JPH02151544A - 画像センサ - Google Patents

画像センサ

Info

Publication number
JPH02151544A
JPH02151544A JP1220497A JP22049789A JPH02151544A JP H02151544 A JPH02151544 A JP H02151544A JP 1220497 A JP1220497 A JP 1220497A JP 22049789 A JP22049789 A JP 22049789A JP H02151544 A JPH02151544 A JP H02151544A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image sensor
semiconductor
ccd
image
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1220497A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0687583B2 (ja
Inventor
Hans Spies
ハンス・シュピース
Alfons Woehrl
アルフォンス・ヴェール
Martin Spies
マルティン・シュピース
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Airbus Defence and Space GmbH
Original Assignee
Messerschmitt Bolkow Blohm AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Messerschmitt Bolkow Blohm AG filed Critical Messerschmitt Bolkow Blohm AG
Publication of JPH02151544A publication Critical patent/JPH02151544A/ja
Publication of JPH0687583B2 publication Critical patent/JPH0687583B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4816Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of receivers alone
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/89Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • G01S17/8943D imaging with simultaneous measurement of time-of-flight at a 2D array of receiver pixels, e.g. time-of-flight cameras or flash lidar
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/93Lidar systems specially adapted for specific applications for anti-collision purposes
    • G01S17/931Lidar systems specially adapted for specific applications for anti-collision purposes of land vehicles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/486Receivers
    • G01S7/4861Circuits for detection, sampling, integration or read-out
    • G01S7/4863Detector arrays, e.g. charge-transfer gates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14831Area CCD imagers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/102Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
    • H01L31/107Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier working in avalanche mode, e.g. avalanche photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/53Control of the integration time
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/73Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors using interline transfer [IT]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、線状ないし面状(二次元)アレーと並列な
いし順次読取部を有する特にCCD構造体中の半導体基
材上の画像センサに関する。
〔従来の技術〕
半導体センサは公知である。その利用は、例えば雑誌“
Elektronik−Praxis”1978.9月
第9巻、第12頁の評論文に記載されている。
克服すべき問題点は、高集積性と利用する技術にある。
〔発明の課題〕
この発明の課題は、公知の半導体素子とその技術を利用
して強い有効信号を有する制御可能なセンサであるため
、新しい応用を可能にする画像センサを提供することに
ある。
〔課題の解決〕
上記の課題は、外部から光が入射した場合発生する光電
流を増幅するアバランシェ・ダイオードが半導体の一方
の面に配設してあり、接続している半導体領域に空間電
荷を発生させ、CCD構造体へのキャリヤーの転送が制
御可能な電極によって行われ、半導体の他方の側に配設
した読取電極を有するCCD読取構造体で、コントラス
ト画像ないし距離画像が出力され、画像センサは光の入
射側のp添加層と接続する高抵抗のn添加層の間に電圧
を印加して電気制御できる、線状ないし面状(二次元)
アレーと並列又は順次読取部を有する特にCCD構造体
中の半導体基材上の画像センサによって解決されている
〔作用・効果) 上記の構成によって、公知のCCD装置に比べて有効信
号が約100倍向上し、制御可能なアバランシェ電圧の
助けで増幅率を調節できる受光素子の電気シャッターが
提供される。
この発明の特別な利点は、10 ns及びそれ以下(1
と10 nsの間)の程度走査できるCCDセンサが提
