JPH02134916A - スキャン付eclマスタスレーブラッチ回路 - Google Patents

スキャン付eclマスタスレーブラッチ回路

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JPH02134916A
JPH02134916A JP63288559A JP28855988A JPH02134916A JP H02134916 A JPH02134916 A JP H02134916A JP 63288559 A JP63288559 A JP 63288559A JP 28855988 A JP28855988 A JP 28855988A JP H02134916 A JPH02134916 A JP H02134916A
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JP
Japan
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circuit
ecl
latch
scan
current switching
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JP63288559A
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English (en)
Inventor
Katsuhisa Kubota
久保田 勝久
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ECLゲートを用いて構成したスキャンイン・スキャン
アウト可能な高速のスキャン付ECLマスタスレーブラ
ッチ回路に関し 従来の回路よりも少いゲート数でスキャン付ECLマス
タスレーブラッチ回路を実現することを目的とし。
マスタラッチと、スレーブラッチと、スキャン回路とか
らなるスキャン付ECLマスタスレーブラッチにおいて
、マスタラッチは、所定数のトランジスタの論理和接続
をそれぞれ含む入力側と出力側の2つの電流スイッチン
グ路と、出力取り出し用のエミッタホロワトランジスタ
とを含み、入力側電流スイッチング路への入力信号の高
側レベルよりも高い高側レベルをもつ信号を出力側電流
スイッチング路から出力するレベルシフト型の第1と第
2のECL回路からなり、それぞれのEcL回路の出力
側電流スイッチング路同士でたすき掛け状の帰還を行う
ことにより3値論理のラッチとして構成され、スレーブ
ラッチおよびスキャン回路はそれぞれ単一のECL回路
を用いて構成される。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ECLゲートを用いて構成したスキャンイン
・スキャンアウト可能な貰速のスキャン付ECLマスタ
スレーブラッチ回路に関する。
スキャン付ECLマスクスレーブ回路を従来方式で構成
すると、多数のECLゲートが必要となる。
本発明は、ゲート数の少いスキャン付EcLマスクスレ
ーブラッチ回路を提供する。
〔従来の技術〕
第7図により、従来のスキャン付ラッチ回路の概要を説
明する。
第7図において、1はLSI回路、  2. 3. 4
はLSI回路1内に組み込まれているスキャン付ラッチ
回路、5は各スキャン付ラッチ回路にテスト用の状態値
を設定するための共通のスキャンイン信号線、6は各ス
キャン付ラッチ回路の状態値を取り出す共通のスキャン
アウト信号線、7はLSI回路1中の1個のスキャン付
ラッチ回路を選択してそのラッチに値のスキャンインを
可能にしあるいはそのラッチ状態を読み出しスキャンア
ウト可能にするためのアドレス線である。
スキャン付ラッチ回路2,3.4は、LSI回路1の動
作中、その本来の制御機能あるいは論理機能に基づく状
態値を逐次とってゆく。
これらのスキャン付ラッチ回路2,3.4はそれぞれ固
有のアドレスをもち2診断用データの収集時にアドレス
線7からスキャンアドレスを与えると、与えられたアド
レスに8亥当する一つのスキャン付ラッチ回路が選択さ
れ、その状態値がスキャンアウト信号線6に読み出され
る。
またスキャンイン信号線5にテスト用の状態値を印加す
ると、アドレス選択されたスキャン付ラッチ回路にその
状態値が設定される。これにより。
