JPH02137712A - 炭化鉄薄膜 - Google Patents
炭化鉄薄膜Info
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- JPH02137712A JPH02137712A JP63290760A JP29076088A JPH02137712A JP H02137712 A JPH02137712 A JP H02137712A JP 63290760 A JP63290760 A JP 63290760A JP 29076088 A JP29076088 A JP 29076088A JP H02137712 A JPH02137712 A JP H02137712A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B32/00—Carbon; Compounds thereof
- C01B32/90—Carbides
- C01B32/914—Carbides of single elements
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2002/00—Crystal-structural characteristics
- C01P2002/70—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
- C01P2002/72—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data by d-values or two theta-values, e.g. as X-ray diagram
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/01—Particle morphology depicted by an image
- C01P2004/04—Particle morphology depicted by an image obtained by TEM, STEM, STM or AFM
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Inorganic Chemistry (AREA)
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- Thin Magnetic Films (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は炭化鉄薄膜及びその用途に関する。
(従来の技術)
炭化鉄薄膜に関する技術について知られていることは極
めて少なく、下記の公知技術が知られている程度である
。
めて少なく、下記の公知技術が知られている程度である
。
(1) J、 of Life PI+ysica
l Soc、 of JapanVol、 14.
No、2. (1959)岩塩上に金属鉄の蒸着膜
を形成後、C01f:A雰囲気中で炭化鉄膜に変換する
。
l Soc、 of JapanVol、 14.
No、2. (1959)岩塩上に金属鉄の蒸着膜
を形成後、C01f:A雰囲気中で炭化鉄膜に変換する
。
(2)特開昭59−207426号
Fe、O,の薄膜をアセチレン及びアルゴンガスの混合
気体中で高周波グロー放電処理して、Fe=O4薄膜の
表面の一部を炭化鉄に変換する。
気体中で高周波グロー放電処理して、Fe=O4薄膜の
表面の一部を炭化鉄に変換する。
(3)日本金属学会一般講演概要(1986)F C2
C、F es C2及びFe、Cの3種類の合金ターゲ
ットのそれぞれを用いて、ブラタ−スパッタリング法に
より、アルゴン雰囲気中で加熱石英基板(150〜60
0℃)上に炭化鉄薄膜を製造する。
C、F es C2及びFe、Cの3種類の合金ターゲ
ットのそれぞれを用いて、ブラタ−スパッタリング法に
