JPH02176448A - 米の品質評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、試料米の成分含有率を基に客観的に米の各特
性値を求めて行なう米の品質評価方法に関する。

〔従来の技術とその問題点〕

従来、米の品質評価、特に食味に関する評価は、複数の
専門審査官が食味評価の対象とする米の外観、香り、味
、粘り、硬さ等の各特性項目を、評価の基準となる基準
米のそれらと比較してどれだけ優れているか或いは劣っ
ているかを繰り返し試験し、その平均値をとる、所謂官
能試験により行われていた。ルかしながら、この官能試
験は、人により個人差がある味覚に基づき行われるもの
であるため、仮え複数の審査官による複数の評価結果の
平均をとったとしても、その評価値が時と場所を変えて
も、普遍的な客観的且つ絶対的な値とは言えないもので
あった。

ところで、米の組織、理科学的性質を科学的に測定・分
析し、前述官能試験で得られた食味評価値との間の相関
関係を調べ、最終的には化学的に得られた測定値から米
の品質評価を行なおうとする研究が進められてきた結果
、米を構成する成分のうち米の品質を評価する上で特に
重要なものが、米の澱粉質を構成するアミロースとアミ
ロペクチンの含有比率、蛋白質の含有率及び水分の含有
率であることが判明した。

このことから、米を構成する各成分の含有率の大小が米
の品質にどのように影響するかを説明する。

一般的には、日本で食味の良い米として人気が高い銘柄
は、コシヒカリとササニシキである。

−例として、コシヒカリ、ササニシキを含めて数種銘柄
米の各標準精白度白米が含有する蛋白質の含有率と澱粉
質に占めるアミロースの含有比率を比較して表にすると
次の第１表の通りとなる。なお、同一銘柄であれば各成
分の含有率が表に示すものと常に同一であるというもの
ではなく、栽培された産地の地質条件（土質、水質）に
よっても、また気象条件（気温、日照時間、降雨員等）
によっても各成分の含有率が微妙に変化することは言う
までもない。

第１表 （蛋白質の含有率は重量比、アミロースの含有率は澱粉
質１００％に対する比率を示す。）上記第１表より、コ
シヒカリとササニシキの食味が良いとする主要素が、他
の一般銘柄米に比べて、蛋白質の含有率が少ないことと
、澱粉質に占めるアミロースの含有比率が少ないことに
あることが理解できる。

更に、白米含水率も、品質、特に炊飯時の米の粘度、硬
度に関連して食味に大きな影響を及ぼすものである。白
米の含水率が１５％程度の場合、炊飯時、釜の水中に浸
漬しても白米に水分亀裂が生じず完全な飯粒に炊き上が
るが、含水率が１４％を割った米の場合には、浸漬時の
吸水速度が早過ぎて瞬間的に米粒に亀裂を生じ、間もな
く米粒内質に貫通亀裂を生じるため、その割れ目に吸水
し割れ目から糊を涌出し、また砕米も同様に一気に吸水
するのでべたついた米飯に炊き上がり、しかも米飯が崩
れているため噛みごたえも粘りもない低品質の米飯とな
る。

なお、米の品質に大きな影響を及ぼす米の上記成分、即
ち蛋白質、澱粉質、水分の各含有率の他、脂肪の含有率
の大小も、その含有率が低いほど米の食味が良いとされ
るように米の品質に影響を及ぼすが、影響の度合いは前
記３成分の含有率の大小による程大きなものではないと
言える。

以上述べたことにより、米を構成する化学成分を科学的
に測定・分析することにより、また般的に米の品質評価
を客観的に行うこと、また一般的に品質の良いとされる
特定の有名銘柄にとられれず、一般銘柄米の中から良品
質の米を見出すこと、のテーマが生まれる。

