JPH02193237A - Ram診断回路 - Google Patents

Ram診断回路

Info

Publication number
JPH02193237A
JPH02193237A JP1011944A JP1194489A JPH02193237A JP H02193237 A JPH02193237 A JP H02193237A JP 1011944 A JP1011944 A JP 1011944A JP 1194489 A JP1194489 A JP 1194489A JP H02193237 A JPH02193237 A JP H02193237A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ram
data
cpu
address
timing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1011944A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Hashimoto
浩司 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP1011944A priority Critical patent/JPH02193237A/ja
Publication of JPH02193237A publication Critical patent/JPH02193237A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はRAMの故障または不良を診断するRAM診
断回−に関し、特に中央処理装置(CPU)に負担をか
けることなく高速で診断できるRAM診断回路に関する
ものである。
[従来の技術] 第4図は従来のRAM診断回路を示すブロック図であり
、図において、(1)はCPU、(5)はプログラムを
記憶しているROM、(13)はアドレス線のドライバ
、(1,4)はデータ線のトランシーバ、(15)はコ
ントロール信号のドライバ、(1B)はアドレス線、(
17)はデータ線、(1B)はコントロール信号線であ
る。(30)は被診断RAMで、第4図ではプリント配
線板等の基板に半導体集積回路で構成されたRAMを複
数個配置したRAMカードである。DSACKO,DS
ACKIはデータ転送およびサイズのアクルッジ信号を
示している。
次に動作について説明する。CP U (1)は、RO
M (5)に記憶されているプログラムにより、RAM
カード(30)の領域全部にデータを書き込みに行く。
例えば、RAMカード(3o)が$ 800000〜8
PPPPP番地までデータを記憶できるとすればその領
域全部にあるデータ、例えば$ 55555555を書
き込む。次にCP U (1)は、RAMカード(30
)からデータを読み込み、先に書き込んだデータと一致
するかどうか調べ、一致していたらRAMカード(30
)は正常であり、一致していなかったら不良と判定する
[発明が解決しようとする課題] 従来のRAM診断回路は以上のように構成されているの
で、CPU(1)が命令コードをフェッチする時間、読
みとったデータが正確であるかどうか判断する時間など
があり、RAMカード(30)が大容量化するにつれて
、診断のためにかなり時間を費さなければならないなど
の問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、CPUに負担をかけずに、高速でRAMを診
断できる回路を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係るRAM診断回路は、CPUの制御のもと
に被診断RAMに書き込んだデータと同一のデータを診
断用データ記憶素子に記憶させ、CPUに代ってアドレ
スを発生するアドレス発生回路及びCPUに代ってタイ
ミングを発生するタイミング発生回路の出力に従って被
診断RAMから読み出したデータと診断用データ記憶素
子から読み出したデータとを比較するものである。
[作 用] この発明においては、CPUに代ってアドレスを発生す
るアドレス発生回路及びCPUに代ってタイミングを発
生するタイミング発生回路の出力に従って、被診断RA
Mから読み出したデータと診断用データ記憶素子から読
み出したデータとを比較して故障などを診断するから、
CPUが命令をフェッチする時間、読み取ったデータが
正確であるかどうか判断する時間等が不要となる。
[実施例] 第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図である
。(1)はCPUで、この実施例ではモトローラ社製3
2ビツトマイクロプロセツサ「MC68020(商標)
」である。(2)はRAMカードに書き込んだデータと
同じものを記憶させる記憶素子で、診断用データ記憶素
子と称することとし、この実施例では2ポ一トRAMで
ある。(8)は2ボートRA M (2)からのデータ
とRAMカード(30)からのデータとを比較するコン
パレータ、(4)はデコーダで、カウンタなどの素子を
選択する回路である。即ち、2ポー) RA M (2
)のチップセレクトのタイミング信号を作ったり、後述
のカウンタ(6)の初期状態をセットする時、つまりR
AMカード(30)の最初のアドレスをセットする時の
タイミング信号を作ったり、後述のD−FF(8)にデ
ータをラッチする時のタイミング信号を作ったりする回
路である。
(5)はプログラムを記憶しているROM、(6)はア
ドレスを生成するカウンタ、(7)はCPU(1)から
のアドレスとカウンタ(6)からのアドレスを選択する
マルチプレクサ、(B)はRAMカードの最終アドレス
を記憶するD−フリップフロップ(以下、D−FFと記
す) 、(9)はカウンタ(6)のアドレスとD −F
 F (8)に記憶しているアドレスとを比較するコン
パレータ、(10)ハCP U(1)からのデータを有
効にするかどうかのゲート、(11)はCP U (1
)の代りにコントロール信号を生成するタイミング発生
回路、(12)はCP U (1)のコントロール信号
とタイミング発生回路(11)からのコントロール信号
