JPH02201110A

JPH02201110A - プリント配線回路の検査方法、特にカードの構成部分の検査方法及び該方法を適用する装置

Info

Publication number: JPH02201110A
Application number: JP1317399A
Authority: JP
Inventors: Alain Quintard; アラン・カンタール
Original assignee: Bull SA
Current assignee: Bull SA
Priority date: 1988-12-06
Filing date: 1989-12-06
Publication date: 1990-08-09
Also published as: FR2640050A1; EP0373069A1; FR2640050B1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明はプリント配線回路カードの検査方法、特にカー
ドの構成部分の検査方法に関する。プリント配線回路カ
ードとは、アーキテクチャがエポキシ樹脂の如き絶縁材
料層の周囲に構築され且つ若干数の電子構成部分を有す
るプリント配線回路カードを意味する。これらの電子構
成部分の中で、抵抗器及びコンデンサの如き受動構成部
分とダイオード、トランジスタ及び集積回路の如き能動
構成部分との２つのカテゴリを区別せねばならない。

これらの構成部分は、波状溶接（ｓｏｕｄａｇｅ　ｌ　
ｌａｖａｇｕｅ）又は再溶融溶接（ｓｏｕｄａｇｅ　ｐ
ａｒ　ｒｅｆｕｓｉｏｎ）の如き従来の方法を使用して
、特に蒸気相と称する変形方法で溶接されている。

製造されたカードは一連の検査を受ける。特に溶接レベ
ルでの電子回路のインテグリテイを調べるなめにまず受
動型の検査を、次にカードの機能性を調べるために能動
型の検査を実施する。これらの最初の検査を実施するた
めには、−ｉに検査すべき回路の点と電気接触する多数
のスパイク（ｐｏｉｎｔｅａ）を備えた“スパイクプレ
ー）　（ｐｌａｎｃｈｅ　ｈｃｌｏｕｓ）”と称する装
置が使用されている。該装置では良好な結果が得られる
が、その製造及び使用は比較的離しい、何故ならば、こ
の装置を検査すべきカードの各モデルに適応させねばな
らないからである。

更には、ＣＭＳ（表面配線構成部分）と称する新規技術
の導入により、プリント配線回路及びその構成部分の小
型化が可能となった。この小型化は゛スパイクプレート
”型の前記装置によるＣＨＳカードの検査に現実問題を
提起している。実際に、スパイク支持体（ｓｕｐｐｏｒ
ｔｓ　ｄｅ　ｐｏｉｎｔｅ）は最小寸法のためにカード
はあまりにも接近した区域に接近することができない、
１Ｆ！４としては、従来のカードでは２．５４　ｍｖａ
であるが、それに対してＣＨＳカードで使用されている
平均ピッチは１．２７　ａｍである。　ＣＭＳカードに
０．３　ｍ−の新規規格を採用すると、“スパイクプレ
ードパ型の検査装置は全く不適合となり、更には作業に
よっては使用不可能となる。

本発明は、゛スパイクプレードパ型の検査にとって代わ
る、又は少なくとも実質的にその使用を制限する方法に
関する。更には、プリント配線回路カードの検査方法が
高性能であるには、ある程度の基準、特に以下の基準に
適合せねばならない。

本方法は非破壊的型でなければならない６本方法を適用
してカード及びその構成部分を損なう危険性があっては
ならない。

本方法は、生産速度の点からだけでなく、オペレータに
よって異なるあらゆる人間的評価を排除するためにも自
動化を可能とせねばならない。

本方法は、几帳面な応急修理を実施し得るために、（欠
陥部品を含めて）カード上の不具合箇所の位置を迅速に
判明できねばならない。

最後に、本検査方法は適用が簡単で、カードの種々のモ
デルに適合し、迅速であり且つ費用が比較的安価でなけ
ればならない。

このために、本発明はプリント配線回路カードの検査方
法、特にカードの構成部分の検査方法を提起する０本発
明は少なくとも、カードの活性化、特に通電と、好まし
くはカードが熱平衡に達した後の所定の活性化のための
カードの温度分布像の作成と、カードの検査すべき区域
、例えばカードの構成部分により占められる区域につい
ての所定の標準に対する温度偏差（６ｃａｒｔ　ｔｈｅ
ｒｍｉｑｕｅ）の探知による画像処理との段階からなる
ことを特徴とする。

