JPH02140091A - クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性測定方法 - Google Patents
クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性測定方法Info
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- JPH02140091A JPH02140091A JP1003614A JP361489A JPH02140091A JP H02140091 A JPH02140091 A JP H02140091A JP 1003614 A JP1003614 A JP 1003614A JP 361489 A JP361489 A JP 361489A JP H02140091 A JPH02140091 A JP H02140091A
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/02—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for colour television signals
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性
測定方法、特に、複合カラー映像信号のクロミナンス対
ルミナンス遅延及び利得特性を直交座標の図形表示によ
り表示する測定方法に関する。
測定方法、特に、複合カラー映像信号のクロミナンス対
ルミナンス遅延及び利得特性を直交座標の図形表示によ
り表示する測定方法に関する。
［従来の技術及び発明が解決しようとする課題］カラー
・テレビジョンにおいて、映像信号は、ルミナンス成分
、即ち、明るさ成分と、このルミナンス成分に付加され
るクロミナンス成分、即ち、色情報とから構成される。
・テレビジョンにおいて、映像信号は、ルミナンス成分
、即ち、明るさ成分と、このルミナンス成分に付加され
るクロミナンス成分、即ち、色情報とから構成される。
なお、この色情報は、副搬送波周波数で変調されている
。映像信号のこれらルミナンス成分及びクロミナンス成
分は、独立していない。カラー画像の飽和が正確ならば
、クロミナンス成分の振幅はルミナンス成分の振幅と等
しくなければならず、また、ミスレジストレーション（
３原色が適切に調整されていない）による色ずれが生じ
ないならば、これら２つの信号成分の遅延は、小さな誤
差内で等しくなければならない。よって、映像装置やシ
ステムのクロミナンス・チャンネルを試験するには、ク
ロミナンスに対するルミナンス基準を含んだ信号が必須
となる。
。映像信号のこれらルミナンス成分及びクロミナンス成
分は、独立していない。カラー画像の飽和が正確ならば
、クロミナンス成分の振幅はルミナンス成分の振幅と等
しくなければならず、また、ミスレジストレーション（
３原色が適切に調整されていない）による色ずれが生じ
ないならば、これら２つの信号成分の遅延は、小さな誤
差内で等しくなければならない。よって、映像装置やシ
ステムのクロミナンス・チャンネルを試験するには、ク
ロミナンスに対するルミナンス基準を含んだ信号が必須
となる。
遅延及び利得におけるルミナンス及びクロミナンス・チ
ャンネルの関係を試験するために開発された種々の試験
信号には、変調されたパルス波形及びバー波形がある。
ャンネルの関係を試験するために開発された種々の試験
信号には、変調されたパルス波形及びバー波形がある。
これら試験信号は、ルミナンス波形と、このルミナンス
波形を副搬送波で１００％振幅変調した波形との線形和
である。
波形を副搬送波で１００％振幅変調した波形との線形和
である。
複合試験パルス波形（サイン２乗波形を副搬送波で変調
した波形）の包路線を第７（ａ）〜第７（ｄ）図に示す
。これら波形は、パルス波形におけるクロミナンス対ル
ミナンス遅延及び利得特性の影響を表す。第７（ａ）及
び第７（ｂ）図に示す如＜、クロミナンス利得がルミナ
ンス利得を越すと、包路線のベースライン（基線）が上
方向に膨らみ、また、ルミナンス利得がクロミナンス利
得を越すと、包絡線のベースラインが上方向に膨らむ。
した波形）の包路線を第７（ａ）〜第７（ｄ）図に示す
。これら波形は、パルス波形におけるクロミナンス対ル
ミナンス遅延及び利得特性の影響を表す。第７（ａ）及
