JPH02192044A - マルチビーム分離装置 - Google Patents

マルチビーム分離装置

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JPH02192044A
JPH02192044A JP1008676A JP867689A JPH02192044A JP H02192044 A JPH02192044 A JP H02192044A JP 1008676 A JP1008676 A JP 1008676A JP 867689 A JP867689 A JP 867689A JP H02192044 A JPH02192044 A JP H02192044A
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JP
Japan
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light
light beams
wavelength
incident
light beam
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Pending
Application number
JP1008676A
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English (en)
Inventor
Yuichi Nakamura
裕一 中村
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH02192044A publication Critical patent/JPH02192044A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明はマルチビーム分離装置に係り、より詳細には
複数の光ビームを対象物上に照射し、そこから出射され
た光ビームを各光ビームに分離するマルチビーム分離装
置に関する。
(従来の技術) 近年、文書などの画像情報を記録し、必要に応じてその
画像情報を検索してハードコピー或いはソフトコピーと
して再生し得る光デイスク装置のような画像情報記録再
生装置が開発されている。
光デイスク装置においては、集束性の光ビームが円盤状
記録媒体、即ち光ディスクに向けて照射されて情報が記
録又は再生される。即ち、記録時においては、光ビーム
が照射されることによって記録面上には状態変化が起こ
され、その結果情報は例えばピットとして光ディスクに
記録される。また再生時においては、通常光ビームが情
報記録媒体上に照射され、記録情報に応じて光ビームは
ピットで強度変調される。変調された光ビームが処理さ
れて情報が再生される。記録及び再生の際、光ディスク
が線速一定に回転され、光ビームを光ディスクに向ける
ための光学ヘッドが光デイスク上の半径方向に直線移動
される。
波長の異なる複数の光ビームを利用して情報の記録する
又は再生する情報記録再生装置には、第4図に示される
ようなの光学ヘッドが利用されている。
光源8からは発散性の光ビームL1が出射されコリメー
タレンズ6で平行ビームにされてダイクロイックやプリ
ズム4に入射される。他方の光源9からは発散性の光ビ
ームL2が出射されコリメータレンズ7で平行ビームに
されてダイクリイック・プリズム4に入射される。ダイ
クロイックプリズム4に入射された光ビームL1及び光
ビムL2は、各々その異なる入射面を透過されて接合面
で合成され、同一の出射面から出射される。
即ち、一方の光ビームL1がダイクロイックプリズム4
の接合面を透過され、他方の光ビームL2がその接合面
で反射されることによって合成される。ダイクロイック
・プリズム4 から出射された光ビームL1、L2はビームスプリッタ
3で反射されて対物レンズ2に入射され、光ディスク1
の記録膜上の隣接した領域に照射される。光ディスクl
の記録膜上の隣接した領域に照射された光ビームL1、
L2は情報の記録、再生及び消去の為に利用されて再び
対物レンズ2に向けて反射される。反射された光ビーム
L1、L2は対物レンズ2及びビームスプリッタ3を透
過されてダイクロイック・プリズム5に入射される。ダ
イクロイックプリズム5に入射された光ビムは再び光ビ
ームL1、L2に分離される。即ち、ダイクロイックプ
リズム5に入射された光ビームL1、L2のうち、一方
の光ビームL1はその接合面で反射され、検出レンズ1
3を介して光検出器上に照射される。また他方の光ビー
ムL2は透過されて、検出レンズ12を介して光検出器
上に照射される。
(発明が解決しようとする課題) 波長の異なる複数の光ビームを合成又は分離するために
設けられたダイクロイック・プリズムは、所望の波長の
光ビームが透過又は反射されるようにその特性が予め設
定されている。すなわち、ダイクロイック・プリズムの
各表面及びその接合面には波長依存特性を有するコーテ
ィングが施され、このコーティングの特性が利用される
べき一方の光ビームの波長が透過され、他方の光ビーム
が反射されるように選択されている。このようにダイク
リイック・プリズムは、所望の光学特性を得るために特
別のコーティングが施さなければならない。そのため光
学部品の製造が複雑となり非常に高価となる。
