JPH02155236A - 実装方法 - Google Patents

実装方法

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JPH02155236A
JPH02155236A JP30951988A JP30951988A JPH02155236A JP H02155236 A JPH02155236 A JP H02155236A JP 30951988 A JP30951988 A JP 30951988A JP 30951988 A JP30951988 A JP 30951988A JP H02155236 A JPH02155236 A JP H02155236A
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electrode
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Kiyohiro Kawasaki
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は高密度で多数本の端子を有する液晶パネル等に
おける実装方法に関するものである。
従来の技術 微細加工技術、液晶材料及び実装技術等の進歩により、
2〜6インチ程度の小さな画面サイズではあるが、液晶
パネルで実用上支障無いテレビジョン画像が商用ベース
で得られるようになってきた。液晶パネルを構成する2
枚のガラス板の一方にRGBの着色層を形成しておくこ
とによりカラー表示も容易になされ、また絵素毎にスイ
ッチング素子を内蔵させた、いわゆるアクティブ型の液
晶パネルではクロストークもなくかつ高いコントラスト
比を有する画像が保証される。このような液晶パネルは
走査線としては120〜240本、信号線としては24
0〜720本程度のマトリクス編成が標準的であり、画
像を表示するためには数百本の電極線が必要である。
このような画像表示機能を有する液晶パネルの数百本の
端子電極に数百本の配線を接続する手段が実装であって
、例えば第4図に示すように液晶パネル1を構成する一
方のガラス板2上に形成された走査線と信号線の端子電
極3.4群に、ポリイミド系樹脂薄膜をベースとし金メ
ツキされな銅箔の接続部5を有する接続フィルム6を圧
接しながら接着剤で硬化して固定する方法が実施されて
いる。
さらに進んだ形としては、第5図に示すように端子電極
3°、 4°群に駆動信号を供給する半導体集積回路チ
ップ7を直接、圧接しながら接着材で固定するCOG 
(チップ・オン・グラス)方式があり、接続フィルム6
 (第4図参照)を使わないで実装工程の直村費を下げ
てコスト・ダウンを狙うとか、あるいは実装の高密度化
を推進させる目的で導入が計られている。
なお、第4図及び第5図において、8は液晶パネルを構
成するもう1枚のガラス板であり、着色層を有するもの
はカラーフィルタと呼ばれる。9.10は液晶パネル1
の中心部の画像表示部と、走査線と信号線の端子電極3
.4または  3°、4゛との間を接続する配線路で、
必ずしも端子電極と同一の導電材で構成される必要はな
いが、−般的な単純マトリクス編成の液晶パネルでは透
明導電性の例えばI T O(I n d、 i u 
m −T i n0xide)で、端子電極3.4また
は3°、4と配線路9.10は同時に形成されている。
また、第6図に示すように、押圧部材14によって接続
フィルム6やガラス板2に押しつけられた状態で、ガラ
ス基板2の裏面から紫外線硬化樹脂12へ紫外線11を
照射する実装方法も知られている。15は素子形成上必
要とされる酸化シリコン(Si02)や窒化シリコン(
Si3N4  )等の絶縁層である。
これら従来例に共通して言えることは基板上の端子を極
と接続フィルム上の接続部あるいは半導体チップのバン
プ電極とは一部樹脂を両者の間隙に残してはいるが5両
者は加圧されて接触した状態を維持しているに過ぎない
と言うことである。
言い換えれば両者が融合して合金化された状態にはない
、従って両者の間の接続(接触)抵抗は両者の表面状態
に大きく依存している。
表面状態は製造工程に於て使用された各種薬液や樹脂の
残存物による薄い被膜状のものと、両者を構成する導電
性材料が化学的に変化することによって発生した被膜状
のものとの2種類によって表面が被覆された状態と考え
ることが出来る。後者については接続フィルム6上の接
続部5の表面を金ツキするとか、あるいは半導体チップ
の電極上に金のバンプな極を形成しておく等の対策から
も分かるように、化学的に安定な今風材料の使用やコー
ティングによっである程度の対応は可能である。前者に
ついては化学的に安定な材料の使用だけでは対応しきれ
ず、とくに有機薄膜材料の残存に対してはとにかく丁寧
に溶剤で除去するか、02アッシャ−で灰化する処置し
か実行できないのが現状である。
発明が解決しようとする課題 ところが製造方法にもよるが、加熱処理を受けて重合ま
たは変質したような樹脂薄膜は溶剤だけでは簡単には除
去できず、回転ブラシとか布による掻き収りの補助を必
要とする場合が多く、逆に剥離した樹脂薄膜の再付着や
基板上の凹部への集中化などの副作用による不良も発生
している。また02アッシャ−による灰化は基板上に有
機系の薄膜が存在している場合には使えないといった制
約がある。