LSI回路1を、任意の制御状態あるいは論理状態から
動作させることができる。
次にスキャン付ラッチ回路の従来例として、スキャン付
ECLマスクスレーブラッチ回路の論理回路を第8図に
示す。
第8図において、11がマスタラッチ、12はスレーブ
ラッチ、13がスキャン回路である。
この図示されている従来例回路では、マスタラッチ11
のORゲート14にデータDi、D2がOR入力され、
OR/NORゲート15にはセット信号SETが入力可
能にされている。またマスタラッチ11およびスレーブ
ラッチ12には、それぞれ負クロックCLKとともにク
ロックイネーブル信号CF、が並列に入力されている。
スーt−ヤン回路13には、ラッチアドレスに基づいて
生成されるラッチ選択信号ADI、AD2が印加されて
おり、AD1=AD2−“0”のとき。
スキャンイン信号S■をORゲート21からマスタラッ
チ11へ入力させ、またスレーブラッチ12の状態をA
NDゲート23からスキャンアウト信号5OUTとして
読み出させる。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のECL回路を用いたスキャン付ECLマスタスレ
ーブラッチ回路では、構成上多数のECI、ゲートを必
要とするため、目的とする論理機能を実現するだめの回
路規模が大きくなり、またマスクスライスLSIなどで
は、一定のゲート数で実現できる論理規模に制約が生じ
て、実装効率が悪くなり、コストも上るという問題があ
った。
本発明は、従来の回路よりも少いゲート数でスギャン付
E CLマスタスレーブラッチ回路を実現することを目
的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明はレベルシフト型のE CL回路を用いることに
より、外部から与えられる信号の高論理レベル側の値よ
りもさらに高い値の高論理レベルをもつ信号に変換して
ECL間を結合することにより、ECL内で通常の論理
よりも優先的に働く3値論理機能を実現し、スキャン付
ECLマスタスレーブラッチ回路のゲート数を削減可能
にしだものである。
第1図に示されている具体例を用いて9本発明回路の原
理的構成を説明する。
第1図において、31および32はマスタラッチを構成
するECL回路、33はスレーブラッチを構成するEC
L回路、34はスキャン回路を構成するECL回路であ
る。
またT1ないしT25はトランジスタ、R1ないしRI
Oは抵抗、iは定電流源、CEはクロックイネーブル、
CLKばクロック、Dは入力データ、Dは反転入力デー
タ、VBBは参照電圧、RESETはりセント信号、Q
mはマスタラッチ出力、Qmは反転マスタラッチ出力、
Qsはスレーブラッチ出力、Qsは反転スレーブラッチ
出力S■はスキャンイン信号、ADIおよびAD2はラ
ッチ選択信号、5OUTはスキャンアウト信号VER,
VTは電源電圧、GNDは接地を表わしている。
ECL回路33は、2つの電流スイッチング路とGND
との間に入力信号のレベルと出力信号のレベルを一致さ
せるレベル調整用の共通抵抗R7をもつ非レベルシフト
型のE CL回路である。しかしECL回路31.32
.34は、このような共通抵抗をもたないレベルシフト
型のECLIEi[となっており2図中左側の電流スイ
ッチング路(ここでは入力側電流スイッチング路という
)を構成するトランジスタ(たとえばTIないしT3)
のベースに入力される信号の高側レベルよりも、右側の
電流スイッチング路(ここでは出力側電流スイッチング
路という)を構成するトランジスタ(たとえばT4ない
しT6)のコレクタから出力される信号の高側レベルが
高くなっている。
これによりECL回路31ないし34は、3値論理で動
作する。
第2図に1回路中で用いられる各信号のレベルを示す。
低側レベルVOLは各信号に共通であるが、高側レベル
はVOH,VOKの2種類ありCB、CLK、D、D、
Si Qs、QsはそれぞれVOHのレベルをもち、R
ESET、Qm。
Hよりも少し高いレベルのV OH′をもつ。
第1図に戻ると、ECL回路31において、TIないし
T3は並列接続されていて論理和入力を構成し、ECL
回路の入力側の電流スイッチング路をなしている。また
T4ないしT6も並列接続されていて論理和入力を構成
し、出ノJ例の電流スイッチング路をなしている。
