなく、このダイク
ロイックミラー８の代りに効率は多少低下するがハーフ
ミラ−を用いても良い。

また、この実施例では、光学系２０にビーム整形プリズ
ム２３を介装した場合について説明したが、この光学系
２０は、トラッキングエラー信号を得るためのものであ
るので、必ずしもビーム整形プリズム２３を用いる必要
はない。

このトラッキングエラー信号を得るための光学系２０に
おいては、半導体レーザー２１から出射されたレーザー
ビームをコリメータレンズ２２によって平行光化された
後、ビーム成形プリズム２３によって断面円形状に成形
される。この整形されたビームは、ビームスプリッタ２
４をそのまま通過して１／４波長板２５によって円偏光
に変換された後、シリンドリカルレンズ２６によって一
方向のみ絞られる。このシリンドリカルレンズ２６によ
って一方向のみ絞られたビームは、ダイクロイックミラ
ー８を通過し、対物レンズ９によって絞られ、光ディス
ク１３に照射される。

この実施例では、上記光ディスク１３に照射される収束
光の形状が、同時に複数のピットが照明されるようにプ
リグルーブの長手方向に沿って細長い長円形状となるよ
うに構成されている。すなわち、ビーム成形プリズム２
３によって断面円形状に成形されたレーザービームＢは
、ビームスプリッタ２４及び１／４波長板２５を通過し
た後、第６図に示すように、シリンドリカルレンズ２６
に入射する。従って、このシリンドリカルレンズ２６に
入射した光は、シリンドリカルレンズ２６の長手方向く
第６図中のＹ軸方向）と直交する方向の光のみが絞られ
るとともに、Ｘ軸方向のレーザービームは、シリンドリ
カルレンズ２６によって絞られることなく、そのまま対
物レンズ９に入射する。そのため、Ｘ軸方向のレーザー
ビームは、対物レンズ９によって始めて絞られ、対物レ
ンズ９の焦点位置に結像する。このＸ軸方向のレーザー
ビームは、光ディスク１３のプリグルーブの幅よりわず
かに広い幅を有する光として、光デイスク１３上に照射
される。

一方、Ｙ軸方向のレーザービームは、すでにシリンドリ
カルレンズ２６によって絞られているため、対物レンズ
９によってさらに絞られ、光ディスク１３の手前側で焦
点を結んだ後、さらに広がって光デイスク１３上に照射
される。なお、このＹ軸方向は、光ディスク１３に形成
されているプルグループの方向と一致するように設定さ
れている。

そのため、シリンドリカルレンズ２６及び対物レンズ９
によって光デイスク１３上に照射されるビームは、Ｘ軸
方向に細く絞られ、しかもＹ軸方向に長く伸びた長円形
状となり、このレーザービームによって、第１図及び第
２図に示すように、同時に複数のピットが照明されるよ
うになっている。上記光デイスク１３上に照射されるレ
ーザービームの長さは、例えば３０〜１００μｍに設定
されるが、これに限定される訳ではなく、これより短く
てもあるいは長くても良いことは勿論である。

上記長円形状のレーザービームの長さを変化させるには
、例えばシリンドリカルレンズ２６と対物レンズ９の間
の距離などを変化させれば良い。

そして、光ディスク１３によって反射された光は、上記
と同じ経路通り、ビームスプリッタ２４によって反射さ
れて、二分割受光素子２７上に結像する。この二分割受
光素子２７の出力信号は、差動増幅器２９によって差分
をとることによって、プリグルーブ横断信号３０が得ら
れる。このプリグルーブ横断信号は、通常トラッキング
エラー信号と呼ばれているものと同じ信号である。

以上の構成において、この実施例に係るプリグルーブ横
断信号検出装置においては、次のようにして、プリグル
ーブ信号の検出が行われる。すなわち、目的のトラック
に光学ヘッド２８を移動させるシーク動作時には、第３
図に示すように、光学ヘッド２８を図示しない駆動手段
によって光ディスク１３の半径方向外側から内側へ向け
て、あるいは半径方向内側から外側へ向けて移動させる
。

このとき、光ディスク１３は、回転しているため、光デ
イスク１３上に固定した座標から見た場合、光学ヘッド
２８は、第７図に示すように、光ディスク１３に形成さ
れたプリグルーブ１４を斜めに横切ることになる。

