JPH02141943A - 光学ヘッドのナイフエッジ - Google Patents
光学ヘッドのナイフエッジInfo
- Publication number
- JPH02141943A JPH02141943A JP63295158A JP29515888A JPH02141943A JP H02141943 A JPH02141943 A JP H02141943A JP 63295158 A JP63295158 A JP 63295158A JP 29515888 A JP29515888 A JP 29515888A JP H02141943 A JPH02141943 A JP H02141943A
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- Japan
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- glass
- knife
- reflection
- light beam
- face
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 23
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 abstract description 4
- 230000002265 prevention Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、光ディスク用光学ヘッドのナイフェツジの改
良に関する。
良に関する。
〈従来の技術〉
光ディスク装置の光学ヘッドでは、光スポットを光ディ
スクのトラック上にずれなく位置させるために、トラッ
クと直交する方向と、光ディスクに直交するする方向す
なわち光軸に平行な方向の2つの方向でサーボfill
により制御する必要がある。前者のサーボ機構はトラッ
キングサーボ機構、後者のサーボ機構はフォーカスサー
ボ機構と呼ばれる。
スクのトラック上にずれなく位置させるために、トラッ
クと直交する方向と、光ディスクに直交するする方向す
なわち光軸に平行な方向の2つの方向でサーボfill
により制御する必要がある。前者のサーボ機構はトラッ
キングサーボ機構、後者のサーボ機構はフォーカスサー
ボ機構と呼ばれる。
ところで、このようなサーボ機構においては、トラッキ
ングエラーあるいはフォーカスエラーを検出する必要が
ある。
ングエラーあるいはフォーカスエラーを検出する必要が
ある。
フォーカスエラー検出の1つとしてナイフェツジ法(ま
たはフーコー法)と呼ばれるものかある。
たはフーコー法)と呼ばれるものかある。
これは、焦点ずれによるビーム形状やビームサイズの変
化を検出する手段の一つであるが、大別するとナイフェ
ツジを焦点位置に設ける場合と、焦点位置から離れた位
置に設ける場合との2種類の方法がある。
化を検出する手段の一つであるが、大別するとナイフェ
ツジを焦点位置に設ける場合と、焦点位置から離れた位
置に設ける場合との2種類の方法がある。
第2図は焦点位置に設ける場合の一例である。
光源(半導体レーザ)1から出射された光ビーム2はビ
ームスプリッタ3を透過し対物レンズ4で収束されて光
ディスク5へ照射される。光ディスクからの反射光ビー
ムは対物レンズ4を通過し、ビームスプリッタ3で反射
され2分割光検出器6に入射する。7はナイフェツジで
、対物レンズにより反射光が集束する焦点位置2におい
て、そのエツジ部分(−直線状の先端)が光軸に達する
ように配置されている。ディスクの情報面が対物レンズ
の合焦位置にあるときにはナイフェツジの影響はなく、
2分割光検出器の出力差a−bは零である。ところが、
ディスクと対物レンズとの距離が短くなると焦点位置は
遠ざかって2゛となり、ナイフェツジの影響で2分割光
検出器の出力差a−bが正となる。逆に、ディスクと対
物レンズの距離が長くなるとa−bが負になる。このよ
うな関係から、光ディスクに対する光学ヘッドの焦点ず
れを検出することができる。
ームスプリッタ3を透過し対物レンズ4で収束されて光
ディスク5へ照射される。光ディスクからの反射光ビー
ムは対物レンズ4を通過し、ビームスプリッタ3で反射
され2分割光検出器6に入射する。7はナイフェツジで
、対物レンズにより反射光が集束する焦点位置2におい
て、そのエツジ部分(−直線状の先端)が光軸に達する
ように配置されている。ディスクの情報面が対物レンズ
の合焦位置にあるときにはナイフェツジの影響はなく、
2分割光検出器の出力差a−bは零である。ところが、
ディスクと対物レンズとの距離が短くなると焦点位置は
遠ざかって2゛となり、ナイフェツジの影響で2分割光
検出器の出力差a−bが正となる。逆に、ディスクと対
物レンズの距離が長くなるとa−bが負になる。このよ
うな関係から、光ディスクに対する光学ヘッドの焦点ず
