JPH0215377A - はんだ付検査方法 - Google Patents
はんだ付検査方法Info
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- JPH0215377A JPH0215377A JP63166188A JP16618888A JPH0215377A JP H0215377 A JPH0215377 A JP H0215377A JP 63166188 A JP63166188 A JP 63166188A JP 16618888 A JP16618888 A JP 16618888A JP H0215377 A JPH0215377 A JP H0215377A
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Links
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、平面上のはんだ付においてはんだ量の多少よ
りはんだ付の良否を判定する検査方法に関する。
りはんだ付の良否を判定する検査方法に関する。
〈従来の技術〉
はんだ付の有無及び量を検査するはんだ付検査方法とし
ては、従来、目視検査または自動検査が用いられている
。
ては、従来、目視検査または自動検査が用いられている
。
目視検査は、最も簡単な方法であり、低コストの方法と
して一般に広く行われている。
して一般に広く行われている。
自動検査は、信頼性が高く、人件費を少なくした方法で
ある。この自動検査技術は、プリント基板のはんだ付の
例を上げると、レーザー光などの光線をはんだ付面に垂
直に照射し、反射光をセンサーにより検出し、はんだの
有無を検査する方法などが用いられていた。
ある。この自動検査技術は、プリント基板のはんだ付の
例を上げると、レーザー光などの光線をはんだ付面に垂
直に照射し、反射光をセンサーにより検出し、はんだの
有無を検査する方法などが用いられていた。
〈発明が解決しようとする課題〉
上記従来の方法において、目視検査は、人間の視覚によ
り行われるので、長時間検査を行うと、疲労により信頼
性が低下し、また、作業者の健康管理面でも問題が多い
。
り行われるので、長時間検査を行うと、疲労により信頼
性が低下し、また、作業者の健康管理面でも問題が多い
。
一方、自動検査は、必要な設備として、はんだ付状態を
モニターテレビなどにより人間の目によって視認するた
めの一般画像入力装置の他に、レーザー光照射装置、セ
ンサー並びに照射装置を検査箇所へ移動し位置決めする
ための機構などの高価な装置を必要とする。
モニターテレビなどにより人間の目によって視認するた
めの一般画像入力装置の他に、レーザー光照射装置、セ
ンサー並びに照射装置を検査箇所へ移動し位置決めする
ための機構などの高価な装置を必要とする。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、−船側像入力装置だけで自動検査が行えるように
したはんだ付検査方法を提供することである。
的は、−船側像入力装置だけで自動検査が行えるように
したはんだ付検査方法を提供することである。
く課題を解決するだめの手段〉
上記目的を達成するために、本発明によるはんだ付検査
方法は、はんだ付がなされた平面に対して垂直方向から
照明し、照明されたはんだ付面を撮像し、撮像されたは
んだ付面の画像の中の明度の低い画素面積の割合と、明
度の低い画素集団に包囲される明度の高い画素面積の割
合から、はんだ付の良否を判定する。
方法は、はんだ付がなされた平面に対して垂直方向から
照明し、照明されたはんだ付面を撮像し、撮像されたは
んだ付面の画像の中の明度の低い画素面積の割合と、明
度の低い画素集団に包囲される明度の高い画素面積の割
合から、はんだ付の良否を判定する。
〈作用〉
本発明によるはんだ付検査方法においては、はんだ付面
の画像の中の明度の低い画素面積の割合からはんだ付の
良否を判定するという一般画素入力装置を用いた処理の
みによってはんだ付面の自動検査が行えるものである。
の画像の中の明度の低い画素面積の割合からはんだ付の
良否を判定するという一般画素入力装置を用いた処理の
みによってはんだ付面の自動検査が行えるものである。
〈実施例〉
第１図は本実施例のはんだ付検査方法を実施する装置の
概念的な構成を示している。図において、１は面光源、
２はハーフミラ−１３は検査対象であるプリント基板、
４は撮像カメラ、５は画像処理装置である。
概念的な構成を示している。図において、１は面光源、
２はハーフミラ−１３は検査対象であるプリント基板、
４は撮像カメラ、５は画像処理装置である。
このはんだ付検査装置は、暗室内に設置されている。検
査基板３は、均一な白色光を発生ずる面光ａ１及びハー
フミラ−・２により垂直面から落射照明される。検査基
板３のはんだ付状態は、ハーフミラ−２を通してカメラ
４により撮像され１、この撮像されたはんだ付部分の画
