JPH0218675B2 - - Google Patents
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- JPH0218675B2 JPH0218675B2 JP13103084A JP13103084A JPH0218675B2 JP H0218675 B2 JPH0218675 B2 JP H0218675B2 JP 13103084 A JP13103084 A JP 13103084A JP 13103084 A JP13103084 A JP 13103084A JP H0218675 B2 JPH0218675 B2 JP H0218675B2
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- welding
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- spatter
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- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 28
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 claims description 14
- 239000003517 fume Substances 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
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- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/095—Monitoring or automatic control of welding parameters
- B23K9/0956—Monitoring or automatic control of welding parameters using sensing means, e.g. optical
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Arc Welding In General (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はアーク画像検出装置に係り、特に炭酸
ガスアーク溶接のようなスパツタあるいは粉塵煙
(以下ヒユームと称す)の発生の多い溶接法にお
いて、溶接中のワイヤ先端のアーク画像を正確に
検出するに好適なアーク画像検出装置に関する。
ガスアーク溶接のようなスパツタあるいは粉塵煙
(以下ヒユームと称す)の発生の多い溶接法にお
いて、溶接中のワイヤ先端のアーク画像を正確に
検出するに好適なアーク画像検出装置に関する。
第4図は従来のアーク画像検出装置を示し、1
は溶接トーチ、2は消耗電極式の溶接ワイヤ(以
下、単にワイヤと称す)であり、このワイヤ2と
被溶接部材3との間に電圧が印加されてアーク4
が発生する。
は溶接トーチ、2は消耗電極式の溶接ワイヤ(以
下、単にワイヤと称す)であり、このワイヤ2と
被溶接部材3との間に電圧が印加されてアーク4
が発生する。
このアーク画像検出装置は、前記アーク4の減
光用フイルタ群5、レンズ系6、ITVカメラあ
るいはCCDセンサなどのアーク画像検出器7か
ら成る光学系8と、溶接中に前記アーク4および
その近傍から発生するスパツタあるいはヒユーム
から前記光学系8を保護するアーク観測用窓(例
えば耐熱ガラス等)9とから構成されている。
光用フイルタ群5、レンズ系6、ITVカメラあ
るいはCCDセンサなどのアーク画像検出器7か
ら成る光学系8と、溶接中に前記アーク4および
その近傍から発生するスパツタあるいはヒユーム
から前記光学系8を保護するアーク観測用窓(例
えば耐熱ガラス等)9とから構成されている。
このような従来のアーク画像検出装置にあつて
は、その光学系8を、スパツタ、ヒユームから保
護する目的で、スパツタ、ヒユームの影響を受け
にくい位置、即ちアーク光から十分離れた位置に
配設することが多い、そのため溶接トーチ周辺に
場所をとるなど、装置が大型になつて、溶接ロボ
ツトへの適用が困難となる問題がある。
は、その光学系8を、スパツタ、ヒユームから保
護する目的で、スパツタ、ヒユームの影響を受け
にくい位置、即ちアーク光から十分離れた位置に
配設することが多い、そのため溶接トーチ周辺に
場所をとるなど、装置が大型になつて、溶接ロボ
ツトへの適用が困難となる問題がある。