〔発明の目的〕

そこで、本発明は、試料米に含まれる各成分の含有率を
短時間で測定し、前記各成分含有率を基にして、米の各
特性値による客観的な米の品質判定を行う方法の提供を
目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明によると既知の試料米に化学成分分析法により測
定した成分含有率と前記既知の試料米の近赤外分光分析
法による吸光度測定値とによりあらかじめ定めた成分換
算係数と、前記近赤外分光分析法による吸光度測定値と
により、原料米に含まれる成分含有率を演算し、更に前
記演算した成分含有率と前記既知の試料米の官能試験等
により得られた米の各特性値とによりあらかじめ定めた
特性係数と、前記演算した成分含有率とにより、試料米
の香、味、粘り、硬さ等の特性値を演算する方法により
問題解決の手段とした。

（作　用〕 試料米を粉砕し、この試料米中に含まれる、米の味を決
定する主要素であるアミロース、蛋白質、水分等の含有
率を近赤外分光分析方法による分析値と、あらかじめ定
めた成分換算係数とによって求め、求めた各成分の含有
率を基にあらかじめ定めた特性係数により特性値を求め
ることで、人的要因が介在することなく唯一人間の介在
する近赤外分光分析においても個人差のある味覚に頼ら
ないものであることで求められた評価値は、時と場所を
変えても普遍的で客観的な値となることはあきらかであ
る。

〔実施例〕

以下、本発明に係る米の品質評価装置を、添付図面第１
図ないし第３図を参照しながら説明する。

第１図は本発明による米の品質評価装置１を正面から見
たときの概略図である。キャビネット２の内部には、そ
の詳細な構成は次の第２図を参照して説明する近赤外分
光分析装置３及び制御装置４が配設される。キャビネッ
ト２の前面パネルには、被測定米を入れる試料容器（試
料配置部）を装着するための試料容器装着箱５、装置の
操作手順や演算結果等を可視表示する発光ダイオード又
はＣＲＴ形式の表示装置６、操作用ブツシュボタン７及
び演算結果のハードコピーを可能とするプリンター８が
配設される。

制御装置４は、近赤外分光分析装置３の光源、検出器、
表示装＠６、操作用ブツシュボタン７、プリンター８等
に接続され各種信号を処理するための入出力信号処理装
置４ａと、各成分の含有率を計算すたるための成分換算
係数値、品質評価値を計算するために米の主成分ごとに
個別に設定された特定係数、入力装置（キーボード）９
を介入して入力される各銘柄別あるいは品位別の米価類
、各種補正及び各挿制御手順等を記憶するための記憶装
置４ｂと、近赤外分光分板製＠３により得られる測定値
と前記特定係数とに基づき米の特性値等を演算するため
の演算装＠４ｃとから成る。なお、米の主要成分ごとに
個別に設定される特定係数や必要な補正値が、記憶装置
４ｂ内の読み出し専用のメモリ（以下、ＲＯＭと言う）
に予め記憶されている。また、プリンター８は内蔵型に
限られず、外部接続型であっても構わない。

ところで、試料に照射される近赤外線が試料に吸収され
るのは分子を構成する原子の連鎖が熱エネルギーにより
振動するために起こる現象であり、原子の種類と連鎖状
態により固有振動数が異なるために、近赤外線の波長域
で振動の大きさが変化して熱吸収を生じる。また、試料
が初期に持っている熱エネルギーが少ない場合（温度が
低い場合）には、振動が小さいために分子構造の違いに
よる吸収量が正確に測定されないので温度の補正をする
必要が生じる。通常、２０℃以上の場合は補正を要しな
い。

温度設定器７７は近赤外分光分析装置１を恒温に調整す
るもので、低温の場合加温装＠７８を動作させ通常２５
℃に設定する。これは、前記試料温度の変化を防止する
ためと、電気回路の温度による誤差をなくする目的を有
するものである。