像は画像処理装置５によって処理される６撞像カメラ４
は白黒カメラであり、画像処理装置５における画像処理
は濃淡処理である、 以下、はんだ滑を検出する方法について説明する。
査基板３は、均一な白色光を発生ずる面光ａ１及びハー
フミラ−・２により垂直面から落射照明される。検査基
板３のはんだ付状態は、ハーフミラ−２を通してカメラ
４により撮像され１、この撮像されたはんだ付部分の画
像は画像処理装置５によって処理される６撞像カメラ４
は白黒カメラであり、画像処理装置５における画像処理
は濃淡処理である、 以下、はんだ滑を検出する方法について説明する。
第２図と第３図はプリント基板３に実装されたチップ部
品のはんだ付の構造を示し゛ており、第２図は側面構造
、第３図は平面構造である。図において、６ははんだ、
７は角形チップ部品、８はランドである。
品のはんだ付の構造を示し゛ており、第２図は側面構造
、第３図は平面構造である。図において、６ははんだ、
７は角形チップ部品、８はランドである。
第２図と第３図に示す例は、はんだ付が良好な例であり
、はんだ６は角形チップ部品の７の電極７ａと基板３上
の導体（図示せず）との間に適正な量が形成されている
。ランド８及びチップ部品７の電極面は基板３に平行な
金属面であり、この金属面において照明光は基板面３ａ
に対し垂直方向に反射し、ごの反射光はカメラ４に入射
する。
、はんだ６は角形チップ部品の７の電極７ａと基板３上
の導体（図示せず）との間に適正な量が形成されている
。ランド８及びチップ部品７の電極面は基板３に平行な
金属面であり、この金属面において照明光は基板面３ａ
に対し垂直方向に反射し、ごの反射光はカメラ４に入射
する。
一方、はんだ６０表面は、金属面であるが、表面は基板
面３ａに平行ではなく傾きをもっている。
面３ａに平行ではなく傾きをもっている。
このため、照明光はばんだ６においては基板面３ａに対
して垂直方向に反射せず、斜め方向の反射光はカメラ４
には入射しない。したがって、カメラ４により撮像され
た画像は、はんだ６の部分は明度の低い黒になり、ラン
ド８およびチップ部品７は明度が高い白になる。はんだ
６が盛り上がった状態では、はんだ６０表面に基板面３
ａに対して平行な面６ａが形成され、この部分では照明
光は基板面３ａに対して垂直に反射するため、撮像され
た画像はばんだ６の黒い領域の中に白い領域が生じる。
して垂直方向に反射せず、斜め方向の反射光はカメラ４
には入射しない。したがって、カメラ４により撮像され
た画像は、はんだ６の部分は明度の低い黒になり、ラン
ド８およびチップ部品７は明度が高い白になる。はんだ
６が盛り上がった状態では、はんだ６０表面に基板面３
ａに対して平行な面６ａが形成され、この部分では照明
光は基板面３ａに対して垂直に反射するため、撮像され
た画像はばんだ６の黒い領域の中に白い領域が生じる。
第４図と第５図ははんだ付が不良の場合の例を示してい
る。第４図は側面構造、第５図は平面構造である。この
場合、はんだ６の量が極端に少なく、また、全くはんだ
が無いため、画像の中の男い領域の面積が僅少であるか
または黒い領域が全く存在しない。
る。第４図は側面構造、第５図は平面構造である。この
場合、はんだ６の量が極端に少なく、また、全くはんだ
が無いため、画像の中の男い領域の面積が僅少であるか
または黒い領域が全く存在しない。
以上のように、はんだ付の良、不良によって画像中の黒
い領域の面積が異なることから、この黒い領域の面積の
大小によってはんだ付の良、不良を判定することができ
る。また、黒い領域の面積及び黒い領域に囲まれた白い
領域の面積の２種類の面積値より、はんだ６の量を求め
ることができる。
い領域の面積が異なることから、この黒い領域の面積の
大小によってはんだ付の良、不良を判定することができ
る。また、黒い領域の面積及び黒い領域に囲まれた白い
領域の面積の２種類の面積値より、はんだ６の量を求め
ることができる。
以下、第１図に示す検査装置において」−配力法を実施
する手順について説明する。
する手順について説明する。
カメラ４ｔこより撮像された画像は、画像処理装置５に
取ｉｔ）込まれ、画像処理により濃淡値をもった画素デ
ータに変換されてメモリに格納される。
取ｉｔ）込まれ、画像処理により濃淡値をもった画素デ
ータに変換されてメモリに格納される。
そして、予め画像処理装置５に入力されているランド８
及びチップ部品７の位置、面積、形状の各情報にしたが
ってランド８からランド８上にあるチップ部品７の画素
を抜いた形のマスクがか１フ゛られる。
及びチップ部品７の位置、面積、形状の各情報にしたが
ってランド８からランド８上にあるチップ部品７の画素
を抜いた形のマスクがか１フ゛られる。
画像処理装置５では、上記マスク内の画像においてはん
だ６による濃淡値の低い値をもつ画素面積と、その画素
集団に含まれる濃淡値の高い値をもつ画素面積が求めら
れる。なお、画像処理装置５には基準となる濃淡値の低
い値の範囲及び高い値の範囲が予め設定されている。ま