供される。この発明は自動車両誘導、操縦、管理あるい
は、特に有利に自動車のレーザー間隔維持系に対して画
像センサを利用できる。前記自動車のレーザー間隔維持
系では、静止しているか又は移動している障害物(車両
)までのレーザー距離測定に利用されている。
〔実施例〕
この発明を以下に図面に示す実施例に基づきより詳しく
説明する。
第1図には、送信器と受信器を備えた全体の装置あるい
は全系の構造が示しである。新しい画像センサで得られ
たような画像がCCDアレーの下部に縮小して示しであ
る。
第2図には、機能ブッロクと共にブロック回路図が示し
である。パルスレーザ−のレーザー装置はアバランシェ
電圧を制御可能な画像センサに出力するゲート発生器に
連結していることが判る。
この画像センサは光学系2を備えた受信器として使用さ
れる。この送信器には、光学系lがある。
画像センサと前記発生器は、遠隔画像信号を発生させる
CCDCD読取フィツト結している。
第3図には、個々の受光セルの構造を断面にして示しで
ある。この場合、入射ビーム、例えば光が第3図の下か
ら来る。実際には、半導体基材の上の画像センサの素子
はpnp構造を有する。下端では、p型シリコンとn型
シリコンの間の境界領域にその上に更にp型シリコン被
膜とその上に二酸化シリコン層が続いているが、増幅部
10を有するアバランシェ・ダイオードを形成している
この画像センサの電気制御は、CCD転送用の空間電荷
を領域11で発生させて行われる。この領域は、第3図
に示すように、高抵抗n型シリコン層の上のp型シリコ
ンのほぼ中心領域にあると有利である。p型シリコンの
上には、透明な層、例えば二酸化シリコンが配設してあ
り、なだらかな窪みにCCD読取構造体、例えば多結晶
シリコン又は類似な適当な物質の領域が配設しである。
この物質は読取構造体を作製するため部分的に被覆する
公知技術で作製される。読取と評価はそれ自体公知であ
るので、詳しく説明も図示もしない(西独特許筒381
7153号公報又は“Thw Radi。
and Electronic Engineer” 
Vol、 50+ No、 5+ pp。
205、206を参照)。
画像センサの詳細は第4図に図示しである。この第4図
の上部には、更に重要な層構造が中間領域に高抵抗n型
層を有するpnp構造(サンドイッチ構造状)であるこ
とが認識できる。第4図の上側には、CCD構造体を読
取ためにアルミ電極のSingの薄膜が部分的に被覆さ
れている。測定したいビーム(波長λlを有する)の光
が第4図の下から入射する。アバランシェ効果、特に増
幅効果を100倍までの増幅率は、その下に模式的に示
してあり、約5 nsの範囲の走査によっる負の制御電
圧の印加は、同様に第4図の右下に被膜構造のよこに断
面にして示しである。
面状CCDセンサの構造の重要なことは、半導体の一方
の側に面状のCCD構造体が、またCCDセンサの反対
側(背面)にはアバランシェ・ダイオードが、特にこの
ために知られている添加物質を注入ないし添加して形成
しである。ここに説明した構造の場合、高抵抗のn型層
と最後のp型層の間に高い電圧が印加されていると、光
が入射した場合、アバランシェ効果によって対応する箇
所に強い電場が生じる。この電場はキャリヤーを適当な
電極構造の助けて読取できるCCD構造体の下のp型層
中で発生させる(第3図参照)。アバランシェ・ダイオ
ードは全面にわたって効果があるが、キャリヤーの転送
は個々に半導体の体積中でCCD構造体に向けて行われ
、走査ないし伝送の時点で面状の画像コントラストを発
生する。
従って、走査時点(スタート)、走査期間(ns)及び
走査パルスと送信パルスの間の相関を適切に選択すると
遠隔画像を表示できる。
この発明を用いると、高い増幅率や約係数100倍の感
度上昇の外に、10 ns以下の走査時間の程度の非常
に短時間で走査できる、特にCCDカメラの画像センサ
のような受光素子の電気シャッターが特に提供される。
前記走査時間は、従来どんな場合でも比較的経費をかけ
なくては達成できなかった。
この発明の応用は、西独特許箱3640449号公報に
よるレーザーを用いた距離監視系又は距離系の場合に有
利である。
自動案内系「プロメティユス」“Prometheus
(Bild der Wissenschaft 10
−1988.3.134を参照)の場合に利用すると特
に有利である。
【図面の簡単な説明】
第1図、この発明によるCCDアレーの画像センサを保
有する送信器と受信器を装備した全系の模式図。 第2図、この発明による画像センサの全系の機能ブロッ
ク回路図。 第3図、この発明による画像センサの受光セルの断面図
。 第4図、画像センサの断面と付随する走査パルスの波形
と増幅率の模式グラフ。 図中引用記号: 1・・・送信光学系、 2・・・受信光学系、 10・・・増幅部、 11・・・空間電荷発生領域。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、線状ないし面状(二次元)アレーと並列又は順次読
    取部を有する特にCCD構造体中の半導体基材上の画像
    センサにおいて、 外部から光が入射した場合発生する光電流を増幅するア
    バランシェ・ダイオードが半導体の一方の面に配設して
    あり、 接続している半導体領域に空間電荷を発生させ、CCD
    構造体へのキャリヤーの転送が制御可能な電極によって
    行われ、 半導体の他方の側に配設した読取電極を有するCCD読
    取構造体で、コントラスト画像ないし距離画像が出力さ
    れ、 画像センサは光の入射側のp添加層と接続する高抵抗の
    n添加層の間に電圧を印加して電気制御できる、 ことを特徴とする画像センサ。 2、前記画像センサは、同時にシャッターとして使用さ
    れることを特徴とする請求項1記載の画像センサ。 3、前記画像センサは、レーザー送信器とレーザー受信
    器を装備した自動車の距離監視系に(受信器として)使
    用されることを特徴とする請求項1又は2記載の画像セ
    ンサ。 4、前記画像センサは、自動的に(相互)間隔維持部を
    有する(集積サビースデータ回路案内トラックを有する
    )自動車両案内系に(受信器として)使用されることを
    特徴とする請求項3記載の画像センサ。
JP1220497A 1988-11-23 1989-08-29 画像センサ Expired - Fee Related JPH0687583B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3839513.4 1988-11-23
DE3839513A DE3839513A1 (de) 1988-11-23 1988-11-23 Bildsensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02151544A true JPH02151544A (ja) 1990-06-11
JPH0687583B2 JPH0687583B2 (ja) 1994-11-02