同様にE CL回路32の]8ないしT 1.0とTl
lおよびT12.さらにECL回路33のT14および
T15と、ECL回路34のT21ないしT24もそれ
ぞれ論理相入力を構成している。
E CL回路31とECL回路32は、それぞれの出力
側電流スイッチング路同士でそのT6.712とエミッ
タホロワエマ、T13を介してたすき掛けに帰還がかげ
られており、これによりマスタラッチが実現されている
またr= c r、回路31と32の各入力側電流スイ
ッチング路の論理和入力には、クロックイネ−フルCB
が共通に与えられており、さらにECL回路31には入
力データDが、そしてE CI、回路32には反転入力
データDが与えられる。これらはCB、CLKがともに
OFF (VOLレベル)のときにり、Dの値をラッチ
に読み込むサンプリング機能をもつ。
第2図に示されているように、RESET、QHよりも
高いレベルをもつので、VOH’が入力されているトラ
ンジスタは無条件にONとなる。
またたとえばECL回路31において、T5にRESE
T=VOL、T6にQm=VOLが与えられてT5.T
6がOFF (非導通)となっている状態では、TI、
T2.T3のいずれか1つのペースにVOHレベルが与
えられると、Qm=VOI(’となる。
しかし、T5にRESET−VO)(’あるいはT6に
Q m = V OH’が与えられていると、VOH<
VOH’であるため、T5あるいはT6は無条件にON
(導通)となり、このときTI、T2.T3のいずれの
ベースがVOHになっても、そのトランジスタはONに
なることはできない。
これは、ECL回路32において712に帰還されるマ
スタラッチ出力QmがVOH’になったときも同様であ
る。
つまり、RESET、Qm、QmのVOH’は。
CB、CLK、D、DのVOHと競合したときECL回
路31.32の動作を優勢的に支配する。
一方、DまたはD(7)VOHは、CBとCLKがとも
にVOLのとき有効となるが、出力側電流スイッチング
路にVOKが入力されていないECL回路において入力
側電流スイッチング路をONにすることができる(VO
H>vBBであるため)。
このようにECL回路31.32からなるマスタラッチ
は、3値論理で動作し、RESETをVOH″にするこ
とに・よりリセットされ、またCEとCLKのVOL時
にDの値を読み込むことができる。
スレーブラッチのECL回路33の出力側電流スイッチ
ング路T1Bには1反転マスタラッチ出力のQmが結合
されており、またエミッタホロワT19のスレーブラッ
チ出力Qsは、入力側電流スイッチング路の714に帰
還されている。
ECL回路33は、CLKがVOHのときQmを読み込
みラッチする。すなわち、CLK=VOHのときσ石=
VO1(’であれば、T14.T15はOFFのままで
あり、この状態がラッチされる。
またCLK=VOHのときQm=VOLであれば。
T15がONとなり、またT17,718はOFFでQ
s=VOHとなり、この状態がラッチされる。
スキャン回路のECL回路34では、入力側電流スイッ
チング路を構成するT20にスキャンイン信号Slが入
力され、T20のコレクタはECL回路32のTll、
T12のコレクタと負荷抵抗RIOを共有するように接
続されている(いわゆるコレクタ・ドツトによる結合が
なされている)。
またECL回路34の出力側電流スイッチング路を構成
するT21.T22.T23.T24にはそれぞれラッ
チ選択信号ADI、AD2.スレーブラッチ出力Qs、
VBBが入力され、そしてT21.T22.T23が各
コレクタの共通接続点にはエミッタホロワのT25が接
続されて、スキャンアウト信号5OUTが取り出される
第2図に示されているように、Slの高側レベルVOH
は、ADI、AD2の各高側レベルVO「よりも低いか
ら、AD1=AD2=VOL、 すなわち図示されてい
るラッチが選択されたとき。
T21.T22はOFFとなる。またスキャンインを行
う場合には、必ずその前にラッチをリセットする動作が
行われているので、このときQs−VOLであり、T2
3もOFFとなっている。
このためECL回路34は、AD1=AD2=VOLの
ラッチ選択期間にまずSIの値によって状態が決まり、
5I=VOLのときQ m = V OK 。
Qs=VOL、5OUT=VOH’であるが、5l=V