第２図は、キャビネット２の内部に配設される近赤外分
光分析装置３の一実施例の要部断面図である。図示され
る近赤外分光分析装置３は反射式のものであり、主なる
構成部品として、光源３１、反射鏡３２、狭帯域通過フ
ィルター３３、積分球３４及び検出器３５ａ　、３５ｂ
を有する。光源３１から発せられ、適当な光学系（図示
せず〉を通って平行光線となった光は、狭帯域通過フィ
ルター３３を通過することにより特定波長の近赤外光と
なった後、傾斜角度を自由に変え得るように構成された
反射鏡３２により、積分球３４の上部を開口して設けら
れた採光窓３６に向けて方向を変えられる。反射鏡３２
で反射し、積分球３４の採光窓３６を介して積分球３４
の内部に入った近赤外光は、積分球３４の底部を開口し
て設けられた測定部３７、従って試料容器装着箱５の後
方所定位置に記載される試料容器５２内の試料米５５に
真上から照射される。試料米５５からの拡散反射光は、
積分球３４の内部に反射しながら、最終的には、測定部
３７を中心に対象な位置に配設される−対の検出器３５
ａ、３５ｂに到達し、これにより反射光の強度が測定さ
れる。なお、前記試料容器５２下部の試料容器装着箱５
には試料容器の温度を測定するセンサー７９を設け、前
記温度設定器７７について詳述した通り試料温度により
分析値を補正するものである。また図示実施例では、光
学的な対称性を修正し、試料米５５からの反射光を効率
良く受光するために検出器は一対、即ち参照番号３５ａ
と３５ｂで示される二個が設けられているが、その数は
二個に限られることなく、−個であっても又は三個以上
の検出器であっても構わない。

ここで、光源３１と反射鏡３２との間に設けられ、光源
３１から出た光がこれを通過することにより特定波長の
近赤外光となる狭帯域通過フィルター３３の構成及びこ
れに要求される物理的特性等を説明する。狭帯域通過フ
ィルター３３は、それぞれが異なる主波長通過特性を有
する任意複数個のフィルター（例えば、６個のフィルタ
ー３３ａ〜３３ｆ）からなり、これらを回転円盤に取り
付けこれを適当角度づつ回動させることにより、光源３
１と反射鏡３２とを結ぶ線上に所望のフィルターが位置
するように順次選択・交換できる構成とする。なお、フ
ィルターの通過特性で主波長とは、フィルターの面に対
して入射光軸が直角の時は透過する近赤外線のうちの最
大透過波長のことである。狭帯域透過フィルター３３の
他の具体的構成例としては、角柱状の反射１ｔ３２を内
部に位置させ、その反射鏡の各面に対向する位置に複数
個のフィルター３３ａ〜３３ｆをそれぞれ位置させて角
柱状に構成しこれを回転可能とする構成もある。なお、
狭帯域通過フィルター３３が円板状のものであるとき、
入射光軸に対するその回転面の傾斜角度を、電動機等の
手段により微細に且つ連続的に調整できるようにしてお
けば、各フィルターが持つ通過特性の主波長からシフト
した異なる波長の近赤外光を連続的に作り出すことがで
きる。これは、−数的に良く知られている現象であるが
、フィルターの面に対する入射光軸の角度を９０°から
変化させると、その角度変化に応じて最大透過波長から
数＋ｎｍの範囲でシフトする現象による。

次に、狭帯域通過フィルター３３に要求される物理的特
性を第３図に基づき説明する。第３図は、異なる試料米
に対して波長が連続的に変化する近赤外線光を照射した
ときの、照射波長と吸光度との関係を示すグラフ〈吸光
度曲線）である。吸光度ＩＯｇＩｏ／Ｉは、基準照射光
量（全照射光１）ＩＯに対する試料米からの反射光ＩＩ
の比の逆数の常用対数である。前記各成分の含有層の多
少が吸光度差として顕著に現れていることが容易に理解
できる。本発明はこの現象を利用して試料米に含まれる
所定の成分の含有率を測定するものであるため、測定の
ために試料米に照射される近赤外光の波長としては、波
長領域１９００〜２５００ｎｍのうち、各成分に対して
吸光度曲線上特異的なピークが見られる（本実施例では
１９６０ｎｍ、　２０３０ｎｍ、　２１００ｎｍ、　２
１３０ｎｍ、　２２７Ｏｎ１１．２３７０ｎｆｆ１等と
する）。従って、狭帯域通過フィルター３３が備える各
フィルター３３ａ〜３３ｆは、試料米に含まれる各成分
の測定に適した前記各波長の近赤外光を作るべく、前記
各波長を特定通過特性、即ち主波長として持つことが要
求される。