より、アルゴン雰囲気中で加熱石英基板(150〜60
0℃)上に炭化鉄薄膜を製造する。
(4) !開明82−264427号
7エロセンを気相分解して650℃のシリコン基板上に
炭化鉄薄膜を得る。
炭化鉄薄膜を得る。
しかしながら、上記従来の方法では磁気特性の良い炭化
鉄膜が得られず、保磁力はせいぜい5500e程度であ
った。
鉄膜が得られず、保磁力はせいぜい5500e程度であ
った。
(発明が解決しようとする課題)
本発明の目的は磁気特性に優れた炭化鉄薄膜及びこれを
磁性層とする磁気記録媒体を提供することにある。
磁性層とする磁気記録媒体を提供することにある。
(!!1題を解決するための手段)
本発明は結晶状炭化鉄が柱状組織として配列された薄膜
に係り、これは蒸発金属鉄と炭素源とをプラズマ状態に
おいて接触させて、基板上に析出させることにより得ら
れる。
に係り、これは蒸発金属鉄と炭素源とをプラズマ状態に
おいて接触させて、基板上に析出させることにより得ら
れる。
本発明において金属鉄を蒸発させるには、例えば金属鉄
をるつばに入れ、0.1〜5.OX 10″″3T o
rrの圧力下、電子銃により加熱することにより行うこ
とができる。炭素源としてはアセチレン、エチレン、メ
タン、エタン、プロパン、ブタン等の飽和又は不飽和の
脂肪族炭化水素、CO等を用いることができ、その際N
e5Ar、Kr%Xe等の不活性γスと併用することも
できる。基板としては例えば〃ラス、シリコン、アルミ
ニウムなどの金属、ポリイミドなどの樹脂等の基板を用
いることができ、基板温度は約150〜500℃が好ま
しく、200〜400“Cが特に好ましい、150℃未
満では炭化鉄薄膜の生成が起こりに< < 、500°
Cを越えると柱状組織が形成されにくく磁気記録材料と
して良好な物性は得られない、尚、必要あれば加速電圧
を与えるため基板に負電位、例えば0.01〜2.0k
V程度を与えることが好ましい。
をるつばに入れ、0.1〜5.OX 10″″3T o
rrの圧力下、電子銃により加熱することにより行うこ
とができる。炭素源としてはアセチレン、エチレン、メ
タン、エタン、プロパン、ブタン等の飽和又は不飽和の
脂肪族炭化水素、CO等を用いることができ、その際N
e5Ar、Kr%Xe等の不活性γスと併用することも
できる。基板としては例えば〃ラス、シリコン、アルミ
ニウムなどの金属、ポリイミドなどの樹脂等の基板を用
いることができ、基板温度は約150〜500℃が好ま
しく、200〜400“Cが特に好ましい、150℃未
満では炭化鉄薄膜の生成が起こりに< < 、500°
Cを越えると柱状組織が形成されにくく磁気記録材料と
して良好な物性は得られない、尚、必要あれば加速電圧
を与えるため基板に負電位、例えば0.01〜2.0k
V程度を与えることが好ましい。
本発明においては蒸発金属鉄と炭素源とをプラズマ状態
において接触させるが、プラズマ状態とは例えばメタン
圧力8.OX 10−’ T orrの雰囲気下におい
て高周波電界(周波数13.56MHz)によって放電
が維持される状態などを指し、他にマイクロ波放電、E
CR(electron cyclotron re
sonance)放電、直流グロー放電、アーク放電、
熱電子放電によっても得られる。
において接触させるが、プラズマ状態とは例えばメタン
圧力8.OX 10−’ T orrの雰囲気下におい
て高周波電界(周波数13.56MHz)によって放電
が維持される状態などを指し、他にマイクロ波放電、E
CR(electron cyclotron re
sonance)放電、直流グロー放電、アーク放電、
熱電子放電によっても得られる。
本発明の結晶状炭化鉄が柱状組織として配列された薄膜
を製造する最も好ましい条件は、負電位80〜130V
1温度250〜350℃の基板に対し4X10−4〜1
2X 10−’ T orrのメタン雰囲気中で高周波
電力500〜700Wを印加して、3〜9A/秒の薄膜
の蒸着速度(単位時間当りの成長膜厚)で金属鉄を蒸発