OHになると、T20はONとなり、Qm=VOK、Q
m=VOL、Qs =VOH4m変化して。
5OUT=VOLが読み出される。
〔作用〕
第3図の信号波形図を用いて、第1図の本発明回路の動
作例を説明する。第3図中、■ないし[相]は信号種別
、tlないしtloは動作タイミングを表わしている。
t、:リセント信号RESETをON (VOH’)に
すると、マスタラッチおよびスレーブラッチかりセット
され、Qm=VOL、Qm=VOH″Qs =VOLと
なる。
t2 :ADl、AD2をともにVOLにし、このラッ
チをスキャン選択する。このときQ m = VOH’
が5OUTとして読み出される。
t3 ニスキャンイン信号SIをON (VOH)にし
、マスタラッチ、スレーブラッチをセットする。これに
よりQm=VO)r、Qm=VOI、。
Qs =VOHとなる。
ta  : AD 1.AD2の一方または両方をVO
)rにし、このラッチのスキャン選択を終了する。
t、:クロソクイネーブルCBをVOLにし、クロック
CLKを有効化する。
t6 :CLKがVOHからVOLに立下ると、入力デ
ータDのVOLがマスタラッチに読み込まれ Qm=V
OL、Qm−VO「となる。
t7 :CLKがVOLからVOHに立上り、 Qm=
 V 01(’がスレーブラッチに読み込まれて、Qs
 =VOLになる。
t8 :入力データDがV OHに変化する。
jq:cLKがVOHからv o r、に立下ると5D
= V OI−1がマスタラッチに読み込まれ、Qm=
VOT(’  Qm−VOHになる。
tlo:C1−KがVOLからVOHに立上り、 Qm
=VOLがスレーブラッチに読込まれ、Qs−VOHと
なる。
〔実施例〕
第4図に本発明の第1の実施例の回路を示す。
図示されている実施例回路は、第1図の本発明回路の一
部を変型したものである。
第4図では、第1図においてスレーブラッチのECL回
路33中のR5,R7を取り除き、非しヘルシフト型で
あったものをレベルシフト型に変更するとともに1反転
マスタラッチ出力σ石入力用のトランジスタT18を取
り除き1代りにT17のコレクタをマスタラッチのEC
L回路32中のT8.T9、TIOの各コレクタの共通
接続点に直結して、コレクタ・ドツト結合を行っている
。また第1図のECL回路33からエミッタホロワT1
6を取り除き9反転スレーブラッチ出力σSをなくして
いる。
これにより、BCL回路33のエミッタホロワT19の
ベースにはQmが印加されることになる。
動作は次のように行われる。
CLKがVOH17)ときT17ばOFFとなり。
T19のベースはT8.T9.TIOのコレクタ電位、
つまりQmに依存して変化する。すなわち。
このときQ m −V OI−(’であれば、Qs=V
O)(’となってT14をONにし、この状態がラッチ
される。
またC L KがVOLのときQm=VOLであれば、
Qs−VOLとなって714もOFFとなり2この状態
がラッチされる。
第5図は、第1図の本発明回路による第2の実施例であ
り、第1図の回路と異なる点は、第1図の回路がRES
ET型であったのに対して第5図の実施例回路はSET
型であること、このため第1図のECL回路31中のR
ESET入力用のT5が取り除かれ2代りにECL回路
32にSET入力用の726が付加されている。
また第5図の実施例回路では、ECL回路34のT20
のコレクタ、ECL回路32のT11゜T12.T26
のコレクタに直結するのではなくECL回路31のT4
.T6のコレクタに直結している。この結果SI大入力
リセットと同じ効果をもつ。そのためECL回路34の
T23への入力は、QsでなくQsとし、スキャンアウ
ト信号も反転された5OUTではなく5OUTに変更さ
れている。
第6図は、第5図のSET型の実施例回路の動作例を示
す信号波形図であり、第1図のRESET型の回路の信
号波形図である第3図のものに対応するものである。
第6図に示すように+  tI のSET入力とt3の
SI大入力、ECL回路31.32.33に対して、第
1図の回路の場合とは逆に作用し、第6図のQm、σm
、Qsは第3図のものを反転した波形となる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、スキャン付ECLマスタスレーブラッ