このように、光学ヘッド２８が光ディスク１３のプリグ
ルーブ１４を横切る際に、光学系２０の半導体レーザー
２１からプリグルーブ横断信号を検出するためのレーザ
ービームＬＢが出射される。

この半導体レーザー２１から出射されたビームＬＢは、
コリメータレンズ２２によって平行光束となり、この平
行光束となったビームＬＢは、ビーム整形プリズム２３
によって断面円形状のビームに整形される。その後、こ
の円形ビームＬＢは、第１図及び第６図に示すように、
シリンドリカルレンズ２６及び対物レンズ９によって、
同時に複数のピット１８．１８・・・が照明されるよう
にプリグルーブ１４の長手方向に沿って細長い長円形状
となって、光ディスク１３に照射される。

そして、光ディスク１３からの反射光は、第３図に示す
ように、対物レンズ９によって集光され、上記と同じ経
路を通り、ビームスプリッタ２４により二分割受光素子
２７上に照射され、この二分割受光素子２７によって電
気信号に変換される。

この二分割受光素子２７からの出力信号は、差動増幅器
２９によって差分が増幅されてプリグルーブ横断信号３
０が得られる。

その際、光学ヘッド２８から出射される長円形状のレー
ザービームＬＢが、光ディスク１３のプリグルーブ１４
を横断Ｊる際に、二分割受光素子２７がそれぞれ受光す
る光聞に変化が生じるため、プリグルーブ横断信号３０
は、周期的に変化する。

ところが、プルグループ１４内には、ピット１８．１８
・・・が記録情報に応じて形成されているため、上記光
学ヘッド２８から出射されるレーザービームがピット１
８．１８・・・を横切る際にも、他の領域と反射率等が
異なるピット１８．１８・・・によってレーザービーム
ＬＢが散乱等の影響を受ける。

ところが、上記レーザービームＬＢは、第２図に示すよ
うに、同時に複数のピットが照明されるようにプリグル
ーブ１４の長手方向に沿って細長い長円形状に形成され
ている。そのため、記録情報に応じてプリグルーブ１４
の内部に記録されたピット１８．１８・・・の数や位置
にばらつきがあっても、レーザービームＬＢは、常時複
数のピット１８．１８・・・を照射するため、プリグル
ーブ１４内のピット１８．１８・・・からの反射光は、
複数のピット１８．１８・・・及びその間に存在するピ
ット以外の領域によって平均化される。従って、上記光
ディスク１３から反射されるレーザービームｌ−Ｂは、
プリグルーブ１４内に形成されたピット１８．１８・・
・を横切る際に、これら複数のピッＩ〜１８．１８・・
・及びその間に存在するビット以外の領域によって平均
化され、プリグルーブ１４内に存在するピット１８．１
８・・・の数や位置によっては、はとんど影響を受けず
略一定の値となる。

その結果、レーザービームＬＢが光ディスク１３のプリ
グルーブ１４を横断する際に、このレーザーご一ムＬＢ
は、プリグルーブ１４によってのみ影響を受け、プリグ
ルーブ１４の内部に形成されたピット１８．１８・・・
の存在によってはほとんど影響を受けない。

そのため、目的のトラックに光学ヘッド２８を移動させ
るシーク動作を高速化してアクセスタイムを短縮し、レ
ーザービームＬＢがプリグルーブ１４を横切る際に得ら
れるプリグルーブ横断信号３０の周波数が、従来の円形
のレーザービームがプリグルーブ１４内のピット１８．
１８・・・を横切るときに発生する信号に近いあるいは
同程痕の周波数となった場合でも、レーザービームＬＢ
は、プリグルーブ１４内に存在するピット１８．１８・
・・によってはほとんど影響を受けない。従って、二分
割受光素子２７からの出力信号を差動増幅したプリグル
ーブ横断信号３０は、第８図に示すように、レーザービ
ームＬＢがプリグルーブ１４を横断することによっての
み出力されるため、このプリグルーブ横断信号３ｏには
、レーザービームＬＢがプリグルーブ１４内のピット１
８．１８・・・を横断することによる成分が含まれない
。上記プリグルーブ横断信号３０を比較器等を介して２
値化することによって、第９図に示すように、レーザー
ビームＬＢのプリグルーブ横断をカウントする信号が得
られる。