いずれにせよ、加圧による接触状態の維持には上記した
表面状態の問題に加えて、基板の反りや付着しているダ
ストによって生じる加圧のアンバランスも接触抵抗を変
動させるので品質管理に難点があった。
課題を解決するための手段 本発明は端子電極の表面状態に左右されない実装方法を
提供するものであり、その具体的手段は、レーザ光が端
子電極と接続部との境界面に達するように多数の開口部
を有する金属薄膜より成る端子電極を用意し、ガラス基
板裏面からのレーザ光照射による端子を極と接続部の融
合による合金化によって達成される。
作用 金属薄膜より成る端子電極に形成された開口部を通して
レーザ光が直接、接続フィルムの接続部または半導体チ
ップの金属tf!に照射されるので、両者の境界面で両
者の融合が生じ、合金化がなされる。
実施例 本発明の一実施例を第1図から第3図までの図面を参照
しながら説明する。ここでは付加価値を高めるために基
板2上に半導体チップ7を実装するCOG方式に限定し
て話を進める。
第1図(a)は本発明の第1の実施例における端子型f
i16のパターン形状を示し、第1図(b)は同パター
ンに対する実装工程の製造工程断面図を示す、17は位
置合わせされた半導体チップ7のバンプ電極である。バ
ンプ電rf117は通常ボンディングパッド21上に数
μmの厚みの金属薄膜層を複数層積層して形成されてい
る。
金属薄膜、例えば1μm程度の膜厚のアルミニウム(A
I)より成り、複数個の開口部18を有する端子電極1
6を形成されたガラス基板2に、バンプ電極17が形成
された半導体チップ7を位置合わせした後に両者を密接
させる。そしてガラス基板2の裏面よりレーザ光19を
端子型fl!16に選択的に照射する。すると端子電極
16の開口部18を通過してバンプ電極17に届いたレ
ーザ光はバンプt[i17の表面を開口部18のパター
ンに従って溶融し、開口部18のパターンエツジに沿っ
て端子を極16と部分的に融合する。
レーザ光19の波長は特に短波長でなければガラス基板
2や絶縁層15で減衰してしまう恐れはなく、ガラス材
によっては赤外線レーザ光であっても構わない、むしろ
照射時間とレーザ光のパワーの制御が重要であり、接触
している端子電極16とバンプ電極17の表面部分のみ
が、溶融して合金化するような条件設定が大切である。
この意味ではバンプ電極17も可能な限り低温で溶融し
、かつ溶融し合った二つの金属が互いに濡れ合って混晶
化し易いような金属材が望ましく、一般的な金のバンプ
電極17とAIとの相性は良好である。
膜厚の厚いバンプ電f!17が用意されていれば端子電
極16をAIに限定する理由はとくになく、Cr等の金
属薄膜でも支障はない。
また半導体チップ7のバンプ電極17外の領域への不要
なレーザ光照射は半導体チップ7内に損傷を与えるので
無意味であることは明かである。
レーザ光19の選択的照射は例えば、端子電極16また
はバンプ電極17の配置に合わせてレーザ光19の伝送
が可能なファイバーを並べても良いし、十分に冷却され
た窓材からの選択的照射で合っても構わない、要するに
レーザ光19の照射回数を少なくして生産性を向上させ
る事が工業的には大切である。また端子電極16とバン
プ電極17との大小関係は特に重要な意味は持たない、
開口部18の形状と個数は端子電極16の大きさで決定
され、接触抵抗を下げたいならば小さな正方形を多数配
置するとよい。
第2図に示す本発明の第2の実施例においては、第1の
実施例におけるバンプ電極17を不要とする構成につい
て説明する。
第2図(a)は本実施例における端子型@20のパター
ン形状を示し、端子電極20は透明導電性のITOより
成り、その先端部に島状にAIの補助電極22が複数個
形成されている。21は位置合わせされた半導体チップ
7のボンディングパッドであり、一般的にボンディング
パッド21もAIで形成されている。第2図(b)は同
パターンに対する実装工程の製造工程断面図を示す。
上記端子電極20を有するガラス基板2に、バンプ電極
が形成されていない半導体チップ7を位置合わせした後
に両者を密着させる。そのためには補助電極22は半導
体チップ7の表面を保護している、例えば1μm程度の
膜厚のシリコン窒化膜24に形成されたボンディングパ
ッド21を露出するための開口部25の内側に位置しな
ければならない、また補助電極22が半導体チップ7の
ボンディングパッド21と接触するためには補助電極2
2の膜厚は、前記シリコン窒化膜24よりも厚く、例え
ば1.2μmが必要である。
そしてガラス基板2の裏面よりレーザ光19を端子を極
20の先端部のみに選択的に照射する。
すると島状の補助電極22を除いて透明な端子電極20
を通過してボンディングパッド21に届いたレーザ光1
9はボンディングパッド21の表面を補助電極22の逆
パターンに従って溶融し、島状のパターンエツジに沿っ
て補助電極22と部分的に融合する0本実施例において
はボンディングパッド21も補助電極22も同じ材質の
AIなので両者が融合して再結晶化するときに歪が発生
してストレスが残ることはない。
第3図(a)は本発明の第3の実施例における端子電極
26のパターン形状を示し、端子電極26は複数個の開
口部18を有する金属薄膜例えば0.1μm程度の膜厚
のCrより成り、その先端部には前記開口部18に対応
した開口部を有するAIの補助電極27が形成されてい
