JPH02156483A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置Info
- Publication number
- JPH02156483A JPH02156483A JP31073388A JP31073388A JPH02156483A JP H02156483 A JPH02156483 A JP H02156483A JP 31073388 A JP31073388 A JP 31073388A JP 31073388 A JP31073388 A JP 31073388A JP H02156483 A JPH02156483 A JP H02156483A
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- JP
- Japan
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- signal
- circuit
- clock
- read
- phase
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 11
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、磁気ディスク装置に係り、特に磁気媒体の欠
陥検出試験を行う試験装置を備えた磁気ディスク装置に
関する。
陥検出試験を行う試験装置を備えた磁気ディスク装置に
関する。
「従来技術」
従来の磁気ディスク装置において、磁気ディスクの欠陥
の検出は、磁気ディスクからヘッドによって読み出され
た再生信号をアナログ処理し、その振幅、および周波数
成分が所定のレベルを保持しているか否かを検証すると
いう方法によって行われていた。そして、この方法を実
施するための試験装置が、磁気ディスク装置に内部回路
として搭載されていた。
の検出は、磁気ディスクからヘッドによって読み出され
た再生信号をアナログ処理し、その振幅、および周波数
成分が所定のレベルを保持しているか否かを検証すると
いう方法によって行われていた。そして、この方法を実
施するための試験装置が、磁気ディスク装置に内部回路
として搭載されていた。
「発明が解決しようとする課題」
ところで、上述した従来の磁気ディスク装置は、媒体、
記録・再生ヘッド、記録・再生回路の組み合わせに応じ
て試験装置内部の回路定数やレベルなどを変えて適合さ
せなければならないという問題があった。
記録・再生ヘッド、記録・再生回路の組み合わせに応じ
て試験装置内部の回路定数やレベルなどを変えて適合さ
せなければならないという問題があった。
この発明は、このような背景の下になされたもので試験
装置内部の定数等を変えずに媒体欠陥の試験をできるよ
うにした磁気ディスク装置を提供することを目的とする
。
装置内部の定数等を変えずに媒体欠陥の試験をできるよ
うにした磁気ディスク装置を提供することを目的とする
。
「課題を解決するための手段」
上記課題を解決するため、この発明は、読出信号の極大
、極小値に対応して生成されるデジタル化読出信号に基
づいて磁気媒体の特性を測定するようにした磁気ディス
ク装置において、前記デジタル化読出信号が入力され、
リードクロックを生成するＶＦＯ回路と、 前記リードクロックの位相をシフトするＶＦＯタイミン
グ可変回路と、 航記デノタル化読出信号と前記リードクロックの位相差
を検出する位相検出手段と を具備することを特徴としている。
、極小値に対応して生成されるデジタル化読出信号に基
づいて磁気媒体の特性を測定するようにした磁気ディス
ク装置において、前記デジタル化読出信号が入力され、
リードクロックを生成するＶＦＯ回路と、 前記リードクロックの位相をシフトするＶＦＯタイミン
グ可変回路と、 航記デノタル化読出信号と前記リードクロックの位相差
を検出する位相検出手段と を具備することを特徴としている。
