JPH0215427A - トラッキングエラー検出方法 - Google Patents
トラッキングエラー検出方法Info
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- JPH0215427A JPH0215427A JP16622488A JP16622488A JPH0215427A JP H0215427 A JPH0215427 A JP H0215427A JP 16622488 A JP16622488 A JP 16622488A JP 16622488 A JP16622488 A JP 16622488A JP H0215427 A JPH0215427 A JP H0215427A
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- ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M thionine Chemical compound [Cl-].C1=CC(N)=CC2=[S+]C3=CC(N)=CC=C3N=C21 ANRHNWWPFJCPAZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N triphenylmethane Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク、光テープ、光カードなどの光学的
情報記憶媒体を用いる光デイスク装置等の情報記憶装置
においてトラッキングエラーを検出するトラッキングエ
ラー検出方法に関する。
情報記憶媒体を用いる光デイスク装置等の情報記憶装置
においてトラッキングエラーを検出するトラッキングエ
ラー検出方法に関する。
従来、ウォルドビットを設けた光学的情報記憶媒体を用
いる光デイスク装置等の情報記憶装置における１へラッ
キングエラー検出方法が特開昭６２−１８３０３７号公
報等により知られている。
いる光デイスク装置等の情報記憶装置における１へラッ
キングエラー検出方法が特開昭６２−１８３０３７号公
報等により知られている。
第４図乃至第７図はこのトラッキングエラー検出方法の
説明図である。第４図において１，２は例えば光ディス
クからなる光学的情報記憶媒体上の隣接した情報トラッ
クの中心線を示し、３，４．５．６はこれらの中心線１
，２に対してそれぞれ左右（両側）に同じ距離だけずら
せると共に中心線１．２上で前後方向に所定間隔だけず
らせて設けられた一対のウォブルドピットを示す。また
７゜８はタイミングマーク用ピットを示し、９は光学的
情報記憶媒体に照射される集光レーザビームのスポット
を示す。この集光レーザビームのスポット９は情報トラ
ック上を等速度で相対的に移動して走査する。
説明図である。第４図において１，２は例えば光ディス
クからなる光学的情報記憶媒体上の隣接した情報トラッ
クの中心線を示し、３，４．５．６はこれらの中心線１
，２に対してそれぞれ左右（両側）に同じ距離だけずら
せると共に中心線１．２上で前後方向に所定間隔だけず
らせて設けられた一対のウォブルドピットを示す。また
７゜８はタイミングマーク用ピットを示し、９は光学的
情報記憶媒体に照射される集光レーザビームのスポット
を示す。この集光レーザビームのスポット９は情報トラ
ック上を等速度で相対的に移動して走査する。
第５図は光学的情報記憶媒体から信号を検出する光学系
（ピックアップ）の−例を示す。透明基板１０と凹凸ピ
ットを含む情報記録面１１とを有する光ディスク１２は
スピンドルモータＩ３によって等回転数もしくは等線速
度で回転駆動される。一方、レーザダイオード１４から
放射されたレーザビームはコリメータレンズ１５．偏光
プリズム１６．１ ／ ４波長板１７．開口数０．５前
後を有する集光レンズ１８により光ディスク１２の情報
記録面１１上に半値全幅１μｍ前後の光スポツト径で照
射されてそのスポットが光ディスク１２の情報トラック
上を等速度で走査し、その反射光は偏光プリズム１６．
１ ／ ４波長板１７．集光レンズ１８からなる再帰光
学系に再入射して偏光プリズム１６により反射され、光
検出器１９により反射光量の変化として検出されて再生
