JPH08241531A - 光ピックアップシステム - Google Patents

光ピックアップシステム

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JPH08241531A
JPH08241531A JP7350440A JP35044095A JPH08241531A JP H08241531 A JPH08241531 A JP H08241531A JP 7350440 A JP7350440 A JP 7350440A JP 35044095 A JP35044095 A JP 35044095A JP H08241531 A JPH08241531 A JP H08241531A
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JP
Japan
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light beam
light
recording surface
light source
reflected
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JP7350440A
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English (en)
Inventor
Kwang-Suk Lee
光錫 李
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Daiu Denshi Kk
WiniaDaewoo Co Ltd
Original Assignee
Daiu Denshi Kk
Daewoo Electronics Co Ltd
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Publication date
Application filed by Daiu Denshi Kk, Daewoo Electronics Co Ltd filed Critical Daiu Denshi Kk
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 一対の光源を用いて、一対の記録面を有す
る光ディスク上に記録された情報を効果的に再生し得る
改善された光ピックアップシステムを提供する。 【解決手段】 本発明のシステムは、一対の光源21
0、212と、一対の光電セル242、244を備え
た、光ビームの強度を測定する光検出器240と、光検
出器240と光ディスク250との間に設けられ、光軸
に対して予め定められた角度で傾斜をもって設けられた
第1及び第2表面222、224を有し、各々の光源2
10、212から発せられた光ビームを部分的に反射、
部分的に透過して光検出器240へ送るビームスプリッ
タ220と、ビームスプリッタ220と光ディスク25
0との間に設けられる対物レンズ230と、一対の光電
セルからの出力信号を比較して、フォーカシングエラー
信号を発生する信号検出ユニット260とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ピックアップシ
ステムに関し、特に、向上された光効率を有する改善さ
れた光ピックアップシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、多重記録面を有する光情報記録
ディスクの主な問題点の一つが、光ピックアップシステ
ムの構成にある。
【0003】図1には、多重記録面を有する光ディスク
上の情報格納エリアから信号を再生し得る従来の光ピッ
クアップシステム100の模式図が示されている。この
従来の光ピックアップシステム100は、本願発明と出
願人を同じくする係属中の米国特許出願明細書に、「OP
TICAL PICKUP SYSTEM FOR USE WITH AN OPTICAL DISKHA
VING MULTIPLE RECORDING SURFACES」との名称で開示さ
れているように、互いに異なる波長(例えば、λ1
λ2)の第1及び第2光ビームを各々発する第1及び第
2光源110、112と、入射する光ビームの一部は反
射させ、その他の部分は透過させる一対の第1及び第2
表面122、124が設けられたビームスプリッタ12
0と、対物レンズ130と、第1及び第2記録面54、
58が設けられた光ディスク50、第1及び第2光電セ
ル142、144が設けられた光検出器140と、一対