「作用」
上記構成によれば、磁気媒体の磁気情報に応じたデジタ
ル化読出信号が得られ、ＶＦＯ回路ではこのデジタル化
読出信号に基づいてリードクロックが生成される。そし
て、リードクロックの位相はＶＦＯタイミング可変回路
によって調整され、デジタル化読出信号とリードクロツ
タとの位相関係が位相検出手段によって検出される。そ
して、この磁気ディスク装置では、リードクロックを所
定位相だけシフトした場合におけるデジタル化読出信号
とリードクロックとの位相関係の変化から磁気媒体にお
ける欠陥の有無が判定される。
ル化読出信号が得られ、ＶＦＯ回路ではこのデジタル化
読出信号に基づいてリードクロックが生成される。そし
て、リードクロックの位相はＶＦＯタイミング可変回路
によって調整され、デジタル化読出信号とリードクロツ
タとの位相関係が位相検出手段によって検出される。そ
して、この磁気ディスク装置では、リードクロックを所
定位相だけシフトした場合におけるデジタル化読出信号
とリードクロックとの位相関係の変化から磁気媒体にお
ける欠陥の有無が判定される。
「実施例」
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図はこの発明の一実施例による磁気ディスク装置の
構成を示すブロック図である。磁気ヘッドＩによって読
み出された再生信号はヘッドアンプ２によって増幅され
た後、ＡＧＣアンプ（自動利得制御機能を備えたアンプ
）３によって増幅され波形等価器４により信号処理上し
ての等価処理が施される。そして、波形等価器４の出力
信号はローパスフィルタ５によって不要な高域成分か取
り除かれ、読出信号Ａとして出力される。この読み出し
信号Ａは絶対値回路１２によってその信号レベルが検出
される。そして、ＡＧＣ制御回路１１では、この信号レ
ベルに基づいて、ＡＧＣアンプ３の利得の制御が行われ
る。
構成を示すブロック図である。磁気ヘッドＩによって読
み出された再生信号はヘッドアンプ２によって増幅され
た後、ＡＧＣアンプ（自動利得制御機能を備えたアンプ
）３によって増幅され波形等価器４により信号処理上し
ての等価処理が施される。そして、波形等価器４の出力
信号はローパスフィルタ５によって不要な高域成分か取
り除かれ、読出信号Ａとして出力される。この読み出し
信号Ａは絶対値回路１２によってその信号レベルが検出
される。そして、ＡＧＣ制御回路１１では、この信号レ
ベルに基づいて、ＡＧＣアンプ３の利得の制御が行われ
る。
一方、読出信号Ａは微分器６およびゲート信号発生器１
３に入力される。微分器６では、読出信号Ａが微分され
、微分信号Ｂが出力される。そして、微分信号Ｂはコン
パレータ７によってレベル判定され、コンパレータ７か
らパルス信号りが出力される。ここで、パルス信号りは
、微分信号Ｂがコンパレータ７の基準電圧以上となった
時に立ち上がり、基準電圧以下となった時に立ち下がる
。
３に入力される。微分器６では、読出信号Ａが微分され
、微分信号Ｂが出力される。そして、微分信号Ｂはコン
パレータ７によってレベル判定され、コンパレータ７か
らパルス信号りが出力される。ここで、パルス信号りは
、微分信号Ｂがコンパレータ７の基準電圧以上となった
時に立ち上がり、基準電圧以下となった時に立ち下がる
。
また、ゲート信号発生器１３では、読出信号Ａの振幅が
所定値以上の期間にＯＮとなるゲート信号Ｃが発生され
る。
所定値以上の期間にＯＮとなるゲート信号Ｃが発生され
る。
パルス化論理回路８では、ゲート信号ＣがＯＮであり、
かつ、パルス信号りの立ち上がりあるいは立ち下がりが
検出された場合に、一定幅のデータパルスＥが出力され
る。
かつ、パルス信号りの立ち上がりあるいは立ち下がりが
検出された場合に、一定幅のデータパルスＥが出力され
る。
データパルスＥは、Ｖ Ｆ Ｏ（Ｖ ａｒｉａｂｌｅ
Ｆ ｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｏ５ｃｉｌｌａｔｏｒ）回