本発明の変形例では、構成部分の検査に対して許容し得
るとみなされる温度偏差の所定のしきい値は、カードの
構成部分並びにカードの環境及び活性化の条件に応じて
選択される。

本発明の他の変形例では、画像の撮影は、例えば８〜１
２ミクロンのスペクトル域で作動するく光励起）旦子セ
ンサ型の赤外線カメラにより行われる。

本発明の方法の他の変形例では、標準画像（ｉｍａｇｅ
　＃ｔａｌｏｎ）は、カードの各モデルにライて、カー
ドに備わるプリント配線回路とその構成部分との選択さ
れた点の位置を二次元地理的に検出して決定される。最
後に、欠陥があると認められる区域、例えば欠陥の認め
られる構成部分の実際の位置検出表示装置が備わってい
る。

更に本発明の方法の他の変形例では、匹敵し得る活性化
及び環境の条件下において、許容し得るとみなされる同
一モデルの基準カードから得られる複数の画像をミキシ
ングして標準（！ｔａｌｏｎ）が作られる。更には、こ
の標準はパラメータで表示され得る。

本発明は更に前記方法を適用する装置に関する。

該装置は、カードの任意の点の二次元地理的位置検出（
以後実際の位置検出と称する）を可能とする機構を備え
たカード支持体と、活性化制御ラインと、カメラの画像
視野の各画像点について対応する画像の局限化及びカメ
ラの目標となる基本的視野により包囲されるカードのｒ
ＪＩｉ係する目標点での温度を表す測定信号を含む情報
ブロックを単一画像プロットにより発生する変換器並び
に赤外線カメラを備える画像撮影ラインと、前記カード
支持体に結合されるカメラの視野の調節装置（カードに
対するカメラの視野の位置決めの検出を実施するなめに
前記地理的位置検出機構が適応される）と、画像処理ラ
インとを備えている。該画像処理ラインは、単一画像プ
ロットに対応する情報ブロックの貯蔵手段と、所定の単
一画像のプロットに対応する情報ブロックの所定の画像
位置検出に関係する目標点の実際の位置検、出を決定し
且つ実際の位置検出に各測定信号を同調させるための前
記地理的位置検出機構に結合された手段と、各標準信号
がカードの目標点の実際の位置検出と同調させられてい
る標準信号全体からなる標準画像の貯蔵手段と、実際の
位置検出について測定信号と標準信号とを比較する手段
と、問題となる実際の位置検出及び比較作業の結果を表
示する手段とを含んでいる。

使用する装置の実施例では、カードの活性化制御ライン
は特定の副回路（ｓｏｕｓ−ｃｉｒｃｕｉｔｓ）の活性
化を、例えばＲＡＭのダイナミックメモリ内での読み取
ｒ）／書き取り作業を制御し得る。

本発明の装置の特定実施例では、カード支持体は前記地
理的位置検出機構の外に、カメラの視野の調節装置を担
持し且つカードの案内手段を有する固定ベイ（ｂｌｔｉ
）を備えている。地理的位置検出機構がカメラの視野の
位置決め用パイロットステーションを備えているのが有
利である。更には、該パイロットステーションは画像撮
影ライン及び画像処理ラインを制御し且つ画像のプロッ
ト（ｒｅｌｅｖ！　）及び処理プロセスを管理する。最
後に、パイロットステーションは前記画像処理ラインに
存在し且つ実際の位置検出に各測定信号を同調させる（
ａｐｐａｒｉｅｒ）手段に、各画像プロット時に使用さ
れるカードに対するカメラの視野の瞬間的位置決めに関
する情報を送る。本発明の装置の他の特定実施例では、
パイロットステーションと画像制御ラインと画像処理ラ
インとは、検査すべきカードのモデルに適応される開発
ソフトウェア及びファイルを備えたデジタル計算機型で
ある。パイロットステーションと活性化制御ラインとが
共通のデジタル計′ｙ１．機の中央装置により調整され
るのが有利である。

添付図面を参考にして本発明を説明する。

本発明の方法は、活性回路（ｃｉｒｃｕｉｔ　ａｃｔｉ
ｖ６）、中でら特に構成部分自体の温度放射を受ける赤
外線センサによる温度分布像の作成に基づく、より正確
に言えば、本発明の検査方法は少なくとも、カードの活
性化、特に通電と、好ましくはカードが熱平衡に達した
後の所定の活性化のためのカードの温度分布像の作成と
、検査すべきカードの構成部分についての所定の標準に
対する温度偏差の探知による画像処理との３段階からな
る。

