JPH0213942B2 - - Google Patents
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- JPH0213942B2 JPH0213942B2 JP59210588A JP21058884A JPH0213942B2 JP H0213942 B2 JPH0213942 B2 JP H0213942B2 JP 59210588 A JP59210588 A JP 59210588A JP 21058884 A JP21058884 A JP 21058884A JP H0213942 B2 JPH0213942 B2 JP H0213942B2
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 21
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims description 7
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 23
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
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- H01S5/1053—Comprising an active region having a varying composition or cross-section in a specific direction
- H01S5/1057—Comprising an active region having a varying composition or cross-section in a specific direction varying composition along the optical axis
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- H01S5/124—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
- H01S5/1243—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts by other means than a jump in the grating period, e.g. bent waveguides
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、単一モードの発振をさせるのに好適
な構成を有する分布帰還(distributed
feedback:DFB)型半導体レーザに関する。
な構成を有する分布帰還(distributed
feedback:DFB)型半導体レーザに関する。
一般に、発振波長が1.5〜1.6〔μm〕である半
導体レーザは、その波長帯の光を伝送する光フア
イバに於ける損失が最小であることから、多くの
開発がなされている。
導体レーザは、その波長帯の光を伝送する光フア
イバに於ける損失が最小であることから、多くの
開発がなされている。
通常のこの種の半導体レーザ、即ち、フアブ
リ・ペロー型半導体レーザを高速で変調すると波
長は単一に維持することができず、多波長になつ
てしまう。
リ・ペロー型半導体レーザを高速で変調すると波
長は単一に維持することができず、多波長になつ
てしまう。
そのような信号光を光フアイバに入射して伝送
すると、その出射される光は、光フアイバ自体の
材料分散に依り各波長の屈折率が変わり、伝播速
度が変わるので、波形が崩れてしまう。
すると、その出射される光は、光フアイバ自体の
材料分散に依り各波長の屈折率が変わり、伝播速
度が変わるので、波形が崩れてしまう。
その結果、このような信号は受信側では大きな
雑音を伴うものとなるので実用にならない。
雑音を伴うものとなるので実用にならない。
そこで、近年、DFB型半導体レーザが開発さ
れ、好結果を得ている。
れ、好結果を得ている。
DFB型半導体レーザは、活性層そのもの或い
はその近傍にコルゲーシヨン(corrugation)も
しくはグレーテイング(grating)と呼ばれる回
折格子を形成し、その回折格子の中を光が往復し
て共振するようになつている。
はその近傍にコルゲーシヨン(corrugation)も
しくはグレーテイング(grating)と呼ばれる回
折格子を形成し、その回折格子の中を光が往復し
て共振するようになつている。
このようなDFB型半導体レーザでは、理論的
には、数百〔Mビツト/秒〕の高速で変調を行つ
ても単一波長の発振を維持することができるとさ
れているが、その実現は甚だ困難である。
には、数百〔Mビツト/秒〕の高速で変調を行つ
ても単一波長の発振を維持することができるとさ
れているが、その実現は甚だ困難である。
その理由は、前記DFB型レーザに於けるコル
ゲーシヨンは一様に形成され、側面の中央から見