チ回路を4個のECL回路を用いて構成することができ
、従来の回路にくらべて3ゲート数が大幅に削減される
。その結果回路が簡単化されるため、その分1つのLS
I回路に収容できる論理規模を大きくすることが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明回路の原理図、第2図は本発明回路の信
号レベル図、第3図は本発明回路の動作例の信号波形図
、第4図は本発明の第1の実施例の回路図、第5図は本
発明の第2の実施例の回路図、第6図は第2の実施例の
動作例の信号波形図第7図は従来のスキャン付ラッチ回
路の概要説明図、第8図は従来のスキャン付ECLマス
タスレーブラッチ回路の論理回路図である。 第1図中。 31〜34 : ECL回路 CE:クロックイネーブル CLK :クロック D:入力データ D:反転入力データ RESET:リセント信号 Qm:マスタラッチ出力 Qm:反転マスタラッチ出力 Qsニスレープラッチ出力 Qs:反転スレーブラッチ出力 SIニスキャンイン信号 ADI、AD2:ラッチ選択信号 5OUTニスキャンアウト信号

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 それぞれがECL回路を要素として構成されたマスタラ
    ッチと、スレーブラッチと、スキャン回路とからなるス
    キャン付ECLマスタスレーブラッチにおいて、マスタ
    ラッチは、所定数のトランジスタの論理和接続をそれぞ
    れ含む入力側と出力側の2つの電流スイッチング路と、
    出力取り出し用のエミッタホロワトランジスタとを含み
    、入力側電流スイッチング路への入力信号の高側レベル
    よりも高い高側レベルをもつ信号を出力側電流スイッチ
    ング路から出力するレベルシフト型の第1と第2のEC
    L回路からなり、それぞれのECL回路の出力側電流ス
    イッチング路同士でたすき掛け状の帰還を行うことによ
    り3値論理のラッチとして構成され、 スレーブラッチは、所定数のトランジスタの論理和接続
    を少くとも入力側に含む入力側と出力側の2つの電流ス
    イッチング路と、出力取り出し用のエミッタホロワとを
    含むレベルシフト型あるいは非レベルシフト型の第3の
    ECL回路からなり、その出力側から入力側へ帰還を行
    うことによりラッチとして構成され、その出力側電流ス
    イッチング路にはマスタラッチの状態を結合し、 上記第1ないし第3のECL回路の各入力側電流スイッ
    チング路の論理和接続には単一のクロックを共通に入力
    し、 スキャン回路は、スキャン信号を入力するトランジスタ
    からなる入力側電流スイッチング路と、ラッチ選択信号
    およびスレーブラッチ状態を結合する複数のトランジス
    タの論理和接続からなる出力側電流スイッチング路と、
    スキャンアウト信号を出力する出力取り出し用のエミッ
    タホロワとを含む第4のECL回路で構成されているこ
    とを特徴とするスキャン付ECLマスタスレーブラッチ
    回路。
JP63288559A 1988-11-15 1988-11-15 スキャン付eclマスタスレーブラッチ回路 Pending JPH02134916A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5257223A (en) * 1991-11-13 1993-10-26 Hewlett-Packard Company Flip-flop circuit with controllable copying between slave and scan latches

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5257223A (en) * 1991-11-13 1993-10-26 Hewlett-Packard Company Flip-flop circuit with controllable copying between slave and scan latches

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