よって、光学ヘッド２８の移動速度を高速化してトラッ
クアクセス時間の短縮を図った場合でも、プリグルーブ
横断信号３０にレーザービームＬＢがプリグルーブ１４
内のピット１８．１８・・・を横断することによる成分
が含まれないので、レーザービームＬＢがプリグルーブ
を横断したときに出力される横断信号を確実に検出する
ことができる。

本出願人は、この発明の効果を確認するため、第５図に
示すような装置を試作し、レーザービームが照射するピ
ットの数、ブなわら長円形状のレーザービームの長さを
１０μｍ１３０μｍ、６０μｍと変化させて、実際にプ
リグルーブの検出を行う実験を行った。

第１０図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）はこの実験の結果を示
すものであり、第１０図（ａ）はレーザービームの長さ
を１０μｍ１・（ｂ）はレーザービームの長さを３０μ
ｍ１　（ｃ）はレーザービームの長さを６０μｍに設定
した場合の測定結果を示すものである。

この図から明らかなように、レーザービームの長さが１
０μｍあれば効果が現れるため、レーザービームの長さ
は、１０μｍ以上であれば良いと思われる。

なお、上記の実施例では、プリグルーブ横断信号を得る
ために、レーザービームをシリンドリカルレンズ及び対
物レンズによって長円形状に形成した場合について説明
したが、従来がら記録ｒ−夕の消去用に用いられて長円
ビームを、そのままプリグルーブ横断信号検出用のビー
ムとしで兼用させるようにしても良い。

［発明の効果］ この発明は以上のように、プリグルーブの横断を検出す
るための収束光の形状を、同時に複数のピットが照明さ
れるようにプリグルーブの長手方向に沿って細長い長円
形状としたので、光学ヘッドの移動速度を高速化してト
ラックアクセス時間の短縮を図った場合でも、プリグル
ーブ横断信号を確実に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係るプリグルーブ横断信号検出装置
の一実施例を示す要部斜視図、第２図は光ディスクの要
部平面説明図、第３図はこの発明に係るプリグルーブ横
断信号検出装置を適用し得る光学的記録再生装置を示す
構成図、第４図は光ディスクを示す説明図、第５図はこ
の発明に係るプリグルーブ横断信号検出装置の一実施例
の光学系を示す斜視図、第６図は同光学系の要部の作用
を示す斜視説明図、第７図は光学ヘッドの移動経路を示
す説明図、第８図はプリグルーブ横断信号を示すグラフ
、第９図はプリグルーブ横断信号からプリグルーブの横
断を検出した信号を示すグラフ、第１０図（ａ）、（ｂ
）、（Ｃ）は実験結果を示すそれぞ植グラフ、第１１図
は光記録媒体を示す説明図、第１２図は光記録媒体に照
射されるビームを示す斜視図、第１３図は記録動作を示
す斜視説明図、第１４図は従来のプリグルーブ横断信号
検出装置を示す構成図、第１５図は光記録媒体を示す説
明図、第１６図及び第１７図はプリグルーブ横断信号の
それぞれ異なった状態を示すグラフである。 ［符号の説明コ ９・・・対物レンズ １３・・・光ディスク １４・・・プリグルーブ １８・・・ピット ２６・・・シリンドリカルレンズ ２７・・・二分割受光素子 ＬＢ・・・レーザービーム 特　許　出　願　人　　富士ゼロックス株式会社代　理
　人　弁理士　　中村　智廣（外１名）１゛＼：＝・　
ミン＼’Ｇ　　　　’［”＼堅＼旨ｉＬｌひ９０口）第
１０図 第１１ 図 第１２ 図 ブ 第１５図 第１６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. プリグルーブに沿つて記録ピットを有する光記録媒体に
   収束光を照射して、この光記録媒体からの反射光を光学
   系を介して受光素子によって受光し、この受光素子から
   の出力信号によって、上記収束光がプリグルーブを横断
   するときの信号を検出するプリグルーブ横断信号検出装
   置において、上記収束光の形状を、同時に複数のピット
   が照明されるようにプリグルーブに沿つて細長い形状と
   したことを特徴とするプリグルーブ横断信号検出装置。