させることである。この場合、メタンの圧力及び蒸着速
度に依存して第1図に示す領域にFe7C1、Fe5C
2又はFe5Cの結晶状炭化鉄の柱状組織が製造され、
境界附近では三者が混在すると考えられる。
を製造する最も好ましい条件は、負電位80〜130V
1温度250〜350℃の基板に対し4X10−4〜1
2X 10−’ T orrのメタン雰囲気中で高周波
電力500〜700Wを印加して、3〜9A/秒の薄膜
の蒸着速度(単位時間当りの成長膜厚)で金属鉄を蒸発
させることである。この場合、メタンの圧力及び蒸着速
度に依存して第1図に示す領域にFe7C1、Fe5C
2又はFe5Cの結晶状炭化鉄の柱状組織が製造され、
境界附近では三者が混在すると考えられる。
本発明においては基板上に結晶状炭化鉄を柱状組織とし
て析出させるが、その際基板を傾斜させた斜め蒸着法を
採用するのが好ましい。基板の傾斜角度とは、蒸発源の
鉛直線に対し直角をなす平面を基準とする傾斜角度をい
い、この角度が40〜90°が好ましり、65〜85°
が特に好ましい、結晶状とは単結晶からなること及び多
結晶からなることを含む。柱状組織とは複数の、長さ及
び直径がそれぞれほぼ等しい柱状の結晶が基板平面上に
その平面に対し垂直に又は斜めに及び相互に平行に配列
して成る組織である。柱状結晶の平均粒径(長径)は好
ましくは約150A〜3μl、平均軸比は好ましくは3
〜20である。
て析出させるが、その際基板を傾斜させた斜め蒸着法を
採用するのが好ましい。基板の傾斜角度とは、蒸発源の
鉛直線に対し直角をなす平面を基準とする傾斜角度をい
い、この角度が40〜90°が好ましり、65〜85°
が特に好ましい、結晶状とは単結晶からなること及び多
結晶からなることを含む。柱状組織とは複数の、長さ及
び直径がそれぞれほぼ等しい柱状の結晶が基板平面上に
その平面に対し垂直に又は斜めに及び相互に平行に配列
して成る組織である。柱状結晶の平均粒径(長径)は好
ましくは約150A〜3μl、平均軸比は好ましくは3
〜20である。
本発明において炭化鉄の例としてはFe、C1Fe5C
2、Fe、C,等を例示でき、これらはx#1回折によ
り分析し、X#1回折図で検出することができる。尚、
粉体では遊離炭素の混在が避けられない場合が多いが、
柱状組織では殆ど検出されないが、10重量%以下程度
の遊離炭素が混在する場合がある1本発明の上記炭化鉄
の薄膜は厚さが0.01〜1μl程度のものを指し、水
晶振動式膜厚モニター又は接触式膜厚測定器により測定
される。
2、Fe、C,等を例示でき、これらはx#1回折によ
り分析し、X#1回折図で検出することができる。尚、
粉体では遊離炭素の混在が避けられない場合が多いが、
柱状組織では殆ど検出されないが、10重量%以下程度
の遊離炭素が混在する場合がある1本発明の上記炭化鉄
の薄膜は厚さが0.01〜1μl程度のものを指し、水
晶振動式膜厚モニター又は接触式膜厚測定器により測定
される。
本発明の炭化鉄薄膜は例えば磁気テープ、磁気ハードデ
ィスク、フロッピーディスク等の磁気記録媒体の磁性層
に用いることができる。
ィスク、フロッピーディスク等の磁気記録媒体の磁性層
に用いることができる。
(実 施 例)
以下に本発明の実施例を挙げて説明する。
実施例1
皮膜形成前に真空槽内を10−’ T orr台まで排
気した後、Arを4 X 10−’ T orrまで導
入、RF電力300W 、バイアス電圧−0,1kVで
10分間基板のボンバード処理を行った。その後RF電
力600W 。
気した後、Arを4 X 10−’ T orrまで導
入、RF電力300W 、バイアス電圧−0,1kVで
10分間基板のボンバード処理を行った。その後RF電
力600W 。
バイアス電圧−0,1kV、CH,ffス8,0XIO
−鴫Torrli域で成膜を行った。周囲を冷却した銅
製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ、電子ビーム(
6kVX60QW)にて金属を蒸発させた。この時の皮