本発明は上述した従来技術の問題点を解決する
ためになされたもので、その目的はアーク観測用
窓へのスパツタおよびヒユームの付着を防止して
鮮明なアーク画像を得ると共に、装置全体の小型
化を図ることによつて自動溶接ロボツトへ好適に
適用できるアーク画像検出装置を提供することに
ある。
ためになされたもので、その目的はアーク観測用
窓へのスパツタおよびヒユームの付着を防止して
鮮明なアーク画像を得ると共に、装置全体の小型
化を図ることによつて自動溶接ロボツトへ好適に
適用できるアーク画像検出装置を提供することに
ある。
この目的を達成するために、本発明は、前記溶
接アークの光を導びくアーク観測用の透光孔を有
する光導入部材を溶接ワイヤ先端と前記光学式検
出器との間に設け、その透光孔内の後方側に、ア
ーク観測用光学系の光軸に対して所定の角度傾け
たアーク観測窓を配設し、かつ該アーク観測窓の
手前に、粗大スパツタのアーク観測窓への侵入を
防止する格子を設け、前記アーク観測窓と前記格
子との間に、スパツタ冷却用ガス流路を臨ませた
ことを特徴とする。
接アークの光を導びくアーク観測用の透光孔を有
する光導入部材を溶接ワイヤ先端と前記光学式検
出器との間に設け、その透光孔内の後方側に、ア
ーク観測用光学系の光軸に対して所定の角度傾け
たアーク観測窓を配設し、かつ該アーク観測窓の
手前に、粗大スパツタのアーク観測窓への侵入を
防止する格子を設け、前記アーク観測窓と前記格
子との間に、スパツタ冷却用ガス流路を臨ませた
ことを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を第1図によつて説明
する。第1図は本実施例によるアーク画像検出装
置の構成図を示している。このアーク画像検出装
置は、アーク観測用透光孔(以下、透光孔と称
す)10と、アーク観測窓11と、格子12と、
フイルタ群13と、検出器14とを備えている。
する。第1図は本実施例によるアーク画像検出装
置の構成図を示している。このアーク画像検出装
置は、アーク観測用透光孔(以下、透光孔と称
す)10と、アーク観測窓11と、格子12と、
フイルタ群13と、検出器14とを備えている。
前記透光孔10は、筒体15の孔と溶接トーチ
1の支持部材16に穿つた孔とで形成されてお
り、筒体15と支持部材16により光導入部材が
形成されている。また、透光孔10は、アーク画
像を十分認識できる大きさとなつている。
1の支持部材16に穿つた孔とで形成されてお
り、筒体15と支持部材16により光導入部材が
形成されている。また、透光孔10は、アーク画
像を十分認識できる大きさとなつている。
前記アーク観測窓11は、例えば耐熱ガラスか
ら成つていて、透光孔内の後方部に配置され、か
つ検出器14の光軸Zに対して所定の角度傾けら
れている。
ら成つていて、透光孔内の後方部に配置され、か
つ検出器14の光軸Zに対して所定の角度傾けら
れている。
前記格子12は、例えば粗大スパツタの通過を
阻止できる網目状に形成されていて、前記アーク
観測窓11の手前に配置されている。
阻止できる網目状に形成されていて、前記アーク
観測窓11の手前に配置されている。
前記フイルタ群13は、アーク観測窓11を通
過したアーク像を減光するもので、透光孔10と
検出器14との間に配置されている。
過したアーク像を減光するもので、透光孔10と
検出器14との間に配置されている。
前記検出器14は、フイルタ群13で減光され
たアーク像を撮像できるようになつている。
たアーク像を撮像できるようになつている。
そして、前記筒体15、フイルタ群13、検出
器14は前記支持部材16に保持されると共に、
透光孔10の先端部がアーク点に向けられてい
る。また支持部材16内には、前記格子12とア
ーク観測窓11との間の透光孔10に冷却ガスを
導入するガス流路17が設けられている。この冷
却ガスとしては、例えば溶接トーチ1内を流れる
シールドガスと同種のガスが使用される。
器14は前記支持部材16に保持されると共に、
透光孔10の先端部がアーク点に向けられてい
る。また支持部材16内には、前記格子12とア
ーク観測窓11との間の透光孔10に冷却ガスを
導入するガス流路17が設けられている。この冷
却ガスとしては、例えば溶接トーチ1内を流れる
シールドガスと同種のガスが使用される。
また、前記の格子12は、検出器14上にアー
ク画像を結像する際、障害とならないようにアー
ク点を含む観測面に対して所定間隔置いた位置に
配置される。さらに格子12は冷却ガスに晒され
るため、耐熱性材料で作られる。
ク画像を結像する際、障害とならないようにアー
ク点を含む観測面に対して所定間隔置いた位置に
配置される。さらに格子12は冷却ガスに晒され