次に、上記構成を有する本発明の試料米の品質評価装置
の具体的動作を説明する。まず、操作用ブツシュボタン
７の操作により光源３１を点灯させ、光源３１から発せ
られた光に基づく測定部３７に到達する特定波長の近赤
外光が安定するまで、近赤外分光分析装置３の全体を加
温装置７８等で予熱する。予熱のための所定時間が経過
したら、試料容器装着箱５を装置のキャビネット２から
一旦引き出し、粉砕した試料米５５を充填した試料容器
５２を所定位置に載置させた後、キャビネット２内に挿
入することにより測定準備を完了する。このとき試料容
器装置箱５の温度センサー７９は試料容器５２の温度を
測定する。なお、試料米５５は、測定値に誤差が生じな
いようにするために、その粒子の大きさが約５０ミクロ
ン以下に粉砕されていることが望ましいが、必ずしも粉
砕しなければならないものではない。また、乱反射によ
る光のロスを少なくする為に、粉砕された試料米５５は
、その表面が平坦面となるような状態で試料容器５２に
充填されること、さらに、透明ガラス板で多少圧力を加
えながらその表面を覆うことが好ましい。

前記測定準備作業が完了したら、次に、最初に１９６０
ｎｌｌｌを主波長として持つフィルター３３Ａが光源３
１と反射鏡３２とを結ぶ線上に来るように選択され、波
長１９６０ｎｍの近赤外光を試料米５５に対して照射し
たときの反射吸光度の測定作業に入る。反射吸光度の測
定作業は、試料米５５に対して照射される全照射量、即
ち基準光量の測定と、試料米５５に対して前記基準照射
光量を照射した時に試料米５５で実際に反射される反射
光量の測定との２つの測定からなる。

１つのフィルターについてこれから２つの測定のどちら
かを先に実施しても構わないが、以下の説明では、基準
照射光量の測定の方が先に実施されるものとして説明す
る。基準照射光量の測定は、傾斜角度が可変に構成され
た反射鏡３２の傾斜角度を、これからの反射光が積分球
３４の内壁に直接当たるような角度に、電動機等を用い
た回動手段（図示せず）により変えた状態で実施される
。こうすることにより、積分球３４の内壁に直接当てら
れた反射１３２からの光は、内壁を多方向に拡散反射し
ながら最終的には検出器３５ａ　、３５ｂに到達し、基
準照射光量として検出される。一方試料米５５からの反
射光量の測定は、反射鏡３２の傾斜角度が第２図に示す
元の位置に戻された後、前述した原理により行われる。

なお、測定準備完了後の最初のフィルターの選択、基準
照射光量の測定及び反射光量の測定までの各実行は、制
御装置４の記憶装置４ｂ内のＲＯＭに手順プログラムを
記憶させ、そのプログラムに従って自動的に行えるよう
にできることは言うまでもない。また、１つのフィルタ
ーについての前述基準照射光量及び反射光量の各測定を
それぞれ複数回実施し、測定値としてそれらの平均を採
れるようにすることも測定精度を上げるのに役立つ。検
出器３５ａ、３５ｂによって検出された基準照射光量及
び試料米５５からの反射光量に基づく各測定値は、試料
米に含まれるアミロース、蛋白質、脂肪、水分等の各含
有率を計算するための実測データとして制御装置４に連
絡され、記憶装置４ｂ内の書き込み可能なメモリ（以下
、ＲＡＭと言う）に−旦記憶される。