膜速度はおよそ4.OA/seeであった。蒸発材料は
99.9%のFeであり、A「及びC)−14*スはそ
れぞれ99.998%、99.995%のものを使用し
、基板はD F −113とア七トンで洗浄処理したガ
ラス板(10III11厚)を用いた。蒸発源と基板間
の1[離は400uaとし、基板温度は300℃とした
。尚、皮膜に柱状栖造を持たせる目的で斜め蒸着法を採
用した6本実施例では70”で行った。皮膜形成後、真
空槽内を徐冷し、室温付近の温度に到達した時点で、リ
ークし、試料を取り出した。
−鴫Torrli域で成膜を行った。周囲を冷却した銅
製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ、電子ビーム(
6kVX60QW)にて金属を蒸発させた。この時の皮
膜速度はおよそ4.OA/seeであった。蒸発材料は
99.9%のFeであり、A「及びC)−14*スはそ
れぞれ99.998%、99.995%のものを使用し
、基板はD F −113とア七トンで洗浄処理したガ
ラス板(10III11厚)を用いた。蒸発源と基板間
の1[離は400uaとし、基板温度は300℃とした
。尚、皮膜に柱状栖造を持たせる目的で斜め蒸着法を採
用した6本実施例では70”で行った。皮膜形成後、真
空槽内を徐冷し、室温付近の温度に到達した時点で、リ
ークし、試料を取り出した。
得られた薄膜試料は、黒灰色の光沢を保ち、膜厚計によ
る測定の結果、膜厚は2000Aであり、振動試料型磁
力計による磁気特性では、最大磁場10koe下で、膜
面に垂直及び水平方向の値としてそれぞれHe、=70
00e1 σs、 = 780emu/ ec。
る測定の結果、膜厚は2000Aであり、振動試料型磁
力計による磁気特性では、最大磁場10koe下で、膜
面に垂直及び水平方向の値としてそれぞれHe、=70
00e1 σs、 = 780emu/ ec。
σr□/σs、=0.20及びHc7= 5200 e
l σ、、=SaOemu/ac、 σrI/σ5J
=0.55であった。これらの値よりこのWg膜は磁気
記り媒体用の磁性層として優れていることが分かる。形
成された薄膜をttS2図に示すX28分光測定及び$
3図に示すX線回折測定した結果、Fe、C3と少量の
カーボンから成ることが判明した。尚、薄膜断面は第4
図に示す走査型電子顕微鏡写真により、柱状組織が確認
された。
l σ、、=SaOemu/ac、 σrI/σ5J
=0.55であった。これらの値よりこのWg膜は磁気
記り媒体用の磁性層として優れていることが分かる。形
成された薄膜をttS2図に示すX28分光測定及び$
3図に示すX線回折測定した結果、Fe、C3と少量の
カーボンから成ることが判明した。尚、薄膜断面は第4
図に示す走査型電子顕微鏡写真により、柱状組織が確認
された。
実施例2
皮膜形成前に真空槽内を10′″’ T orr台まで
排気した後、A「を4 X 1O−4T orrまで導
入、RF電力300W 、バイアス電圧−Q、1kVで
10分間基板のボンバード処理を行った。その後RF主
電力00W 。
排気した後、A「を4 X 1O−4T orrまで導
入、RF電力300W 、バイアス電圧−Q、1kVで
10分間基板のボンバード処理を行った。その後RF主
電力00W 。
バイアス電圧−0,1kV、CH4yス8.OX 1O
−4TorrlJ(域で成膜を行った6周囲を冷却した
銅製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ、電子ビーム
(6kVX600W)にて金属を蒸発させた。この時の
皮膜速度はおよそ5.OA / secであった。蒸発
材料は99.9%のFeであり、A「及びCH,Ifス
はそれぞれ99.998%、99.995%のものを使
用し、基板はDF−113と7七トンで洗浄処理したシ
リコン基板(10mm厚)を用いた。蒸発源と基板間の
距離は400mmとし、基板温度は300℃とした。尚
、皮膜に柱状構造を持たせる目的で斜め蒸着法を採用し