び第７（ｂ）図に示す如＜、クロミナンス利得がルミナ
ンス利得を越すと、包路線のベースライン（基線）が上
方向に膨らみ、また、ルミナンス利得がクロミナンス利
得を越すと、包絡線のベースラインが上方向に膨らむ。
クロミナンスがルミナンスより進むと、包絡線のベース
ラインは、第１（ｃ）図に示す如く、負方向のサイン波
の形になる。また、クロミナンスがルミナンスより遅れ
ると、第１（ｄ）図に示す如く、包絡線のベースライン
は、正方向のサイン波の形になる。理想状態において、
包絡線のベースラインは平坦である。しかし、第７（ａ
）〜第７（ｄ）図に示した波形から、利得又は遅延の不
一致の正確な量を求めることはできない。この目的のた
め、第８図に示す如きノモグラフが提案されている。し
かし、利得不一致の測定にこのノモグラフを用いると、
クロミナンス・ルミナンス相互変調により、誤差が生じ
る。
ラインは、第１（ｃ）図に示す如く、負方向のサイン波
の形になる。また、クロミナンスがルミナンスより遅れ
ると、第１（ｄ）図に示す如く、包絡線のベースライン
は、正方向のサイン波の形になる。理想状態において、
包絡線のベースラインは平坦である。しかし、第７（ａ
）〜第７（ｄ）図に示した波形から、利得又は遅延の不
一致の正確な量を求めることはできない。この目的のた
め、第８図に示す如きノモグラフが提案されている。し
かし、利得不一致の測定にこのノモグラフを用いると、
クロミナンス・ルミナンス相互変調により、誤差が生じ
る。
映像装置又はシステムにおけるルミナンス及びクロミナ
ンス・チャンネルの変動による映像信号のクロミナンス
対ルミナンス遅延及び利得特性ヲ、ユーザにとってより
有効に、そして、正確に表示できる測定表示が求められ
ている。
ンス・チャンネルの変動による映像信号のクロミナンス
対ルミナンス遅延及び利得特性ヲ、ユーザにとってより
有効に、そして、正確に表示できる測定表示が求められ
ている。
したがって、本発明の目的は、直交座標系により、映像
装置又はシステムのルミナンス及びクロミナンス・チャ
ンネル間の利得及び遅延不一致を、理想値及び許容差値
に対する点として表示するクロミナンス対ルミナンス遅
延及び利得特性測定方法の提供にある。
装置又はシステムのルミナンス及びクロミナンス・チャ
ンネル間の利得及び遅延不一致を、理想値及び許容差値
に対する点として表示するクロミナンス対ルミナンス遅
延及び利得特性測定方法の提供にある。
［課題を解決するための手段及び作用］本発明によれば
、（副搬送波で）変調されたパルス波形及びバー波形を
有する適切な試験信号を含む映像データ部分を取込み、
処理のために選択する。複数のラインの試験信号がある
と、パルス波形に対して、複数ラインにわたって平均化
する。
、（副搬送波で）変調されたパルス波形及びバー波形を
有する適切な試験信号を含む映像データ部分を取込み、
処理のために選択する。複数のラインの試験信号がある
と、パルス波形に対して、複数ラインにわたって平均化
する。
このパルス波形からルミナンス配列を得る。ブランキン
グ・レベル及びバー波形トップ・レベルを測定する。こ
の測定から、パルス波形の位置を正確に求める。このパ
ルス波形から、クロミナンス包路線配列を求め、このク
ロミナンス包路線上の５０％下降点を基に、パルス波形
の両側の基準位置を求める。クロミナンス・パルスの中
心位置を求める。更に、ルミナンス配列に対して、必要
ならば、残留副搬送波を除去し、ルミナンス包絡線の中
心を求める。ルミナンス及びクロミナンス包絡線の中心
点間の時間差により位相差を求め、これら中心点におけ
る振幅差により利得差を求める。
グ・レベル及びバー波形トップ・レベルを測定する。こ
の測定から、パルス波形の位置を正確に求める。このパ
ルス波形から、クロミナンス包路線配列を求め、このク
ロミナンス包路線上の５０％下降点を基に、パルス波形
の両側の基準位置を求める。クロミナンス・パルスの中
心位置を求める。更に、ルミナンス配列に対して、必要
ならば、残留副搬送波を除去し、ルミナンス包絡線の中
心を求める。ルミナンス及びクロミナンス包絡線の中心
点間の時間差により位相差を求め、これら中心点におけ
る振幅差により利得差を求める。
その結果の表示は、ゼロ・クロミナンス対ルミナンス遅
延及び利得用の公称ラインを有する矩形ウィンドウと、
この公称値からの許容偏差の領域を表す矩形許容差ボッ
クスとを特徴的に表す。このウィンドウ内の点として、