て、コルゲーシヨンが左右対称になつている、所
謂、対称DFB型半導体レーザとなつていて、二
つの縦モードの損失が等しい為、2モード発振し
たり、コルゲーシヨンの周期に合つたブラツグ波
長から±に同じ波長分だけ僅かにずれた二つの共
振モード間で発振が移行するなど不安定な動作を
することに依る。
ゲーシヨンは一様に形成され、側面の中央から見
て、コルゲーシヨンが左右対称になつている、所
謂、対称DFB型半導体レーザとなつていて、二
つの縦モードの損失が等しい為、2モード発振し
たり、コルゲーシヨンの周期に合つたブラツグ波
長から±に同じ波長分だけ僅かにずれた二つの共
振モード間で発振が移行するなど不安定な動作を
することに依る。
そこで、このような欠点を解消すべく、所謂、
Λ/2シフトDFB型半導体レーザ(Λ=コルゲ
ーシヨン周期)が開発された。
Λ/2シフトDFB型半導体レーザ(Λ=コルゲ
ーシヨン周期)が開発された。
第12図はΛ/2シフトDFB型半導体レーザ
の要部切断側面図である。
の要部切断側面図である。
図に於いて、1はn+型InP基板、2はn型InP
バツフア層、3はn型InPクラツド層、4はノ
ン・ドープInGaAsP活性層、5はp型InGaAsP
ガイド層、6及び6′はコルゲーシヨン、7はp
型InPクラツド層、8はp+型InGaAsPコンタクト
層、9はn側電極、10はp側電極をそれぞれ示
している。
バツフア層、3はn型InPクラツド層、4はノ
ン・ドープInGaAsP活性層、5はp型InGaAsP
ガイド層、6及び6′はコルゲーシヨン、7はp
型InPクラツド層、8はp+型InGaAsPコンタクト
層、9はn側電極、10はp側電極をそれぞれ示
している。
図示例では、中央からみて、左側のコルゲーシ
ヨン6と右側のコルゲーシヨン6とは、Λ/2だ
けシフトさせてある。因に、通常の場合、右側の
コルゲーシヨンは記号6′で指示した破線のよう
になる。
ヨン6と右側のコルゲーシヨン6とは、Λ/2だ
けシフトさせてある。因に、通常の場合、右側の
コルゲーシヨンは記号6′で指示した破線のよう
になる。
図示のような構成を有するDFB型半導体レー
ザはブラツグ波長で発振することが可能である。
ザはブラツグ波長で発振することが可能である。
第12図に示したΛ/2シフトDFB型半導体
レーザの発振特性は極めて優れたものとなるが、
その製造にはかなり問題がある。
レーザの発振特性は極めて優れたものとなるが、
その製造にはかなり問題がある。
即ち、コルゲーシヨン6の周期Λそのものが、
例えば0.3〜0.4〔μm〕と小さいものであり、そ
れをΛ/2だけシフトし且つ左右のコルゲーシヨ
ンを併せることは甚だ困難である。
例えば0.3〜0.4〔μm〕と小さいものであり、そ
れをΛ/2だけシフトし且つ左右のコルゲーシヨ
ンを併せることは甚だ困難である。
本発明は、ブラツグ波長で安定に発振させるこ
とができ、しかも、容易に製造できる構成を有す
るDFB型半導体レーザを提供する。
とができ、しかも、容易に製造できる構成を有す
るDFB型半導体レーザを提供する。
本発明に依る半導体レーザに於いては、上下か
らクラツド層で挟まれているストライプ状の活性
層と、該ストライプ状の活性層に近接して形成さ
れている回折格子とを備えてなり、該ストライプ
状の活性層に於ける中央近傍には拡幅して光伝播
定数を変えた部分が選択的に形成され、該拡幅部
分とその他の部分との光伝播定数差をΔβとし且
つ該拡幅部分の長さをLとして、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) なる式を満足する構成になつている。
らクラツド層で挟まれているストライプ状の活性
層と、該ストライプ状の活性層に近接して形成さ
れている回折格子とを備えてなり、該ストライプ
状の活性層に於ける中央近傍には拡幅して光伝播
定数を変えた部分が選択的に形成され、該拡幅部
分とその他の部分との光伝播定数差をΔβとし且
つ該拡幅部分の長さをLとして、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) なる式を満足する構成になつている。
前記のような構成にしたDFB型半導体レーザ
は、実効的に見てコルゲーシヨン・ピツチをΛ/
4だけずらせたものと等価になり、縦モード選択
比が大幅に改善され、第12図に関して説明した
従来のDFB型半導体レーザと同様にブラツグ波
長で安定且つ容易に発振し、しかも、そのような
発振をさせる為には光導波領域の一部に光の伝播
定数が相違した部分を選択的に形成しさえすれば
良く、そして、その光の伝播定数が相違した部分
を形成する為の製造上の難易は、第12図に関し
て説明した従来例に比較すると、全く問題になら
ないほど容易である。
は、実効的に見てコルゲーシヨン・ピツチをΛ/
4だけずらせたものと等価になり、縦モード選択
比が大幅に改善され、第12図に関して説明した
従来のDFB型半導体レーザと同様にブラツグ波
長で安定且つ容易に発振し、しかも、そのような
発振をさせる為には光導波領域の一部に光の伝播
定数が相違した部分を選択的に形成しさえすれば