Family

ID=6367706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1220497A Expired - Fee Related JPH0687583B2 (ja) 1988-11-23 1989-08-29 画像センサ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5086342A (ja)
EP (1) EP0377078B1 (ja)
JP (1) JPH0687583B2 (ja)
CA (1) CA2003684A1 (ja)
DE (2) DE3839513A1 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4107850B4 (de) * 1990-03-10 2006-06-29 Daimlerchrysler Ag Anordnung zur Verbesserung der Sicht, insbesondere in Fahrzeugen
JP2646146B2 (ja) * 1990-03-28 1997-08-25 三菱電機株式会社 車間距離制御装置
DE4222642A1 (de) * 1992-07-10 1994-01-13 Bodenseewerk Geraetetech Bilderfassende Sensoreinheit
EP0583844B1 (en) * 1992-08-18 1999-07-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus with light concentration means and plural image sensors
US5877897A (en) 1993-02-26 1999-03-02 Donnelly Corporation Automatic rearview mirror, vehicle lighting control and vehicle interior monitoring system using a photosensor array
US6822563B2 (en) 1997-09-22 2004-11-23 Donnelly Corporation Vehicle imaging system with accessory control
DE4422886C2 (de) * 1994-06-30 1997-02-20 Daimler Benz Aerospace Ag Verfahren und Einrichtung zur optischen Bestimmung räumlicher Positionen einzelner reflektierender Objekte
US5612555A (en) * 1995-03-22 1997-03-18 Eastman Kodak Company Full frame solid-state image sensor with altered accumulation potential and method for forming same
US5563404A (en) * 1995-03-22 1996-10-08 Eastman Kodak Company Full frame CCD image sensor with altered accumulation potential
US6891563B2 (en) 1996-05-22 2005-05-10 Donnelly Corporation Vehicular vision system
US7655894B2 (en) 1996-03-25 2010-02-02 Donnelly Corporation Vehicular image sensing system
EP1047955A1 (de) * 1997-11-11 2000-11-02 Franz Josef Lohmar Verfahren und vorrichtung zur ermittlung von messzeiträumen für die vermessung von von sichthindernissen zumindest teilweise umgebenen punkten mittels satelliten
KR100508277B1 (ko) 1997-12-23 2005-08-17 지멘스 악티엔게젤샤프트 3차원 거리 측정 이미지를 기록하기 위한 방법 및 장치
DE19833207A1 (de) * 1998-07-23 2000-02-17 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes
DE19757595C2 (de) * 1997-12-23 2000-05-11 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes
ES2391556T3 (es) 2002-05-03 2012-11-27 Donnelly Corporation Sistema de detección de objetos para vehículo
DE10247925A1 (de) * 2002-10-15 2004-04-29 Robert Bosch Gmbh Optischer Sensor
US7526103B2 (en) 2004-04-15 2009-04-28 Donnelly Corporation Imaging system for vehicle
WO2008024639A2 (en) 2006-08-11 2008-02-28 Donnelly Corporation Automatic headlamp control system
US8717469B2 (en) * 2010-02-03 2014-05-06 Microsoft Corporation Fast gating photosurface