た。
−4TorrlJ(域で成膜を行った6周囲を冷却した
銅製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ、電子ビーム
(6kVX600W)にて金属を蒸発させた。この時の
皮膜速度はおよそ5.OA / secであった。蒸発
材料は99.9%のFeであり、A「及びCH,Ifス
はそれぞれ99.998%、99.995%のものを使
用し、基板はDF−113と7七トンで洗浄処理したシ
リコン基板(10mm厚)を用いた。蒸発源と基板間の
距離は400mmとし、基板温度は300℃とした。尚
、皮膜に柱状構造を持たせる目的で斜め蒸着法を採用し
た。
本実施例ではフ0“で行った。皮膜形成後、真空槽内を
徐冷し、室温付近の温度に到達した時点で、リークし、
試料を取り出した。
徐冷し、室温付近の温度に到達した時点で、リークし、
試料を取り出した。
得られた薄膜試料は、黒灰色の光沢を保ち、膜厚計によ
る測定の結果、膜厚は3500Aであり、振動試料型磁
力計による磁気特性では、最大磁場10koe下で、膜
面に垂直及び水平方向の値としてそれぞれHe、”65
00e、σs、= 800eu+u/ cc。
る測定の結果、膜厚は3500Aであり、振動試料型磁
力計による磁気特性では、最大磁場10koe下で、膜
面に垂直及び水平方向の値としてそれぞれHe、”65
00e、σs、= 800eu+u/ cc。
σr、/σs□=0.25及び)(c7=5000e、
asz=850eIIlu/CC1σrI/σ5I
=o、65であった。これらの値よりこの薄膜は磁気記
0媒体用の磁性層として優れていることが分かる。形成
された薄膜を第5図に示すX28分光測定及び第6図に
示すx#a回折測定した結果、Fe5C2と少量のカー
ボンから成ることが判明した。尚、薄膜断面は第7図に
示す走査型電子顕微鏡写真により、柱状&IL鑞が確認
された。
asz=850eIIlu/CC1σrI/σ5I
=o、65であった。これらの値よりこの薄膜は磁気記
0媒体用の磁性層として優れていることが分かる。形成
された薄膜を第5図に示すX28分光測定及び第6図に
示すx#a回折測定した結果、Fe5C2と少量のカー
ボンから成ることが判明した。尚、薄膜断面は第7図に
示す走査型電子顕微鏡写真により、柱状&IL鑞が確認
された。
第1図は金属鉄からの距離が40cm、負電位100V
、温度300℃のプラス基板に対して、メタン雰囲気中
で高周波電力600Wで放電したときの、メタンの圧力
及1蒸着速度と生成する柱状組織の組成との関係を示す
グラフである。第2図及び第5図は実施例で得られた炭
化鉄薄膜のXPS分光測定図、第3図及び第6図はその
X線回折測定図、第4図及び第7図はその薄膜断面の走
査型電子顕微鏡写真を示す。 (以 上) 出 願 人 ダイキン工業株式会社 代 理 人 弁理士 1)村 巌 第1図 蒸着速度(人/秒) 第 図 (分) 第 図 2θ 綜 閤 第 図 味 口 (%) 手 続 補 県 正置 昭和63年11月30日 特許片長宮殿 発明の名称 炭化鉄薄膜 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (285)ダイキン工業株式会社 4、代 5、?IIl正命令の日付 7、補正の内容 (1)明細書第3頁第18行 E程度」を「程度の負電位」に訂正します。 (2)明細書第5頁第20行 「又は」を「及び」に訂正します。 (3)明細書第3頁第18行及び第8頁第7行rWJを
それぞれ「IIA」に訂正します。 (4)明細書第7頁第5〜6行 「得られた・・・・・・の結果、」を「得られた薄膜は
、灰色の光沢を保ち、」に訂正します。 (5)明細書第8頁第18〜19行 [得られた・・・・・・の結果、]を[得られた薄膜は
、灰色の光沢を保ち、」に訂正します。 黒 黒 (以 上) 6、補正の対象 明細書中の「発明の詳細な説明」の項 7゜ 補正の内容 平成元年 昭和63年特許H第290760号 2、発明の名称 炭化鉄薄膜 薯 (@明細書第3頁第3行、同頁第20行及び第4頁第1