良く、そして、その光の伝播定数が相違した部分
を形成する為の製造上の難易は、第12図に関し
て説明した従来例に比較すると、全く問題になら
ないほど容易である。
第1図及び第2図は本発明に於ける第1の実施
例を説明する為の要部切断斜面図及び要部切断側
面図をそれぞれ表している。
例を説明する為の要部切断斜面図及び要部切断側
面図をそれぞれ表している。
図に於いて、11はn+型InP基板、12はn型
InPバツフア層、13はn型InPクラツド層、1
4はコルゲーシヨン、15はn型InGaAsPガイ
ド層、16はInGaAsP活性層、16Aは活性層
16の拡幅部分、17はp型InPクラツド層、1
8はp+型InGaAsPコンタクト層、19はn側電
極、20はp側電極、Aはレーザ全体、β1及びβ2
は伝播定数、L1は活性層16の長さ、L2は拡幅
部分16Aの長さ、L3は活性層16がなだらか
に拡幅されてゆく部分の長さ、W1は活性層16
の幅、W2は拡幅部分16Aの幅をそれぞれ示し
ている。
InPバツフア層、13はn型InPクラツド層、1
4はコルゲーシヨン、15はn型InGaAsPガイ
ド層、16はInGaAsP活性層、16Aは活性層
16の拡幅部分、17はp型InPクラツド層、1
8はp+型InGaAsPコンタクト層、19はn側電
極、20はp側電極、Aはレーザ全体、β1及びβ2
は伝播定数、L1は活性層16の長さ、L2は拡幅
部分16Aの長さ、L3は活性層16がなだらか
に拡幅されてゆく部分の長さ、W1は活性層16
の幅、W2は拡幅部分16Aの幅をそれぞれ示し
ている。
本発明では、光の位相をずらせて単一波長の発
振を可能とする為、光導波領域内に光の伝播定数
を異にする部分を導入することに依り目的を達し
ていることは前記した通りであり、図から明らか
なように、本実施例では、活性層16の中央近傍
に拡幅部分16Aが形成されていて、これに依
り、光導波領域に於ける伝播定数がβ1からβ2に変
化し、実効的に屈折率を変化させることができる
ので、伝播する光の位相をずらせることができ
る。
振を可能とする為、光導波領域内に光の伝播定数
を異にする部分を導入することに依り目的を達し
ていることは前記した通りであり、図から明らか
なように、本実施例では、活性層16の中央近傍
に拡幅部分16Aが形成されていて、これに依
り、光導波領域に於ける伝播定数がβ1からβ2に変
化し、実効的に屈折率を変化させることができる
ので、伝播する光の位相をずらせることができ
る。
ここで、ブラツグ波長をλb、実効的な屈折率を
neffとすると、 Λ=λb/2neff で表され、また、伝播定数差Δβは、 Δβ=β2−β1 で表され、本実施例の場合、β2>β1であるから
Δβは正である。
neffとすると、 Λ=λb/2neff で表され、また、伝播定数差Δβは、 Δβ=β2−β1 で表され、本実施例の場合、β2>β1であるから
Δβは正である。
光の伝播定数を変化させて位相をずらせる為に
変化させるべき実効的な屈折率差をΔnとし、こ
れと伝播定数を異にする部分の長さL(第1図の
L2)との関係は、自由空間の発振波長をλとし
て、 2πΔn/λL=π/2 で与えられる。従つて、この式に発振波長λ及び
変化させるべき実効的な屈折率差Δnを入れるこ
とに依り伝播定数を異にする部分の長さLを求め
ることができる。また、 Δβ=2πΔn/λ であるから、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) となり、この式を満足させることに依り、安定な
単一波長(ブラツグ波長λb)の発振が可能とな
る。
変化させるべき実効的な屈折率差をΔnとし、こ
れと伝播定数を異にする部分の長さL(第1図の
L2)との関係は、自由空間の発振波長をλとし
て、 2πΔn/λL=π/2 で与えられる。従つて、この式に発振波長λ及び
変化させるべき実効的な屈折率差Δnを入れるこ
とに依り伝播定数を異にする部分の長さLを求め
ることができる。また、 Δβ=2πΔn/λ であるから、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) となり、この式を満足させることに依り、安定な
単一波長(ブラツグ波長λb)の発振が可能とな
る。
図示例に於ける各所要部分の寸法は次のようで
ある。
ある。
W1=1.8〔μm〕
W2=2.5〔μm〕
L1=400〔μm〕
L2=60〔μm〕
L3=5〜10〔μm〕
本実施例では、活性層16に拡幅部分16Aを
形成するのに、長さL3を採つて、徐々に拡幅し
ているが、これは、急激に拡幅した場合、その界
面に活性層16或いは拡幅部分16Aの特性を損
なうような欠陥が現れることを考慮した為である
が、若し、そのような問題を生じなければ、図に
波線で示してあるように、なだらかな拡幅部分を
除去しても良い。尚、実験によれば、なだらかな
拡幅部分を除去しても支障はなかつた。
形成するのに、長さL3を採つて、徐々に拡幅し
ているが、これは、急激に拡幅した場合、その界
面に活性層16或いは拡幅部分16Aの特性を損