実際のクロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性を表
示するが、垂直軸は、利得の百分率による大きさを表し
、水平軸は、遅延時間を表す。
延及び利得用の公称ラインを有する矩形ウィンドウと、
この公称値からの許容偏差の領域を表す矩形許容差ボッ
クスとを特徴的に表す。このウィンドウ内の点として、
実際のクロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性を表
示するが、垂直軸は、利得の百分率による大きさを表し
、水平軸は、遅延時間を表す。
本発明の上述及びその他の目的、利点及び新規な特徴は
、添付図を参照した以下の説明より明らかになろう。
、添付図を参照した以下の説明より明らかになろう。
［実施例コ
第４図は、本発明のクロミナンス対ルミナンス遅延及び
利得特性測定方法を用いる測定試験装置のブロック図で
ある。複合カラー映像信号の如き信号をアナログ・プロ
セッサ１２に入力する。このアナログ・プロセッサ１２
は、データ及び ロック信号をデジタイザ（アナログ・
デジタル変換装置）１４に供給する。このデジタイザ１
４がデジタル化したデータを、クロック信号の制御によ
り、取込みメモリ１６に蓄積する。この取込みメモリ１
６は、バス１８を介して中央処理装置（ＣＰＵ）２０と
通信を行う。このＣＰＵ２０は、マイクロプロセッサで
もよく、リード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）２２の如き
プログラム・メモリに蓄積されたソフトウェア・プログ
ラムにより制御される。ランダム・アクセス・メモリ（
ＲＡＭ）２４の如き作業メモリ（ワーキング・メモリ）
２４は、ＣＰＵ２０による処理のために、取込みメモリ
１６からのデータを受け、表示プロセッサ２６に出力を
供給する。この表示プロセッサ２６は、表示メモリ２８
及びインタフェース・プロセッサ３０を具えている。Ｃ
ＰＵ２０がデータを処理した結果をスクリーン３２に表
示する。操作者は、正面パネル３８上のボタン３４及び
回転摘み３６、又はスクリーン上のソフトキーにより、
装置を操作する。
利得特性測定方法を用いる測定試験装置のブロック図で
ある。複合カラー映像信号の如き信号をアナログ・プロ
セッサ１２に入力する。このアナログ・プロセッサ１２
は、データ及び ロック信号をデジタイザ（アナログ・
デジタル変換装置）１４に供給する。このデジタイザ１
４がデジタル化したデータを、クロック信号の制御によ
り、取込みメモリ１６に蓄積する。この取込みメモリ１
６は、バス１８を介して中央処理装置（ＣＰＵ）２０と
通信を行う。このＣＰＵ２０は、マイクロプロセッサで
もよく、リード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）２２の如き
プログラム・メモリに蓄積されたソフトウェア・プログ
ラムにより制御される。ランダム・アクセス・メモリ（
ＲＡＭ）２４の如き作業メモリ（ワーキング・メモリ）
２４は、ＣＰＵ２０による処理のために、取込みメモリ
１６からのデータを受け、表示プロセッサ２６に出力を
供給する。この表示プロセッサ２６は、表示メモリ２８
及びインタフェース・プロセッサ３０を具えている。Ｃ
ＰＵ２０がデータを処理した結果をスクリーン３２に表
示する。操作者は、正面パネル３８上のボタン３４及び
回転摘み３６、又はスクリーン上のソフトキーにより、
装置を操作する。
クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得測定を行なうの
に用いる多くの標準試験信号がある。かかる試験信号の
１つを第５図に示す。水平ラインには、カラー・バース
ト・パルスが続く水平同期パルスがある。（副搬送波で
）変調された（サイン２乗）パルス波形（包絡線のみ示
す）及びバー波形も含まれる。この試験信号は、ルミナ
ンスで１００％変調されたクロミナンス副搬送波とルミ
ナンスとの組み合せである。このバー波形は、用いる標
準試験信号に応じて、水平映像ラインの変調パルス波形
の前に発生しても良いし、後に発生しても良い。
に用いる多くの標準試験信号がある。かかる試験信号の
１つを第５図に示す。水平ラインには、カラー・バース
ト・パルスが続く水平同期パルスがある。（副搬送波で
）変調された（サイン２乗）パルス波形（包絡線のみ示
す）及びバー波形も含まれる。この試験信号は、ルミナ
