JPH02134551A - ガス選択性を有するガス検出装置 - Google Patents
ガス選択性を有するガス検出装置Info
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- JPH02134551A JPH02134551A JP28988088A JP28988088A JPH02134551A JP H02134551 A JPH02134551 A JP H02134551A JP 28988088 A JP28988088 A JP 28988088A JP 28988088 A JP28988088 A JP 28988088A JP H02134551 A JPH02134551 A JP H02134551A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Emergency Alarm Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は雰囲気中にガスが存在することを検知するガス
検出装置に関し、詳しくは、LPガスや都市ガスのガス
漏れ警報器として使用するに適したガス検出装置に関す
る。
検出装置に関し、詳しくは、LPガスや都市ガスのガス
漏れ警報器として使用するに適したガス検出装置に関す
る。
ガス検出装置は、その性質上、様々なガス(イソブタン
、プロパン、エタン、メタン、エタノール、プロピレン
、トルエン、キシレン、メタノール、水素、−酸化炭素
等)に感度を有する。従って、ある特定のガスを検出し
たい場合、他のガスによるノイズが大きな問題になる。
、プロパン、エタン、メタン、エタノール、プロピレン
、トルエン、キシレン、メタノール、水素、−酸化炭素
等)に感度を有する。従って、ある特定のガスを検出し
たい場合、他のガスによるノイズが大きな問題になる。
例えば、家庭用のガス検出装置(ガス漏れ警報器)にお
いては、都市ガスの場合には、メタンガスにのみ反応す
ることが望ましいが、ガス漏れ警報器の設置場所が多く
は天井に近いところにあるため水蒸気や各種蒸気、雑ガ
スの影響を受けやすい。雑ガスとして家庭内で最も発生
しやすいのはアルコールであるが、一般のガス検出装置
はアルコールに対しても高い感度を有する。そうしたこ
とから、通常はガス検出装置にガス選択性を持たせるた
めに、フィルターを付加したり動作温度を変えるなどし
ているが、コスト及び確実性において問題がある。
いては、都市ガスの場合には、メタンガスにのみ反応す
ることが望ましいが、ガス漏れ警報器の設置場所が多く
は天井に近いところにあるため水蒸気や各種蒸気、雑ガ
スの影響を受けやすい。雑ガスとして家庭内で最も発生
しやすいのはアルコールであるが、一般のガス検出装置
はアルコールに対しても高い感度を有する。そうしたこ
とから、通常はガス検出装置にガス選択性を持たせるた
めに、フィルターを付加したり動作温度を変えるなどし
ているが、コスト及び確実性において問題がある。
本発明は従来のごときフィルターを付加したり動作温度
を変える等の面倒な手段を採ることなく、特定のガスの
漏れを検出しうるガスセンサを提供するものである 〔構 成〕 本発明は基板、その基板上に空中に張り出して設けられ
た電気絶縁性材料からなる張り出し部、前記張り出し部
上に設けた検出領域にあって互いに所定距離離隔して設
けられた少なくとも一対の検出用リード、前記張り出し
部上に前記検出用リードにほぼ並置して設けられた少な
くとも1個のヒータリード、及び前記検出領域にあって
前記少なくとも一対の検出用リードの夫々に接触して設
けられたガス感応物質層を有しており、前記ガス感応物
質層がガスと接触反応することによりその抵抗値の変化
を測定してガス検出を行なう装置において、前記ヒータ
リード、検出用リード及びガス感応物質層を備えた張り
出し部が二個以上存在せしめ、かつそれらガス感応物質
層が互いに金属と酸素との組成比を異にした金属酸化物
半導体膜からなりガス選択性を有したものであることを
特徴としている。
を変える等の面倒な手段を採ることなく、特定のガスの
漏れを検出しうるガスセンサを提供するものである 〔構 成〕 本発明は基板、その基板上に空中に張り出して設けられ
た電気絶縁性材料からなる張り出し部、前記張り出し部
上に設けた検出領域にあって互いに所定距離離隔して設
けられた少なくとも一対の検出用リード、前記張り出し
部上に前記検出用リードにほぼ並置して設けられた少な
くとも1個のヒータリード、及び前記検出領域にあって
前記少なくとも一対の検出用リードの夫々に接触して設
けられたガス感応物質層を有しており、前記ガス感応物
質層がガスと接触反応することによりその抵抗値の変化
を測定してガス検出を行なう装置において、前記ヒータ
リード、検出用リード及びガス感応物質層を備えた張り