信号ａが得られる。
（ピックアップ）の−例を示す。透明基板１０と凹凸ピ
ットを含む情報記録面１１とを有する光ディスク１２は
スピンドルモータＩ３によって等回転数もしくは等線速
度で回転駆動される。一方、レーザダイオード１４から
放射されたレーザビームはコリメータレンズ１５．偏光
プリズム１６．１ ／ ４波長板１７．開口数０．５前
後を有する集光レンズ１８により光ディスク１２の情報
記録面１１上に半値全幅１μｍ前後の光スポツト径で照
射されてそのスポットが光ディスク１２の情報トラック
上を等速度で走査し、その反射光は偏光プリズム１６．
１ ／ ４波長板１７．集光レンズ１８からなる再帰光
学系に再入射して偏光プリズム１６により反射され、光
検出器１９により反射光量の変化として検出されて再生
信号ａが得られる。
上記ウォブルドピッｈ３，４．５，６とタイミングマー
ク用ピット７．８は深さλ／４（λは上記レーザビーム
の波長）程度の凹凸ピットであり、この凹凸ピットの上
には金属膜などの光反射層あるいはＴｅ、Ｓｅ、Ｂｉ、
Ｔｉなどの金属９合金、シアニン色素、トリフェニルメ
タン色素、スクワリリウム色素、ピリリウム色素などの
光吸収反射性記８膵あるいは光磁気記録膜が設けられる
。集光ビームスポット９は凹凸ピットの形状を変化させ
ない程度にその光強度が弱められ、情報トラックに沿っ
て移動し、上記光学系により再生信号ａとして第６図に
示すような時系列信号が得られる。第６回において２０
．２１はウォブルドピット３，４または５．６に対応し
た信号であり、２２はタイミングマーク用ピット７．８
に対応した信号である。集光ビームスポット９が情報ト
ラックの中心線１，２上を移動している時には信号２０
．２１の振φｍが等しくなるが、集光ビームスポット９
が情報トラックの中心線１，２に対して第４図において
下方にずれた時には信号２１の振幅が信号２０の振幅よ
り大きくなり、集光ビームスポット９が情報１−ラック
の中心線１，２に対して第４図において上方にずれた時
には信号２０の振幅が信号２１の振幅より大きくなる。
ク用ピット７．８は深さλ／４（λは上記レーザビーム
の波長）程度の凹凸ピットであり、この凹凸ピットの上
には金属膜などの光反射層あるいはＴｅ、Ｓｅ、Ｂｉ、
Ｔｉなどの金属９合金、シアニン色素、トリフェニルメ
タン色素、スクワリリウム色素、ピリリウム色素などの
光吸収反射性記８膵あるいは光磁気記録膜が設けられる
。集光ビームスポット９は凹凸ピットの形状を変化させ
ない程度にその光強度が弱められ、情報トラックに沿っ
て移動し、上記光学系により再生信号ａとして第６図に
示すような時系列信号が得られる。第６回において２０
．２１はウォブルドピット３，４または５．６に対応し
た信号であり、２２はタイミングマーク用ピット７．８
に対応した信号である。集光ビームスポット９が情報ト
ラックの中心線１，２上を移動している時には信号２０
．２１の振φｍが等しくなるが、集光ビームスポット９
が情報トラックの中心線１，２に対して第４図において
下方にずれた時には信号２１の振幅が信号２０の振幅よ
り大きくなり、集光ビームスポット９が情報１−ラック
の中心線１，２に対して第４図において上方にずれた時
には信号２０の振幅が信号２１の振幅より大きくなる。
これを利用して時系列信号ａより集光ビームスポット９
の情報トラック中心線１，２からのずれが検出され、こ
の検出信号に基づいてトラッキングアクチュエータが集
光ビームスポット９を情報トラック中心線１，２に合わ
せるように動作してトラッキングサーボ制御が行われる
。ウォブルドピット３，４．５，６はタイミングマーク
用ピッｈ７，８と組み合わされて所定のパターン（他の
情報信号中には出現しないように選択されたパターン）
を形成しており、時系列信号ａからそのパターンの通過
するタイミングが電気回路手段により検出され、そのタ
イミングに基づいてウオルドピット３，４．５，６に対
応した信号２０．２１のみが抜き取られて前述したトラ
ッキングエラー信号が得られる。またウォブルドピット
３，４．５．６とタイミングマーク用ピット７．８から
なるピット列のパターンは光ディスク１２の１トラツク
上に５００〜２０００組が等間隔で設けられ、トラッキ
ングエラー信号の周波数帯域に対して必要十分なサンプ