の入力端子が設けられた信号検出ユニット150とから
構成されている。
【0004】この光ピックアップシステム100におい
て、第1光源110が光ディスク50の第1記録面54
上に記録された情報信号を再生する間、第2光源112
はオフ状態にある。この場合、第1光源110(例え
ば、レーザダイオード)から放射された第1光ビーム
は、ビームスプリッタ120へ入射される。この第1光
ビームは、ビームスプリッタ120内に組み込まれた第
2表面を通じて部分的に透過され、透過された第1光ビ
ーム(以下、第1透過光ビームと称す)を生成する。そ
の後、この第1透過光ビームは、対物レンズ130によ
って第2記録面58を通過して第1記録面54に当てら
れる。ここで、第2記録面58は、波長λ2以外の他の
波長を有する光ビームは透過させる。波長λ1の光ビー
ムのみ反射させ、その他の波長の光ビームは透過させる
第1記録面54上に集光された第1透過光ビームは、反
射されて第2記録面58を通過して、再び対物レンズ1
30へ向かう。この反射された第1光ビーム(以下、第
1反射光ビームと称す)はビームスプリッタ120の第
1表面122へ入射される。その後、第1反射光ビーム
は、ビームスプリッタ120の第1表面122で再び反
射されて、光検出器140へ進む。
【0005】光検出器140には、光ビームの強度を示
す出力信号を発生し得る第1及び第2光電セル142、
144が組み込まれている。これらの第1及び第2光電
セル142、144からの出力信号は信号検出ユニット
150の一対の入力端子へ供給される。この信号検出ユ
ニット150は、光検出器140の第1及び第2光電セ
ル142、144からの出力信号を比較してフォーカシ
ングエラー信号を発生する。
【0006】一方、光検出器140は、第2光源112
のオン状態にて、光ディスク50の第2記録面58から
の記録情報信号を読出す。この場合、第2光源112
(例えば、レーザダイオード)からの第2光ビームはビ
ームスプリッタ120へ入射された後、ビームスプリッ
タ120内に設けられた第2表面124によって対物レ
ンズ130へ向けて部分的に反射される。その後、反射
された第2光ビームの一部は対物レンズ130により集
光されると、波長λ2以外の他の波長を有する光ビーム
は透過させる第2記録面58上に入射される。第2記録
面58上に当てられた第2光ビームの一部は、対物レン
ズ130へ向けて再び反射されて、反射された第2光ビ
ーム(以下、第2反射光ビームと称す)となる。この第
2反射光ビームは、ビームスプリッタ120の第1記録
面により光検出器140へ部分的に反射されて、光ディ
スク50の第2記録面58に対するフォーカシングエラ
ー信号を発生する。
【0007】このような光ピックアップシステム100
において、光検出器の受光面上に入射される光ビームの
強度は、次式のように計算される。
【0008】i=rI・k・Rs 2・Ro 2
【0009】ここで、 i:光検出器の受光面上に入射される光ビームの強度 I:光源の強度 r:放射損率 k:ナイフエッジとして用いられるビームスプリッタの
損率 Rs:ビームスプリッタの損率 RO:対物レンズの損率 である。
【0010】rが0.8、Iが0.3、kが0.5、Rsが0.5、
Oが0.97である場合、iは0.028mWとなる。このような
光ピックアップシステム100で、ビームスプリッタの
第1及び第2表面に於ける光ビームの損失は、光ビーム
の半分に達するため、光ビームの効率が低下するという
不都合がある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の主な
目的は、光ビームの光効率を向上させ得る、多重記録面
を有する光ディスクに用いられる改善された光ピックア
ップシステムを提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明によれば、第1及び第2記録面を有し、該
各記録面上に渦巻状にまたは円心的に整列された複数の
トラックが設けられている光ディスクに記録された情報
を再生する光ピックアップシステムであって、互いに対
向するように配置され、互いに異なる波長を有する第1
及び第2光ビームを発する一対の第1及び第2光源と、
前記光ディスクに対向するように配置され、組み込まれ
た一対の光電セルにて入射された光ビームの強度を測定
し、対応する出力信号を発生する光検出器と、前記光検
出器と前記光ディスクの間に設けられ、前記第1光源側
の第1表面と、前記第2光源側の第2表面とを有するビ
ームスプリッタと、前記ビームスプリッタと前記光ディ
スクとの間に設けられ、前記ビームスプリッタからの前