出し部が二個以上存在せしめ、かつそれらガス感応物質
層が互いに金属と酸素との組成比を異にした金属酸化物
半導体膜からなりガス選択性を有したものであることを
特徴としている。
ちなみに、本発明者らはガス検出装置を複数のマイクロ
ヒーター及びガス感応膜で形成するとともに、それら複
数のガス感応膜(金属酸化物半導体膜)における金属と
酸素との組成比を変えることによりガス感応に選択性が
もたらされることを確めた。本発明はこれに基すいてな
されたものである。
ヒーター及びガス感応膜で形成するとともに、それら複
数のガス感応膜(金属酸化物半導体膜)における金属と
酸素との組成比を変えることによりガス感応に選択性が
もたらされることを確めた。本発明はこれに基すいてな
されたものである。
以下に、本発明を添付の図面に従がいながらさらに詳細
に説明するが、端的にいえば、本発明のガス検出装置は
互いに金属と酸素との組成比を異にした金属酸化物半導
体膜を少なくとも二つのガス感応物質層として採用し、
それぞれのガス感応物質層によって感知されるガスを検
知するようにしている。
に説明するが、端的にいえば、本発明のガス検出装置は
互いに金属と酸素との組成比を異にした金属酸化物半導
体膜を少なくとも二つのガス感応物質層として採用し、
それぞれのガス感応物質層によって感知されるガスを検
知するようにしている。
第1図は本発明に係るガス検出装置のうち架橋構造が採
用されたものの例である。ここでは、はぼ正方形の形状
をした基板1上に電気絶縁性材料からなる二本の張り出
し部2,3が空中に浮いた格好の架橋構造として設けら
れている。
用されたものの例である。ここでは、はぼ正方形の形状
をした基板1上に電気絶縁性材料からなる二本の張り出
し部2,3が空中に浮いた格好の架橋構造として設けら
れている。
基板1にはアンダーカットエツチングが容易で高温でも
変形しない材料、例えばSi、 AQ、 Cu、 Ni
、 Cr等が使用され、好ましくは5L(100)が用
いられる。(100)面を使用する理由は、アンダーカ
ットエツチングする際に公知の異方性エツチング液を使
用するためである。基板1の外形寸法は1〜4+m+角
程度で、その厚さは0.1〜1 vn <らいが適当で
ある。
変形しない材料、例えばSi、 AQ、 Cu、 Ni
、 Cr等が使用され、好ましくは5L(100)が用
いられる。(100)面を使用する理由は、アンダーカ
ットエツチングする際に公知の異方性エツチング液を使
用するためである。基板1の外形寸法は1〜4+m+角
程度で、その厚さは0.1〜1 vn <らいが適当で
ある。
この基板1のアンダーカットエツチングにより形成され
た二本の張り出し部2,3上には各々ヒーターリード4
,5と、ガス感応物質層である金属酸化物半導体膜6,
7と、その検出用リード8,9とが形成されている。ヒ
ーターリード4,5及び検出用リード8,9の材料とし
てはPt、Auなどが好ましい。
た二本の張り出し部2,3上には各々ヒーターリード4
,5と、ガス感応物質層である金属酸化物半導体膜6,
7と、その検出用リード8,9とが形成されている。ヒ
ーターリード4,5及び検出用リード8,9の材料とし
てはPt、Auなどが好ましい。
先に触れたとおり、金属酸化物半導体膜6゜7は同じ金
属酸化物であるがその金属と酸素との組成比を異にして
いる。ここでの金属としてはスズ、亜鉛、鉄、チタン、
インジウム、ニッケル、タングステン、カドミウムなど
があげられ、中でも、スズの使用が最も望ましい。
属酸化物であるがその金属と酸素との組成比を異にして
いる。ここでの金属としてはスズ、亜鉛、鉄、チタン、
インジウム、ニッケル、タングステン、カドミウムなど
があげられ、中でも、スズの使用が最も望ましい。
第2図は張り出し部2,3が片持ち梁構造となっている
こと以外は第1図のものと同様な構成が採られている。
こと以外は第1図のものと同様な構成が採られている。
金属酸化物半導体膜6,7の成膜方法としては、スパッ
タリング、真空蒸着法などいろいろ考えられるが、本発
明者らの一人である太田が先に提案した「薄膜蒸着装置
」 (特開昭59−89763号公報)を用いて行なう
のが有利である。
タリング、真空蒸着法などいろいろ考えられるが、本発
明者らの一人である太田が先に提案した「薄膜蒸着装置
」 (特開昭59−89763号公報)を用いて行なう
のが有利である。
そこで今、この薄膜蒸着装置を用いてガス感応膜として
の酸化スズ膜の形成方法について述べれば次のとおりで
ある。酸化スズ膜を形成する場合には、蒸発物質として
Sn、 SnO,5nOzのいずれかが蒸発物質とされ
る。
の酸化スズ膜の形成方法について述べれば次のとおりで
ある。酸化スズ膜を形成する場合には、蒸発物質として
Sn、 SnO,5nOzのいずれかが蒸発物質とされ
る。
即ち、例えばSnを蒸発物質として選び、これを蒸発源
に保持し、真空槽内に真空度をあらかじめ10”’Pa