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3533061A (en) * 1968-02-12 1970-10-06 Univ Ohio Source-sensor longitudinal control system
JPS5035793B1 (ja) * 1970-09-11 1975-11-19
US3737851A (en) * 1971-04-01 1973-06-05 Traffic Safety Systems Inc Precision vehicle interval detection and signaling system
US3889284A (en) * 1974-01-15 1975-06-10 Us Army Avalanche photodiode with varying bandgap
JPS52101990A (en) * 1976-02-21 1977-08-26 Hitachi Ltd Semiconductor device for photoelectric transducer and its manufacture
JPS5421294A (en) * 1977-07-19 1979-02-17 Mitsubishi Electric Corp Avalanche photo diode
FR2469805A1 (fr) * 1979-11-09 1981-05-22 Thomson Csf Matrice de detection d'un rayonnement electromagnetique et intensificateur d'images radiologiques comportant une telle matrice
JPS604135Y2 (ja) * 1980-07-25 1985-02-05 日産自動車株式会社 障害物検知装置
JPS5815375A (ja) * 1981-07-22 1983-01-28 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JPS5861679A (ja) * 1981-10-07 1983-04-12 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 量子井戸層付アバランシ・ホトダイオ−ド
JPS5919480A (ja) * 1982-07-26 1984-01-31 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JPS5928769A (ja) * 1982-08-10 1984-02-15 Sony Corp スチルビデオカメラ
US4622596A (en) * 1983-02-21 1986-11-11 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus
US4665325A (en) * 1984-01-30 1987-05-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid state image sensor with signal amplification
US4875100A (en) * 1986-10-23 1989-10-17 Sony Corporation Electronic shutter for a CCD image sensor
WO1988004082A1 (en) * 1986-11-25 1988-06-02 Zone Technology Pty. Limited Digital image acquisition system
DE3640449C1 (de) * 1986-11-27 1988-06-30 Messerschmitt Boelkow Blohm Einrichtung zum Bestimmen der Entfernung zwischen zwei Objekten,insbesondere zwei Kraftfahrzeugen
JPS6442992A (en) * 1987-08-08 1989-02-15 Olympus Optical Co Solid-state image pickup device
JPH0715979B2 (ja) * 1987-08-27 1995-02-22 三菱電機株式会社 超格子撮像素子
DE3817153A1 (de) * 1988-05-19 1989-11-30 Messerschmitt Boelkow Blohm Halbleiter-bauelement
JPH0821727B2 (ja) * 1988-11-18 1996-03-04 日本電気株式会社 アバランシェフォトダイオード
US4902886A (en) * 1989-01-23 1990-02-20 Hewlett-Packard Company Noise reduction for photodiode arrays

Also Published As

Publication number Publication date
DE3839513C2 (ja) 1992-05-07
EP0377078A3 (en) 1990-11-28
DE58907410D1 (de) 1994-05-11
CA2003684A1 (en) 1990-05-23
EP0377078A2 (de) 1990-07-11
US5086342A (en) 1992-02-04
DE3839513A1 (de) 1990-05-31
JPH0687583B2 (ja) 1994-11-02
EP0377078B1 (de) 1994-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02151544A (ja) 画像センサ
US11467286B2 (en) Methods and systems for high-resolution long-range flash lidar
EP2166373B1 (en) Back surface incident type distance measuring sensor and distance measuring device
JP5585903B2 (ja) 距離画像センサ、及び撮像信号を飛行時間法により生成する方法
US6924887B2 (en) Method and apparatus for generating charge from a light pulse
JP5518667B2 (ja) 距離センサ及び距離画像センサ
US20200096619A1 (en) Time of flight sensor
KR102342233B1 (ko) 거리 센서 및 거리 화상 센서
US9494688B2 (en) Range sensor and range image sensor
JP2011215073A (ja) 距離センサ及び距離画像センサ
US9151677B2 (en) Method and system for demodulating signals
WO2022061821A1 (zh) 器件及其制备方法、接收芯片、测距装置、可移动平台
US5005085A (en) Controllable semiconductor image sensor and arrangement with such a sensor
US6657706B2 (en) Method and apparatus for resolving relative times-of-arrival of light pulses
WO2022170476A1 (zh) 激光接收电路及其控制方法、测距装置、移动平台
US20230420466A1 (en) Methods and systems for infrared sensing
CN116583959A (zh) 用于红外感测的方法和系统
CN107331723A (zh) 感光元件及测距系统
JP2012083219A (ja) 距離センサ及び距離画像センサ

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees