JPH02133760U - - Google Patents

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JPH02133760U
JPH02133760U JP4343989U JP4343989U JPH02133760U JP H02133760 U JPH02133760 U JP H02133760U JP 4343989 U JP4343989 U JP 4343989U JP 4343989 U JP4343989 U JP 4343989U JP H02133760 U JPH02133760 U JP H02133760U
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JP
Japan
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bottle
mouth
detected
height
inspection device
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JP4343989U
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例の構成図、第２図は
第１図に示すびん検査装置の光学系を説明するた
めの説明図、第３図は第２図の光学系により得ら
れる受光信号波形を示す説明図である。 １……びん台、２……びん、３……拡散光源、
４……レンズ、５……リニアイメージセンサ、６
……リニアカメラ、７……中心部、８……カメラ
視野、９……胴部の範囲、１０……口端、１１…
…受光信号、１２……ねじ口部、１３……２値化
スレツシヨルドレベル、１４……モータ、１５…
…走査ミラー、１６……胴部欠陥検出処理部、１
７……２値化回路、１８……びん口部高さ位置検
出回路、１９……良否判定回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 自転しながら搬送されるびんを走査ミラーに追
    従させて前記びんの中心部を常にリニアカメラで
    撮像し、前記びんの胴部の欠陥を検出するびん検
    査装置において、前記リニアカメラと対向させて
    設けた拡散光源により前記びんの透過光像から前
    記びんの胴部の欠陥を検出するとともに、前記び
    んの口部の高さの位置を前記びんが一回転する間
    連続的に検出し、口部の欠損により前記びんの口
    部の高さが低くくなることを検出することにより
    、前記びんの口部の欠陥をも検出することを特徴
    とするびん検査装置。
JP4343989U 1989-04-12 1989-04-12 Pending JPH02133760U (ja)

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JPH02133760U true JPH02133760U (ja) 1990-11-06

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007178242A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Kirin Techno-System Corp 壜胴部の欠陥検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007178242A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Kirin Techno-System Corp 壜胴部の欠陥検査装置
JP4761245B2 (ja) * 2005-12-27 2011-08-31 キリンテクノシステム株式会社 壜胴部の欠陥検査装置

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