JPH02132867A - 半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造 - Google Patents

半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造

Info

Publication number
JPH02132867A
JPH02132867A JP28570688A JP28570688A JPH02132867A JP H02132867 A JPH02132867 A JP H02132867A JP 28570688 A JP28570688 A JP 28570688A JP 28570688 A JP28570688 A JP 28570688A JP H02132867 A JPH02132867 A JP H02132867A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
case
positioning
silicon chip
fixed
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28570688A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahide Hayashi
雅秀 林
Terumi Nakazawa
照美 仲沢
Sadayasu Ueno
上野 定寧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP28570688A priority Critical patent/JPH02132867A/ja
Publication of JPH02132867A publication Critical patent/JPH02132867A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Pressure Sensors (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は,シリコンダイヤフラムと歪ゲージとを有する
シリコンチップを基板に対してワイヤボンディングによ
って接続した構造の半導体圧力変換器における、上記シ
リコンチップの位置決め方法、及び同位置決め構造に関
するものである。
〔従来の技術〕
この種の半導体圧力変換器に関しては、特開昭57−6
6328号・半導体圧力センサ,及び、特開昭57−1
86137号・圧力センサが公知である。
これらの公知技術は生産性向上を主眼として創作された
発明であって,支持台上に設置した圧力検知用のシリコ
ンチップを基板の開口内に位置せしめると共に,上記シ
リコンチップと基板とをワイヤボンディングによって接
続した構遣であるが、該シリコンチップと基板とを精密
に位置決めすることに関しては格別の考慮が払われてい
ない。
第5図は従来例の半導体圧力変換器(圧力を電気信号に
変換するセンサ)を模式的に描いた断面図である。
ケース1の所定の位置に支持台2が接着固定され,該支
持台2上の所定の位置にシリコンチップ3が固定されて
いる。
このように、ケース1とシリコンチップ3との間に支持
台2を介装するのは,この支持台2の熱膨脹係数がシリ
コンと略等しくなるように材質を選定して温度変化によ
る影響を防止するためである。
上記シリコンチップ3の下面に凹部を形成して中空部3
aとし、シリコンダイヤフラム3bが構成されている。
そして、このシリコンダイヤフラム3b上に歪ゲージ(
図示省略)が設けられ、圧力センサとして機能するよう
になっている。
4はケース1のカバーである。
前記の中空部3aは真空室に構成される場合もあり、基
準圧力室に構成される場合もあり,また仮想線で示した
ように圧力連通管Pに連通される場合もある。
また,前記カバー4とケース1とによって囲ま?る空間
Sは、大気に連通される場合もあり、また仮想線で示し
たように圧力導入管P′を介して測定対象圧力に連通さ
れる場合も有る。
ケース1の底面に立設した脚1aによって基板5を固定
的に支持し、該基板5に設けられている開口5a内に前
記のシリコンチップ3が位置せしめられる。
そして,シリコンチップ3に設けた歪ゲージ(図示せず
)と,基板5上に設けられている回路パターン(図示せ
ず)とが、金の細線6a,6bによってワイヤボンディ
ングされて接続される。
〔発明が解決しようとする課題〕
第5図に示した従来例において、支持台2はケース1に
対して位■置決めされ、かつ、該支持台2に対してシリ
コンチップ3が位置決めされている。
しかし,基板5はケース1に対して精密には位置決めさ
れていない。
このため基板5の開口5a、及び基板5の回路パターン
(図示せず)に対するシリコンチップ3の位置が精密に
は決まっていない。
その結果、金の細線(ボンデイングワイヤ)6a,6b
の撓み形状が一定しない。このため、該金の細線6a,
6bの破断に関する信頼性,耐久性が損なわれている。
、本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、シリコ
ンチップと基板とを接続しているボンデイングワイヤの
信頼性,耐久性を向上せしめ得る,半導体圧力変換器に
おける圧力検出用シリコンチップの位置決め方法、及び
、同位置決め構造を提供することを目的とする. 〔課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するために創作した本発明方法、及び
本発明構造の基本的原理は、要するに、シリコンチップ
を位置決め固定したケースに対して、基板を位置決めす
るにある. 上記位置決めの具体的構成としては, (イ) ケースに設けた突起を,基板に設けた透孔に嵌
合させることが考えられる。
(口)上記の原理を実地に適用するには,上記(イ)の
如く突起と透孔との嵌合に限らず,凹凸の係合であって
も良い。
(ハ)同じ技術思想に基づいて,ケースと基板とを一体
的に連設することも考えられる。
〔作用〕
ケースに対して支持台が位置決め固定され、かつ、該支
持台に対してシリコンチップが位置決め固定されていれ
ば、前記(イ),(口),(ハ)何れかの構成によって
ケースと基板とを位置決めすれば,結果的にシリコンチ
ップと基板とが位置決めされる. このため,シリコンチップ上の歪ケージと基板上の配線
パターンとの位置関係が一定し,両者を接続するボンデ
ィングワイヤの撓み方が一定する。
従って、ボンディングワイヤの信頼性,耐久性が著しく
向上する。
〔実施例〕
第1図は本発明に係る位置決め方法を適用して構成した
、本発明に係る位置決め構造の一実施例を示す断面図で
ある。
ケース7の底面に凹部7fが形成され、支持台2が該凹
部に嵌合,位置決めされ、接着固定されている。
上記支持台2の頂面にシリコンチップ3が位置決め固定
されている。
前記のケース7,は四角形の函状をなし、その四辺の壁
の上縁に突起部7b,7c,7d,7eが設けられてい
る。これらの突起は、厚膜混成基板(以下、基板と略称
する)5′に設けられた透孔(例えば5 b’ , 5
 c’ )に嵌合して該基板5′の上方に突出している
。8はカバーである。
上記ケース7と、基板5′と,カバー8との関係を第2
図に示す。
基板5′には透孔5b’〜5e’が設けられており、ケ
ース7の突起部7b〜7eがそれぞれ嵌合して基板5′
の上方に突出する。
これらの突起部7b〜7eは,カバー8の切欠8b,8
e(切欠8c,8dは隠れている)に嵌合する。
8aはカバー8に設けられた圧力導入口である.基板5
′の中央部近傍には,シリコンチップを位置せしめるた
めの開口5a’が設けられている。
上記の開口5a’とシリコンチップ3との位置関係は第
1図に表わされている。
本実施例において.シリコンチップ3は支持台2を介し
てケース7に対して位置決めされている。
そして一方、基板5′は透孔5b’〜5e’と突起部7
b〜7eとの嵌合により位置決めされている。
従って,シリコンチップ3は基板5′に対して精密に位
置決めされており,両者を接続するボンディングワイヤ
(Au線6a)の両端ボンディング点の間隔寸法が一定
値となる。このため、該ボンディングワイヤの撓み状態
が一定で過度に弛んだり過度に引っ張られたりすること
が無く,その破断に関する信頼性,耐久性に優れている
。その上、上記の如くボンディング点の間隔寸法が一定
しているので自動ボンディング機によるボンディング操
作の管理が容易で、ボンディング接続部の品質が高く、
ボンディング部離脱を生じたりする虞れが無い。
上記実施例(第1図,第2図)の構成と作用効果との関
係を考察すると、上記実施例が所期の目的(シリコンチ
ップと基板との位置決め)を達成したのは,基板とケー
スとの位置関係を規制したからであることが解る。
この点に着目すると,同じ原理を適用して同一の目的を
達成するための,異なる構成が考えられる. 前記実施例は,ケース7に柱状の突起7b〜7eを設け
、これを基板5′の透孔5b’〜5e’に挿通し、該柱
状の突起7b〜7eの上端にカバー8を取リ付ケたので
,シリコンチップ3を収納する密閉空間が容易に形成さ
れた, しかし,シリコンチップ3を収納する密閉空間が必要で
ない場合は、何らかの方法でケースと基板とを位置決め
すれば本発明所期の目的は達成される。
図示を省略するが、第1図,第2図に示した位置決め方
法と異なる位置決め方法として、基板及びケースの何れ
か一方に位置決め用の凹部を設けると共に,何れか他方
に位置決め用の凸部を設け,上記凹,凸部を係合させる
方法によっても前記実施例(第1図,第2図)に示した
方法と同様の効果が得られる。
また、第1図,第2図に示した位置決め構造と異なる構
造として,それぞれ位置決め用の凹凸を設けた基板とケ
ースとの組合せによっても前記実施例(第1図,第2図
)に示した構造と同様の効果が得られる。
前記と同様の技術的思想(ケースと基板との位置決め)
に基づいて、前記と同様の効果(シリコンチップと基板
との位置決め)を達成するため,更に異なる構造として
基板とケースとを一体的に連設することも有効である。
第3図はこうした考え方に基づいて基板とケースとを一
体に連設した構造の一実施例を示す断面図、第4図は同
じく平面図である。
第3図,第4図に示した9はホーロー基板で、開口9a
