JPH02200453A - 熱画像形成装置およびその製造方法 - Google Patents
熱画像形成装置およびその製造方法Info
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- JPH02200453A JPH02200453A JP1304946A JP30494689A JPH02200453A JP H02200453 A JPH02200453 A JP H02200453A JP 1304946 A JP1304946 A JP 1304946A JP 30494689 A JP30494689 A JP 30494689A JP H02200453 A JPH02200453 A JP H02200453A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/34—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using capacitors, e.g. pyroelectric capacitors
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N15/00—Thermoelectric devices without a junction of dissimilar materials; Thermomagnetic devices, e.g. using the Nernst-Ettingshausen effect
- H10N15/10—Thermoelectric devices using thermal change of the dielectric constant, e.g. working above and below the Curie point
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は熱画像形成装置(thermal imagi
ngdevice)に関し、特に赤外線に応答するパイ
ロ電気要素のアレイよりなる熱画像形成装置に関する。
ngdevice)に関し、特に赤外線に応答するパイ
ロ電気要素のアレイよりなる熱画像形成装置に関する。
既存の熱画像形成装置の性能を制限する主な要因は隣接
パイロ電気要素の間および各パイロ電気要素と支持・問
い合せ構造(supporting andinter
rogating 5tructure)の間の熱伝導
係数である。
パイロ電気要素の間および各パイロ電気要素と支持・問
い合せ構造(supporting andinter
rogating 5tructure)の間の熱伝導
係数である。
米国特許第4354109号には、互いに離間したパイ
ロ電気要素のアレイを具備しており、各パイロ電気要素
が銀のような導電物質を含有したエポキシ樹脂で形成さ
れた各ピラーに支持された熱画像形成装置が開示されて
いる。各ピラーは支持されたパイロ電気要素とアレイの
要素からの電気信号を処理する集積回路との間に電気的
接続を形成するとともに、その要素を集積回路から熱的
に絶縁する。
ロ電気要素のアレイを具備しており、各パイロ電気要素
が銀のような導電物質を含有したエポキシ樹脂で形成さ
れた各ピラーに支持された熱画像形成装置が開示されて
いる。各ピラーは支持されたパイロ電気要素とアレイの
要素からの電気信号を処理する集積回路との間に電気的
接続を形成するとともに、その要素を集積回路から熱的
に絶縁する。
しかし、このような装置は、ピラーを作成するための方
法が、導電性物質を含有したエポキシ樹脂の層を被着さ
せ、次にその層をイオンビームで切削するかまたは光学
切削装置を用いてその層を加工してパイロ電気素子と集
積回路に接着されうる導電性エポキシ材料のアイランド
(islands)を形成すること含んでおり、比較的
複雑であるという難点がある。
法が、導電性物質を含有したエポキシ樹脂の層を被着さ
せ、次にその層をイオンビームで切削するかまたは光学
切削装置を用いてその層を加工してパイロ電気素子と集
積回路に接着されうる導電性エポキシ材料のアイランド
(islands)を形成すること含んでおり、比較的
複雑であるという難点がある。
米国特許第4354109号に記載された装置は、素子
と集積回路との間に十分な電気的通路を形成するために
、十分な導電性物質をエポキシ樹脂に充填する必要があ
り、そのためにピラーの熱絶縁効果が制限されることに
なるという他の難点をも有している。米国特許第435
4109号にはピラーの熱伝導度として6ワツト/cm
’にという値があげられているが、このような値は実
用的な画像形成装置では不十分である。
と集積回路との間に十分な電気的通路を形成するために
、十分な導電性物質をエポキシ樹脂に充填する必要があ
り、そのためにピラーの熱絶縁効果が制限されることに
なるという他の難点をも有している。米国特許第435
4109号にはピラーの熱伝導度として6ワツト/cm
’にという値があげられているが、このような値は実
用的な画像形成装置では不十分である。
本発明の目的は上記の難点が少なくとも軽減された熱画
像形成装置を提供することである。
像形成装置を提供することである。
本発明によれば、パイロ電気センサ要素のアレイを具備
