JPH02149997A - スタテイツクramに対するアドレス増幅回路 - Google Patents

スタテイツクramに対するアドレス増幅回路

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JPH02149997A
JPH02149997A JP1266070A JP26607089A JPH02149997A JP H02149997 A JPH02149997 A JP H02149997A JP 1266070 A JP1266070 A JP 1266070A JP 26607089 A JP26607089 A JP 26607089A JP H02149997 A JPH02149997 A JP H02149997A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
address
output
signal line
reset
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1266070A
Other languages
English (en)
Inventor
Paul-Werner Basse
パウルウエルナー、バツセ
Jean-Marc Dortu
ジヤンマルク、ドルチユ
Andrea Herlitzek
アンドレア、ヘルリツエーク
Dieter Kohlert
デイーター、コーレルト
Ulrich Schaper
ウルリツヒ、シヤーパー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of JPH02149997A publication Critical patent/JPH02149997A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/418Address circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 この発明は、スタティックG a A s −RAM内
に使用するための多重アドレス指定に対するセルフイン
ターロングおよび保護を有するアドレス増幅回路に関す
るものである。
〔従来の技術〕
メモリモジュール内の個々のメモリセルを選択するため
には、与えられたアドレスをデコードする必要がある。
これらのアドレスの切換わりの際に、特にアドレス信号
の緩徐な切換側縁または互いにずらされた切換側縁にお
いて、2つまたはそれ以上のメモリセルが同時にアドレ
ス指定される中間状態が生じ得る。このことはメモリセ
ルの重ね書き、従ってまたデータ喪失に通じ得る。この
問題は特に高速メモリにおいて生ずる。なぜならば、そ
の場合には、メモリモジュールの内部切換時間を基準に
してのアドレス信号のタイミングの不確実さが特に大き
くなるからである。
ダイナミックメモリの技術から、アドレスデコーダを1
つの追加的なアドレスデコーダーレリーズ信号により、
アドレス信号が安定にデコーダに与えられるまで、遮断
する解決策は知られている。
その後に初めてデコーディングがレリーズされるので、
いまや安定しているアドレス信号により1つのデコーダ
のみが1つの選択信号を供給し得る。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の課題は、スタティックGaAs −RAM内に
使用するための多重アドレス指定に対する保護を有する
アドレス増幅回路を提供することである。
〔課題を解決するための手段] この課題を解決するため、本発明のアドレス増幅回路に
おいては、第1のリセット・ゲートおよび第1のセット
・ゲートを有する第1のフリップフロップと、第2のリ
セット・ゲートおよび第2のセット・ゲートを有する第
2のフリップフロップとが存在しており、第1のノア・
ゲートおよび第2のノア・ゲートが存在しており、1つ
のチップ・イネーブル信号線が第1のノア・ゲート、第
2のノア・ゲート、第1のセット・ゲートおよび第2の
セット・ゲートのそれぞれ1つの入力端と接続されてお
り、アドレス信号線が第1のノア・ゲートの1つの入力
端と、また1つのノット回路を介して第2のノア・ゲー
トの1つの入力端と接続されており、第1のセット・ゲ
ートおよび第2のセット・ゲートの出力端がそれぞれ第
1のノアゲートおよび第2のノア・ゲートのそれぞれ1
つの入力端と接続されており、第1のノア・ゲートの出
力端が第1のリセット・ゲートの1つの入力端と、また
第2のノア・ゲートの出力端が第2のリセット・ゲート
の1つの入力端と接続されており、第1のリセット・ゲ
ートの出力端が第1の出力信号線に、また第2のリセッ
ト・ゲートの出力端が第2の出力信号線に通じているも
のである。
GaAs−DCFL (直接結合FE!、T論理回路)
内ではデコーダはノアゲートとして実現される。
第3図には例として16ビツト×1を存する1つのメモ
リの配置およびデコーディングが示され°ζいる。メモ
リセルは通常のように縦列および横列に配置されている
。1つの横列(水平)は、付属のワード線(横列に対す
るデコーダの出力端)が1つの論理“1″を導くときに
選択される。この場合、メモリセルは相応の内部ビット
線と接続される。これらの内部ビット線はスイッチを介
して、外界との接続を行う外部ビット線と接続され′C
いる。2つのビット線またはワード線の同時選択の際に
は2つのメモリセルが互いに接続され、このことが記憶
される情報の相互重ね書きに通じ得ることは容易に認識
される。
〔実施例J 以下、1面により本発明を説明する。
第3図かられかるように、デコーダ出力はすべての入力
が“Oooであるときにのみ1°°に移行し得る。アド
レスバッファは通常のように、アドレス信号およびその
否定をデコーダに伝達する設計されたインバータである
。従って、アドレス切換わりの間の不定状態がデコーダ
に伝達される。
アドレスバッファへの不定状態の伝達を防止するだめに
は、モジュールが待ち状態に位置しているか、または1
つの書込みまたは続出し過程が行われ°Cいるかをモジ
ュールに報知する1つのチンブーイア−プル信号が必要
とされる。この信号の極性は通常のように高レベルが休
止状態を、また低レベルが能動的(続出しまたは書込み
)状態を報知するように定められている。この信号は、
いまもはやインバータとして構成されずに下記の特性を
存する2つのメモリ要素として構成されているアドレス
バッファを制御コロする(第1図および第2図)。
1、休止の間はすべてのアドレスバッファ出力端が高電
位を導く。
2、チップ・イネーブル信号の立ち下がりによりアドレ
スが読込まれ、またアドレスデコーダに伝達される。1
つのメモリ能動化の終了により、すなわちチップ・イネ
ーブル信号の立ち上がりにより、すべてのアドレスバッ
ファ出力端が再び高電位に切換えられる。
この形式のデコーダ駆動は、論理“O”が伝達されるべ
きアドレスバッファ出力端のみがその状態を変更するよ
うにする。第3図から明らかなように、高電位を有する
1つの導線がすべての接続されているデコーダゲートを
遮断するので、低レベルに跳躍するアドレスバッファ出
力線のQ後のものが、どのワード線が選択されるかを決
定する。
こうして複数の同時に選択されたワード線を有する不定
状態はもはや生じ得ない。
チップ・イネーブル信号の立ち下がりによりアドレスを
授受するためセルフインターロック技術が選択される(
第1図)、チップ・イネーブル信号の低レベルによりゲ
ートがアドレスラッチへ開かれ、従って、アドレス信号
の極性に関係して、1つのアドレス線に属する両アドレ
スラッチのそれぞれ1つが1つのセットパルスを受け、
また跳躍する。跳躍したアドレスラッチの出力信号がゲ
ートを遮断するので、アドレス情報はいま、アドレス線
上のレベルの後続の変化に関係なく、記憶されている。
休止の開始によりアドレスラッチはチンブーイネーブル
信号の高レベルにより1つのリセット信号を受け、この
リセット信号が再出力を高電位に切換える。第1図には
この装置の1つの原理回路図が示されている。
第2図には、伝播時間最適化のための追加的な措置が講
じられているアドレス増幅装置の実際的な構成が示され
ている。デコーダ線を駆動すべき出力段は常時オフ−ト
ランジスタから成るプッシュプル段として構成されてい
る。アクセス時間に対して臨界的な時間はチップ・イネ
ーブル信号の立ち下がりから両川力信号の一方の立ち下
がりまでの時間である。
この時間は、信号ZおよびYが直接にプッシュプル段に
導かれるごとにより短縮される。それにより出力線は、
アドレスラッチが情報を2つのゲート伝播時間の後に記
憶し終わる前に既に下方に引かれる(PIQが°゛高7
なるよりもエフ純AIが゛°低′°になる)。
第1図、第2図において、Adrはアドレス信号線、A
は第1の出力信号線、八は第2の出力信号線、Flは第
1のソリツブフロップ、R1は第1のリセットゲート、
Slは第1のセットゲート、F2は第2のフリップフロ
ップ、R2は第2のリセットゲート、S2は第2のセ・
ントゲート、Nlは第1のノアゲート、N2は第2のノ
アゲート、CEはナツプ−イネーブル信号線、nはノッ
ト回路である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるアドレス増幅回路の回路図、第2
図は出力段が実際上有利に構成されている本発明による
アドレス増幅回路の回路図、第3図はデコーディングを
有する1つの16ビノトメモリの概要図である。 A、A・・・出力信号線 Adr・・・アドレス信号線 CB・・・ナツプ−イネーブル信号線 Fl、F2・・・フリップフロップ Nl5N2・・・ノア・ゲート 1’?1.、R2・・・リセット・ゲートS1、S2・
・・セットーゲート IG IG 2