ず、濃淡値の高い画素面積が誤差量を越えている場合、
はんだ６は充分盛り上がった状態にあり、はんだ付は良
好であると判定される。また、濃淡値の高い画素面積が
誤差量を越えていない場合は、濃淡値の低い画素面積が
はんだ付が良好と判定する最小値と比較され、画素面積
がそれより大であると良好と判定され、小さいと不良で
あると判定される。
だ６による濃淡値の低い値をもつ画素面積と、その画素
集団に含まれる濃淡値の高い値をもつ画素面積が求めら
れる。なお、画像処理装置５には基準となる濃淡値の低
い値の範囲及び高い値の範囲が予め設定されている。ま
ず、濃淡値の高い画素面積が誤差量を越えている場合、
はんだ６は充分盛り上がった状態にあり、はんだ付は良
好であると判定される。また、濃淡値の高い画素面積が
誤差量を越えていない場合は、濃淡値の低い画素面積が
はんだ付が良好と判定する最小値と比較され、画素面積
がそれより大であると良好と判定され、小さいと不良で
あると判定される。
なお、上記説明に用いた画像処理装置としては、濃淡値
の低い値と高い値とのコントラストが大きい場合には、
２値化画像処理を行なうものでもよく、また、白黒では
なくカラーの画像処理を行なう装置では、色成分を除い
た明度値によって判定が可能である。
の低い値と高い値とのコントラストが大きい場合には、
２値化画像処理を行なうものでもよく、また、白黒では
なくカラーの画像処理を行なう装置では、色成分を除い
た明度値によって判定が可能である。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、−ａ的な画像人
力処理装置のみではんだ付の自動検査を行なうことがで
き、検査の高精度化と低コスト化をともに実現すること
ができる。
力処理装置のみではんだ付の自動検査を行なうことがで
き、検査の高精度化と低コスト化をともに実現すること
ができる。
第１図は本発明を適用した検査装置の構成を示す図、
第２図、第３図、第４図、第５図は検査対象の膨軟を示
す図である。 １・・・面光源 ２・・・ハーフミラ− ３・・・検査基板 ４・・・撮像カメラ ５・・・画像処理装置 ６・・・はんだ ７・・・千ノブ部品 ８・・・ランド 特許出願人 シャープ株式会社 代 理 人 弁理士 西１）新
す図である。 １・・・面光源 ２・・・ハーフミラ− ３・・・検査基板 ４・・・撮像カメラ ５・・・画像処理装置 ６・・・はんだ ７・・・千ノブ部品 ８・・・ランド 特許出願人 シャープ株式会社 代 理 人 弁理士 西１）新
Claims (1)
- はんだ付がなされた平面に対して垂直方向から照明し、
照明されたはんだ付面を撮像し、撮像されたはんだ付面
の画像の中の明度の低い画素面積の割合と、明度の低い
画素集団に包囲される明度の高い画素面積の割合から、
はんだ付の良否を判定することを特徴とするはんだ付検
査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63166188A JPH0215377A (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | はんだ付検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63166188A JPH0215377A (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | はんだ付検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0215377A true JPH0215377A (ja) | 1990-01-19 |
Family
ID=15826714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63166188A Pending JPH0215377A (ja) | 1988-07-04 | 1988-07-04 | はんだ付検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0215377A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07128252A (ja) * | 1993-11-05 | 1995-05-19 | Fujitsu Ten Ltd | はんだ付け検査方法及び装置 |
-
1988
- 1988-07-04 JP JP63166188A patent/JPH0215377A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07128252A (ja) * | 1993-11-05 | 1995-05-19 | Fujitsu Ten Ltd | はんだ付け検査方法及び装置 |
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