を選択するマルチプレクサ、(13)アドレス線のドラ
イバ、(14)データ線のトランシーバ、(15)はコ
ントロール信号のドライノく、(1B)はアドレス線、
(I7)はデータ線、(18)はコントロール信号線、
(19)はRAMカード(30)からのデータ線である
次に動作を説明する。
先ず、CPU制御によりRAMカード(30)にデータ
を書き込む。マルチプレクサ(7)は、CPU(1)の
ライト信号によりAのライン、つまりCPU (1)か
らのアドレスを選択し、ゲート(10)もまたc p 
U (1)からのライト信号によりゲートを開く、また
マルチプレクサ(12)もCP U (1)からのライ
ト信号によりBのライン、つまりCP U (1)から
のコントロール信号を選択する。こうすることによりC
P U (1)からのアドレス発生回路、コントロール
信号はRAMカード(30)に与えられ、RAMカード
(30)にデータが書き込まれる。また、この時、同時
に2ボートRA M (2)にもRAMカード(30)
に書き込んだデータと同じデータを書き込む。
次に、RAMカード(30)からデータを読み出してデ
ータを比較判断する動作について説明する。
先ず、D −F F (8)にRAMカード(30)の
最終アドレスをセットする。次に、カウンタ(6)にR
AMカード(30)の最初のアドレスをセットする。マ
ルチプレクサ(7)はBを選択、マルチプレクサ(12
)はAを選択する。これにより、CPU(1)はRAM
カード(30)から切り離され、その後はCPU (1
)の制御でなくなり、ハードウェアの制御になる。即ち
、タイミング発生回路(11)のタイミングにより、カ
ウンタ(6)のカウンタ値を順次上げていくことにより
、そのアドレス値に応じたデータが入ってくる。その入
ってきたデータと2ボー) RA M (2)からのデ
ータをコンパレータ(3)で、DASCK信号のタイミ
ングに合せて比較し、等しくなかったらCP U (1
)に割り込みをかける。
そして、誤りがあったことを表示する。
同じだったら次のアドレスへと進む。この動作の終了は
コンパレータ(9)で、D −F F (8)の値とカ
ウンタ(6)の値が等しくなった時にCPU(1)に割
り込みをかけ、動作の終了を判断する。
次に、タイミング発生回路(11)の動作について説明
する。この回路はCP U (1)のかわりにコントロ
ール信号を生成し、また、カウンタ(6)の値を上げる
などのタイミングを取る回路である。第2図は、このタ
イミング発生回路の一例を示す回路図である。先ず、カ
ウンタ(20)にCLK (クロック)信号が入ってき
て、カウンタ値を上げる。
ANDゲート(21)は、カウンタ(20)に入ってき
たCLK数が半波長ごとに観測できる。そのANDゲー
ト(21)の値により、NORゲート(22)でAS(
アドレス・ストローブ)、DS(データ・ストローブ)
信号を生成する。ORゲート(23)によりDBEN 
(データやバッファ・イネーブル)信号を生成する。(
24)、 (25)、  (2B)のロジック回路によ
り、S3サイクルの時DACK信号が“Llになってい
ないとCLK信号がカウンタ(2o)に入力されないよ
うに(26)のゲートを閉じる。この理由は、DSAC
K信号は、RAMカード(30)がデータ出力が確定し
たという信号であり、DSACK信号が“L″になって
データ出力が確定するまで現状を維持する。そのため、
CLK入力を止めてカウンタ値が変化しないようにする
。これはCPU (1)のタイミングと同じにするため
である。タイミング発生回路のタイミングを示す線図を
第3図(a)に示す。モトローラ社製32ビツトマイク
ロプロセツサrMc68020 (商標)」のタイミン
グを示す線図である第3図(b)と同じになっているの
がわかる。
なお、第2図に示すタイミング発生回路(11)が動作
するのは、RAMカード(30)からデータを読み出す
ときだけで、このときRAMカード(30)へのR/W
信号は“H°レベルにしている。
上記実施例では、診断用データ記憶素子(2)として2
ボ一トRAMを使用したが、RAMカード(30)のど
のアドレスにも同じデータしか書き込まない場合は、2
ボートRA M (2)にかえて、D−FFを使いデー
タをラッチするだけでもよい。
即ち、RAMカード(30)の全アドレスに同じデータ
を書き込むとすれば2ボートRA M (2)にアドレ
スごとのデータを持つ必要がない。診断を始める前に、
RAMカード(30)に書き込むデータをD−FFにラ
ッチして、次に、そのデータをRAMカード(30)の
全領域に書き込む。そして、D−FFのデータとRAM
カード(30)から読み出したデータとを比較して、等
しいか否か判別する。この場合は、2ボ一トRAMから
のデータかD−FFのデータかの違いだけで、その他の
動作は上記実施例と同じである。
なお、CPU(1>は他のCPtJても同様に実施でき
る。
また、第1図に示す回路をCPUと共に組み込んで、1
チツプ化することもできる。
[発明の効果] この発明は以上説明したとおり、被診断RAMに書き込
んだデータと同一のデータを診断用データ記憶素子に記
憶させて、CPUに代ってアドレスを発生するアドレス
発生回路及びCPUに代ってタイミングを発生するタイ
ミング発生回路の出力に従って、被診断RAMから読み
出したデータと診断用データ記憶素子から読み出したデ
ータとを比較して故障などを診断するから、CPUに負
担をかけることなく高速でRAMを診断することができ
る。また、CPUはRAMを診断している間、他の仕事
が出来るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
はこの発明の一実施例におけるタイミング発生回路の一
例を示す回路図、第3図(a)はタイミング発生回路の
タイミングを示す線図、第3図(b)はM C8802
0(商標)のタイミングを示す線図、第4図は従来のR
AM診断回路を示すブロック図である。 図において、(1)はCPU、<2)は2ボ一トRAM
(診断用データ記憶素子) 、(8)はコンパレータ、
(6)はカウンタ、(11)はタイミング発生回路、(
30)は被診断RAMである。 なお、 す。 図中、 同一符号は同−又は相当部分を示