照射波長１９６０ｎｍにおける吸光度の測定が終了した
ら、次の照射波長、即ち本実施例の場合２０３０ｎｍで
の吸光度の測定に移行する。ここでも、基準照射光量の
測定及び反射光量の測定が、前述１９６０ｎｍでのとき
と同じ方法及び手順で実施される。各測定値は、前回と
同様に、各成分の含有率計算のための実測データとして
制御装置４に連絡され、記憶装置４ｂ内のＲＡＭに一時
記憶される。以下同様に、残りの各吸光度測定、即ち、
波長２１００ｎｍ、　２１３０ｎｍ、　２２７０ｎｍ、
　２３７０ｎｍでの吸光度測定が順次行われ、各測定値
は、実測データとして制（Ｉｌ装置４に連絡され、ＲＡ
Ｍに記憶される。なお、ある特定波長での吸光度測定が
終わり次の特定波長での吸光度測定への移行に伴う狭帯
域通過フィルター３３の各フィルター３３ａ〜３３ｆの
交換・選択動作は、通常、制御装置４の記憶装置４ｂ内
のＲＯＭに予め書き込まれている手順プログラムに従い
自動的に行われるが、本実施例の場合でも、必ずしも上
記６波長全てについて吸光度測定を行わなければならな
い訳ではなく、測定の対象となる波長は、求める特性値
に要求される精度或いは測定に係る所要時間等を考慮し
て任意に選択することができ、その選択は、操作用ブツ
シュボタン７内の測定波長選択ボタンにより行うことが
できる。

これまで説明した吸光度の測定は、単に狭帯域通過フィ
ルター３３に設定された６個のフィルター３３ａ〜３３
ｆを順次交換することにより、各タイルター３３ａ〜３
３ｆが持つ各主波長でのスポット的吸光度の測定方法で
あったが、前述した通りフィルターの面に対する入射光
の入射角度を基準となる９０°から変化させると、最大
透過波長が主波長から数＋ｎｍの範囲でシフトするとい
う現象を利用して、成分含有量の差が吸光度差に顕著に
現れる波長領域１９００ｎｍ〜２５００ｎｍでの連続的
な吸光度測定も可能である。図示第１実施例の場合、円
板状に構成された狭帯域通過フィルター３３への入射光
軸の角度を、制御装置４からの指令信号に基づき電動機
等の適当な調節手段（図示せず）により微細に且つ連続
的に変化させることによりこれが可能である。

次に、制御装置４の演算装置４Ｃは、記憶装置４ｂのＲ
ＡＭに記憶されている吸光度測定で得られた多数の実測
データ、即ち各測定波長における基準照射光量及び反射
光量の測定値と、記憶装置４ｂのＲＯＭに予め記憶され
ている各成分の含有率計算のための成分換算係数値とに
基づき、試料米の品質を評価する上で重要な成分である
アミロース、蛋白質、脂肪、水分等の各含有率を計算す
る。なお、各成分に関して記憶装置４ｂのＲＯＭに予め
書き込まれるこの成分換算係数値は、多数の試料米に対
して例えば化学定量分析法を用いて測定された各成分の
含有率を基準に、検出器からの吸光度測定値を信号処理
し、重回帰分析法により求められた定数である。

ここで成分換算係数を求める重回帰分析について一例を
示す。たとえば６個のフィルターＰ１ｎｍ、　Ｐ２　ｎ
ｍ、　Ｐ３　ｎｍ、　Ｐ４　ｎｍ、　Ｐ５　ｎｍ、　Ｐ
ａｎｗを使用して試料米の一成分Ａについて検出器で吸
光度測定を行ったとき、次の線型関係が成立するものと
する。

