JPH02120640A - 引張試験機に於ける試験片供給装置 - Google Patents

引張試験機に於ける試験片供給装置

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JPH02120640A
JPH02120640A JP27323088A JP27323088A JPH02120640A JP H02120640 A JPH02120640 A JP H02120640A JP 27323088 A JP27323088 A JP 27323088A JP 27323088 A JP27323088 A JP 27323088A JP H02120640 A JPH02120640 A JP H02120640A
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cassettes
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健八 三橋
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洋一 山口
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UESHIMA SEISAKUSHO KK
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UESHIMA SEISAKUSHO KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、引張試験機に於ける試験片供給装置に係わ
り、更に詳しくは多数の試験片を一部セットすれば、試
験片を引張試験機に順次自動的供給して連続的に、効率
良く試験を行うことが出来る引張試験機に於ける試験片
供給装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、ゴム、樹脂、繊維などの材料の弾性率。
伸長応力、或いは破断時の伸びなどの引張特性を測定す
る引張試験装置は、上記材料からなる試験片の両端をそ
れぞれ試験装置のチャックで把持し、一方のチャックを
移動させて試験片を引っ張り、伸長変形を与えるように
構成されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、従来の引張試験装置に於ける試験片を試験機
のチャックに自動供給する装置としては、例えば、特公
昭55−13295号公報、特公昭55−13296号
公報、特公昭62−18853号公報に開示されている
ように、数十枚あるいは数百枚の試験片を垂直方向に積
み上げた状態で、取付は装置に設けられた吸着パッドで
、試験片を順次上側から吸着して順次試験機のチャック
にクランプさせるようにした装置や、特開昭63−23
3350号公報に開示されているように、試験片毎にチ
ャノクを取付けて回転盤上にセットするようにした装置
が提案されている。
然しなから、」二記のような従来の試験片自動供給装置
の場合には、長時間、例えば夜間(8時間in 2k 
)において無人化でy五(験を行いたいために、数百枚
の試験片を重ねた状態で積」二げた場合、試験片の材質
や、重量及び湿度等で試験片同志が密着し、吸着バット
で試験片を吸着した場合、試験片数枚を同時に吸着して
しまい、チャックにクランプすることができないことか
ら試験機が停止してしまい引張試験を行うことができな
いと言う問題があった。
また、種々の試験片の引張試験を行うために途中におい
て試験片の入れ替えをする場合にも、」二記のように、
数十枚あるいは数百枚の試験片を垂直′方向に積み上げ
た状態では、節華に入れ替えが困難であると共に、試験
片を捜すことも雑しいと言う問題があった。
また、試験片毎にチャックを取付ける必要があり、また
取外しの時間もかかり、更に大量に試験片をセットする
ことができないと言う問題があり、また試験片の保持方
向が垂直方向のために、長時間この状態で保持されると
、温度によっては試験片自身が自重で試験片が変形して
しまうと言う問題があった。
〔発明の目的〕
この発明は、かかる従来の問題点に着目して案出された
もので、多数の同一または異種の試験片をカセット化し
て一部セットすれば、後は試験片同志が密着したりする
ことなく試験機に自動的に供給して、長時間にわたって
無人化で自動的に引張試験を行うことができ、また試験
途中において試験片の入れ替えを行う場合にも容易に行
うことが出来ると共に、効率の良い引張試験を行うこと
ができる引張試験機に於ける試験片供給装置を提供する
ことを目的とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明は上記目的を達成するため、試験片を水平状態
で載置する複数段の棚板を備えたカセットと、このカセ
ットを複数個配設可能なカセット載置台と、このカセッ
ト載置台に載置されている各カセットを所定位置まで1
.般用させる1・p出手段と、前記搬出されたカセット
の各棚板−にに載置された試験片を、引張試験機の取付
は装置と接続する試験片搬送台上まで押し出す押出手段