のオーダーにし、酸素ガスを真空槽内に導入し、その圧
力をたとえば0.I Pa程度に保つ。この状態におい
て、たとえば対電極をゼロ電位にし、グリッドに100
Vの電位を印加し、フィラメントに400Wの電力を与
える。希望する成膜速度に応じ、蒸発源に電力を印加す
ると蒸発したSnの一部がイオン化され、酸素と強く化
合し、酸化スズ膜が基板上に形成される。
に保持し、真空槽内に真空度をあらかじめ10”’Pa
のオーダーにし、酸素ガスを真空槽内に導入し、その圧
力をたとえば0.I Pa程度に保つ。この状態におい
て、たとえば対電極をゼロ電位にし、グリッドに100
Vの電位を印加し、フィラメントに400Wの電力を与
える。希望する成膜速度に応じ、蒸発源に電力を印加す
ると蒸発したSnの一部がイオン化され、酸素と強く化
合し、酸化スズ膜が基板上に形成される。
この方法により形成した膜のメタン及びエチルアルコー
ルに対するガス感度と成膜速度との関係を第3図に示す
。ガス濃度は空気に対しそれぞれ3000ppm、11
000ppであり、ガス感応膜の温度は450℃である
。図中、Raはガス感応膜の空気中抵抗値、Rgはガス
感応膜のガス中抵抗値である。第3図にみられるように
、ガス濃度の違いによってもRa/Rg値は同様な結果
をもたらす。
ルに対するガス感度と成膜速度との関係を第3図に示す
。ガス濃度は空気に対しそれぞれ3000ppm、11
000ppであり、ガス感応膜の温度は450℃である
。図中、Raはガス感応膜の空気中抵抗値、Rgはガス
感応膜のガス中抵抗値である。第3図にみられるように
、ガス濃度の違いによってもRa/Rg値は同様な結果
をもたらす。
次に、メタンとエチルアルコールに対し選択性を持たす
方法について述べる。第1図及び第2図において、ガス
感応膜6の成膜速度を10人/secで、ガス感応膜7
の成膜速度を20人/secで形成する。10人/se
eで形成したガス感応膜6はメタンとエチルアルコール
の両方に感度を有するが、20人/secで形成したガ
ス感応膜7はエチルアルコールにしか感度を有しない。
方法について述べる。第1図及び第2図において、ガス
感応膜6の成膜速度を10人/secで、ガス感応膜7
の成膜速度を20人/secで形成する。10人/se
eで形成したガス感応膜6はメタンとエチルアルコール
の両方に感度を有するが、20人/secで形成したガ
ス感応膜7はエチルアルコールにしか感度を有しない。
つまり、ガス感応膜6,7が共に抵抗値変化を生じた場
合はエチルアルコールが存在し、ガス感応膜6のみ抵抗
値変化を生じた場合はメタンのみが存在していることに
なる。
合はエチルアルコールが存在し、ガス感応膜6のみ抵抗
値変化を生じた場合はメタンのみが存在していることに
なる。
上記の例では、金属酸化物半導体膜6,7である酸化ス
ズ膜は互いにその成膜速度を異にしていることからスズ
と酸素との組成比は異なったものとなっている(成膜速
度の大きい方が相対的にスズの割合が多い)。
ズ膜は互いにその成膜速度を異にしていることからスズ
と酸素との組成比は異なったものとなっている(成膜速
度の大きい方が相対的にスズの割合が多い)。
金属酸化物半導体膜6,7の成膜条件は、成膜速度のち
がいに限らず、例えば、ガス感応膜6での蒸発源として
Snを用い、ガス感応膜7での蒸発源としてSnO□な
どを用いるようにして、ガス感応膜6,7のそれぞれの
スズと酸素との組成比を変えるように工夫がとられても
かまわない。
がいに限らず、例えば、ガス感応膜6での蒸発源として
Snを用い、ガス感応膜7での蒸発源としてSnO□な
どを用いるようにして、ガス感応膜6,7のそれぞれの
スズと酸素との組成比を変えるように工夫がとられても
かまわない。
また、第1図及び第2図では金属と酸素との組成比が異
なったガス感応膜−但し、ここで用いられる金属はその
金属と酸素との組成比が異なっていて同種の金属である
ーは二つであるが、そうしたガス感応膜を設けたセンサ
部が3以上あってもかまわないことはいうまでもない。
なったガス感応膜−但し、ここで用いられる金属はその
金属と酸素との組成比が異なっていて同種の金属である
ーは二つであるが、そうしたガス感応膜を設けたセンサ
部が3以上あってもかまわないことはいうまでもない。
〔効 果〕
本発明によれば、複数個のガス感応膜のそれぞれの金属
と酸素との組成比を変えるだけで簡単にガス選択性を有
するガス検出装置が得られる。
と酸素との組成比を変えるだけで簡単にガス選択性を有
するガス検出装置が得られる。
第1図は本発明に係るガス検出装置の一例で。
(イ)はその平面図、(ロ)は第1図(イ)のX−X′
線断面図である。 第2図は本発明に係るガス検出装置の他の一例で、(イ
)はその平面図、(ロ)は第2図(イ)のx−x’線断
面図である。 第3図はガス感応膜のメタン及びエチルアルコールに対