リング数が選択される。説明を分かり易くするために、
第７図に示すようにウォブルドピット３，４又は５，６
に対応した信号２０．２１の各レベルをＡ、Ｂ、時系列
信号ａにおける光デイスク上のピットのない部分に対す
る信号のレベルをＣ、タイミングマーク用ピット７．８
に対応する信号２２のレベルをＤとすると、従来はトラ
ッキングエラー信号ＴＥをＴＥ＝（Ａ−Ｃ）−（Ｂ−Ｃ
）として検出している。
の情報トラック中心線１，２からのずれが検出され、こ
の検出信号に基づいてトラッキングアクチュエータが集
光ビームスポット９を情報トラック中心線１，２に合わ
せるように動作してトラッキングサーボ制御が行われる
。ウォブルドピット３，４．５，６はタイミングマーク
用ピッｈ７，８と組み合わされて所定のパターン（他の
情報信号中には出現しないように選択されたパターン）
を形成しており、時系列信号ａからそのパターンの通過
するタイミングが電気回路手段により検出され、そのタ
イミングに基づいてウオルドピット３，４．５，６に対
応した信号２０．２１のみが抜き取られて前述したトラ
ッキングエラー信号が得られる。またウォブルドピット
３，４．５．６とタイミングマーク用ピット７．８から
なるピット列のパターンは光ディスク１２の１トラツク
上に５００〜２０００組が等間隔で設けられ、トラッキ
ングエラー信号の周波数帯域に対して必要十分なサンプ
リング数が選択される。説明を分かり易くするために、
第７図に示すようにウォブルドピット３，４又は５，６
に対応した信号２０．２１の各レベルをＡ、Ｂ、時系列
信号ａにおける光デイスク上のピットのない部分に対す
る信号のレベルをＣ、タイミングマーク用ピット７．８
に対応する信号２２のレベルをＤとすると、従来はトラ
ッキングエラー信号ＴＥをＴＥ＝（Ａ−Ｃ）−（Ｂ−Ｃ
）として検出している。
上記従来のトラッキングエラー検出方法ではウォブルド
ピッＩ−３，４又は５，６に対応した信号２０．２１の
振幅の差でトラッキングエラー信号を検出しているので
、光学的情報記憶媒体の反射光レベルの変動によりトラ
ッキングエラー信号の利得が変動してしまう。このため
、光学的情報記憶媒体の記録膜の反射率の変動、レーザ
ビームの強度変動、光学系の汚れ、情報ピットの信号レ
ベルのバラツキに対する許容値を大きくすることができ
ず、実用上問題があった。
ピッＩ−３，４又は５，６に対応した信号２０．２１の
振幅の差でトラッキングエラー信号を検出しているので
、光学的情報記憶媒体の反射光レベルの変動によりトラ
ッキングエラー信号の利得が変動してしまう。このため
、光学的情報記憶媒体の記録膜の反射率の変動、レーザ
ビームの強度変動、光学系の汚れ、情報ピットの信号レ
ベルのバラツキに対する許容値を大きくすることができ
ず、実用上問題があった。
本発明は上記欠点を除去し、利得変動が少ない安定なト
ラッキングエラー信号が得られるトラッキングエラー検
出方法を提供することを目的とする。
ラッキングエラー信号が得られるトラッキングエラー検
出方法を提供することを目的とする。
本発明は光学的情報記憶媒体における情報トラックの中
心線に対して左右に同じ距離だけずらせると共に前後に
所定間隔だけずらせて設けられた一対のウォブルドピッ
トを、前記情報トラック上を等速度で相対的に移動する
集光ビームスポットで走査しながらその反射光を検出し
、この検出信号より前記一対のウォブルドピットに対応
したパルスの幅を検出してこれらのパルス幅の差を演算
し、この差に基づいてトラッキングエラー信号を得る。
心線に対して左右に同じ距離だけずらせると共に前後に
所定間隔だけずらせて設けられた一対のウォブルドピッ
トを、前記情報トラック上を等速度で相対的に移動する
集光ビームスポットで走査しながらその反射光を検出し
、この検出信号より前記一対のウォブルドピットに対応
したパルスの幅を検出してこれらのパルス幅の差を演算
し、この差に基づいてトラッキングエラー信号を得る。
本発明の実施例は前述したトラッキングエラー検出方法
において、第３図に示すように時系列信号ａよりウォブ
ルドピット３，４又は５，６に対応した信号２０．２１
の振幅の差を検出するのではなく、時系列信号ａを、ピ
ットの信号レベルと非ピット部分の信号レベルとの間に