れを検出することができる。
第3図は焦点位置から離れたところにナイフェツジを置
く場合の例である。ディスク5からの反射光ビームは、
対物レンズ4を透過してナイフェツジ7(そのエツジ部
分が光軸に達するように配置されている)でビームの一
部が遮断され、遮断されない部分のビームは2分割光検
出器6に入射する。このような構成においても前記と同
様に、ディスクと対物レンズの距離が変化すると2分割
光検出器の出力信号の差が変化し、これにより光ディス
クに対する光学ヘッドの焦点ずれを検出することができ
る。
く場合の例である。ディスク5からの反射光ビームは、
対物レンズ4を透過してナイフェツジ7(そのエツジ部
分が光軸に達するように配置されている)でビームの一
部が遮断され、遮断されない部分のビームは2分割光検
出器6に入射する。このような構成においても前記と同
様に、ディスクと対物レンズの距離が変化すると2分割
光検出器の出力信号の差が変化し、これにより光ディス
クに対する光学ヘッドの焦点ずれを検出することができ
る。
ところで、このようなナイフェツジ法に使用されるナイ
フェツジには次のような条件が要求される。
フェツジには次のような条件が要求される。
■ナイフェツジ部分の真直度がよいこと。
■ナイフェツジを焦点に置くか焦点から離れた位置に置
くかによって異なるものの、真直度(エツジ部分の直線
度)は波長オーダ、すなわち約1μm程度が要求される
。
くかによって異なるものの、真直度(エツジ部分の直線
度)は波長オーダ、すなわち約1μm程度が要求される
。
■ナイフェツジのナイフ部に入射する光を遮断し、反射
しないこと。
しないこと。
■ナイフェツジに入射する光を遮断することは勿論であ
るが、ここで反射があると反射光は迷光となり他の光学
系に悪影響を及ぼすことになる0例えば、トラッキング
制御系に入射するとトラッキングオフセットとなり、正
確な溝追従の妨げとなる。
るが、ここで反射があると反射光は迷光となり他の光学
系に悪影響を及ぼすことになる0例えば、トラッキング
制御系に入射するとトラッキングオフセットとなり、正
確な溝追従の妨げとなる。
〈発明が解決しようとする課題〉
さて、従来のナイフェツジの材料としては通常金属が使
用されている。これは、加工が容易であるという理由か
らであるが、反射率が高く迷光が生じやすいという欠点
がある。
用されている。これは、加工が容易であるという理由か
らであるが、反射率が高く迷光が生じやすいという欠点
がある。
反射を少なくするための対策として表面に処理を維す方
法もあるが、この場合はナイフェツジの真直度が悪くな
るという欠点がある。
法もあるが、この場合はナイフェツジの真直度が悪くな
るという欠点がある。
本発明の目的は、このような点に鑑みてなされたもので
、上記条件を完全に満足する安価なナイフェツジを提供
することにある。
、上記条件を完全に満足する安価なナイフェツジを提供
することにある。
く課題を解決するための手段〉
このような目的を達成するための本発明は、使用波長で
の透過率ができる限り小さいフィルターガラスで形成さ
れ、その表面に入射光ビームの反射防止膜が付着された
ことを特徴とする。
の透過率ができる限り小さいフィルターガラスで形成さ
れ、その表面に入射光ビームの反射防止膜が付着された
ことを特徴とする。
く作用〉
本発明では、フィルターガラスは使用波長での透過率が
小さいので、入射光ビームは吸収され、十分な光ビーム
カットができる。同時に、反射防止膜の作用により、フ
ィルターガラス面での反射が防止され、反射光の入射方
向への逆戻りを防止することができる。
小さいので、入射光ビームは吸収され、十分な光ビーム
カットができる。同時に、反射防止膜の作用により、フ
ィルターガラス面での反射が防止され、反射光の入射方
向への逆戻りを防止することができる。
〈実施例〉
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明に係るナイフェツジの一実施例を示す構
成図である。同図(a)は正面図、同図(b)は側面図
である0図において、71はフィルターガラスで、使用
波長での透過率ができる限り小さいような材質のものが
使用される。
成図である。同図(a)は正面図、同図(b)は側面図
である0図において、71はフィルターガラスで、使用
波長での透過率ができる限り小さいような材質のものが
使用される。
光ディスク用ヘッドの光源としては、その波長が780
nmや830nmの半尋体レーザが用いられることが多
いので、ガラスとしては例えば青色のフィルターガラス
B−480を用いるのが望ましい。
nmや830nmの半尋体レーザが用いられることが多
いので、ガラスとしては例えば青色のフィルターガラス
B−480を用いるのが望ましい。
なお、フィルターガラスのエツジ部端面71aは、エツ
ジ部で回折した光ビームがガラス面で反射することのな