路９に入力される。ＶＦＯ回路９では、所定期間、入力
されたデータパルスＥとの位相同期が行われ、リードク
ロックＦが生成される。そして、データパルスＥはリー
ドデータとして、リードクロックＦと共にハードディス
クコントローラｌＯに入力される。
Ｆ ｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｏ５ｃｉｌｌａｔｏｒ）回
路９に入力される。ＶＦＯ回路９では、所定期間、入力
されたデータパルスＥとの位相同期が行われ、リードク
ロックＦが生成される。そして、データパルスＥはリー
ドデータとして、リードクロックＦと共にハードディス
クコントローラｌＯに入力される。
ハードディスクコントローラｌＯでは、リードデータ（
データパルスＥ）とリードクロックＦに基づいてデータ
とクロックとの分離が行われる。
データパルスＥ）とリードクロックＦに基づいてデータ
とクロックとの分離が行われる。
ＶＦＯ回路９はトライステート回路１６を介してＶＦＯ
タイミング可変回路１４に接続される。
タイミング可変回路１４に接続される。
また、トライステート回路１６はＣＰＵ（中央処理装置
）１５によって制御される。トライステート回路１６が
イネーブル状轢の場合は、ＶＦＯタイミング可変回路１
４からＶＦＯ回路９に制御信号が送られ、リードクロッ
クＦの位相が所定量シフトされる。
）１５によって制御される。トライステート回路１６が
イネーブル状轢の場合は、ＶＦＯタイミング可変回路１
４からＶＦＯ回路９に制御信号が送られ、リードクロッ
クＦの位相が所定量シフトされる。
以下、第２図、第３図を参照して、この実施例の動作を
説明する。
説明する。
第２図は磁気媒体に欠陥がない場合における本実施例の
動作を示すタイムチャートである。波形ＡＩは、この場
合におけるローパスフィルタ５の出力信号、すなわち、
読出信号Ａの信号波形を示したものである。そして、波
形Ｂ１は、読出信号Ａを微分器６で微分した結果得られ
る微分信号Ｂの信号波形を示したものである。読出信号
Ａ（波形ＡＩ）はゲート信号発生器１３によってレベル
判定され、信号レベルが基準レベルＶ１以上あるいは基
準レベルＶ２以下である場合にゲート信号Ｃ（波形Ｃｔ
）がＯＮとなる。
動作を示すタイムチャートである。波形ＡＩは、この場
合におけるローパスフィルタ５の出力信号、すなわち、
読出信号Ａの信号波形を示したものである。そして、波
形Ｂ１は、読出信号Ａを微分器６で微分した結果得られ
る微分信号Ｂの信号波形を示したものである。読出信号
Ａ（波形ＡＩ）はゲート信号発生器１３によってレベル
判定され、信号レベルが基準レベルＶ１以上あるいは基
準レベルＶ２以下である場合にゲート信号Ｃ（波形Ｃｔ
）がＯＮとなる。
一方、微分信号Ｂ（波形Ｂｌ）は、コンパレータ７によ
ってレベル判定され、コンパレータ７からパルス信号Ｄ
（波形ＤＩ）が出力される。そして、パルス化論理回路
８では、ゲート信号Ｃ（波形Ｃ１）がＯＮであり、かつ
、パルス信号Ｄ（波形ＤＩ）が変化した場合に、一定幅
のデータパルスＥ（波形Ｅｌ）が出力される。そして、
ＶＦＯ回路９では、所定期間において、このデータパル
スＥとの位相同期が行われ、リードクロックＦ（波形Ｐ
ＩＡ）が発生される。ここで、ＣＰＵ１５によってトラ
イステート回路１６がイネーブル状態に切り換えられる
と、ＶＦＯタイミング可変回路１４からＶＦＯ回路９に
制御信号が送られ、リードクロックＦの位相は所定量シ
フトされ、波形ＦＩＢのようになる。ハードディスクコ
ントローラ１０では、ＶＦＯタイミング可変回路１４が
非接続状態の場合におけるリードクロックＦ（波形ＦＩ
Ａ）と、接続状態の場合におけるリードクロックＦ（波
形ＦＩＢ）との比較が行われる。この場合、データパル
スＥ（波形Ｅｌ）がＯＮとなる時点においては、波形Ｆ
ＩＡも波形Ｆ’ｌＢも同じレベルとなることから、読出