ＡＩ　＝Ｆｏａ　＋Ｆ＋ａ　”Ｘ１＋Ｆ２ａ　”Ｘ２＋
＋−＋Ｆｅａ　−Ｘｅ　１　＋ε１ このとき八〇　　：試料米の成分Ａの原子吸光分析法に
よる含有率パーセント。

Ｆｏａ〜Ｆａａ　：重回帰分析による成分換算係数値。

×１〜×６　　　コＰ１〜Ｐ６のフィルターにそれぞれ
対応する吸光度（ｌｏｇ 値）。

εｎ　　　　　：誤差。

である。

同様にしてｎ個の試料について吸光度分析を行ない重回
帰式に代入すると、 Ａ＋＝Ｆｏａ　＋Ｆ＋ａ　ａＸｎ＋Ｆ２ａ　−Ｘ２＋＋
−−−−−−＋　Ｆ　６　ａ　−Ｘ　６１＋εＡ２＝Ｆ
ｏａ　十Ｆ＋ａ　−ＸＩ２＋Ｆ２ａ　−Ｘ２２＋−−−
−−・＋Ｆ６ａ　−Ｘｅ　２−＋−ε２Ａｎ　＝Ｆｏａ
　＋ＦＩａ　−Ｘｌｎ　＋Ｆ２ａ　　　−Ｘ２ｎ　　＋
　　・−＋Ｆ　　６　ａ　　　−Ｘ６ｎ　　＋　　ε　
ｎとなり、上記ｎ個の重回帰式により重回帰分析を行い
Ｆｏａ−Ｆａａの成分換算係数値を求めると Ａ＝Ｆｇａ＋Ｆ１ａ−Ｘ１＋Ｆ２ａ　−Ｘ２＋°°°±
Ｆ６ａ　◆ｘ８ となり。成分Ａを検出器で吸光度測定を行う関係式が成
立する。

ところで、前記フィルターＰ１〜Ｐ６のフィルターは、
一実施例を示したものであり、正確を期するためにの最
適フィルターの選定は、前記回帰分析を１９００ｎｍ〜
２５００ｎｍの波長域で細分化した波長域、たとえば２
ｎｍ間隔で得た吸光度を用いて行列的に全てを組み合わ
せて見い出すのである。

次に６個のフィルターを用いて試料米の一成分Ｂについ
て検出器でｎ個の試料の吸光度測定を行なって前記成分
へ同様次式が成立する。

Ｂ＝Ｆｏｂ　＋Ｆ＋ｂ−Ｘ＋＋Ｆ２ｂ　−Ｘ２＋−・・
＋Ｆｅｂ　−Ｘｅ 以上のごとく各成分において重回帰分析を行ないそれぞ
れの成分換算係数を求めて。各成分の含有率を検出器の
吸光度測定で求める。

演算装置４Ｃは次に、上述の如くして求められたアミロ
ース、蛋白質、脂肪、水分等の各含有率に基づき、計算
式により特性値を計算する。

ここで試料米の粘り・硬さ・香・味等を決定づける成分
をＡ、Ｂ成分とする。この各成分は前述の重回帰分析で
求められた成分換算係数により計算されたものである。

ここで各特性値を求めるための特性係数を求める回帰分
析について一実施例を示す。

特性値（Ｔ＞は Ｔ＝ａ　　（Ａ　　ｘＢ’　　）＋ｂ で求められると仮定する。上記のａ、ｂ、ｘ。

■を前記成分Ａ、Ｂ同様にｎ個の試料光の官能試験等に
より得られた特性値と検出器で求めたｎ個の試料光のそ
れぞれの成分Ａ、Ｂとにより最小二乗法で求めると、こ
のａ、ｂ、ｘ、ｙが特性係数となる。

たとえば特性値のうち硬さを例にしてアミロースと水分
で米の硬さが決定されるとすると硬さ＝ａ　　（アミロ
ース×水分）＋ｂが成立すると仮定して、ｎ個のサンプ
ルそれぞれについて（この例では）アミロースと水分の
含有率及び官能試験等で得られる硬さの特性値の８値を
上式に代入し、得られたｎ個の関係式を同時に満足する
ａ、ｂ、ｘ、ｙを求めることになる。