記第1光ビームを前記第1記録面上の集束点に、前記第
2光ビームを前記第2記録面上の集束点に各々集束する
と共に、前記第1及び第2記録面の各々から反射された
前記第1及び第2光ビームの各々を前記ビームスプリッ
タの前記第1及び第2表面に集束する対物レンズと、前
記光検出器の前記光電セルの各々に接続され、前記光電
セルの各々からの出力信号を比較することによって、フ
ォーカシングエラー信号を発生する信号検出ユニットと
を有し、前記ビームスプリッタの第1表面及び第2表面
が、入射する前記光ビームの一部は反射し、その他の部
分は透過させ、また、前記第1表面と前記第2表面とを
分かつ部分によって形成されるエッジラインの中点と、
前記第1及び第2光ビームの各集束点とを結ぶ光軸に対
して予め定められた角度だけ傾斜された形で設けられる
ことを特徴とし、前記第1光ビームが前記第1及び第2
表面を各々通過した第1及び第2部分に分けられ、各部
分が前記光ディスクの第1記録面上に集束され、前記第
1記録面から反射された前記第1部分が前記第2表面を
介して前記第2光源に向かって進み、前記第1記録面か
ら反射された前記第2部分が前記第1表面を介して前記
光検出器に入射され、前記第2光源からの前記第2光ビ
ームが前記第2表面により前記光ディスクの前記第2記
録面に向けて部分的に反射され、前記第2記録面からの
前記第2光ビームが前記第1表面により変向されて前記
光検出器上に入射することによって、前記光検出器が前
記光ディスクの前記第1及び第2記録面の各々からの情
報に応じて、対応する出力信号を選択的に発生できるこ
とを特徴とする光ピックアップシステムが提供される。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。
【0014】図2には、本発明の好適な実施例による光
ピックアップシステム200の概略図が示されている。
【0015】図示するように、本発明の光ピックアップ
システム200は、互いに異なる波長、例えば、λ1
λ2を有する第1及び第2光ビームを発する第1及び第
2光源210、212と、波長λ1の以外の光ビームは
透過させる第1表面222及び波長λ2の以外の光ビー
ムは透過させる第2表面224が組み込まれたビームス
プリッタ220と、対物レンズ230と、第1及び第2
記録面254、258を有する光ディスク250と、第
1及び第2光電セル242、244を備えた光検出器2
40と、一対の入力端子を有する信号検出ユニット26
0とを含む。
【0016】この光ピックアップシステム200におい
て、第1光源210が光ディスク250の第1記録面2
54上に記録された情報信号を再生する間、第2光源2
12はオフ状態にある。この場合、第1光源210(例
えば、レーザダイオード)から発する第1光ビームは、
ビームスプリッタ220の第1表面222へ入射され
る。このビームスプリッタ220の第1及び第2表面2
22、224は、第1表面と第2表面とを分かつ部分に
よって形成されるエッジラインの中点と、第1及び第2
光ビームの各集束点とを結ぶ光軸に対して、予め定めら
れた角度θだけ傾斜された形で設けられている。第1光
ビームの集束点とは、第1光ビームが第1記録面254
上に集束される点を指し、第2光ビームの集束点もやは
り、第2光ビームが第2記録面258上に集束される点
を指す。予め定められた角度θは45°であるのが好ま
しい。第1光ビームの一部は、ビームスプリッタ220
内に設けられた第1表面222で対物レンズ230へ向
けて反射される。反射された第1光ビームは、対物レン
ズ230によって光ディスク250の第1記録面254
に集光される。このとき、第1反射光ビームは、波長λ
2以外の他の波長を有する光ビームは透過させる第2記
録面258を通過する。第1記録面254上の集光され
た第1光ビームは、再び反射されて光ディスク25の第
2記録面258を通じて対物レンズ230へ向かう。対
物レンズ230は、再度反射された第1反射光ビームを
第2表面224に集光する。この第2表面224は、波
長λ2の光ビームのみ反射させ、その他の波長の光ビー
ムは透過させるものであり、これによって反射された第
1反射光ビームは光検出器240へ当てられ、光検出器
240は、出力信号としての光ビームを受光することに
なる。
【0017】一方、ビームスプリッタ220を通過する
第1光ビームの他の部分は、第2光源212の方に向か
って進むが、これによって光検出器240が、第1光ビ
ームの他の部分を、出力信号として受光しないようにす
る。
【0018】上記のように、ビームスプリッタ220の
第1及び第2表面222、224を分かつ部分によって
形成されるエッジラインが、従来のナイフエッジとして