(課題を解決するための手段) この発明のマルチビーム分離装置は、波長の異なる複数
の光ビームを出射する複数の光源手段と、光源手段から
出射された複数の光ビームを波長毎に偏向させて合成す
る手段と、合成手段で合成された光ビームを対象物に集
光するための手段と、対象物からの前記合成された光ビ
ームを異なる波長毎に偏向させて分離する手段を備える
(作用) この発明によれば、構造がより簡単でコストの低いマル
チビーム分離手段が提供される。
(実施例) 第1図にはこの発明の一実施例のマルチビーム分離手段
を備えたマルチビーム光学ヘッドが示されている。
第1図において、第1及び第2の光源8.9には発振波
長の異なるレーザダイオードのような半導体レーザがそ
れぞれ利用される。例えば第1光源8から出射される光
ビームL1の波長λIは第2光源9から出射される光ビ
ームL2の波長λ2よりも長く設定されている。第1の
光源8から出射された発散性の光ビームはLlはコリメ
ータレンズ6でコリメートされ、入射された複数の光ビ
ムを各々偏向して合成するための光透過性光学部材23
の入射面23Aに入射される。一方第2の光源8から出
射された発散性の光ビームL2は、コリメータレンズ6
でコリメートされ、第1の光ビームL1の入射されるべ
き同一の光透過性光学部材23の同一の入射面23Aに
異なる角度で入射される。互いに異なる角度で入射され
た波長の異なる光ビームL1、L2は、光透過性部材2
3で各々は波長毎に異なる角度で偏向されて合成され、
互いに平行な光ビームに変換される。合成された光ビー
ムL1、L2はビームスプリッタ3で反射されて集光手
段としての対物レンズ2に入射される。対物レンズ2に
入射された光ビームL1、L2はそれぞれ集束されて光
デイスク1上の記録膜上の隣接した所望の記録領域に照
射される。照射される光ビームによって情報の記録、再
生及び消去が可能となる。即ち記録時には強度変調され
た光ビームが照射されて記録膜にピット等の状態変化が
起こされ、再生時には一定の低強度のレザビームが照射
され、トラック内のビット等で形成された記録領域で強
度変調されて反射される。
更にまた光磁気ディスクのように消去可能な装置におい
ては、高強度のレーザビームを記録領域に照射すること
によって情報が消去される。
光デイスク上に照射された光ビームは、その記録膜で反
射され、反射された発散性の光ビームL1、L2は、そ
れぞれ対物レンズ2を経て再びビームスプリッタ3に戻
される。ビームスプリッタ3に戻された各光ビームL1
、L2は透過されて検出レンズ12に入射される。尚検
出レンズ12は好ましくは分散能の大きな材料で構成さ
れた凸レンズで構成され、光ビームを集光する機能を有
するともに、波長の異なる複数の光ビームの集光点をそ
の波長毎に光軸方向にずらす機能を有する。検出レンズ
12を透過された光ビームL1、L2は、次第に集光さ
れながら光透過性光学部材23に入射される。光透過性
光学部材23に入射された光ビームは、光透過性光学部
材23を構成する光学ガラスの分散能に応じて波長毎に
異なる角度で偏向され、互いに個々の光ビームL1、L
2に再び分離される。分離された一方の光ビームL1は
集束されて光検出器17内に設けられた光検出領域17
Aに照射される。他方の光ビームL2もまた集束されて
光検出器17内の光検出領域17Aに隣接して設けられ
た光検出領域17B上に照射される。光検出領域17A
、17B上に照射される各光ビームの強度信号は電気信
号に変換されて所定の方法で処理される。例えば光検出
器で検出された信号は信号処理回路で処理されて情報再
生信号として利用される。
第2図乃至第3図にはこの発明のマルチビーム分離装置
に設けられている主要な光学部品の構造及び特性が示さ
れてい色。
第2図及び第3図には、波長の異なる複数の光ビームを
波長毎に異なる角度で偏向して合成又は分離するこの発
明の一実施例の光透過性光学部材23.24に対応する
三角プリズム16が示されている。光透過性光学部材2
3.24は好ましくは同一の材料及び形状で形成され、
光透過性光学部材は入射される光ビームの状態に応じて
合成又は分離の機能を有している。第2図には波長の異
なる複数の光ビームが合成されて入射された場合の実施
例が記載される。光透過性光学部材24は、好ましくは
分散能の大きいガラスで構成され、好ましくは分散能の
逆数であるアツベ数が50以下のフリント系ガラスで構
成される。また光透過性光学部材23.24の形状は、
好ましくは第2図に示されるようにプリズム形状に成型
される。換言すると、光透過性光学部材24の形状は複
数の波長の異なる光ビームがそこを通過されるとき、そ
の波長に応じて異なる角度で偏向されて合成又は分離さ
れるように設計される。
例えば波長の異なる3つの光ビームL1(λ1) 、L
2 (λ2) 、L3 (λ3)で構成される合成され
た光ビームが一定の入射角でプリズム16の入射面に入
射されると、光ビームはその波長に応じて異なる方向に
偏向される。即ち、例えば入射される光ビームの波長に
λ1〉λ2〉λ3の関係があるとする。このときプリズ
ムに入射された光ビームは、短波長の光ビームの屈折角
が長波長の光ビームの屈折角よりも大きいため波長の長
さに応じて3つの光ビームL1、L2、L3に分離され
る。このとき光ビームの分離はプリズムを構成する光学