9行 「本発明」をそれぞれ「本発明の製造」に訂正します。 補正をする者 事件との関係 特許出願人 (285)ダイキン工業株式会社 (棒)明細書第3頁第17行 4、代理人 〒530大阪府大阪市北区曽根崎1丁目2番8号「重量
%」を「原子%」に訂正します。 (+)明細書flsG頁第6行〜第9頁第9行の記載を
次のように訂正します。 [実施例1 皮膜形成前に真空槽内を10−’ T orr台まで排
気した後、Arを4 X 10−’ T orrまで導
入、RF電力300W 、バイアス電圧−0,1kVで
10分間基板のボンバード処理を行った。その後RF電
力aoow 。 バイアス電圧−〇、1kV、CH,,fス8.OX 1
0−’T orr領域で成膜を行った。周囲を冷却した
ti4製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ、電子ビ
ーム(6kV X600mA )にて金属を蒸発させた
。この時の蒸着速度はおよそ4.0A / seeであ
った。蒸発材料は99.9%のFeであり、Ar及びC
H,7yスはそれぞれ99,998%、99,995%
のものを使用し、基板はトリクロロトリフルオロエタン
とア七トンで洗浄処理したプラス板(11n111厚)
及びシリコンウェハー(0,6aon厚)を並べて用い
た。蒸発源と基板間の距離は400m+aとし、基板温
度は300°Cとした。尚、薄膜に柱状構造を持たせる
目的で斜め蒸着法を採用した。本実施例では70“で行
った。薄膜形成後、熱源を取り去り、真空槽内を放冷し
、室温付近の温度に到達した時点で、リークし、試料を
取り出した。 得られた薄膜は、黒灰色で光沢を帯ゾ、膜厚は2000
Aであり、振動試料型磁力計による磁気特性では、最大
磁場10kOe下で、膜面に垂直及び水平方向の値とし
てそれぞれHe□= 7000 el σs、=780
eu+u/cc、 a r、/ er s、=0.2
0及びT(c7=520Oe、 σsI= 830e
mu/ 68% σrI/σ57=o、55であった
。これらの値よりこの薄膜は磁気記録媒体用の磁性層と
して優れていることが分かる。形成された薄膜は、XP
S測定及びX線回折測定の結果、第2図及びtJS3図
に示すようにF e7 C3及び少量の炭素から成るこ
とが判明した。尚、薄膜断面は第4図に示す走査型電子
顕微鏡写真により、柱状組織が確認された。 実施例2 薄膜形成前に真空槽内を10−’ T orr台まで排
気した後、Arを4 X 1O−4T orrまで導入
、RF電力300W 、バイアス電圧−0,1kVで1
0分間基板のボンバード処理を行った。その後RF電力
600W 1バイアス電圧−〇、1kV、CH,yス8
.OX 10−’T orrfi域で成膜を行った。周
囲を冷却した銅製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ
、電子ビーム(6kV X 600mA >にて金属を
蒸発させた。この時の蒸着速度はおよそ5.OA/se
eであった。蒸発材料は99.9%のFeであり、Ar
及びCH、ブスはそれぞれ99,998%、99.99
5%のものを使用し、基板はトリクロロトリフルオロエ
タンとア七トンで洗浄処理したシリコン基板(I111
Ie厚)及びシリコンウェハー(0,6+om厚)を並
べて用いた。蒸発源と基板間の距離は400 +a +
hとし、基板温度は300℃とした。尚、薄膜に柱状構
造を持たせる目的で斜め蒸着法を採用した。本実施例で
は70” で行った。薄膜形成後、熱源を取り去り、真
空槽内を放冷し、室温付近の温度に到達した時点で、リ
ークし、試料を取り出した。 得られた薄膜は、黒灰色で光沢を帯び、膜厚は3500
Aであり、振動試料型磁力計による磁気特性では、最大
磁場10kOe下で、膜面に垂直及び水平方向の値とし
てそれぞれHc、” 6500 e、σS□=800e
+ou/ cc、 σr□/σs、=0.25及び!