非制限的な例として記載する本発明の方法の実施例にお
いて、画像の撮影は、８〜１２ミクロンのスペクトル域
で作動する（光励起）量子センサ型の赤外線カメラによ
り、好ましくはリアルタイムで実施される。該カメラは
特に構成部分によりカードの種々の点（例えば該構成部
分の表面）に放射される熱エネルギを赤外スペクトル内
で測定し且つ検査された表面の温度に対応する測定信号
を提供する。この型のカメラを使用することにより、方
ではカード又はその構成部分を損わずにあまり高くない
温度域で例えば約５０℃で測定を実施することができ、
他方ではリアルタイムで作業することにより迅速に繰り
返し画像の撮影を行うことができる点は注目すべきであ
る。後者の特徴は、熱平衡に達したとしてもそれが一過
性となるカードの動的活性化の場合に特に有利である。

本発明の検査は所定の標準を基準とする相対型である。

従って、本発明の変形例において、特に標準が温度分布
像から得られる場合には、測定が繰り返し実施されてい
ることを確認することが重要である。このためには、所
定の作業方法を尊重するだけでなく、同一の基準又は少
なくともそれに匹敵し得る基準で作業するために、カー
ドの環境及び活性化が空間面と時間面において厳密に検
査されねばならない。

カードの活性化に関しては、静的状ｉ（カードの回路の
単なる通電）と、ある副回路が一定時間中に所定の方法
で活性化される動的状態（例えばＲＡＭダイナミックメ
モリへの一連の読み取り／書き取り命令の伝送）とを区
別する。静的状態では、構成部分の表面温度は一般には
約１０秒後に４０〜５０℃に安定化する。動的状態では
、測定はより難しく正確な較正（ｌ！ｔａｌｏｎｎａｇ
ｅ）を必要とする。やむを得ない場合には、目標の表面
温度の安定化後にのみ厳密な意味での測定を実施するた
めに、リアルタイムでの画像撮影赤外線カメラを使用し
て、カメラの視野に位置する目標点での温度上昇曲線を
監視することができる。−膜内には、カード（又は検査
すべき区域の）熱平衡に達した後にのみ熱画像をプロッ
トするのが好ましい、しかしながら、活性化制御ライン
と画像撮影ラインとがうまく時間内に調整される限りに
おいて、仮の方法で作業することができる。

カードの環境に関しては、室温が安定し且つ不変で、温
度の乱れと余計な温度放射とから保護されている空間で
作業せねばならない。

このようにして、種々の構成部分の欠陥部の温度に関す
る予備調査の後に、各構成部分の許容し得る温度偏差が
カードの環境及び活性化粂件を考慮して選択され２次に
標準内に組み込まれる。（特に使用不能の集積回路では
）この偏差は正でも負でもよい、温度分布の例としては
、異常な加熱の結果指向性コンデンサ（ｃｏｎｄｅｎｓ
ａｔｅｕｒｓ　ｏｒｉｅｎｔｌ！ｓ）の配線が逆になっ
ていることが判明し得る。判明し得る他の欠陥としては
、構成部分の欠如及び構成部分の型の誤りを挙げること
ができる（実際、ある構成部分により放散される出力は
該構成部分が急速型（Ｒａｐｉｄｅ）か低速型（Ｌｅｎ
ｔ）かに依る）。

一般にはカードに対するカメラの配置は、カメラの空間
視野がその全体でカードを包囲するように定める６寸法
が２００　ｘ　１６０　ａｍを越えるカードの場合、カ
ードの一部分く又は検査すべき区域）の画像を連続的に
プロットして検査することができる。第１図は原点を０
１とする実際の局部座標軸０ＩＸｌ、０ＩＹＩと、任意
の支持体（例えばカード上の構成部分の配線箱のベイ）
に対するカードのインデクシング及び目標点Ｒ１、Ｒ２
とを有するカードを概略的に示している。２つの溶接点
１４．１６を備える構成部分１２り例えば表面に装着さ
れる抵抗器）も第１図に概略的に示す、当然、構成部分
Ｉ２の検査区域は構成部分１２により覆われるカードの
区域により構成されていると考えられる。更には、地理
的に目標点を定めることにより検査すべき種々の区域及
び／又は構成部分の位置をカード上で決定することがで
きる。もっと正確に言えば、カードの各モデルについて
、検査すべきカードの画像と比較される標準画像の基礎
となる地理的グリッドが製造される。実際には、基礎の
グリッドは、ＣＡＤのプログラムを用いてプリント配線
回路及びカード全体の設計時に作成されたデータから装
造される。標準画像は、同一モデルの基準カードから得
られる複数の画像のミキシングにより（例えば平均化（
ｍｏｙｅｎｎｎｇｅ）により）作成される。場合によっ
て、この標準画像は、必要とあれば特にカードの構成部
分と、カードの環境及び活性化条件と、操作方法とを考
慮してパラメータで表示され得る。