材料の分散能が大きく、及び光ビームの波長の差が大き
いほど明白に分離される。なお第2図に記載された光路
に対して光ビムLl、L2、L3が逆方向から入射され
た場合は全く同一の光路を辿って互いに合成される。
このことを利用することによって、発振波長の異なる複
数の光源から出射される光ビームは光透過性光学部材で
合成される。
第3図には第2図に示されるプリズム16の特性を利用
した発明の一実施例が示されている。例えば特定のビー
ム断面を有して同一方向がら互いに合成されて入射され
る波長の異なる光ビームは、プリズム16で波長に応じ
て異なる角度で偏向されて2つの光ビームLl、L2に
分離される。分離された各光ビームL1、L2は凸レン
ズなどの検出レンズ12で集光され、光ビームL1は光
検出器の検出領域17Aに入射され、他方のビームL2
は光検出器の検出領域17Bに入射される。
各検出領域17A、17Bに入射された光ビームはその
強度に応じて電気信号に変化されて所定の方法で処理さ
れる。
第1図及び第2図に示されるように、この発明のマルチ
ビーム分離装置には波長の異なる複数の光ビームを波長
毎に異なる角度で偏向して合成するため又は波長の異な
る複数の光ビームの合成された光ビームを波長毎に異な
る角度で偏向して分離するために光透過性光学部材が備
えられている。
この実施例に記載されるマルチビーム分離装置において
は、光ビームを波長毎に異なる角度で偏向して合成又は
分離するためにプリズムが利用されている。しかしなが
ら、プリズムと交換に同一の機能を有する他の光透過性
光学部材が利用されてもよい。
(発明の効果) この発明によれば、構造がより簡単でコストのの低いマ
ルチビーム分離装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のマルチビーム分離装置を備えたマル
チビーム光学ヘッドの正面図、第2図は第1図の光透過
性光学部材の特性を示す波長の異なる光ビームの光路図
、第3図は第2図の光透過性光学部材の特性を利用した
この発明の要部を示す図、第4図は従来のマルチビーム
光学ヘッドの正面図である。 1・・・光ディスク、2・・・対物レンズ、3・・・ビ
ームスプリッタ、4・・・ダイクロイック・プリズム、
5・・・ダイクロイック・プリズム、6・・・コリメー
タレンズ、7・・・コリメータレンズ、8・・・光源、
9・・・光源、12・・・検出レンズ、13・・・検出
レンズ、14・・・光検出器、15・・・光検出器、1
7・・・光検出器、17A、17B・・・光検出領域、
23・・・光透過性光学部材、24・・・光透過性光学
部材、Ll、L2、L3・・・光ビーム。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)波長の異なる複数の光ビームを出射する複数の光
    源手段と、 前記光源手段から出射された複数の光ビームを波長毎に
    偏向させて合成する手段と、 前記合成手段で合成された光ビームを対象物に集光する
    ための手段と、 前記対象物からの前記合成された光ビームを前記異なる
    波長毎に偏向させて分離する手段を備えることを特徴と
    するマルチビーム分離装置。
JP1008676A 1989-01-19 1989-01-19 マルチビーム分離装置 Pending JPH02192044A (ja)

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JP1008676A JPH02192044A (ja) 1989-01-19 1989-01-19 マルチビーム分離装置

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JPH02192044A true JPH02192044A (ja) 1990-07-27

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0810589A2 (en) * 1996-05-27 1997-12-03 Sony Corporation Optical pickup device with a plurality of laser couplers
WO2001073774A1 (fr) * 2000-03-29 2001-10-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif d'exploration optique et dispositif laser
US6504812B2 (en) 1996-05-27 2003-01-07 Sony Corporation Optical pickup device with a plurality of laser couplers
US7038994B1 (en) 1996-05-27 2006-05-02 Sony Corporation Optical pickup device with a plurality of laser couplers
WO2009081913A1 (ja) * 2007-12-26 2009-07-02 Nec Corporation 光源装置

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