機能することを理解されたい。第1及び第2光電セル2
42、244は、光ビームの強度を示す出力信号を発生
することができる。これらの第1及び第2光電セル24
2、244からの出力信号は、信号検出ユニット250
の一対の入力端子へ入力される。この信号検出ユニット
250は、入力される光検出器240の第1光電セル2
42からの出力信号と第2光電セル244からの出力信
号とを比較することによって、フォーカシングエラー信
号を発生する。
【0019】公知のように、情報再生信号は第1及び第
2光電セル242、244からの出力信号を加算するこ
とによって得ることができ、トラッキングエラー信号
は、プッシュプル法(push-pull method)を適用するこ
とによって得ることができる。
【0020】図3(A)は、光ディスク250が、フォ
ーカシングエラー信号がゼロとなる合焦点に位置する場
合、ビームスポット246が第1光電セル242及び第
2光電セル244上に形成される。光ディスク250が
合焦点、即ち、対物レンズ230から離れると、図3
(B)に示すように、ビームスポット247は第2光電
セル244側に形成される。光ディスク250が対物レ
ンズ230に向かって近づく場合には、図3(C)の符
号248で示すように、第1光電セル242側に形成さ
れる。
【0021】図2を再度参照すると、第2記録面258
からの記録された情報を再生するために、光検出器24
0は第2光源212のオンの状態で、光ディスク250
の第2記録面258に記録された情報信号を読み出す。
図2中の破線は、説明の便宣上、光ビームの経路を示す
ことに注意されたい。この場合、第2光源212(例え
ば、レーザダイオード)から発する第2光ビームの一部
はビームスプリッタ220へ入って、ビームスプリッタ
220内に設けられた第2表面224によって対物レン
ズ230へ部分的に反射される。その後、反射された第
2光ビームの一部は、対物レンズ230によって波長λ
2以外の他の波長の光ビームは透過させる第2記録面2
58上に集束される。この集束された第2光ビームの一
部は対物レンズ230へ再び反射されて反射光ビームと
なる。この反射光ビームは、対物レンズ230を通じて
ビームスプリッタ220の第1表面222で反射されて
光検出器140上へ集束され、これによって光ディスク
250の第2記録面258に対するフォーカシングエラ
ー信号が発生する。
【0022】一方、ビームスプリッタ220の第2表面
224を通過した第2光ビームの他の部分は、第1光源
210の方に向かって進むことによって、光検出器24
0が第2光ビームの他の部分を、出力信号として受光し
ないようにする。ここで、第2記録面258のフォーカ
シングエラー信号を検出する過程は、第1記録面254
についての検出過程と同じであることに注意されたい。
【0023】このような光ピックアップシステム200
において、光検出器240の受光面上に入射される光ビ
ームの強度は、下記式のように計算される。
【0024】i=rI・k・Ro 2
【0025】ここで、 i:光検出器の受光面上に入射される光ビームの強度 I:光源の強度 r:放射損率 k:ナイフエッジの損率 RO:対物レンズの損率 である。
【0026】rが0.8で、Iが0.3で、kが0.5で、RO
0.97である場合に、光ビームの強度iは、0.1129mWとな
る。本発明のシステムに於いて、受光面上に入射される
光ビームの強度は、従来技術に比べて4倍の光効率を有
する。
【0027】図4には、電圧及び変位の関数で測定され
たフォーカシングエラー信号の曲線270が示されてい
る。図中の矢印272は、約15μmであるフォーカス
制御距離の範囲を表す。
【0028】上記に於いて、本発明の特定の実施例につ
いて説明したが、本明細書に記載した特許請求の範囲を
逸脱することなく、当業者は種々の変更を加え得ること
は勿論である。
【0029】
【発明の効果】従って、本発明によれば、一対の光源を
用いて、一対の記録面を有する光ディスク上に記録され
た情報を効率的に再生することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の光ピックアップシステムを示す概略図で
ある。
【図2】本発明の光ピックアップシステムを示す概略図
である。
【図3】A〜Cよりなり、Aは光ディスクが合焦点に位
置する場合、Bは光ディスクが合焦点から離れている場
合、Cは光ディスクが合焦点より近づいている場合に形
成されるビームスポットを各々示した模式図である。
【図4】光ディスクの変位と、フォーカシングエラー信
号の電圧との間の関係を示す曲線のグラフである。