好ましくはカードの、又は少なくとも検査すべき区域の
熱平衡に達した後に熱画像のプロットを実施する。もち
ろんカードに対するカメラの視野の相対的位置は、画像
処理ラインが画像点をカード上の実際の位置検出に結び
付けることができるように該画像処理ラインに伝達され
る。従って、欠陥のある構成部分に相当する検査区域が
（ｆｌｌｌ成部分のコードにより）識別され、局限され
且つ表示される。大型寸法のカードの場合、各画像処理
が終了すると、カードはカードの完全な検査が済むまで
カードの新規部分の画像撮影ができるように、カメラの
視野に対して側方に移動させられる。

もちろん、本発明の方法では、実験者が所望すれば実際
の各状況を考慮した上で多数の変形例が可能である。し
かしながら、これらの変形例は本発明の特徴となる３つ
の作業段階を尊重せねばならない。

前記説明により本発明の方法の非常に有利な幾つかの利
点を明確にすることができた。その中で。

本発明の方法により、活性カード、特に構成部分の検査
の非常に高性能な自動化が容易になったことは注目すべ
きである。この自動化により欠陥の評価に対する人間の
介入を排除することができる。

更には、光学検査の原理自体は必要とあれば検査すべき
２点間の非常に細かい空間的分解能を可能とし、“スパ
イクプレート”による検査で禁止されている一蹟未満の
値に達することができる。ＰＬ後に、検査すべきカード
の設計用にＣＡＤで使用される情報処理プログラムとフ
ァイルとを利用してカードのモデルの検査すべき区域（
及び構成部分）のグリッドを変更することができ、それ
によりそれほど困難さも時間も要さずに標準画像を変更
することも可能となる１本発明が製造後の検査だけでな
くカード供用後の修理にも使用され得ることも注目すべ
きである。中でも特に本発明の方法を適用する装置の実
施例に関する以下の説明を読めば、本発明の他の利点が
明確となろう。

第２図に概略的に示す本発明の装置は、花崗岩防振光テ
ーブルの如きベイ２２からなるカード支持体２０の周囲
に物理的に構成されている。テーブルの表面は、検査ベ
ンチの種々の要素の固定及び空間位置決定を可能とする
ねじ切りされた絶縁体網（ｒ６ｓｅａｒ　ｄ’　１ｎｓ
ｅｒｔｓ　ｔａｒａｕｄｌ！ｓ）を備えている。ベイ２
２上にはカード２６用案内手段２４が固定されている。

該案内手段は、Ｘ型のレール、より正確に言えば、水平
方向のレール３２を担持する２つの垂直方向のレール２
８．３０からなる。カード２６を担持する垂直の２方向
に移動する型の可動台車（第２図には図示せず）も前記
水平方向のレール３２上を移動し得る１台車は、カード
の目標点Ｒ１，Ｒ２とｖＪＩ働して、ベイ２２に対する
カード２６の維持だけでなく非常に正確な局限化を可能
とするπ中間子を有する３前記のａｆＩＩＩにより、Ｏｂを原点とする三次元の目
標Ｘ、Ｙ、Ｚを設定することができる。Ｘ軸は水平方向
のレール３２と平行に伸び、Ｚ軸（又は垂直軸）はレー
ル２８．３０と平行に伸びている。カードの台車は位置
センサに連結された２つのステップバイステップモータ
を備えている（ＭＸ、ＣＸはレール３２上での可動台車
の移動用であり、８２．ＣＺは台車上でのカードの垂直
方向の位置決め用である）。これらのモータ及びセンサ
（第２図には図示されていないが、単に識別されている
）はデジタル計算機型のパイロットステーションＳＰ　
３４に接続されている。従って、パイロットステーショ
ン３４はカードの原点０１に対する点ｏｂの実際の位置
及びカードの構成部分の各点の位置を検出し得る。更に
、パイロットステーションは、ｏｂｘ、ｏｂｘ面に平行
な面でのカードの並進移動を可能とするように、ステッ
プバイステップモータＨχ、８２を制御する。