なうような欠陥が現れることを考慮した為である
が、若し、そのような問題を生じなければ、図に
波線で示してあるように、なだらかな拡幅部分を
除去しても良い。尚、実験によれば、なだらかな
拡幅部分を除去しても支障はなかつた。
第3図は第1図及び第2図に関して説明した実
施例の光出力対電流の関係を示す線図である。
施例の光出力対電流の関係を示す線図である。
図では、縦軸に光出力を、また、横軸に電流を
それぞれ採つてある。
それぞれ採つてある。
図から判るように、前記実施例では、閾値電流
Ithの値は28〔mA〕であり、そこから光出力は急
速に立ち上がつている。
Ithの値は28〔mA〕であり、そこから光出力は急
速に立ち上がつている。
第4図は同じく第1図及び第2図に関して説明
した実施例の発振波長スペクトラムを表す線図で
ある。
した実施例の発振波長スペクトラムを表す線図で
ある。
このデータは、閾値電流Ithに近い値の電流を
流して発振させた場合に得られたものであり、図
からすると、ブラツグ波長λb=1.3〔μm〕で発振
が行われ、且つ、その発振の両側でスペクトラム
の急激な落ち込みの存在が看取され、これに依り
発振は安定であることが理解できよう。
流して発振させた場合に得られたものであり、図
からすると、ブラツグ波長λb=1.3〔μm〕で発振
が行われ、且つ、その発振の両側でスペクトラム
の急激な落ち込みの存在が看取され、これに依り
発振は安定であることが理解できよう。
第5図は同じく第1図及び第2図に関して説明
した実施例の光出力が8〔mW〕である場合の発
振波長スペクトラムを表す線図である。
した実施例の光出力が8〔mW〕である場合の発
振波長スペクトラムを表す線図である。
この図から、斯かる光出力を取り出しても、発
振は安定な単一波長で行われていることが認識さ
れる。
振は安定な単一波長で行われていることが認識さ
れる。
本発明に依る半導体レーザに於いては、上下か
らクラツド層で挟まれているストライプ状の活性
層と、該ストライプ状の活性層に近接して形成さ
れている回折格子とを備えてなり、該ストライプ
状の活性層に於ける中央近傍には拡幅して光伝播
定数を変えた部分が選択的に形成され、該拡幅部
分とその他の部分との光伝播定数差をΔβとし且
つ該拡幅部分の長さをLとして、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) なる式を満足するものとしている。
らクラツド層で挟まれているストライプ状の活性
層と、該ストライプ状の活性層に近接して形成さ
れている回折格子とを備えてなり、該ストライプ
状の活性層に於ける中央近傍には拡幅して光伝播
定数を変えた部分が選択的に形成され、該拡幅部
分とその他の部分との光伝播定数差をΔβとし且
つ該拡幅部分の長さをLとして、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) なる式を満足するものとしている。
このような構成にすることに依り、半導体レー
ザは単一波長、即ち、ブラツグ波長で安定に発振
することができ、そして、それを可能にする構
成、即ち、光導波領域の一部に選択的に伝播定数
を異にする部分を作り込むことは、前記実施例か
ら理解できるように従来のΛ/2シフトDFB型
半導体レーザと比較すると格段に容易であり、し
かも、再現性も良好である。
ザは単一波長、即ち、ブラツグ波長で安定に発振
することができ、そして、それを可能にする構
成、即ち、光導波領域の一部に選択的に伝播定数
を異にする部分を作り込むことは、前記実施例か
ら理解できるように従来のΛ/2シフトDFB型
半導体レーザと比較すると格段に容易であり、し
かも、再現性も良好である。
また、通常、直線的なストライプ状活性層をも
つDFB型半導体レーザに於いて、その発振状態
では、注入されたキヤリヤが活性層の中央部分で
低く、且つ、両端部分で高くなるように分布し、
そのキヤリヤ分布が発振モードに大きな影響を与
えることが知られている。然しながら、前記構成
では、キヤリヤが欠乏する傾向にある中央部分に
於ける活性層は幅広に形成されていることから、
その部分には他の部分に比較して、より多くのキ
ヤリヤを供給することが可能であり、従つて、レ
ーザ発振時の活性層に於けるキヤリヤ分布が均一
化され、発振モード単一化を安定に実現すること
ができる。
つDFB型半導体レーザに於いて、その発振状態
では、注入されたキヤリヤが活性層の中央部分で
低く、且つ、両端部分で高くなるように分布し、
そのキヤリヤ分布が発振モードに大きな影響を与
えることが知られている。然しながら、前記構成
では、キヤリヤが欠乏する傾向にある中央部分に
於ける活性層は幅広に形成されていることから、
その部分には他の部分に比較して、より多くのキ
ヤリヤを供給することが可能であり、従つて、レ
ーザ発振時の活性層に於けるキヤリヤ分布が均一
化され、発振モード単一化を安定に実現すること
ができる。
第1図は本発明一実施例の要部切断斜面図、第
2図は第1図に見られる実施例の要部切断側面
図、第3図は本発明一実施例の電流対光出力の関
係を示す線図、第4図は閾値電流を流した場合の