設定されるしきい値Ｔｈと比較して２値化し、この２値
化信号すにおけるウォブルドピット３，４又は５，６に
対応したパルスの幅をΔＴ Ａ ＋ 八Ｔゎ、タイミン
グマーク用ピット７．８に対応したパルスの幅を八Ｔ。
において、第３図に示すように時系列信号ａよりウォブ
ルドピット３，４又は５，６に対応した信号２０．２１
の振幅の差を検出するのではなく、時系列信号ａを、ピ
ットの信号レベルと非ピット部分の信号レベルとの間に
設定されるしきい値Ｔｈと比較して２値化し、この２値
化信号すにおけるウォブルドピット３，４又は５，６に
対応したパルスの幅をΔＴ Ａ ＋ 八Ｔゎ、タイミン
グマーク用ピット７．８に対応したパルスの幅を八Ｔ。
としたとき、トラッキングエラー信号ＴＥをＴＥ＝ΔＴ
Ａ−ΔＴ。
Ａ−ΔＴ。
として検出することを特徴とする。この場合しきい値Ｔ
ｈは交流結合回路を介して取り出された時系列信号ａに
対して接地レベルに設定してもよく、また北光ビームス
ポット９がピットの中心を通過する時の時系列信号ａの
レベルＰと上記レベルＣとの中間の値例えば（Ｃ十Ｐ）
／２に設定してもよい。したがってこの実施例によって
得られるトラッキングエラー信号は光学的情報記憶媒体
の製造バラツキ、ピックアップの組付はバラツキに影響
される時系列信号ａの振幅レベルではなく、時系列信号
ａの２値化後のパルス幅に基づいているので１時系列信
号ａのレベル変動に対して利得変動が生じにくく安定な
トラッキングエラー信号が得られる。
ｈは交流結合回路を介して取り出された時系列信号ａに
対して接地レベルに設定してもよく、また北光ビームス
ポット９がピットの中心を通過する時の時系列信号ａの
レベルＰと上記レベルＣとの中間の値例えば（Ｃ十Ｐ）
／２に設定してもよい。したがってこの実施例によって
得られるトラッキングエラー信号は光学的情報記憶媒体
の製造バラツキ、ピックアップの組付はバラツキに影響
される時系列信号ａの振幅レベルではなく、時系列信号
ａの２値化後のパルス幅に基づいているので１時系列信
号ａのレベル変動に対して利得変動が生じにくく安定な
トラッキングエラー信号が得られる。
第１図は本発明の実施例で用いた回路を示し、第２図は
そのタイミングチャートである。
そのタイミングチャートである。
コンパレータ３１及びパターン比較器３２には前記光検
出器１９からの時系列信号ａが入力され、この時系列信
号ａはコンパレータ３１にて比較電源３３の比較電圧（
上記しきい値Ｔｈ）と比較されて２値化されることによ
り第２図に示すようなパルス信号となる。このコンパレ
ータ３１の出力信号３４は遅延回路３５．３６によりそ
れぞれ遅延され、遅延回路３５゜３６の遅延時間は全体
的にはウォルブドピット３又は５とタイミングマーク用
ピット７．８に対応するパルスの間隔程度であって互い
に各一対のウォルブドピット３，４又は５，６の間隔に
相当する時間（はぼ集光ビームスポット９が一対のウォ
ルブドビットの間を通過する時間）だけ異なっている。
出器１９からの時系列信号ａが入力され、この時系列信
号ａはコンパレータ３１にて比較電源３３の比較電圧（
上記しきい値Ｔｈ）と比較されて２値化されることによ
り第２図に示すようなパルス信号となる。このコンパレ
ータ３１の出力信号３４は遅延回路３５．３６によりそ
れぞれ遅延され、遅延回路３５゜３６の遅延時間は全体
的にはウォルブドピット３又は５とタイミングマーク用
ピット７．８に対応するパルスの間隔程度であって互い
に各一対のウォルブドピット３，４又は５，６の間隔に
相当する時間（はぼ集光ビームスポット９が一対のウォ
ルブドビットの間を通過する時間）だけ異なっている。
したがって第２図に示すように一対のウォルブドビット
３，４又は５，６に対応するパルス幅ΔＴ Ａ ｊ Δ
Ｔ、のパルスが時間的に重なった信号３７゜３８が遅延
回路３５．３６より得られる。この信号３７．３８は差
演算器３９により差が演算されることにより一対のウォ
ルブドピット３，４又は５，６に対応するパルス幅ΔＴ
Ａ ｔΔＴ、のパルスの差がとられ、第２図に示すよ
うな信号４０が得られる。一方、パターン比較器３２は
前記光検出器１９からの時系列信号ａが一対のウォルド
ピットを含む特定ピットのパターンであるか否かを検出
して第２図に示すような出力信号４１を出力し、パ・ル