上記求められた各特性係数と品質評価の計算式で計算さ
れた各特性値は、演算装置４Ｃでの計算終了と同時に、
表示装置６に可視表示されると共に、自動的に又は操作
用ブツシュボタン７への指令に基づきプリンター８から
ハードコピーとして繰り出される。また、品質評価値を
求める途中の過程で求められたアミロース、蛋白質、脂
肪、水分等の各成分の各含有率を、官能評価値と共に表
示装置６に同時に可視表示させてもよい。

本品質評価装置により計算された各試料光の成分含有率
及び官能評価値は、フロッピーディスク等の磁気媒体を
用いた外部記憶装置にデータとして記憶しておくことが
でき、また、上記複数種類の試料光の混合比率の計算時
等では、外部記憶装置からデータを本装置内の記憶装置
４ｂのＲＡＭに読み込んで、これに基づき必要な計算を
行うことも可能である。

なお、上記の説明では、試料光を粉砕したものを用いた
が、必ずしも粉砕したものでなくても構わない。しかし
、この場合、得られる品質評価値の精度がある程度低下
することは言うまでもない。

上述実施例の品質評価装置では、試料光に特定波長の近
赤外光を照射したときの吸光度の測定を、試料光からの
反射光の強度を測定することにより行う反射式の近赤外
分光分析装置を用いたが、試料光を透過してきた透過光
の強度を測定することにより行う透過式の近赤外分光分
析装置を用いることもでき、さらには、反射光及び透過
光の両方に基づき吸光度の測定を行う、より精密な近赤
外分光分析装置とすることができる。

〔発明の効果〕

以上詳述したように、本発明による米の品質評価方法に
よれば、個人差のある味覚に基づく官能試験、あるいは
時間がかかり、熟練を要する化学定置分析等の方法によ
ることなく、誰でもが容易に且つ短時間で正確な米の特
性値を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による米の品質評価装置の正面概略図、
第２図は第１図の品質評価装置に用いられる近赤外分光
分析装置の要部側断面図、第３図は銘柄の異なる試料光
に対する近赤外線照射波長と吸光度との関係を示すグラ
フ（吸光度曲線）である。 図において、１・・・米の品質評価装置、２・・・キャ
ビネッ、３・・・近赤外分光分析装置、４・・・制興装
置、４ａ・・・入出力信号処哩装置、４ｂ・・・記憶装
置（ＲＯＭ、ＲＡＭ）　、４ｃｍ１ｍ算装置、５・・・
試料容器装着箱、６・・・表示装置、７・・・操作用ブ
ツシュボタン、８・・・プリンター、９・・・入力装置
（キーボード）、３１・・・光源、３２・・・反射鏡、
３３・・・狭帯域通過フィルター　３３ａ〜３３ｆ・・
・フィルター、３４・・・積分球、３５ａ　、３５ｂ・
・・検出器、３６・・・採光窓、３７・・・測定部、５
２・・・試料容器、５５・・・試料光、７７・・・温度
設定器、７８・・・加温装置、７９・・・温度センサー
ｌ−・米の品質評価装宜 ３３ａ−ｒ−フィルター ５５・・・試料米 第１ 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 既知の試料米の化学成分分析法により測定した成分含有
   率と前記既知の試料米の近赤外分析法による吸光度測定
   値とによりあらかじめ定めた成分換算係数と、前記近赤
   外分光分析法による吸光度測定値とにより、試料米に含
   まれる成分含有率を演算し、更に、前記演算した成分含
   有率と前記既知の試料米の官能試験等により得られた米
   の各特性値とによりあらかじめ定めた特性係数と、前記
   演算した成分含有率とにより、試料米の香、味、粘り、
   硬さ等の特性値を演算することを特徴とする米の品質評
   価方法。