ンスで１００％変調されたクロミナンス副搬送波とルミ
ナンスとの組み合せである。このバー波形は、用いる標
準試験信号に応じて、水平映像ラインの変調パルス波形
の前に発生しても良いし、後に発生しても良い。
入力信号の測定シーケンスを開始するには、ＣＰＵ２０
が、ＲＯＭ２２から第１図に示す測定メイン・プログラ
ムをアクセスする。この測定メイン・プログラムが、測
定モジュール５０により呼び出す特定の測定試験は、装
置の正面パネルのボタン３４又はスクリーン３２のソフ
ト・キーを操作することにより決定する。クロミナンス
対ルミナンス遅延及び利得測定を望むとき、メイン測定
プログラムは、取込みモジュール５２を呼び出し、取込
みメモリ１６から適当なデータを選択し、ＲＡＭ２４に
転送して処理を行なう。蓄積するデータは、例えば、１
０ビツトと、フレーム・ビット及び水平同期ビットの２
つの付加ビットとである。
が、ＲＯＭ２２から第１図に示す測定メイン・プログラ
ムをアクセスする。この測定メイン・プログラムが、測
定モジュール５０により呼び出す特定の測定試験は、装
置の正面パネルのボタン３４又はスクリーン３２のソフ
ト・キーを操作することにより決定する。クロミナンス
対ルミナンス遅延及び利得測定を望むとき、メイン測定
プログラムは、取込みモジュール５２を呼び出し、取込
みメモリ１６から適当なデータを選択し、ＲＡＭ２４に
転送して処理を行なう。蓄積するデータは、例えば、１
０ビツトと、フレーム・ビット及び水平同期ビットの２
つの付加ビットとである。
これら２つの付加ビットは、取込みメモリ１６に蓄積す
る前にデータに付加される。また、付加ビットがセット
されると、サンプルが、データの映像フレームの開始、
及び／又はデータの映像水平ラインの開始であることを
表わす。取込みモジュール５２の詳細を説明する第２図
に示す如く、この取込みモジュールは、初期化ステップ
５８の後、ステップ６０で、アドレス配列を作成する。
る前にデータに付加される。また、付加ビットがセット
されると、サンプルが、データの映像フレームの開始、
及び／又はデータの映像水平ラインの開始であることを
表わす。取込みモジュール５２の詳細を説明する第２図
に示す如く、この取込みモジュールは、初期化ステップ
５８の後、ステップ６０で、アドレス配列を作成する。
このアドレス配列は、ｌＸ２５０であり、垂直期間の後
で、即ち１５番目のラインで開始する映像データの各ラ
イン用の最初に識別したサンプル用のアドレスを含んで
いる。次に、このアドレス配列を用いて、ステップ６２
で、取込みメモリ１６から所望映像データを選択して、
ＲＡＭ２４に転送する。クロミナンス対ルミナンス遅延
及び利得測定には、入力した映像信号の形式に応じて２
つの取込みモードがある。通常映像では、適当な映像信
号が、映像データの各フィールドの特定水平ライン上に
配置されており、映像画像の表示水平ラインの直前に、
各フィールド毎に生じる。しかし、ＶＴＲ（ビデオ・テ
ープ・レコーダ）の如き映像装置を製造段階において試
験するには、試験信号をフィールドの各水平ライン上に
配置してもよい。
で、即ち１５番目のラインで開始する映像データの各ラ
イン用の最初に識別したサンプル用のアドレスを含んで
いる。次に、このアドレス配列を用いて、ステップ６２
で、取込みメモリ１６から所望映像データを選択して、
ＲＡＭ２４に転送する。クロミナンス対ルミナンス遅延
及び利得測定には、入力した映像信号の形式に応じて２
つの取込みモードがある。通常映像では、適当な映像信
号が、映像データの各フィールドの特定水平ライン上に
配置されており、映像画像の表示水平ラインの直前に、
各フィールド毎に生じる。しかし、ＶＴＲ（ビデオ・テ
ープ・レコーダ）の如き映像装置を製造段階において試
験するには、試験信号をフィールドの各水平ライン上に
配置してもよい。
操作者は、回転摘み３６を操作して、試験信号を含む特
定のラインを識別できるし、試験信号が配置された映像
試験画像の種々の点にて複数ラインを得ることもできる
。
定のラインを識別できるし、試験信号が配置された映像
試験画像の種々の点にて複数ラインを得ることもできる
。
データをＲＡＭ２４に転送すると、第３図に詳細を示す
映像レベル・モジュール５４をアクセスする。ステップ
６４にて、試験信号の形式に応じ、変調パルス波形の適
切な位置を決定する。多数ライン取込みモードでは、ス
テップ６６にて、複数ラインのデータを加算し、平均化