(c、=5000e、 σs7= 850emu/
ee、 σ「、/σ57=o、65であった。これら
の値よりこの薄膜は磁気記録媒体用の磁性層として優れ
ていることが分かる。形成された薄膜は、XPS測定及
びX#X回折測定の結果、第5図及び第6図に示すよう
にFe5C2及び少量の炭素から成ることが判明した。 尚、薄膜断面は第7図に示す走査型電子顕微鏡写真によ
り、柱状組織が確認された。」 + (牟)明細書第9頁第11行 [40clI+1を1400wwJに訂正します。 (各)明細書第9頁第11行 「分光」を削除します。 (以 上)
、温度300℃のプラス基板に対して、メタン雰囲気中
で高周波電力600Wで放電したときの、メタンの圧力
及1蒸着速度と生成する柱状組織の組成との関係を示す
グラフである。第2図及び第5図は実施例で得られた炭
化鉄薄膜のXPS分光測定図、第3図及び第6図はその
X線回折測定図、第4図及び第7図はその薄膜断面の走
査型電子顕微鏡写真を示す。 (以 上) 出 願 人 ダイキン工業株式会社 代 理 人 弁理士 1)村 巌 第1図 蒸着速度(人/秒) 第 図 (分) 第 図 2θ 綜 閤 第 図 味 口 (%) 手 続 補 県 正置 昭和63年11月30日 特許片長宮殿 発明の名称 炭化鉄薄膜 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 (285)ダイキン工業株式会社 4、代 5、?IIl正命令の日付 7、補正の内容 (1)明細書第3頁第18行 E程度」を「程度の負電位」に訂正します。 (2)明細書第5頁第20行 「又は」を「及び」に訂正します。 (3)明細書第3頁第18行及び第8頁第7行rWJを
それぞれ「IIA」に訂正します。 (4)明細書第7頁第5〜6行 「得られた・・・・・・の結果、」を「得られた薄膜は
、灰色の光沢を保ち、」に訂正します。 (5)明細書第8頁第18〜19行 [得られた・・・・・・の結果、]を[得られた薄膜は
、灰色の光沢を保ち、」に訂正します。 黒 黒 (以 上) 6、補正の対象 明細書中の「発明の詳細な説明」の項 7゜ 補正の内容 平成元年 昭和63年特許H第290760号 2、発明の名称 炭化鉄薄膜 薯 (@明細書第3頁第3行、同頁第20行及び第4頁第1
9行 「本発明」をそれぞれ「本発明の製造」に訂正します。 補正をする者 事件との関係 特許出願人 (285)ダイキン工業株式会社 (棒)明細書第3頁第17行 4、代理人 〒530大阪府大阪市北区曽根崎1丁目2番8号「重量
%」を「原子%」に訂正します。 (+)明細書flsG頁第6行〜第9頁第9行の記載を
次のように訂正します。 [実施例1 皮膜形成前に真空槽内を10−’ T orr台まで排
気した後、Arを4 X 10−’ T orrまで導
入、RF電力300W 、バイアス電圧−0,1kVで
10分間基板のボンバード処理を行った。その後RF電
力aoow 。 バイアス電圧−〇、1kV、CH,,fス8.OX 1
0−’T orr領域で成膜を行った。周囲を冷却した
ti4製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ、電子ビ
ーム(6kV X600mA )にて金属を蒸発させた
。この時の蒸着速度はおよそ4.0A / seeであ
った。蒸発材料は99.9%のFeであり、Ar及びC
H,7yスはそれぞれ99,998%、99,995%
のものを使用し、基板はトリクロロトリフルオロエタン
とア七トンで洗浄処理したプラス板(11n111厚)
及びシリコンウェハー(0,6aon厚)を並べて用い
た。蒸発源と基板間の距離は400m+aとし、基板温
度は300°Cとした。尚、薄膜に柱状構造を持たせる
目的で斜め蒸着法を採用した。本実施例では70“で行
った。薄膜形成後、熱源を取り去り、真空槽内を放冷し
、室温付近の温度に到達した時点で、リークし、試料を
取り出した。 得られた薄膜は、黒灰色で光沢を帯ゾ、膜厚は2000
Aであり、振動試料型磁力計による磁気特性では、最大
磁場10kOe下で、膜面に垂直及び水平方向の値とし
てそれぞれHe□= 7000 el σs、=780
eu+u/cc、 a r、/ er s、=0.2
0及びT(c7=520Oe、 σsI= 830e
mu/ 68% σrI/σ57=o、55であった
。これらの値よりこの薄膜は磁気記録媒体用の磁性層と
して優れていることが分かる。形成された薄膜は、XP
S測定及びX線回折測定の結果、第2図及びtJS3図
に示すようにF e7 C3及び少量の炭素から成るこ
とが判明した。尚、薄膜断面は第4図に示す走査型電子
顕微鏡写真により、柱状組織が確認された。 実施例2 薄膜形成前に真空槽内を10−’ T orr台まで排
気した後、Arを4 X 1O−4T orrまで導入
、RF電力300W 、バイアス電圧−0,1kVで1
0分間基板のボンバード処理を行った。その後RF電力
600W 1バイアス電圧−〇、1kV、CH,yス8