【符号の説明】
50 光ディスク 54 第1記録面 58 第2記録面 100 光ピックアップシステム 110 第1光源 112 第2光源 120 ビームスプリッタ 122 第1表面 124 第2表面 130 対物レンズ 140 光検出器 142 第1光電セル 144 第2光電セル 150 信号検出ユニット 200 光ピックアップシステム 210 第1光源 212 第2光源 220 ビームスプリッタ 222 第1表面 224 第2表面 230 対物レンズ 240 光検出器 242 第1光電セル 244 第2光電セル 246 ビームスポット 247 (光ディスクが合焦点より離れている場合の)
ビームスポット 248 (光ディスクが合焦点より近くにある場合の)
ビームスポット 250 光ディスク 254 第1記録面 258 第2記録面 260 信号検出ユニット 270 フォーカシングエラー信号 272 フォーカス制御距離の範囲

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1及び第2記録面を有し、該各記録
    面上に渦巻状にまたは円心的に整列された複数のトラッ
    クが設けられている光ディスクに記録された情報を再生
    する光ピックアップシステムであって、 互いに対向するように配置され、互いに異なる波長を有
    する第1及び第2光ビームを発する一対の第1及び第2
    光源と、 前記光ディスクに対向するように配置され、組み込まれ
    た一対の光電セルにて入射された光ビームの強度を測定
    し、対応する出力信号を発生する光検出器と、 前記光検出器と前記光ディスクの間に設けられ、前記第
    1光源側の第1表面と、前記第2光源側の第2表面とを
    有するビームスプリッタと、 前記ビームスプリッタと前記光ディスクとの間に設けら
    れ、前記ビームスプリッタからの前記第1光ビームを前
    記第1記録面上の集束点に、前記第2光ビームを前記第
    2記録面上の集束点に各々集束すると共に、前記第1及
    び第2記録面の各々から反射された前記第1及び第2光
    ビームの各々を前記ビームスプリッタの前記第1及び第
    2表面に集束する対物レンズと、 前記光検出器の前記光電セルの各々に接続され、前記光
    電セルの各々からの出力信号を比較することによって、
    フォーカシングエラー信号を発生する信号検出ユニット
    とを有し、 前記ビームスプリッタの第1表面及び第2表面が、入射
    する前記光ビームの一部は反射し、その他の部分は透過
    させ、また、前記第1表面と前記第2表面とを分かつ部
    分によって形成されるエッジラインの中点と、前記第1
    及び第2光ビームの各集束点とを結ぶ光軸に対して予め
    定められた角度だけ傾斜された形で設けられることを特
    徴とし、 前記第1光ビームが前記第1及び第2表面を各々通過し
    た第1及び第2部分に分けられ、各部分が前記光ディス
    クの第1記録面上に集束され、前記第1記録面から反射
    された前記第1部分が前記第2表面を介して前記第2光
    源に向かって進み、前記第1記録面から反射された前記
    第2部分が前記第1表面を介して前記光検出器に入射さ
    れ、前記第2光源からの前記第2光ビームが前記第2表
    面により前記光ディスクの前記第2記録面に向けて部分
    的に反射され、前記第2記録面からの前記第2光ビーム
    が前記第1表面により変向されて前記光検出器上に入射
    することによって、前記光検出器が前記光ディスクの前
    記第1及び第2記録面の各々からの情報に応じて、対応
    する出力信号を選択的に発生できることを特徴とする光
    ピックアップシステム。
  2. 【請求項2】 前記予め定められた角度が、45°で
    あることを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ
    システム。
  3. 【請求項3】 前記第1光源で前記光ディスクの前記
    第1記録面からの情報信号を再生する間、前記第2光源
    がオフ状態であることを特徴とする請求項1に記載の光
    ピックアップシステム。
  4. 【請求項4】 前記第2光源で前記光ディスクの前記
    第2記録面からの情報信号を再生する間、前記第1光源
    がオフ状態であることを特徴とする請求項1に記載の光
    ピックアップシステム。
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