るため、耐熱性材料で作られる。
尚、図中2は溶接ワイヤ、3は被溶接部材、4
はアーク、18は溶接ビードを示している。
はアーク、18は溶接ビードを示している。
次に、本実施例の作用について説明する。
アーク点およびその近傍から発生するスパツタ
およびヒユームの一部は透光孔10内へ侵入しよ
うとする。このとき、透光孔10内には、ガス流
路17から導入された冷却ガスがアーク点に向つ
て流れるため、ヒユームの侵入は防止される。前
記冷却ガスはアーク点に向つて流れるため、溶接
ビード18に欠陥を与えない程度の圧力および流
量とすることが望ましい。
およびヒユームの一部は透光孔10内へ侵入しよ
うとする。このとき、透光孔10内には、ガス流
路17から導入された冷却ガスがアーク点に向つ
て流れるため、ヒユームの侵入は防止される。前
記冷却ガスはアーク点に向つて流れるため、溶接
ビード18に欠陥を与えない程度の圧力および流
量とすることが望ましい。
一方、スパツタは高速(50m/s程度)で飛行
するため、前記冷却ガスにより透光孔10への侵
入を防ぐことは困難であるが、透光孔10内へ侵
入すると冷却ガスにより急速に冷却される。これ
により特に粒径が1.0mm以上の半溶融状態のスパ
ツタは格子12によつてアーク観測窓11側への
侵入が阻止される。また透光孔10内で十分冷却
されなかつた大粒のスパツタは前記格子12で衝
突し、その際に冷却ガスに十分冷却された状態に
ある格子12からの熱伝導により冷却されると同
時に小粒のスパツタに分散される。そして、格子
12を通過するスパツタは完全に冷却され、かつ
小粒(粒径が0.2mm以下)となつているため、ア
ーク観測窓11に衝突しても付着することは少な
い。しかも前記冷却ガスによるアーク観測窓11
面上の清浄作用と、該アーク観測窓11の傾きと
の相乗効果により、一層スパツタの付着防止効果
が得られる。
するため、前記冷却ガスにより透光孔10への侵
入を防ぐことは困難であるが、透光孔10内へ侵
入すると冷却ガスにより急速に冷却される。これ
により特に粒径が1.0mm以上の半溶融状態のスパ
ツタは格子12によつてアーク観測窓11側への
侵入が阻止される。また透光孔10内で十分冷却
されなかつた大粒のスパツタは前記格子12で衝
突し、その際に冷却ガスに十分冷却された状態に
ある格子12からの熱伝導により冷却されると同
時に小粒のスパツタに分散される。そして、格子
12を通過するスパツタは完全に冷却され、かつ
小粒(粒径が0.2mm以下)となつているため、ア
ーク観測窓11に衝突しても付着することは少な
い。しかも前記冷却ガスによるアーク観測窓11
面上の清浄作用と、該アーク観測窓11の傾きと
の相乗効果により、一層スパツタの付着防止効果
が得られる。
従つて、本実施例によるアーク画像検出装置に
おいては、鮮明なアーク画像を得ることができ
る。また、検出器14、フイルタ群13を含む光
学系をアーク光へ近づけて配置できるので、装置
全体を小型化でき、それにより溶接ロボツトへの
適用が容易となる。
おいては、鮮明なアーク画像を得ることができ
る。また、検出器14、フイルタ群13を含む光
学系をアーク光へ近づけて配置できるので、装置
全体を小型化でき、それにより溶接ロボツトへの
適用が容易となる。
第2図は、前記アーク観測窓11としてガラス
を用いた時のスパツタ付着率を実験で求めた図を
示している。この図において、Aはガラスの傾
き、格子および冷却ガス無しの場合のスパツタ付
着率を、Bは格子有、ガラスの傾きおよび冷却ガ
ス無しの場合のスパツタ付着率を、Cは格子、冷
却ガス有、ガラスの傾き無の場合のスパツタ付着
率を、Dは格子、冷却ガス、ガラスの傾き有の場
合のスパツタ付着率を、それぞれ示したものであ
る。この図から分るように、本実施例のもの
(D)が、スパツタ付着防止効果に最も優れてい
る結果となつている。
を用いた時のスパツタ付着率を実験で求めた図を
示している。この図において、Aはガラスの傾
き、格子および冷却ガス無しの場合のスパツタ付
着率を、Bは格子有、ガラスの傾きおよび冷却ガ
ス無しの場合のスパツタ付着率を、Cは格子、冷
却ガス有、ガラスの傾き無の場合のスパツタ付着
率を、Dは格子、冷却ガス、ガラスの傾き有の場
合のスパツタ付着率を、それぞれ示したものであ
る。この図から分るように、本実施例のもの
(D)が、スパツタ付着防止効果に最も優れてい
る結果となつている。
第3図は本発明の他の実施例を示したもので、
第1図と異なるのは、溶接トーチ1のノズル1A
に透光孔10′を穿設し、かつフイルタ群、検出
器を含む光学系19を溶接トーチ1に取付けた点
にある。
第1図と異なるのは、溶接トーチ1のノズル1A
に透光孔10′を穿設し、かつフイルタ群、検出