しており、各センサ要素が真性半導体ポリマー材料の各
ピラーによって少なくとも部分的に支持されており、前
記ピラーが前記センサ要素と信号処理手段との間に電気
的通路を与える熱画像形成装置が提供される。
しており、各センサ要素が真性半導体ポリマー材料の各
ピラーによって少なくとも部分的に支持されており、前
記ピラーが前記センサ要素と信号処理手段との間に電気
的通路を与える熱画像形成装置が提供される。
本発明は、典型的には6XlO−”ワット/cm ’に
である適当に低い熱伝導率を、典型的には1シ一メンス
/cm以上の適当に高い導電率と結合するポリピロール
、ポリアセチレンまたはポリチオフェンのような電気的
に半導性のポリマーが熱画像形成装置に使用するのに適
した材料であるという本発明者の知見に基づいている。
である適当に低い熱伝導率を、典型的には1シ一メンス
/cm以上の適当に高い導電率と結合するポリピロール
、ポリアセチレンまたはポリチオフェンのような電気的
に半導性のポリマーが熱画像形成装置に使用するのに適
した材料であるという本発明者の知見に基づいている。
これらの本質的に導電性のポリマーは電気的接触領域上
に被着されてさらに整形する必要なしに所要のピラー形
状を形成し得るので、作成方法が米国特許第43541
09号に記載されたエポキシ・ピラーの作成方法にに比
較して大幅に簡略化される。
に被着されてさらに整形する必要なしに所要のピラー形
状を形成し得るので、作成方法が米国特許第43541
09号に記載されたエポキシ・ピラーの作成方法にに比
較して大幅に簡略化される。
以下図面を参照して本発明の2つの実施例による熱画像
形成装置について説明する。
形成装置について説明する。
まず第1図を参照すると、本発明の第1の実施例による
装置(以下第1装置と呼ぶ)は−側に相互接続された電
極12のパターンを形成されかつ他側に分離した(di
screte)電極13のアレイを形成されたパイロ電
気プレート11を具備している。パイロ電気プレート1
1は例えばタンタル酸リチウム、ニオブ酸ストロンチウ
ム・バリウムまたは硫酸トリグリシンのような任意適当
な物質で作成されうる。分離した電極13によって画成
されたパイロ電気センサ要素は2つの直交した組の平行
なスロット14によって分離されている。
装置(以下第1装置と呼ぶ)は−側に相互接続された電
極12のパターンを形成されかつ他側に分離した(di
screte)電極13のアレイを形成されたパイロ電
気プレート11を具備している。パイロ電気プレート1
1は例えばタンタル酸リチウム、ニオブ酸ストロンチウ
ム・バリウムまたは硫酸トリグリシンのような任意適当
な物質で作成されうる。分離した電極13によって画成
されたパイロ電気センサ要素は2つの直交した組の平行
なスロット14によって分離されている。
センサ要素は各半球状のピラー15によって支持され、
これらのピラーはケイ素基板17上の導電性入力パッド
上に半導体ポリマーを電気化学的に被着させることによ
って形成される。パッド上でのポリマーの成長が制限さ
れてい−なければ、この半球状の形状が自然に生ずる。
これらのピラーはケイ素基板17上の導電性入力パッド
上に半導体ポリマーを電気化学的に被着させることによ
って形成される。パッド上でのポリマーの成長が制限さ
れてい−なければ、この半球状の形状が自然に生ずる。
ピラー15の自由端部はその上の分離した電極13に半
田付けされて、集積回路へのセンサ要素および接点パッ
ド16間の電気的通路を完成する。
田付けされて、集積回路へのセンサ要素および接点パッ
ド16間の電気的通路を完成する。
入力パッド16は例えばケイ素基板17上に接着された
ポリミドまたは二酸化ケイ素よりなる絶縁性表面不動態
化層18によって横方向に分離されている。基板17内
には19で概略的に示されたCMO3集積回路が形成さ
れ、装置の動作時にセンサ要素によって発生される信号
の信号処理を行なう作用をする。
ポリミドまたは二酸化ケイ素よりなる絶縁性表面不動態
化層18によって横方向に分離されている。基板17内
には19で概略的に示されたCMO3集積回路が形成さ
れ、装置の動作時にセンサ要素によって発生される信号
の信号処理を行なう作用をする。
センサ要素間のスロット14は、センサ要素間のクロス
トークと感度の低下を生ずるおそれのある隣接センサ要
素間の熱伝導率を低下させる。ピラー15はセンサ要素
と信号処理手段との間に電気的通路を形成するとともに
、センサ要素とケイ素基板17との間に高い熱絶縁を与
える。
トークと感度の低下を生ずるおそれのある隣接センサ要
素間の熱伝導率を低下させる。ピラー15はセンサ要素
と信号処理手段との間に電気的通路を形成するとともに
、センサ要素とケイ素基板17との間に高い熱絶縁を与
える。
次に第2図を参照すると、本発明の第2の実施例による
装置(以下第2装置と呼ぶ)は、スロット14を有する
パイロ電気プレート11が薄いパイロ電気フィルム21
で置換されており、かつ半球状のピラーがコラム状のピ
ラー25によって置換されている点で前記第1装置と相
違している。他の特徴はすべて変更なしであり、それら
は第1図と同じ符号で示されている。第2図の薄膜21
はセンサ要素間のクロストークが無視できるのに十分な
だけ低い横方向熱伝導率を有している。しかし、もし必