を有している。そして、支持台2′を収納して位置決め
固定する有底筒状ケース9bを、上記の開口9aの内周
に一体連設する。
上記の支持台2′上にはシリコンチップ3が位置決めし
て固定される。
10はカバーで、突起10b, lOcをホーロー基板
9に係合させて取り付けられている。ただし、このカバ
ー10はホーロー基板9に対して精密に位置決めする必
要が無い。
前記シリコンチップ3上の歪ゲージと,ホーロー基板9
上の回路パターン(共に図示せず)とをAu線68〜6
b’でワイヤボンディングする。
本例においては支持台2′の底面にメタライズ層13を
形成してある。このメタライズ層13は、ガラスとの接
着性の良いTiもしくはCr−Ni,多層構造材料の層
間拡敗を防止するNi, Pt, Pd,表面酸化を防
ぐためのAu, Pt,の3!から成っている。
このメタライズ層13とホーロー製の有底筒状ケース9
bの底面とはAu系の高融点ハンダ12(例えばAu/
Sn共晶ハンダ)によって接合されている。
本発明を実施する際、支持台2′と有底筒状ケース9と
を接着剤によって接着することも可能である。
本実施例(第3図,第4図)においては,支持台2′を
位置決め設置した有底筒状ケース9bがホーロー基板9
に一体成形されて位置決めされていコので、該支持台2
′に位置決めされたシリコンチップ3上の歪ゲージとホ
ーロー基板9の回路パターン(共t二図示せず)との位
置関係は高精度に規制される。従って、本実施例(第3
図,第4図)によっても前記実施例(第1図,第2図)
と同様の作用,効果が得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の位置決め方法および位置決
め構造によれば,シリコンチップを位置決めした支持台
を位置決め設置したケースを基板に対して位置決めでき
るので,該基板の回路パターンとシリコンチップの歪ゲ
ージとの位置関係が一定する. その結果,両者を接続するボンディングワイヤ両端のボ
ンディング点の間隔が一定し、ボンディング操作の自動
化が容易になり,ボンディング接続の品質が安定する。
その上、ボンディングワイヤの撓み状態が一定するので
、ボンディングワイヤの破断やボンディング接続の離脱
に関する信頼性,耐久性が著しく向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法及び本発明構造の一実施例を示す断
面図であり、第2図は上記実施例の説明図である。 第3図は上記実施例と異なる実施例の断面図、第4図は
同じく平面図である。 第5図は従来例の断面図である. 2,2′・・・支持台,3・・・シリコンチップ、3a
・・・中空部. 3b・・・シリコンダイヤフラム、5
,5′・・・基板. 5a, 5a’−開口,5b′〜
5e′・・・透孔,6a.6a’,6b,6b’=Au
線、7・・・ケース、7b〜7e・・・突起部,8・・
・カバー、8b, 8e・・・切欠、9・・・ホーロー
基板、9a・・・開口、9b・・・有底筒状ケース、1
0・・・カバー. 10a・・・圧力導入口、10b,
 10c・・・突起。 代理人弁理士  秋  本  正  実第 図 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ケースの所定位置に固着された支持台上の所定位置
    に固着され、シリコンダイヤフラムを形成され、歪ゲー
    ジを固着された圧力検出用シリコンチップと、 上記シリコンチップを位置せしめる透孔を有し、前記歪
    ゲージとワイヤボンディングされた基板とを位置決めす
    る方法において、 上記の基板に位置決め用の透孔を設け、 前記のケースに、上記の透孔と嵌合する突起部を設け、 上記の突起を前記の透孔に挿入することを特徴とする、
    半導体圧力変換器の位置決め方法。 2、ケースの所定位置に固着された支持台上の所定位置
    に固着され、シリコンダイヤフラムを形成され、歪ゲー
    ジを固着された圧力検出用シリコンチップと、 上記シリコンチップを位置せしめる透孔を有し、前記歪
    ゲージとワイヤボンディングされた基板とを位置決めす
    る方法において、 上記の基板に位置決め用の係合部を設け、 前記のケースに、上記の係合部と係合する位置決め用の
    係合部を設け、 上記双方の係合部を相互に係合することを特徴とする、
    半導体圧力変換器の位置決め方法。 3、ケースの所定位置に固着された支持台上の所定位置
    に固着され、シリコンダイヤフラムを形成され、歪ゲー
    ジを固着された圧力検出用シリコンチップと、 上記シリコンチップを位置せしめる透孔を有し、前記歪
    ゲージとワイヤボンディングされた基板とを位置決めす
    る構造において、 上記の基板には位置決め用の透孔が設けられており、 前記のケースには位置決め用の突起が設けられており、 上記の突起が前記の透孔に嵌合されていることを特徴と
    する、半導体圧力変換器の位置決め構造。 4、前記の突起は柱状をなして、前記の透孔を貫通して
    おり、かつ、該柱状突起の先端にケースの蓋が固着され
    ていることを特徴とする、請求項3に記載した半導体圧