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 中央処理装置の制御のもとに被診断RAMに書き込んだ
    データと同一データを記憶させる診断用デター記憶素子
    と、前記中央処理装置に代ってアドレスを発生するアド
    レス発生回路と、前記中央処理装置に代ってタイミング
    を発生するタイミング発生回路と、前記アドレス発生回
    路及びタイミング発生回路の出力に従って、前記被診断
    RAMから読み出したデータと前記診断用データ記憶素
    子から読み出したデータとを比較するコンパレータとを
    備えたRAM診断回路
JP1011944A 1989-01-23 1989-01-23 Ram診断回路 Pending JPH02193237A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1011944A JPH02193237A (ja) 1989-01-23 1989-01-23 Ram診断回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1011944A JPH02193237A (ja) 1989-01-23 1989-01-23 Ram診断回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02193237A true JPH02193237A (ja) 1990-07-30

Family

ID=11791759

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1011944A Pending JPH02193237A (ja) 1989-01-23 1989-01-23 Ram診断回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02193237A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5717851A (en) Breakpoint detection circuit in a data processor and method therefor
US5056013A (en) In-circuit emulator
US5497459A (en) System for testing instruction queue circuit and central processing unit having the system
US5619513A (en) Fast, cost-effective method for memory testing
US6728906B1 (en) Trace buffer for a configurable system-on-chip
EP0023413A1 (en) Single Chip Microprocessor having means for selectively outputting instruction decoder control signals
JPS63200249A (ja) 情報処理装置
US20070250740A1 (en) System and method for conducting BIST operations
US7526691B1 (en) System and method for using TAP controllers
JPH02193237A (ja) Ram診断回路
JPS63217452A (ja) メモリアクセスタイミング設定方式
US20030191993A1 (en) Semiconductor device for memory test with changing address information
EP0463352B1 (en) Microprocessor for use in in-circuit emulator having function of discriminating users space and in-circuit emulator space
JPH07198782A (ja) 診断回路
JPS594051B2 (ja) ワンチツプ・マイクロプロセツサのテスト処理方式
US20040107388A1 (en) Microcomputer
JPS59211123A (ja) 半導体集積回路
JPS61155876A (ja) 集積回路の診断方法
JPH0773698A (ja) マルチポートメモリ
JP2584654B2 (ja) データ処理装置
JPH039438A (ja) 診断用回路
JPH01297746A (ja) メモリ診断方式
JPS59121451A (ja) 情報処理装置
JPH09106359A (ja) 半導体集積回路
JPS63174141A (ja) 情報処理装置の試験診断方式