ベイ２２はカメラの視野の調節装置３日上に装着されて
いる赤外線カメラ３６も支持する。該調節装置３８自体
はベイ２２に固定された案内棒４０上を滑動するように
装着され且つＹ軸と平行に伸びている。

ここでもカメラの視野の調節装置３８の、（ここに記載
する実施例の場合はカメラ自体の）運動は、関連センサ
ＣＹにより提供される情報に応じてパイロットステーシ
ョン３４により制御されるステップバイステップモータ
ＭＹ（図示せず）により制御される。このようにして、
パイロットステーション３４はカードに対するカメラの
視野の相対的位置を瞬間的に検出し得る。しかしながら
、本発明の範囲を逸脱することなく、ここに記載する方
法（カードとカメラとの間の相対的な側方移動）とは異
なる方法で、特にカメラ／カードの目標光路内に適切に
配置された走査式光学装置を介して本発明の適用につい
てのこの重要な特徴を得ることができる。これから詳細
について説明するカメラはビデオスクリーン及び／又は
プリンタ及び／又はプロッタの如き表示装置４４を備え
たデジタル計算機型の画像処理ラインＧＴＴ　４２に接
続されている。

本発明の装置は更に、図面のカードの右側に配置されて
いる接触棒１０を介してカード２６に適切に接続される
活性化制御ラインＣＣ＾５２を備えている。

ラインＣＣ＾５２はカードへの供給の外に、予備プログ
ラミングされた選、択的な若干の副回路の活性化を制御
する。しかしながら、ラインＣＣ＾５２はパイ四ツ１〜
ステーシヨン３４全体の制御下で作動する。

パイロットステーション３４は、開発ソフトウェアを適
切に備えたマイクロコンピュータＢＵＬＬＭＩＣＲＡＬ
モデル４０（８８４０）の周囲に構成されている。

案内手段２４及び案内棒４０との有効行程は、Ｘ＝１２
５０鰺−、Ｙ＝６３０　ａｍ、　Ｚ＝４００　ｍ−と十
分大きいけれども、得られる地理的精度は、単一の移動
幅が０°、１２７　ｍｍのモータを使用して約０．０１
−纏となる。

使用する赤外線カメラ３６は、（米国の）ベツドフォー
ドのＩＮＦＲＡＭＥＴＲＩＣＳ社製の商品“モデル６０
０”である、より正確に言えば、約２のインターレース
を備えるこの走査型カメラは８〜１２ミクロンのスペク
トル帯で作動する液体窒素で冷却されたｌ１ｇ−Ｃｄ−
Ｔｅ量子センサを備えている。カメラの視野はセンサの
走査角度により、即ちＨ（水平方向）で２０”、■（垂
直方向）で１５°に決定される。これにより２４０の線
に対して２５６の画像点の解像度が可能となる。

２１０　Ｘ　１５６　ｍｓの単一検査区域のカメラによ
る包囲に対応するカメラの調整を選択すると、カード上
で０．７８　ａｓ／水平方向、　０．６６　ｍｍ／垂直
方向の実解像度が得られる。各画像点により提供される
測定信号は７ビツトでディジタル化され（ｎｕｍｅｒ　
ｉｓ＆）、これは１２８レベルの測定可能な熱輝度に相
当する。

得られる精度は約０，１℃である。熱画像撮影速度は１
７レームで約２０ミリ秒、１つの繰出たり５５マイクロ
秒と十分高い。

単一画像の大体のプロットを受は取ると、カメラはデジ
タル変換器を介してラインＣＴＩ　４２に情報ブロック
を伝送する。該情報ブロックは線とフレームとの走査開
始位置を決定し得る（従って画像点の位置検出を実施し
得る）同期化信号を備えたカードの１点での温度測定を
表す“ビテオ゛信号を含んでいる１画像処理ラインＣＴ
Ｉ　４２は後述する如くパイロットステーション３４、
即ちマイクロＢＭ４０により自動制御されるマイクロコ
ンピュータＣ［ＩＬＬＩ４１ＣＲＡＬモデル８０（ＢＭ
　６０）の周囲に構成されている。ラインＣＴＩ　４２
を構成する情報処理サブシステムは、各単位が１２８コ
クチツト（Ｋｏｃｔｅｔｓ）の使用容量を必要とするカ
ードの“画像゛°を処理し且つ保存するに十分な中央及
び周囲の記憶容量を有する。