ス発生器４２はパターン比較器３２の出力信号４１に基
づいて第２図に示すような所定パルス幅のゲートパルス
４３を発生する。ゲート回路４４は差演算器３９の出力
信号４０より一対のウォルブドピット３，４又は５，６
に対応するパルス幅ΔＴＡ、ΔＴ、のパルスの差をとっ
た部分だけをパルス発生器４２からのゲートパルス４３
により抽出し、このゲート回路４４の第２図に示すよう
な出力信号４５は積分器４６等によりアナログ信号に変
換されてトラッキングエラー信号ＴＥとして出力される
。
３，４又は５，６に対応するパルス幅ΔＴ Ａ ｊ Δ
Ｔ、のパルスが時間的に重なった信号３７゜３８が遅延
回路３５．３６より得られる。この信号３７．３８は差
演算器３９により差が演算されることにより一対のウォ
ルブドピット３，４又は５，６に対応するパルス幅ΔＴ
Ａ ｔΔＴ、のパルスの差がとられ、第２図に示すよ
うな信号４０が得られる。一方、パターン比較器３２は
前記光検出器１９からの時系列信号ａが一対のウォルド
ピットを含む特定ピットのパターンであるか否かを検出
して第２図に示すような出力信号４１を出力し、パ・ル
ス発生器４２はパターン比較器３２の出力信号４１に基
づいて第２図に示すような所定パルス幅のゲートパルス
４３を発生する。ゲート回路４４は差演算器３９の出力
信号４０より一対のウォルブドピット３，４又は５，６
に対応するパルス幅ΔＴＡ、ΔＴ、のパルスの差をとっ
た部分だけをパルス発生器４２からのゲートパルス４３
により抽出し、このゲート回路４４の第２図に示すよう
な出力信号４５は積分器４６等によりアナログ信号に変
換されてトラッキングエラー信号ＴＥとして出力される
。
尚、第１図の回路は本発明の一実施例で用いた回路であ
り、他の周知のディジタル及びアナログ電気回路を用い
て本発明を実施することもできる。
り、他の周知のディジタル及びアナログ電気回路を用い
て本発明を実施することもできる。
以上のように本発明によれば光学的情報記憶媒体におけ
る情報トラックの中心線に対して左右に同じ距随だけず
らせると共に１前後に所定間隔だけずらせて設けられた
一対のウォブルドピットを、前記情報トラック上を等速
度で相対的に移動する集光ビームスポットで走査しなが
らその反射光を検出し、この検出信号より前記一対のウ
ォブルドピッ１−に対応したパルスの幅を検出してこれ
らのパルス幅の差を演算し、この差に基づいてトラッキ
ングエラー信号を得るので、光学的情報記憶媒体の記録
膜の反射率が異なったり光学的情報記憶媒体のピット信
号レベルが異なったり光学系や信号検出回路系にバラツ
キがあったりしても利得変動が少ない安定なトラッキン
グエラー信号が得られる。
る情報トラックの中心線に対して左右に同じ距随だけず
らせると共に１前後に所定間隔だけずらせて設けられた
一対のウォブルドピットを、前記情報トラック上を等速
度で相対的に移動する集光ビームスポットで走査しなが
らその反射光を検出し、この検出信号より前記一対のウ
ォブルドピッ１−に対応したパルスの幅を検出してこれ
らのパルス幅の差を演算し、この差に基づいてトラッキ
ングエラー信号を得るので、光学的情報記憶媒体の記録
膜の反射率が異なったり光学的情報記憶媒体のピット信
号レベルが異なったり光学系や信号検出回路系にバラツ
キがあったりしても利得変動が少ない安定なトラッキン
グエラー信号が得られる。
第１図は本発明の一実施例で用いた回路を示すブロック
図、第２図は同回路の動作を示すタイミングチャート、
第３図は本発明を説明するためのタイミングチャート、
第４図は光デイスク上のウォブルドピット及びタイミン
グマーク用ピットを示す図、第５図はトラッキングエラ
ーの検出に用いられる光学系の一例を示す図、第６図は
同光学系により得られる信号を示す波形図、第７図は従
来のトラッキングエラー検出方法を説明するための波形
図である。 ３１・・・コンパレータ、３２・・・パターン比較器、
３３・・・比較電源、３５．３６・・・遅延回路、３９
・・・差演算器、４２・・・パルス発生器、４４・・・
ゲート回路、４６・・・積分回路。 鋲 図 第 図 第 ろ 図 党 図 第 図
図、第２図は同回路の動作を示すタイミングチャート、
第３図は本発明を説明するためのタイミングチャート、