    力変換器の位置決め構造。 5、ケースの所定位置に固着された支持台上の所定位置
    に固着され、シリコンダイヤフラムを形成され、歪ゲー
    ジを固着された圧力検出用シリコンチップと、 上記シリコンチップを位置せしめる開口を有し前記歪ゲ
    ージとワイヤボンディングされた基板とを位置決めする
    構造において、 前記の支持台を収納して固定する有底筒状ケースを構成
    し、かつ、該有底筒状ケースの上端開口部の周囲を前記
    開口の周囲に対して一体的に連設したことを特徴とする
    、半導体圧力変換器の位置決め構造。
JP28570688A 1988-11-14 1988-11-14 半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造 Pending JPH02132867A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28570688A JPH02132867A (ja) 1988-11-14 1988-11-14 半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28570688A JPH02132867A (ja) 1988-11-14 1988-11-14 半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02132867A true JPH02132867A (ja) 1990-05-22

Family

ID=17694971

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28570688A Pending JPH02132867A (ja) 1988-11-14 1988-11-14 半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02132867A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0716133U (ja) * 1993-08-31 1995-03-17 エスエムシー株式会社 圧力検出器
JP2018200327A (ja) * 2018-09-14 2018-12-20 ミツミ電機株式会社 半導体センサ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0716133U (ja) * 1993-08-31 1995-03-17 エスエムシー株式会社 圧力検出器
JP2018200327A (ja) * 2018-09-14 2018-12-20 ミツミ電機株式会社 半導体センサ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6153876B2 (ja)
JPH023130B2 (ja)
US5648615A (en) Pressure sensor providing improved connection to a circuit board
JP2005210131A (ja) 半導体チップをパッケージングする方法および半導体チップ構造
JPH08193897A (ja) 半導体圧力センサ
US5394751A (en) Method of producing semiconductor pressure sensor
JPH0794643A (ja) 半導体チップバーンイン用ソケット
US5444286A (en) Packaged semiconductor pressure sensor including lead supports within the package
JPH07503102A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH02132867A (ja) 半導体圧力変換器の位置決め方法、及び、同位置決め構造
JP3438879B2 (ja) 圧力検出装置
JPH11126865A (ja) 半導体素子および製造方法
US6127713A (en) Semiconductor pressure detecting device
JP2007019154A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2000019042A (ja) 半導体センサ及び実装構造
JPH01169333A (ja) 半導体圧力変換器
JPH10274583A (ja) 半導体圧力センサ
US6021673A (en) Semiconductor pressure detecting device
JPH10300604A (ja) 圧力センサ
JPH10209469A (ja) 半導体圧力センサ
JP2000105161A (ja) 圧力検出器
JPH0749396Y2 (ja) 圧力センサ
JPH0566979B2 (ja)
JPH0723961Y2 (ja) 半導体素子収納用パッケージ
JPS6188121A (ja) 圧力変換器