器を含む光学系19を溶接トーチ1に取付けた点
にある。
この実施例によれば、アーク画像検出装置自体
を溶接トーチと一体化できるので、装置自体をよ
り一層小型化することが可能となる。
を溶接トーチと一体化できるので、装置自体をよ
り一層小型化することが可能となる。
尚、本発明においては、光学系として、アーク
光の赤外線を検知してアーク光の温度を検出する
方式のものであつてもよい。
光の赤外線を検知してアーク光の温度を検出する
方式のものであつてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、アーク
観測窓へのスパツタおよびヒユームの付着を防止
することにより、鮮明なアーク画像を得られると
共に、装置全体の小型化を図れることにより自動
溶接ロボツトへの適用が容易となる。
観測窓へのスパツタおよびヒユームの付着を防止
することにより、鮮明なアーク画像を得られると
共に、装置全体の小型化を図れることにより自動
溶接ロボツトへの適用が容易となる。
第1図は本発明のアーク画像検出装置の一実施
例を示す断面図、第2図はスパツタ付着率の測定
結果を示すグラフ図、第3図は本発明の他の実施
例を示す断面図、第4図は従来のアーク画像検出
装置を示す断面図である。 1A…溶接トーチのノズル、10,10′…ア
ーク観測用透光孔、11…アーク観測窓、、12
…格子、14…検出器、17…ガス流路。
例を示す断面図、第2図はスパツタ付着率の測定
結果を示すグラフ図、第3図は本発明の他の実施
例を示す断面図、第4図は従来のアーク画像検出
装置を示す断面図である。 1A…溶接トーチのノズル、10,10′…ア
ーク観測用透光孔、11…アーク観測窓、、12
…格子、14…検出器、17…ガス流路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光学式検出器を用いて溶接アークの検出を行
うアーク画像検出装置において、前記溶接アーク
の光を導びくアーク観測用の透光孔を有する光導
入部材を溶接ワイヤ先端と前記光学式検出器との
間に設け、前記透光孔内の後方側に、アーク観測
用光学系の光軸に対して所定の角度傾けたアーク
観測窓を配設し、かつ該アーク観測窓の手前に、
粗大スパツタのアーク観測窓への侵入を防止する
格子を設け、前記アーク観測窓と前記格子との間
に、スパツタ冷却用ガス流路を臨ませたことを特
徴とするアーク画像検出装置。 2 前記アーク観測用透光孔が、溶接トーチのノ
ズル内に形成され、前記光学式検出器が、溶接ト
ーチに取付けられていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のアーク画像検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13103084A JPS619976A (ja) | 1984-06-27 | 1984-06-27 | ア−ク画像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13103084A JPS619976A (ja) | 1984-06-27 | 1984-06-27 | ア−ク画像検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS619976A JPS619976A (ja) | 1986-01-17 |
JPH0218675B2 true JPH0218675B2 (ja) | 1990-04-26 |
Family
ID=15048371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13103084A Granted JPS619976A (ja) | 1984-06-27 | 1984-06-27 | ア−ク画像検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS619976A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104014905A (zh) * | 2014-06-06 | 2014-09-03 | 哈尔滨工业大学 | Gtaw焊接过程中熔池三维形貌观测装置及方法 |
-
1984
- 1984-06-27 JP JP13103084A patent/JPS619976A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS619976A (ja) | 1986-01-17 |
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