信号Ａの信号波形ＡＩの歪は許容範囲内であると見なさ
れ、磁気媒体には欠陥がないものと判定される。
ってレベル判定され、コンパレータ７からパルス信号Ｄ
（波形ＤＩ）が出力される。そして、パルス化論理回路
８では、ゲート信号Ｃ（波形Ｃ１）がＯＮであり、かつ
、パルス信号Ｄ（波形ＤＩ）が変化した場合に、一定幅
のデータパルスＥ（波形Ｅｌ）が出力される。そして、
ＶＦＯ回路９では、所定期間において、このデータパル
スＥとの位相同期が行われ、リードクロックＦ（波形Ｐ
ＩＡ）が発生される。ここで、ＣＰＵ１５によってトラ
イステート回路１６がイネーブル状態に切り換えられる
と、ＶＦＯタイミング可変回路１４からＶＦＯ回路９に
制御信号が送られ、リードクロックＦの位相は所定量シ
フトされ、波形ＦＩＢのようになる。ハードディスクコ
ントローラ１０では、ＶＦＯタイミング可変回路１４が
非接続状態の場合におけるリードクロックＦ（波形ＦＩ
Ａ）と、接続状態の場合におけるリードクロックＦ（波
形ＦＩＢ）との比較が行われる。この場合、データパル
スＥ（波形Ｅｌ）がＯＮとなる時点においては、波形Ｆ
ＩＡも波形Ｆ’ｌＢも同じレベルとなることから、読出
信号Ａの信号波形ＡＩの歪は許容範囲内であると見なさ
れ、磁気媒体には欠陥がないものと判定される。
第３図は磁気媒体に欠陥がある場合における本実施例の
動作を示すタイムチャートである。この場合、読出信号
Ａには媒体欠陥に伴うノイズが含まれ、信号波形はＡ２
のようになる。そして、微分信号Ｂ、ゲート信号Ｃ、パ
ルス信号Ｄ、データパルスＥの信号波形は、各々、Ａ２
、Ｂ２、ｃ２、Ｂ２、Ｂ２となる。
動作を示すタイムチャートである。この場合、読出信号
Ａには媒体欠陥に伴うノイズが含まれ、信号波形はＡ２
のようになる。そして、微分信号Ｂ、ゲート信号Ｃ、パ
ルス信号Ｄ、データパルスＥの信号波形は、各々、Ａ２
、Ｂ２、ｃ２、Ｂ２、Ｂ２となる。
そして、トライステート回路１６が非接続状態の場合は
、ＶＦＯ回路９では、所定期間、データパルスＥ（波形
Ｅ２）との位相同期か行われ、リードクロックＦ（波形
Ｆ２Ａ）が発生される。そして、トライステート回路１
６が接続されると、ＶＦＯ回路９におけるリードクロッ
クＦの位相が所定量シフトされ、波形がＦ２Ｂとなる。
、ＶＦＯ回路９では、所定期間、データパルスＥ（波形
Ｅ２）との位相同期か行われ、リードクロックＦ（波形
Ｆ２Ａ）が発生される。そして、トライステート回路１
６が接続されると、ＶＦＯ回路９におけるリードクロッ
クＦの位相が所定量シフトされ、波形がＦ２Ｂとなる。
ハードディスクコントローラｌＯでは、ＶＦＯタイミン
グ可変回路１４が非接続状態の場合におけるリードクロ
ックＦ（波形Ｆ２Ａ）と、接続状態の場合におけるリー
ドクワツクＦ（波形Ｆ２Ｂ）との比較が行われる。
グ可変回路１４が非接続状態の場合におけるリードクロ
ックＦ（波形Ｆ２Ａ）と、接続状態の場合におけるリー
ドクワツクＦ（波形Ｆ２Ｂ）との比較が行われる。
この場合、データパルスＥ（波形Ｅ２）の中のパルスＰ
Ｉの発生時点において、波形Ｆ２Ａのレベルと波形Ｆ２
Ｂのレベルとが不一致であることが検出される。これに
より、読出信号Ａの信号波形Ａ２の歪は許容範囲を越え
ているものと見なされ、磁気媒体には欠陥があるものと
判定される。
Ｉの発生時点において、波形Ｆ２Ａのレベルと波形Ｆ２
Ｂのレベルとが不一致であることが検出される。これに
より、読出信号Ａの信号波形Ａ２の歪は許容範囲を越え
ているものと見なされ、磁気媒体には欠陥があるものと
判定される。
「発明の効果」
以上説明したように、本発明によれば、デジタル化読出
信号が人力され、リードクロックを生成するＶＦＯ回路
と、前記リードクロックの位相をシフトするＶＦＯタイ
ミング可変回路と、前記デジタル化読出信号と前記リー
ドクロックの位相差を検出する位相検出手段とを設けた
ので下記の効果を得ることができる。
信号が人力され、リードクロックを生成するＶＦＯ回路