.OX 10−’T orrfi域で成膜を行った。周
囲を冷却した銅製のルツボに40gの鉄ベレットを入れ
、電子ビーム(6kV X 600mA >にて金属を
蒸発させた。この時の蒸着速度はおよそ5.OA/se
eであった。蒸発材料は99.9%のFeであり、Ar
及びCH、ブスはそれぞれ99,998%、99.99
5%のものを使用し、基板はトリクロロトリフルオロエ
タンとア七トンで洗浄処理したシリコン基板(I111
Ie厚)及びシリコンウェハー(0,6+om厚)を並
べて用いた。蒸発源と基板間の距離は400 +a +
hとし、基板温度は300℃とした。尚、薄膜に柱状構
造を持たせる目的で斜め蒸着法を採用した。本実施例で
は70” で行った。薄膜形成後、熱源を取り去り、真
空槽内を放冷し、室温付近の温度に到達した時点で、リ
ークし、試料を取り出した。 得られた薄膜は、黒灰色で光沢を帯び、膜厚は3500
Aであり、振動試料型磁力計による磁気特性では、最大
磁場10kOe下で、膜面に垂直及び水平方向の値とし
てそれぞれHc、” 6500 e、σS□=800e
+ou/ cc、 σr□/σs、=0.25及び!
(c、=5000e、 σs7= 850emu/
ee、 σ「、/σ57=o、65であった。これら
の値よりこの薄膜は磁気記録媒体用の磁性層として優れ
ていることが分かる。形成された薄膜は、XPS測定及
びX#X回折測定の結果、第5図及び第6図に示すよう
にFe5C2及び少量の炭素から成ることが判明した。 尚、薄膜断面は第7図に示す走査型電子顕微鏡写真によ
り、柱状組織が確認された。」 + (牟)明細書第9頁第11行 [40clI+1を1400wwJに訂正します。 (各)明細書第9頁第11行 「分光」を削除します。 (以 上)
Claims (2)
- (1)結晶状炭化鉄が柱状組織として配列された薄膜。
- (2)結晶状炭化鉄が柱状組織として配列された薄膜を
磁性層とする磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63290760A JPH02137712A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 炭化鉄薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63290760A JPH02137712A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 炭化鉄薄膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02137712A true JPH02137712A (ja) | 1990-05-28 |
Family
ID=17760177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63290760A Pending JPH02137712A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 炭化鉄薄膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02137712A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002033715A1 (fr) * | 2000-10-20 | 2002-04-25 | Migaku Takahashi | Appareil et procede de production d'une couche mince magnetique, et une telle couche |
JP4531331B2 (ja) * | 2000-05-31 | 2010-08-25 | 高橋 研 | 磁性薄膜、その製造方法、その評価方法及びこれを用いた磁気ヘッド、磁気記録装置並びに磁気デバイス |
-
1988
- 1988-11-16 JP JP63290760A patent/JPH02137712A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4531331B2 (ja) * | 2000-05-31 | 2010-08-25 | 高橋 研 | 磁性薄膜、その製造方法、その評価方法及びこれを用いた磁気ヘッド、磁気記録装置並びに磁気デバイス |
WO2002033715A1 (fr) * | 2000-10-20 | 2002-04-25 | Migaku Takahashi | Appareil et procede de production d'une couche mince magnetique, et une telle couche |
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