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)1つのアドレス信号線(Adr)、第1の出力信
    号線(A)および第2の出力信号線(■)を有するスタ
    ティックRAMに対するアドレス増幅回路において、 第1のリセット・ゲート(R1)および第1のセット・
    ゲート(S1)を有する第1のフリップフロップ(F1
    )と、第2のリセット・ゲート(R2)および第2のセ
    ット・ゲート(S2)を有する第2のフリップフロップ
    (F2)とが存在しており、 第1のノア・ゲート(N1)および第2のノア・ゲート
    (N2)が存在しており、 1つのチップ・イネーブル信号線(CE)が第1のノア
    ・ゲート(N1)、第2のノア・ゲート(N2)、第1
    のセット・ゲート(S1)および第2のセット・ゲート
    (S2)のそれぞれ1つの入力端と接続されており、 アドレス信号線(Adr)が第1のノア・ゲート(N1
    )の1つの入力端と、また1つのノット回路(n)を介
    して第2のノア・ゲート(N2)の1つの人力端と接続
    されており、 第1のセット・ゲート(S1)および第2のセット・ゲ
    ート(S2)の出力端がそれぞれ第1のノア・ゲート(
    N1)および第2のノア・ゲート(N2)のそれぞれ1
    つの入力端と接続されており、 第1のノア・ゲート(N1)の出力端が第1のリセット
    ・ゲート(R1)の1つの入力端と、また第2のノア・
    ゲート(N2)の出力端が第2のリセット・ゲート(R
    2)の1つの入力端と接続されており、 第1のリセット・ゲート(R1)の出力端が第1の出力
    信号線(A)に、また第2のリセット・ゲート(R2)
    の出力端が第2の出力信号線(■)に通じている ことを特徴とするスタティックRAMに対するアドレス
    増幅回路。
JP1266070A 1988-10-14 1989-10-12 スタテイツクramに対するアドレス増幅回路 Pending JPH02149997A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3835116A DE3835116A1 (de) 1988-10-14 1988-10-14 Adressverstaerkerschaltung mit selbstverriegelung und sicherung gegen mehrfachadressierung zur verwendung in statischen gaas-rams
DE3835116.1 1988-10-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02149997A true JPH02149997A (ja) 1990-06-08

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ID=6365167

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JP1266070A Pending JPH02149997A (ja) 1988-10-14 1989-10-12 スタテイツクramに対するアドレス増幅回路

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US (1) US4958319A (ja)
EP (1) EP0363984A3 (ja)
JP (1) JPH02149997A (ja)
DE (1) DE3835116A1 (ja)

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Also Published As

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EP0363984A2 (de) 1990-04-18
DE3835116A1 (de) 1990-04-19
US4958319A (en) 1990-09-18
EP0363984A3 (de) 1991-04-17

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