第４図は光デイスク上のウォブルドピット及びタイミン
グマーク用ピットを示す図、第５図はトラッキングエラ
ーの検出に用いられる光学系の一例を示す図、第６図は
同光学系により得られる信号を示す波形図、第７図は従
来のトラッキングエラー検出方法を説明するための波形
図である。 ３１・・・コンパレータ、３２・・・パターン比較器、
３３・・・比較電源、３５．３６・・・遅延回路、３９
・・・差演算器、４２・・・パルス発生器、４４・・・
ゲート回路、４６・・・積分回路。 鋲 図 第 図 第 ろ 図 党 図 第 図
Claims (1)
- 光学的情報記憶媒体における情報トラックの中心線に対
して左右に同じ距離だけずらせると共に前後に所定間隔
だけずらせて設けられた一対のウォブルドピットを、前
記情報トラック上を等速度で相対的に移動する集光ビー
ムスポットで走査しながらその反射光を検出し、この検
出信号より前記一対のウォブルドピットに対応したパル
スの幅を検出してこれらのパルス幅の差を演算し、この
差に基づいてトラッキングエラー信号を得ることを特徴
とするトラッキングエラー検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63166224A JP2695191B2 (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | トラッキングエラー検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63166224A JP2695191B2 (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | トラッキングエラー検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0215427A true JPH0215427A (ja) | 1990-01-19 |
| JP2695191B2 JP2695191B2 (ja) | 1997-12-24 |
Family
ID=15827414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63166224A Expired - Fee Related JP2695191B2 (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | トラッキングエラー検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2695191B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0669473U (ja) * | 1993-03-05 | 1994-09-30 | 川崎重工業株式会社 | 変位制限機構付空気バネ構造 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5744239A (en) * | 1981-07-13 | 1982-03-12 | Hitachi Ltd | Information reproducer |
-
1988
- 1988-07-04 JP JP63166224A patent/JP2695191B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5744239A (en) * | 1981-07-13 | 1982-03-12 | Hitachi Ltd | Information reproducer |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0669473U (ja) * | 1993-03-05 | 1994-09-30 | 川崎重工業株式会社 | 変位制限機構付空気バネ構造 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2695191B2 (ja) | 1997-12-24 |
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