して、データ・サンプルのルミナンス配列を求める。な
お、アドレス配列が指示する如き各水平ラインの開始か
ら、平均化すべき値を定める。次に、ステップ６８にて
、データの水平ラインのブランキング・レベル及びバー
波形のトップ（先端）から、ゼロ及び１００％基準レベ
ルを夫々測定する。ステップ７０にて、バー波形のエツ
ジを求め、このエツジを用いて、変調パルス波形の位置
をより正確に定める。
映像レベル・モジュール５４をアクセスする。ステップ
６４にて、試験信号の形式に応じ、変調パルス波形の適
切な位置を決定する。多数ライン取込みモードでは、ス
テップ６６にて、複数ラインのデータを加算し、平均化
して、データ・サンプルのルミナンス配列を求める。な
お、アドレス配列が指示する如き各水平ラインの開始か
ら、平均化すべき値を定める。次に、ステップ６８にて
、データの水平ラインのブランキング・レベル及びバー
波形のトップ（先端）から、ゼロ及び１００％基準レベ
ルを夫々測定する。ステップ７０にて、バー波形のエツ
ジを求め、このエツジを用いて、変調パルス波形の位置
をより正確に定める。
ステップ７２にて、復調機能により、変調パルス波形か
らクロミナンス包路線を求め、クロミナンス配列を形成
する。ステップ７４にて、クロミナンス配列の最大点を
求め、ステップ７６にて、各側の５０％下の点を求めて
、半値（ＨＡ Ｄ）パルス幅を定める。このＨＡＤパル
ス幅を用いて、開始基準点及び終了基準点間のデータ値
の範囲を求める。これは、変調パルス波形の開始及び終
了の前後にて、１つのＨＡＤパルス幅が生じる。基準点
のレベル及びブランキング・レベル間の振幅差を、クロ
ミナンス配列のデータ値から減算する。
らクロミナンス包路線を求め、クロミナンス配列を形成
する。ステップ７４にて、クロミナンス配列の最大点を
求め、ステップ７６にて、各側の５０％下の点を求めて
、半値（ＨＡ Ｄ）パルス幅を定める。このＨＡＤパル
ス幅を用いて、開始基準点及び終了基準点間のデータ値
の範囲を求める。これは、変調パルス波形の開始及び終
了の前後にて、１つのＨＡＤパルス幅が生じる。基準点
のレベル及びブランキング・レベル間の振幅差を、クロ
ミナンス配列のデータ値から減算する。
ステップ７８にて、積分技術により、基準点間のクロミ
ナンス配列の中心を求める。積分したクロミナンス配列
の最大値及び最小値を夫々の基準点近傍に求め、５０％
下の点をクロミナンス配列の中心点と同様に求める。ス
テップ８０にて、必要に応じて、交互のデータ・サンプ
ルを加算して、残留副搬送波を除去した後、クロミナン
ス配列と同様に、ルミナンス配列を処理する。ステップ
８２にて、ルミナンス配列の変調パルス幅のＨＡＤ点を
求めて、基準点を得る。ステップ８４にて、ルミナンス
配列値からブランキング・レベル値を減算して、この配
列の中心を定める。
ナンス配列の中心を求める。積分したクロミナンス配列
の最大値及び最小値を夫々の基準点近傍に求め、５０％
下の点をクロミナンス配列の中心点と同様に求める。ス
テップ８０にて、必要に応じて、交互のデータ・サンプ
ルを加算して、残留副搬送波を除去した後、クロミナン
ス配列と同様に、ルミナンス配列を処理する。ステップ
８２にて、ルミナンス配列の変調パルス幅のＨＡＤ点を
求めて、基準点を得る。ステップ８４にて、ルミナンス
配列値からブランキング・レベル値を減算して、この配
列の中心を定める。
ステップ８６にて、ルミナンス配列の中心及びクロミナ
ンス配列の中心間の差を求め、この差をナノ秒単位の正
確な値に変換して、クロミナンス対ルミナンス遅延を求
める。同様に、ステップ８８にて、夫々の中心点のピー
ク値を求め、クロミナンス・ピークとルミナンス・ピー
クの比を求めて、クロミナンス対ルミナンス利得を定め
る。第１図の表示モジュール５６にて、これら値を、第
６（ａ）及び第６（ｂ）図に示す如く、スクリーン３２
上に数値及び図形的に表示する。この図形的表示（ＣＨ
ＲＯＭＡ ＧＡＩＮ ＆ ＤＥＬＡＹ）は、スクリーン
３２上の矩形ウィンドウ４ｏとして表れ、Ｙ軸がルミナ
ンスに対するクロミナンスの百分率の利得であり、Ｘ軸
がルミナンスに対するクロミナンスのナノ秒の遅延時間
（ＣＨＲＯＭＡ ＤＥＬＡＹ （ｎｓｅｃ））である。
ンス配列の中心間の差を求め、この差をナノ秒単位の正
確な値に変換して、クロミナンス対ルミナンス遅延を求
める。同様に、ステップ８８にて、夫々の中心点のピー
ク値を求め、クロミナンス・ピークとルミナンス・ピー