る。21は位置合わせされた慕導体チップ7のボンディ
ングパッドであり、同じ(AIで形成されている。第3
図(b)は同パターンに対する実装工程の製造工程断面
図を示す。
上記端子T4極26を有するガラス基板2に、バンプt
8I!が形成されていない半導体チップ7を位置合わせ
した後に両者を密着させる。補助電極27の満たすべき
条件は第2の実施例における補助電極22と全く同一で
ある。ガラス基板2の裏面よりレーザ光19を端子電極
26の先端部のみに照射すると、端子電極26と補助電
極27とを貫通する開口部18を通過してボンディング
パッド21に届いたレーザ光はボンディングパッド21
の表面を開口部18のパターンに従って溶融し、島状の
パターンエツジに沿って補助電極27と部分的に融合す
る。
発明の効果 以上の説明からも明かなように本発明においては、端子
電極を有する基板への半導体チップや接続フィルムの実
装に当たって、接続方法が二種類の導電材の接触ではな
く、レーザ照射による表面の融合に続く再結晶化または
合金化によってなされている。このため、薄い被膜状の
残存物が介在したり表面層にわずかな変質層が存在して
も再結晶化あるいは合金化した境界面に取り込まれてし
まうので、接続抵抗の経時変化は皆無となり、接続抵抗
もほぼゼロと見なせるほど小さい、また従来のように接
着剤を使用することはないので、加熱あるいは紫外線照
射に伴う副作用は発生しない等の優れた効果が得られる
請求項2.3記載の発明のように端子電極までの配線層
を膜厚の薄い導電性材質で形成し、端子電極の先端部に
半導体チップのボンディングパッドと接触する補助電極
を設けることによりバンプ電極を必要としない実装も可
能であり、実装のコストダウンへの寄与は極めて高い。
本発明の要点は、透光性基板裏面からのレーザ照射と、
端子電極部にレーザ光の通路を形成することにあり、そ
の工業的用途は実施例で取り上げた液晶パネルに限定さ
れるものではなく、透光性の石英やサファイア等の基板
へのパッケージレス実装等にも適用できることは言うま
でもない。
【図面の簡単な説明】
第1図から第3図までは本発明の第1〜第3の実施例に
係る実装方法における端子電極のパターン形状と実装工
程の断面図〜、第4図と第5図は液晶パネルを対象とす
る従来のフィルム実装と半導体チップ実装の斜視図、第
6図は紫外線硬化型の接着剤を用いた従来のフィルム実
装工程の断面図である。 2・・・ガラス基板、7・・・半導体チップ、16・・
・(金属薄膜の)端子電極、17・・・バンプ電極、1
8・・・開口部、19・・・レーザ光、20・・・(透
明導電性の)端子電極、21・・・ボンディングパッド
、22・・・ (島状のAtの)補助電極、24・・・
(半導体チップの)シリコン窒化膜、27・・・(開口
部を有するA1の)補助電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野 型車はか1名第1図 (α) I6・−通子1鍮 17・・・ハ゛ンプ1r敬 I8− 開口部 第1図 (b) 2−7jラスSワ 7一  牛講停+ツブ。 計−レーザ光 12  図 ノ (α) η−m  テ 1 号 2j・・・ ポン9インラパツド 22−・−掃肪電i 1? 2−−  が  ラ  ス 蕃 敬 7−主溝淳チップ 19−−−  し  −  ザ 光。 2− カラス7&俵 7−子傳体÷ツブ 1B−M  C1舘 21−  ポン手イブグパツド ご−−一 禰 助 t 盲

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)バンプ電極を有する半導体チップまたは接続フィ
    ルムを金属薄膜の端子電極を有する透光性基板に実装す
    るにあたり、複数個の開口部を有する金属薄膜の端子電
    極を、前記バンプ電極と位置合わせし密着させた後、前
    記透光性基板の裏面よりレーザ光を前記端子電極に選択
    的に照射し、前記バンプ電極と端子電極とを融合させて
    接続することを特徴とする実装方法。
  2. (2)半導体チップを透明導電性の端子電極を有する透
    光性基板に実装するにあたり、前記端子電極上に半導体
    チップのパシベーション絶縁層よりも厚い膜厚のアルミ
    ニウムより成る島状の補助電極を複数個形成し、前記半
    導体チップのボンディングパッドと前記端子電極を位置
    合わせし密着させた後、前記透光性基板の裏面よりレー
    ザ光を前記端子電極に選択的に照射し、前記バンプ電極
    と補助電極とを融合させて接続することを特徴とする実
    装方法。
  3. (3)半導体チップを金属薄膜の端子電極を有する透光
    性基板に実装するに当り、複数個の開口部を有する金属
    薄膜の端子電極上に半導体チップのパシベーション絶縁
    層よりも厚い膜厚のアルミニウムより成り前記開口部に
    対応する開口部を有する補助電極を形成し、前記半導体
    チップのボンディングパッドと前記端子電極を位置合わ
    せし密着させた後、前記透光性基板の裏面よりレーザ光
    を前記端子電極に選択的に照射し、前記バンプ電極と補
    助電極とを融合させて接続することを特徴とする実装方
    法。
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