この情報処理サブシステムは、カメラの変換器から伝送
される情報ブロックの貯蔵手段の外に、各画像点に結合
される目標点の実際の位置検出を位置決め信号により決
定し且つパイロットステーション３４により伝送され、
このようにしてカード上での実際の位置検出を各測定信
号に同調させる設備及びソフトウェア手段を備えている
０画像処理の第１段階は、このようにして再処理された
画像又はラインＣＴＩ　４２のファイル内に存在する所
定の地理的グリッドに応じての画像の所定の部分を記憶
させることで終了する。

ラインＣＴＩ　４２は更に所定のカードモデルに対応す
る同一グリッドに応じて形成される標準画像をメモリ内
に含んでいる。標準画像はプログラミングによりあらゆ
る部品から作成され得る。しかしながら、特にカードの
環境及び活性化について同一の作業条件下において、許
容し得るとみなされる少なくとも１０枚のカードの検査
から得られる複数の温度分布像のミキシング（例えば測
定値の平均化）によりこの画像を有利に且つより迅速に
作成できると判明した。明らかに前述の如く、この標準
画像は必要とあれば１１種々のパラメータ表示を行うソ
フトウェアを使用して再度作動させることができる。

ラインＣＴＩ　４２はこのように測定信号（グリッドの
所定の信号に限られる）を標準値と点毎に比較し且つ表
示手段４４を介して欠陥区域の識別及び位置検出（例え
ばコード及び構成部分の位置検出）を行うことができる
。該欠陥区域では、カード（０，７８ｘ　Ｏ，６６ｍｍ
）の検査に付される少なくとも１つの基本点での表面温
度が同一点での標準温度と、更には許容偏差しきい値と
差を生じている。もちろん、許容偏差しきい値の絶対値
は標準温度に対する温度差の方向（正又は負ンによって
異なり得る。

更には、本発明の装置により、自動製造工程の調整及び
検査の補佐として所望される計算及び統計作業全殻を容
易に実施することができる。カードの各新規モデルにつ
いては、オペレータはあらかじめ以下の作業を実施する
。

カードの設計に対応するＣＡＤのファイル及びプログラ
ムから、区域の地理的グリッド、特に検査すべき構成部
分の決定及び記憶されている特定゛グリッド”ファイル
のライン４２の情報処理サブシステムＢＭ　６０内への
導入（ｃｈａｒｇｅｍｅｒ＋Ｌ）。

単一検査区域の“グリッド”ファイルからのカードの仮
想切断（ｔｅｃｏｕｐａｇｅ　ｖｉｒｔｕｅｌ）及び各
単一検査区域のカメラ／カードの相対的位置決め配列の
サブシステムＢＭ　４．０．ＢＭ　６０への記憶化。

ラインＣＣ＾５２用に活性化プログラムの選択。

許容し得るとみなされるＩＯ余りのカードの選択及び対
応する基準温度分布像のプロットの実施。

ミＡ−シ〉′グによる標準画像の作成及び場合によって
基準画像のパラメータ表示（標準画像と比較しての基準
画像の試験及び区域特に検査すべき受は入れ区域（ａｉ
ｒｅｓ　ｄ’ａｃｃｕｅｉｔ）の分散調査が可能である
ことには留意せねばならない）。

標準画像の記憶化。

従って、情報処理サブシステムＢＭ　４０．ＢＭ　６０
は。

検査すべきカードの種々のモデルに適応される開発ソフ
トウェア及びファイルを使用している（ｃｂａｒｇｅｓ
）。従って、あらかじめリストに記載されたモデルに応
じて製造後又は保守作業の枠内で社産カードの検査を実
施し得る。この検査は以下の方法で実施される。