要であれば、不連続の短いスロットが隣接センサ要素間
に形成されてもよい。
装置(以下第2装置と呼ぶ)は、スロット14を有する
パイロ電気プレート11が薄いパイロ電気フィルム21
で置換されており、かつ半球状のピラーがコラム状のピ
ラー25によって置換されている点で前記第1装置と相
違している。他の特徴はすべて変更なしであり、それら
は第1図と同じ符号で示されている。第2図の薄膜21
はセンサ要素間のクロストークが無視できるのに十分な
だけ低い横方向熱伝導率を有している。しかし、もし必
要であれば、不連続の短いスロットが隣接センサ要素間
に形成されてもよい。
パイロ電気フィルム21に適した材料はポリフッ化ビニ
リデン(PVDF)またはフッ化ビニリデンである。
リデン(PVDF)またはフッ化ビニリデンである。
第3.4および5図は第2図に示されたピラー25を形
成するための1つの方法を示している。図示された方法
では、厚いフォトレジスト層31が空洞を取巻く壁を与
えており、その空洞内では半導体ポリマーの電気化学沈
積によってピラー25が成長される。各分離した電極に
対するピラーの半田付けを容易にするために、続いてピ
ラー25の頂部に金属層33が沈積される。次にフォト
レジスト層がエツチング除去され、第2図に示されてい
るようなコラム状の構造が得られる。
成するための1つの方法を示している。図示された方法
では、厚いフォトレジスト層31が空洞を取巻く壁を与
えており、その空洞内では半導体ポリマーの電気化学沈
積によってピラー25が成長される。各分離した電極に
対するピラーの半田付けを容易にするために、続いてピ
ラー25の頂部に金属層33が沈積される。次にフォト
レジスト層がエツチング除去され、第2図に示されてい
るようなコラム状の構造が得られる。
米国特許第4354109号に示された装置とは対照的
に、ピラー25の直径が分離した電極のわずかに25%
にすぎない。このことは、電極の単位面積当りの熱伝導
率、すなわち所謂rGJ値が、典型的には0.1ワット
/cm” ’にのように比較的低いので特に有益である
。
に、ピラー25の直径が分離した電極のわずかに25%
にすぎない。このことは、電極の単位面積当りの熱伝導
率、すなわち所謂rGJ値が、典型的には0.1ワット
/cm” ’にのように比較的低いので特に有益である
。
上述した装置では、電気化学沈積によってポリマー・ピ
ラーが作成されたが、本発明は蒸気沈積によって、例え
ばポリアセチレンの重合化によってポリマー・ピラーが
作成された装置をも包含することが理解されるであろう
。このような代替的方法によれば、本質的に半導体のポ
リマーを所定の形状に沈積させることもできる。
ラーが作成されたが、本発明は蒸気沈積によって、例え
ばポリアセチレンの重合化によってポリマー・ピラーが
作成された装置をも包含することが理解されるであろう
。このような代替的方法によれば、本質的に半導体のポ
リマーを所定の形状に沈積させることもできる。
第1図は本発明の第1の実施例による装置の一部分の断
面を示す概略図、第2図は本発明の第2の実施例による
装置の一部分の断面を示す概略図、第3.4および5図
は上記第2の実施例を作成する場合の3つの工程を示す
図であり、これらの図は図示を明瞭にするために第2図
とは異なるスケールで示されている。 11、、、、、パイロ電気プレート 12、、、、、相互接続された電極 13、、、、、分離した電極 14、、、、、スロット 15、、、、、半球状ピラー 16、、、、、接点パッド 17、、、、、ケイ素基板 18、、、、、絶縁性表面不動態化層 21、、、、、パイロ電気フィルム 25、、、、、コラム状ピラー 31、、、、、フォトレジスト層
面を示す概略図、第2図は本発明の第2の実施例による
装置の一部分の断面を示す概略図、第3.4および5図
は上記第2の実施例を作成する場合の3つの工程を示す
図であり、これらの図は図示を明瞭にするために第2図
とは異なるスケールで示されている。 11、、、、、パイロ電気プレート 12、、、、、相互接続された電極 13、、、、、分離した電極 14、、、、、スロット 15、、、、、半球状ピラー 16、、、、、接点パッド 17、、、、、ケイ素基板 18、、、、、絶縁性表面不動態化層 21、、、、、パイロ電気フィルム 25、、、、、コラム状ピラー 31、、、、、フォトレジスト層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、パイロ電気センサ要素のアレイを具備しており、各
センサ要素が真性半導体ポリマー材料の各ピラーによっ
て少なくとも部分的に支持されており、前記ピラーが前
記センサ要素と信号処理手段との間に電気的通路を与え
る熱画像形成装置。 2、前記ポリマー材料がポリピロール、ポリアセチレン
およびポリチオフェンから選択された請求項1の装置。 3、前記ピラーが実質的に半球状である請求項1または
2の装置。 4、前記ピラーが半導体ポリマー材料の無制限電気化学
沈積によって形成された請求項3の装置。 5、前記ピラーがコラム状である請求項1または2の装
置。 6、前記コラム状ピラーがエッチングによって形成され
た請求項5の装置。 7、パイロ電気センサ要素のアレイを具備した熱画像形
成装置を製造する方法であって、真性半導体材料で複数
のピラーを形成し、各ピラーが1つのセンサ要素を少な