クの比を求めて、クロミナンス対ルミナンス利得を定め
る。第１図の表示モジュール５６にて、これら値を、第
６（ａ）及び第６（ｂ）図に示す如く、スクリーン３２
上に数値及び図形的に表示する。この図形的表示（ＣＨ
ＲＯＭＡ ＧＡＩＮ ＆ ＤＥＬＡＹ）は、スクリーン
３２上の矩形ウィンドウ４ｏとして表れ、Ｙ軸がルミナ
ンスに対するクロミナンスの百分率の利得であり、Ｘ軸
がルミナンスに対するクロミナンスのナノ秒の遅延時間
（ＣＨＲＯＭＡ ＤＥＬＡＹ （ｎｓｅｃ））である。
点線で表わす公称力ソール４２及び４４は、ゼロ遅延及
び利得レベルを示し、操作者が特定した許容差ボックス
４６がウィンドウ内に含まれ、許容できる利得及び遅延
値の範囲を示す。実際のクロミナンス対ルミナンス利得
及び遅延測定値は、ウィンドウ内の計算値に対応する位
置にて、十字カソール４８として表わす。第６（ａ）図
において、利得及び遅延値は設定した許容値内にある。
び利得レベルを示し、操作者が特定した許容差ボックス
４６がウィンドウ内に含まれ、許容できる利得及び遅延
値の範囲を示す。実際のクロミナンス対ルミナンス利得
及び遅延測定値は、ウィンドウ内の計算値に対応する位
置にて、十字カソール４８として表わす。第６（ａ）図
において、利得及び遅延値は設定した許容値内にある。
一方、第６（ｂ）図において、利得及び遅延値は、設定
した許容値外にある。ウィンドウ４０の夫々の目盛りは
、測定結果の利得及び遅延値を適切に表示できるように
可変である。ウィンドウ４０の上に表示した値は瞬時値
でも良いし、操作者が望むならば、ノイズを減少させた
平均値でも良い。
した許容値外にある。ウィンドウ４０の夫々の目盛りは
、測定結果の利得及び遅延値を適切に表示できるように
可変である。ウィンドウ４０の上に表示した値は瞬時値
でも良いし、操作者が望むならば、ノイズを減少させた
平均値でも良い。
［発明の効果］
上述の如く、本発明の方法は、適切な試験信号ノ変調ハ
ルス及びバー波形から、ルミナンス配列及びクロミナン
ス配列を作成して、映像装置又はシステムのルミナンス
・チャンネル及びクロミナンス・チャンネル内の差から
、クロミナンス対ルミナンス利得及び遅延結果を正確に
測定し、表示する。これら配列の中心を用いて、クロミ
ナンス成分及びルミナンス成分間の遅延を求める。また
、これら中心のピークを用いて、クロミナンス成分及び
ルミナンス成分間の利得差を求め、その結果を表示器上
に数値的且つ図形的に表示する。この表示は、クロミナ
ンス成分及びルミナンス成分間の百分率振幅及び時間遅
延に対応する直交座標である。よって、クロミナンス対
ルミナンス利得及び遅延特性を容易に測定できる。
ルス及びバー波形から、ルミナンス配列及びクロミナン
ス配列を作成して、映像装置又はシステムのルミナンス
・チャンネル及びクロミナンス・チャンネル内の差から
、クロミナンス対ルミナンス利得及び遅延結果を正確に
測定し、表示する。これら配列の中心を用いて、クロミ
ナンス成分及びルミナンス成分間の遅延を求める。また
、これら中心のピークを用いて、クロミナンス成分及び
ルミナンス成分間の利得差を求め、その結果を表示器上
に数値的且つ図形的に表示する。この表示は、クロミナ
ンス成分及びルミナンス成分間の百分率振幅及び時間遅
延に対応する直交座標である。よって、クロミナンス対
ルミナンス利得及び遅延特性を容易に測定できる。
第１図は本発明による方法を実行するためのマスク測定
プログラムの流れ図、第２図は本発明による方法の取込
みモジュールの流れ図、第３図は本発明による方法の映
像レベル測定モジュールの流れ図、第４図は本発明によ
る測定方法を用いる測定試験装置のブロック図、第５図
は本発明に用いる典型的な試験信号の波形図、第６（ａ
）及び第６（ｂ）図は本発明による方法の測定結果を表
わす図、第７（ａ）〜第７（ｄ）図は変調パルス波形試
験信号によるクロミナンス対ルミナンス利得及び遅延の
影響を表わす波形図、第８図はクロミナンス対ルミナン
ス利得及び遅延の測定値を求める従来のノモグラフ図で
ある。 １２、アナログ・プロセッサ １４ デジタイザ １６：取込みメモリ ２０ 、ＣＰＵ ２２、ＲＯＭ ２４、ＲＡＭ ２８・表示メモリ ３０ インタフェース ３２、表示スクリーン
プログラムの流れ図、第２図は本発明による方法の取込
みモジュールの流れ図、第３図は本発明による方法の映
像レベル測定モジュールの流れ図、第４図は本発明によ
る測定方法を用いる測定試験装置のブロック図、第５図