カードを台車上に設置した後、オペレータはパイロット
ステーションＳＰ　３４に手動信号（ＥＮＶ）を４える
。パイ四ツ１−ステーション３４は、カメラにより検査
すべきカード又は部分を包含させるようにカードとカメ
ラとの位置を決定する０次に、考察した区域での画像プ
ロット作業のクランプ状態を解除するために必要な位置
決め終了信号がパイロットステーション３４内で発生ず
る。パイロットステーション３４は同時に、（検査すべ
きカード又は該カードの部分に適応される）所定の活性
化プログラムをラインＣＣ＾５２に実行させる。熱画像
のプロットは活性化段階の最初の瞬間から待機く待機は
進行中の活性化によって決まる）期間を過ぎて初めて又
はカードの熱平衡の確認信号の発生後にバイロフトステ
ーション３４により制御される。そこでパイロットステ
ーションはカメラによる画像撮影信号をラインＣＴｒ　
４２に送る。カメラの画像はこのようにリアルタイムで
プロットされ且つ画像処理ラインＣＴＩ　４２に送られ
る１画像処理ラインは更にパイロットステーションから
画像撮影信号と共にカードに対するカメラの視野の位置
決めの状況信号を受は取る。この状況信号のおかげで、
ラインＣＴＩ　４２は検査される各目標点の実際の位置
検出を行う（ｒｅｓｔｉｔｕｅｒ）ことができる、各目
標点に対してはカメラ３６のデジタル変換器から測定信
号が発せられる。それから、画像プロット終了信号がラ
インＣＴＩ　４２によりパイロットステーション３４に
送られる。パイロットステーションは必要とあれば、実
際にはカードの翻訳によりカードの検査すべき新規位置
に対するカメラの位置を決定し得る。その間にラインＣ
ＴＩ　４２は実際の位置検出での画像の再構成及び比較
試験を実施する。この比較試験の結果はデイレイドタイ
ムで表示されるようにバッファ記憶される。それに反し
て厳密な意味での画像の処理が終了するとすぐに、処理
終了信号がラインＣＴＩ　４２によりパイロブ１〜ステ
ーシヨン３４に送られる。

部分別カード検査の場合、パイロットステーション３４
が画像処理終了信号（Ｔ、１．・０）と位置決め終了信
号との２つを受は取るとすぐに、パイロッＩ・ステーシ
ョン３４は新規画像撮影信号（Ｐ、１．・１）を送信し
且つ新規状況信号を発生する。カードが完全に検査され
るまでこれが繰り返し行われる。

もちろん、本発明の装置は、特にカードの活性化又は赤
外線カメラに関して本明細書に記載の機器に限定されな
い１本発明の主旨の範囲を逸脱することなく　（ＣＣＵ
ｌ型の）電荷転送式カメラ又は線走査式カメラを使用す
る他の変形例がある。後者の場合、カードはカメラの走
査と同期してカメラの前方を通過する。しかしながら、
カメラはカードの高さ又は長さを完全に包含するに十分
な幅の視野を有する必要がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はカードの所定の点の地理的位置検出を示すプリ
ント配線回路カードの概略図、第２区は本発明の方法を
適用する装置の概略図である。２２、、、ベイ、２４．、、案内手段、２８，３０，３
２．、　、レール、３４、、、パイ四ツ１〜ステーシヨ
ン、３６．、、赤外線カメラ、３８．、、調節装置、４
２．、、ラインＣＴＩ、４４、、、表示装置、５２゜１
．ラインＣＣＡ。ＩＧ−１