と、前記リードクロックの位相をシフトするＶＦＯタイ
ミング可変回路と、前記デジタル化読出信号と前記リー
ドクロックの位相差を検出する位相検出手段とを設けた
ので下記の効果を得ることができる。
■高価で複雑な試験設備を必要としない。
■個々のディスク装置の特性のばらつきを考慮した試験
が可能となる。
が可能となる。
■試験工程の合理化、経済化を図ることができる。
第１図はこの発明の一実施例による磁気ディスク装置の
構成を示すブロック図、第２図および第３図は同実施例
の動作を示すタイムチャートであり、第２図は磁気媒体
に欠陥がない場合の理想的状態におけるタイムチャート
、第３図は磁気媒体に欠陥がある場合のタイムチャート
である。 ９・・・・・・ＶＦＯ回路、ＩＯ・・・・・・ハードデ
ィスクコントローラ、１４・・・・・・ＶＦＯタイミン
グ可変回路、１５・・・・・・ＣＰＵ、１６・・・・・
・トライステート回路。
構成を示すブロック図、第２図および第３図は同実施例
の動作を示すタイムチャートであり、第２図は磁気媒体
に欠陥がない場合の理想的状態におけるタイムチャート
、第３図は磁気媒体に欠陥がある場合のタイムチャート
である。 ９・・・・・・ＶＦＯ回路、ＩＯ・・・・・・ハードデ
ィスクコントローラ、１４・・・・・・ＶＦＯタイミン
グ可変回路、１５・・・・・・ＣＰＵ、１６・・・・・
・トライステート回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 読出信号の極大、極小値に対応して生成されるデジタル
化読出信号に基づいて磁気媒体の特性を測定するように
した磁気ディスク装置において、前記デジタル化読出信
号が入力され、リードクロックを生成するＶＦＯ回路と
、 前記リードクロックの位相をシフトするＶＦＯタイミン
グ可変回路と、 前記デジタル化読出信号と前記リードクロックの位相差
を検出する位相検出手段と を具備することを特徴とする磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31073388A JPH02156483A (ja) | 1988-12-08 | 1988-12-08 | 磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31073388A JPH02156483A (ja) | 1988-12-08 | 1988-12-08 | 磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02156483A true JPH02156483A (ja) | 1990-06-15 |
Family
ID=18008829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31073388A Pending JPH02156483A (ja) | 1988-12-08 | 1988-12-08 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02156483A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100474732B1 (ko) * | 1997-06-11 | 2005-06-29 | 삼성전자주식회사 | 메인터넌스영역풀(Full)방지방법 |
-
1988
- 1988-12-08 JP JP31073388A patent/JPH02156483A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100474732B1 (ko) * | 1997-06-11 | 2005-06-29 | 삼성전자주식회사 | 메인터넌스영역풀(Full)방지방법 |
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