は本発明に用いる典型的な試験信号の波形図、第６（ａ
）及び第６（ｂ）図は本発明による方法の測定結果を表
わす図、第７（ａ）〜第７（ｄ）図は変調パルス波形試
験信号によるクロミナンス対ルミナンス利得及び遅延の
影響を表わす波形図、第８図はクロミナンス対ルミナン
ス利得及び遅延の測定値を求める従来のノモグラフ図で
ある。 １２、アナログ・プロセッサ １４ デジタイザ １６：取込みメモリ ２０ 、ＣＰＵ ２２、ＲＯＭ ２４、ＲＡＭ ２８・表示メモリ ３０ インタフェース ３２、表示スクリーン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １フィールドのデジタル化した映像データを記憶する取
込みメモリから特定試験信号を含むデジタル・データ部
分を選択し、 上記特定試験信号内の特定波形を捜し、 該特定波形を表わすデジタル映像データからルミナンス
配列及びクロミナンス配列を作成し、上記ルミナンス配
列及び上記クロミナンス配列からクロミナンス対ルミナ
ンス利得及び遅延値を計算し、 一方の座標がクロミナンス対ルミナンス利得の百分率比
を表わし、他方の座標がクロミナンス対ルミナンス遅延
の時間を表わす直交座標で、上記計算したクロミナンス
対ルミナンス利得及び遅延値を表示することを特徴とす
るクロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性測定方法
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US142093 | 1988-01-11 | ||
| US07/142,093 US4816897A (en) | 1988-01-11 | 1988-01-11 | Chrominance to luminance delay and gain measurement display |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02140091A true JPH02140091A (ja) | 1990-05-29 |
Family
ID=22498525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1003614A Pending JPH02140091A (ja) | 1988-01-11 | 1989-01-10 | クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4816897A (ja) |
| JP (1) | JPH02140091A (ja) |
| DE (1) | DE3900531A1 (ja) |
| GB (1) | GB2213676B (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4890158A (en) * | 1988-09-15 | 1989-12-26 | Tektronix, Inc. | Recursive noise reduction filter for video test apparatus |
| US5055928A (en) * | 1990-04-10 | 1991-10-08 | Sony Corporation Of America | Digital video frame recorder with video display test pattern signal generator |
| DD294385A5 (de) * | 1990-05-03 | 1991-09-26 | Martin Boegelsack,De | Verfahren und vorrichtung zum rechnergestuetzten fehlerbestimmen, pruefen oder messen bei videokomponentengeraeten |
| GB2305570A (en) * | 1995-09-22 | 1997-04-09 | Ibm | Video display apparatus with gamma correction |
| DE19548626A1 (de) * | 1995-12-23 | 1997-06-26 | Philips Patentverwaltung | Bildabtaster |