いように通常45°の角度に削られている。
ジ部で回折した光ビームがガラス面で反射することのな
いように通常45°の角度に削られている。
反射防止膜72は、フィルターガラス面での入射光ビー
ムの反射を防止するためのもので、入射光ビーム(ビー
ム断面は円形)の半分を十分カバーすることができるよ
うな大きさ(半円形)になっており、蒸着などの方法を
用いてフィルターガラス71面に付着させて形成する。
ムの反射を防止するためのもので、入射光ビーム(ビー
ム断面は円形)の半分を十分カバーすることができるよ
うな大きさ(半円形)になっており、蒸着などの方法を
用いてフィルターガラス71面に付着させて形成する。
このような構造により、入射光はほとんど反射すること
なくフィルターガラス71内で吸収され、また反射防止
[72は蒸着等で形成できるためナイフェツジの真直度
を劣化させることはない。
なくフィルターガラス71内で吸収され、また反射防止
[72は蒸着等で形成できるためナイフェツジの真直度
を劣化させることはない。
なお、実施例ではフィルターガラス71を四角状として
いるが、これに限定されるものではなく、例えば反射防
止膜72と同様に半円形状にしてもよい、また、フィル
ターガラスの断面形状も実施例の形状に限るものではな
く、適宜の形状にすることが可能である。
いるが、これに限定されるものではなく、例えば反射防
止膜72と同様に半円形状にしてもよい、また、フィル
ターガラスの断面形状も実施例の形状に限るものではな
く、適宜の形状にすることが可能である。
〈発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明によれば、次のよう
な効果がある。
な効果がある。
■フィルターガラスの材質の選択だけで、容易に使用波
長の光を完全に遮断できる。
長の光を完全に遮断できる。
■従来のような金属の場合とは異なり1表面を粗すこと
なく反射防止ができるため、真直度を劣化させずにすむ
。
なく反射防止ができるため、真直度を劣化させずにすむ
。
■ガラスの高精度加工は比較的容易にできるため、金属
使用の従来のナイフェツジに比較して低コストとなる。
使用の従来のナイフェツジに比較して低コストとなる。
第1図は本発明に係るナイフェツジの一実施例を示す構
成図、第2図および第3図はナイフェツジ法を説明する
ための説明構成図である。 71・・・フィルターガラス、71a・・・エツジ部端
面、72・・・反射防止膜。
成図、第2図および第3図はナイフェツジ法を説明する
ための説明構成図である。 71・・・フィルターガラス、71a・・・エツジ部端
面、72・・・反射防止膜。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 直線状のエッジ部分が光軸に接する位置に配置されると
共にその表面が光軸に直交するように配置される、光デ
ィスク用光学ヘッドのナイフエッジであって、 使用波長での透過率ができる限り小さいフィルターガラ
スで形成され、その表面に入射光ビームの反射防止膜が
付着された光学ヘッドのナイフエッジ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63295158A JPH02141943A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 光学ヘッドのナイフエッジ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63295158A JPH02141943A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 光学ヘッドのナイフエッジ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02141943A true JPH02141943A (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=17817006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63295158A Pending JPH02141943A (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 光学ヘッドのナイフエッジ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02141943A (ja) |
-
1988
- 1988-11-22 JP JP63295158A patent/JPH02141943A/ja active Pending
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