Claims

【特許請求の範囲】

（１）少なくともカードの活性化、特に通電と、好まし
くはカードが熱平衡に達した後の所定の活性化のための
カードの温度分布像の作成と、検査すべきカードの構成
部分についての所定の標準に対する温度偏差の探知によ
る画像処理とからなることを特徴とするプリント配線回
路カードの検査方法、特にカードの構成部分の検査方法
。
（２）構成部分の検査に対して許容し得るとみなされる
温度偏差の所定のしきい値が、カードの構成部分、カー
ドの環境及び活性化の条件に応じて選択されることを特
徴とする請求項１に記載の方法。
（３）画像の撮影は、赤外線カメラにより、特に８〜１
２ミクロンのスペクトル域で作動する（光励起）量子セ
ンサ型の赤外線カメラにより、好ましくはリアルタイム
で実施されることを特徴とする請求項１又は２に記載の
方法。
（４）標準画像は、各カードモデルについて、カードに
備わるプリント配線回路とその構成部分との選択された
点の位置を２次元地理的に検出して決定されることを特
徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の方法。
（５）地理的位置検出によりカードの検査すべき種々の
構成部分の実際の位置が決定されることを特徴とする請
求項４に記載の方法。
（６）欠陥があると認められる構成部分の実際の位置検
出の表示装置が備わっていることを特徴とする請求項５
に記載の方法。
（７）温度偏差の探知作業がカードの検査すべき構成部
分の所定の地理的グリッドに対応する画像部分上でのみ
実施されることを特徴とする請求項５又は６に記載の方
法。
（８）標準は、同一の作業方法並びに匹敵し得る活性化
及び環境の条件下において、許容し得るとみなされる同
一モデルの基準カードから得られる複数の画像のミキシ
ングにより作成されることを特徴とする請求項１から７
のいずれか一項に記載の方法。
（９）標準はパラメータ表示が可能であることを特徴と
する請求項１から８のいずれか一項に記載の方法。
（１０）カードの任意の点の二次元地理的位置検出（以
後実際の位置検出と称する）を可能とする機構を備えた
カード支持体と、活性化制御ラインと、カメラの画像視野の各画像点について対応する画像の局
限化及びカメラの目標となる基本的視野により包囲され
るカードの関係する目標点での温度を表す測定信号を含
む情報ブロックを単一画像プロットにより発生する変換
器並びに赤外線カメラを備える画像撮影ラインと、カードに対するカメラの視野の位置決めの検出を実施す
るために前記地理的位置検出機構が適応される前記カー
ド支持体に結合されるカメラの視野の調節装置と、画像処理ラインとを備え、該画像処理ラインは、単一画像プロットに対応する情報ブロックの貯蔵手段と
、所定の単一画像のプロットに対応する情報ブロックの所
定の画像位置検出に関係する目標点の実際の位置検出を
決定し且つ実際の位置検出に各測定信号を同調させるた
めの前記地理的位置検出機構に結合された手段と、各標準信号がカードの目標点の実際の位置検出と同調さ
せられている標準信号全体からなる標準画像の貯蔵手段
と、実際の位置検出について測定信号と標準信号とを比較す
る手段と、問題となる実際の位置検出及び比較作業の結果を表示す
る手段とを含んでいることを特徴とする請求項１から９
のいずれか一項に記載の方法を適用する装置。
（１１）比較作業が実施されねばならないカードの実際
の位置検出の予備選択手段を備えていることを特徴とす
る請求項１０に記載の装置。
（１２）実際の同一位置検出のために、カードの匹敵し
得る活性化及び環境条件下において、許容し得るとみな
される同一モデルの幾つかのカード上での実際の同一位
置の検出のための同一作業方法でプロットされた複数の
測定信号に基づき、標準信号が画像処理ラインで作られ
、該標準信号は任意であり且つパラータ表示可能である
ことを特徴とする請求項１０又は１１に記載の装置。
（１３）カードの活性化制御ラインは、例えばＲＡＭダ
イナミックメモリ内での読み取り／書き取り作業の特定
副回路の活性化を制御し得ることを特徴とする請求項１
０に記載の装置。
（１４）前記カード支持体が、前記地理的位置検出機構
の外に、カメラの視野の前記調節装置を担持し且つカー
ドの案内手段を備えた固定ベイを備えていることを特徴
とする請求項１０から１３のいずれか一項に記載の装置
。
（１５）パイロットステーションが活性化制御ライン、
画像撮影ライン及び画像処理ラインを制御し且つ画像プ
ロットと画像処理とのプロセスを管理することを特徴と
する請求項１４に記載の装置。
（１６）前記パイロットステーションはカードに対する
カメラの視野の局限化を実施し且つ前記画像処理ライン
に存在して実際の位置検出に各測定信号を同調させる前
記手段に、各画像プロット時に使用されるカードに対す
るカメラの視野の瞬間的位置決めに関する情報を送るこ
とを特徴とする請求項１５に記載の装置。
（１７）パイロットステーションが、少なくとも検査す
べきカードのモデルに適応される開発ソフトウェア及び
ファイルを備えたデジタル計算機を含んでいることを特
徴とする請求項１５又は１６に記載の装置。
（１８）活性化制御ラインが、少なくとも検査すべきカ
ードのモデルに適応される開発ソフトウェア及びファイ
ルを備えたデジタル計算機を含んでいることを特徴とす
る請求項１０から１６のいずれか一項に記載の装置。
（１９）パイロットステーション及び活性化制御ライン
が共通デジタル計算機の中央装置により調整されること
を特徴とする請求項１７及び１８に記載の装置。
（２０）前記画像処理ラインが検査すべきカードのモデ
ルに適応される開発ソフトウェア及びファイルを備えた
デジタル計算機型であることを特徴とする請求項１０か
ら１９のいずれか一項に記載の装置。