発振波長スペクトラムを示す線図、第5図は光出
力を8〔mW〕とした場合の発振波長スペクトラ
ムを示す線図、第6図は従来例の要部切断側面図
をそれぞれ表している。 図に於いて、11は基板、12はバツフア層、
13はクラツド層、14はコルゲーシヨン、15
はガイド層、16は活性層、16Aは活性層16
の拡幅部分、17はクラツド層、18はコンタク
ト層、19はn側電極、20はp側電極をそれぞ
れ示している。
2図は第1図に見られる実施例の要部切断側面
図、第3図は本発明一実施例の電流対光出力の関
係を示す線図、第4図は閾値電流を流した場合の
発振波長スペクトラムを示す線図、第5図は光出
力を8〔mW〕とした場合の発振波長スペクトラ
ムを示す線図、第6図は従来例の要部切断側面図
をそれぞれ表している。 図に於いて、11は基板、12はバツフア層、
13はクラツド層、14はコルゲーシヨン、15
はガイド層、16は活性層、16Aは活性層16
の拡幅部分、17はクラツド層、18はコンタク
ト層、19はn側電極、20はp側電極をそれぞ
れ示している。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 上下からクラツド層で挟まれているストライ
プ状の活性層と、 該ストライプ状の活性層に近接して形成されて
いる回折格子と を備えてなり、 該ストライプ状の活性層に於ける中央近傍には
拡幅して光伝播定数を変えた部分が選択的に形成
され、該拡幅部分とその他の部分との光伝播定数
差をΔβとし且つ該拡幅部分の長さをLとして、 ΔβL=±π/2±mπ(mは整数) なる式を満足するものとしたことを特徴とする半
導体レーザ。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59210588A JPS6189690A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 半導体レ−ザ |
DE8585307130T DE3579991D1 (de) | 1984-10-09 | 1985-10-04 | Halbleiterlaser. |
US06/784,594 US4726031A (en) | 1984-10-09 | 1985-10-04 | Semiconductor laser |
EP85307130A EP0178134B1 (en) | 1984-10-09 | 1985-10-04 | Semiconductor laser |
KR8507366A KR890004646B1 (en) | 1984-10-09 | 1985-10-07 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59210588A JPS6189690A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 半導体レ−ザ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6189690A JPS6189690A (ja) | 1986-05-07 |
JPH0213942B2 true JPH0213942B2 (ja) | 1990-04-05 |
Family
ID=16591801
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59210588A Granted JPS6189690A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 半導体レ−ザ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4726031A (ja) |
EP (1) | EP0178134B1 (ja) |
JP (1) | JPS6189690A (ja) |
KR (1) | KR890004646B1 (ja) |
DE (1) | DE3579991D1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4837775A (en) * | 1985-10-21 | 1989-06-06 | General Electric Company | Electro-optic device having a laterally varying region |
JPS62144378A (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-27 | Sony Corp | 分布帰還覆半導体レ−ザ− |
FR2598862B1 (fr) * | 1986-05-16 | 1994-04-08 | Bouley Jean Claude | Laser a semi-conducteur a reaction distribuee et a longueur d'onde continument accordable. |