| US6219094B1 (en) * | 1999-04-16 | 2001-04-17 | Tektronix, Inc. | Non-linear filter for extracting luminance component from a composite video signal |
| US8497909B2 (en) * | 2002-11-19 | 2013-07-30 | Tektronix, Inc. | Video timing display for multi-rate systems |
| US6975349B2 (en) | 2002-11-19 | 2005-12-13 | Tektronix, Inc. | Two-dimensional video timing display |
| US7107577B2 (en) * | 2002-11-20 | 2006-09-12 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Software architecture for controlling an apparatus with one or more hardware units |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5894290A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | Anritsu Corp | 変調ｎＴ波形のひずみ測定方法および装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4635094A (en) * | 1984-10-19 | 1987-01-06 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for measurement of component video signal characteristics using an oscilloscope |
| US4829366A (en) * | 1985-04-12 | 1989-05-09 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for measuring delay and/or gain difference using two different frequency sources |
| US4740841A (en) * | 1987-03-24 | 1988-04-26 | Tektronix, Inc. | Correlation of video data between two display formats |
-
1988
- 1988-01-11 US US07/142,093 patent/US4816897A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-01-10 JP JP1003614A patent/JPH02140091A/ja active Pending
- 1989-01-10 DE DE3900531A patent/DE3900531A1/de active Granted
- 1989-01-10 GB GB8900526A patent/GB2213676B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5894290A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | Anritsu Corp | 変調ｎＴ波形のひずみ測定方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8900526D0 (en) | 1989-03-08 |
| GB2213676B (en) | 1992-04-22 |
| DE3900531A1 (de) | 1989-07-27 |
| US4816897A (en) | 1989-03-28 |
| DE3900531C2 (ja) | 1990-02-15 |
| GB2213676A (en) | 1989-08-16 |
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