するガス感度と成膜速度との関係を表わしたグラフであ
る。 1・・・基板 2,3・・・張り出
し部4.5・・・ヒーターリード 6.7・・・金属酸化物半導体膜 8,9・・・検出
リード10・・・絶縁膜 0・・・空
洞特許出願人 株式会社 リ コ 帛 盟(ロ) 帛2図(0)
線断面図である。 第2図は本発明に係るガス検出装置の他の一例で、(イ
)はその平面図、(ロ)は第2図(イ)のx−x’線断
面図である。 第3図はガス感応膜のメタン及びエチルアルコールに対
するガス感度と成膜速度との関係を表わしたグラフであ
る。 1・・・基板 2,3・・・張り出
し部4.5・・・ヒーターリード 6.7・・・金属酸化物半導体膜 8,9・・・検出
リード10・・・絶縁膜 0・・・空
洞特許出願人 株式会社 リ コ 帛 盟(ロ) 帛2図(0)
Claims (1)
- 1、基板、その基板上に空中に張り出して設けられた電
気絶縁性材料からなる張り出し部、前記張り出し部上に
設けた検出領域にあって互いに所定距離離隔して設けら
れた少なくとも一対の検出用リード、前記張り出し部上
に前記検出用リードにほぼ並置して設けられた少なくと
も1個のヒーターリード、及び前記検出領域にあって前
記少なくとも一対の検出用リードの夫々に接触して設け
られたガス感応物質層を有しており、前記ガス感応物質
層がガスと接触反応することによりその抵抗値の変化を
測定してガス検出を行なう装置において、前記のヒータ
ーリード、検出用リード及びガス感応物質層を備えた張
り出し部が二個以上存在し、かつ、それらガス感応物質
層は互いに金属と酸素との組成比を異にした金属酸化物
半導体膜よりなることを特徴とするガス選択性を有する
ガス検出装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28988088A JPH02134551A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | ガス選択性を有するガス検出装置 |
US07/434,255 US5012671A (en) | 1988-11-15 | 1989-11-13 | Gas detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28988088A JPH02134551A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | ガス選択性を有するガス検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02134551A true JPH02134551A (ja) | 1990-05-23 |
Family
ID=17748966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28988088A Pending JPH02134551A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | ガス選択性を有するガス検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02134551A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015038864A (ja) * | 2013-07-16 | 2015-02-26 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | マイクロヒータ |
CN111289582A (zh) * | 2020-03-26 | 2020-06-16 | 合肥微纳传感技术有限公司 | 一种mems气体传感器及其阵列、气体检测和制备方法 |
-
1988
- 1988-11-15 JP JP28988088A patent/JPH02134551A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015038864A (ja) * | 2013-07-16 | 2015-02-26 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | マイクロヒータ |
CN111289582A (zh) * | 2020-03-26 | 2020-06-16 | 合肥微纳传感技术有限公司 | 一种mems气体传感器及其阵列、气体检测和制备方法 |
CN111289582B (zh) * | 2020-03-26 | 2022-03-11 | 微纳感知(合肥)技术有限公司 | 一种mems气体传感器及其阵列、气体检测和制备方法 |
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