くとも部分的に支持するようにし、前記ピラーが前記セ
ンサ要素と信号処理手段との間に電気的通路を与えるよ
うにすることよりなる方法。 8、前記形成工程が半球状のピラーを形成する無制限電
気化学沈積である請求項7の方法。 9、前記形成工程がコラム状のピラーを形成するエッチ
ングである請求項7の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB888827661A GB8827661D0 (en) | 1988-11-26 | 1988-11-26 | Thermal imaging devices |
GB8827661.3 | 1988-11-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02200453A true JPH02200453A (ja) | 1990-08-08 |
Family
ID=10647522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1304946A Pending JPH02200453A (ja) | 1988-11-26 | 1989-11-27 | 熱画像形成装置およびその製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5130542A (ja) |
EP (1) | EP0371657A3 (ja) |
JP (1) | JPH02200453A (ja) |
CA (1) | CA2003823C (ja) |
GB (1) | GB8827661D0 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5314651A (en) * | 1992-05-29 | 1994-05-24 | Texas Instruments Incorporated | Fine-grain pyroelectric detector material and method |
US6175114B1 (en) | 1993-10-29 | 2001-01-16 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Pyroelectric infrared array sensor |
US5625188A (en) * | 1993-10-29 | 1997-04-29 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Pyroelectric infrared array sensor |
US5566046A (en) * | 1994-02-18 | 1996-10-15 | Texas Instruments Incorporated | Microelectronic device with capacitors having fine-grain dielectric material |
KR0147584B1 (ko) * | 1994-03-17 | 1998-08-01 | 윤종용 | 매몰 비트라인 셀의 제조방법 |
JPH07286894A (ja) * | 1994-04-18 | 1995-10-31 | Fujitsu Ltd | 赤外線検知装置の製造方法 |
GB9710843D0 (en) * | 1997-05-28 | 1997-07-23 | Secr Defence | A thermal detector array |
FR2877492B1 (fr) | 2004-10-28 | 2006-12-08 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur bolometrique a isolation thermique par constriction et dispositif de detection infrarouge mettant en oeuvre un tel detecteur bolometrique |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4067104A (en) * | 1977-02-24 | 1978-01-10 | Rockwell International Corporation | Method of fabricating an array of flexible metallic interconnects for coupling microelectronics components |
US4354109A (en) * | 1979-12-31 | 1982-10-12 | Honeywell Inc. | Mounting for pyroelectric detecctor arrays |
US4505844A (en) * | 1982-11-17 | 1985-03-19 | Chevron Research Company | P-Type polyphenoxazine electroactive polymers |
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