US5340637A (en) * | 1986-09-16 | 1994-08-23 | Hitachi, Ltd. | Optical device diffraction gratings and a photomask for use in the same |
JPS63244694A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-12 | Sony Corp | 分布帰還形半導体レ−ザ |
JP2768940B2 (ja) * | 1987-07-08 | 1998-06-25 | 三菱電機株式会社 | 単一波長発振半導体レーザ装置 |
JPH0225086A (ja) * | 1988-07-13 | 1990-01-26 | Hitachi Ltd | 半導体レーザ装置 |
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DE3934865A1 (de) * | 1989-10-19 | 1991-04-25 | Siemens Ag | Hochfrequent modulierbarer halbleiterlaser |
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DE4432410B4 (de) * | 1994-08-31 | 2007-06-21 | ADC Telecommunications, Inc., Eden Prairie | Optoelektronisches Multi-Wellenlängen-Bauelement |
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KR100842277B1 (ko) * | 2006-12-07 | 2008-06-30 | 한국전자통신연구원 | 반사형 반도체 광증폭기 및 수퍼 루미네센스 다이오드 |
JP7277825B2 (ja) * | 2019-07-09 | 2023-05-19 | 日本電信電話株式会社 | 半導体光素子 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51146196A (en) * | 1975-06-11 | 1976-12-15 | Hitachi Ltd | Diode laser |
US4096446A (en) * | 1976-02-02 | 1978-06-20 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Distributed feedback devices with perturbations deviating from uniformity for removing mode degeneracy |
EP0000557B1 (en) * | 1977-08-01 | 1981-12-30 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor laser device |
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-
1984
- 1984-10-09 JP JP59210588A patent/JPS6189690A/ja active Granted
-
1985
- 1985-10-04 EP EP85307130A patent/EP0178134B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-10-04 DE DE8585307130T patent/DE3579991D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-04 US US06/784,594 patent/US4726031A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-07 KR KR8507366A patent/KR890004646B1/ko not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ELECTRONICS LETTERS * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0178134A2 (en) | 1986-04-16 |
US4726031A (en) | 1988-02-16 |
DE3579991D1 (de) | 1990-11-08 |
EP0178134B1 (en) | 1990-10-03 |
EP0178134A3 (en) | 1987-05-20 |
JPS6189690A (ja) | 1986-05-07 |
KR890004646B1 (en) | 1989-11-21 |
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