とで構成したことを要旨とするものであ[発明の作用〕 この発明は、」二記のように構成され、カセット載置台
に、複数段の各棚板に試験片を収容した複数個のカセッ
トを載置しておき、そしてカセット載置台から順次カセ
ットを搬出させると共に、このカセットから一枚毎試験
片を試験片搬送台上まで押出し、この確送台上で、標線
付着装置により試験片の所定位置に測定マークを付着す
る。そして、試験片を取付は装置を介して引張試験機本
体のチャックに取付けると共に、試験片に引張荷重を加
えなから引張試験機本体の側部に設置された非接触伸び
センサーにより、;)11記試験片の1illl定マー
クの変化を測定して、試験片の引張特性を測定すること
により、試験片を一枚毎確実に供給して、長時間にわた
って無人化で引張試験を行うことが出来ることを特徴と
している。
〔発明の実施例〕
以下添付図面に基いて、この発明の詳細な説明する。
第1図は、この発明を実施した引張試験装置の全体斜視
図、第2図は引張試験装置lの概略平面図、第3図は第
2図の正面図、第4図は第3図の一部切欠した拡大断面
図を示し、この引張試験装置1は、主として、試験片W
の自動供給装置2と、この自動供給装置2から供給され
た試験片Wをクラ:ノブして引張試験を行う引張試験機
本体3と、引張試験機本体3による試験片Wの引張特性
を測定するテレビカメラ等の非接触伸びセンサー4とで
構成されている。
前記試験片Wの自動供給装置2は、複数個のカセット5
を配設可能に構成した回転テーブル等のカセット載置台
6と、このカセット載置台6上に、試験片Wを略水平状
態で載置する複数段の棚板7を備えた前記カセット5と
、前記カセット載置台6の上部に、前記カセット載置台
6上の各カセット5を所定位置まで搬出させるエアーシ
リンダー等の搬出手段9と、更に前記カセット載置台6
の側部に、前記搬出手段9により搬出されたカセット5
の各棚板7上に載置された試験片Wを、引張試験機本体
3の取付は装置10と接続する試験片搬送台ll上まで
押し出す押出手段12とで構成されている。
前記、自動供給装置2を構成するカセット載置台6は、
第1図及び第5図に示すように、複数個のカセット5を
放射状に載置可能な円盤状のテーブル13がシャフト1
4を介して水平に設置され、該シャフト14は回転駆動
モータ15により一定の速度で、かつ一定の方向に回転
するように構成されている。そして、カセット載置台6
の上部に設置された搬出手段9は、第5図に示すように
、テーブル13の上面と略水平方向に伸縮作動するエア
ーシリンダー0口・ノド8の先端に、前記カセット5の
上面に形成された保合孔16と係合する出没可能な突起
16aが形成され、前記カセ・ント5を引っ掛けてカセ
ット載置台6の側部に設置された昇降自在な支持テーブ
ル17上まで搬出させるように構成されている。なお、
水平状態で支持された支持テーブル17は、昇降シリン
ダ・=18により垂直方向に昇降するように支持され、
後述するカセット5の各棚板7の位置を押し出す押出手
段12の位置に一致させるようにしている。
次に、試験片Wを略水平状態で載置する複数段の棚板7
を備えたカセット5は、第1図及び第6図〜第8図に示
すように、略方形状に形成された支持枠19の内部に、
試験片Wを水平に載置できる複数枚の柵板7が所定の間
隔で配設され、この支持枠19の前面側または裏面側の
少なくとも一方に、前記棚板7と直交する方向に二本の
支持棒20が取付けられている。
この二本の支持棒20ば、カセット5の各棚板7上に試
験片Wをセットする場合、試験片Wの挿入作業性を良好
にするために、カセット5を横に寝かして各棚板7を垂
直状態にし、そして各棚板1間に試験片Wを挿入するも
のであるが、試験片Wの挿入後に試験片Wが撓んだり、
カセット5から脱落したりすることが考えられるために
、これを有効に防止させる為と、試験片、Wのセント位
置を所定位置に位置決めするために用いるものである。
従って、二本の支持棒20は、必ずしも棒状のものでな
くても良く、板状のものであってもよい。
前記、カセット5を構成する支持枠19の底部には、前
記自動供給装置2の円盤状のテーブル13に設けられた
ガイドレール21及び支持テーブル17上のガイドレー
ル(図示省略)と係合する・ガイド22が形成されてい
る。
なお、上記のカセット5は、第6図(dl及び第7図(
d)に示すように、試験片Wの大きさにより若干大きさ
が異なるが、全体の構成としては、全く同様である。因
に、第6図(d)に示す試験片は、一般にJI32号、
JIS3号試験片と呼称されるもので、大きさは(10
0X25X2 ) smであり、また第7図(dlに示
す試験片は、一般にJISI号試験片と呼称されるもの
で、大きさは(120x25x2 )璽−である。
また、第8図に示すカセット5に被せるケース23は、
試験片Wをセットしたカセット5を自動供給装置2の円
盤状のテーブル13上に挿入して配置する際や、テーブ
ル13の回転時等の振動等で棚板1間から試験片Wが迫
り出したり試験片Wが左右にずれるのを防止するための
ものであって、予めカセット5にケース23を被せた後
、テーブル13上に配置するようにしたものである。
なお、このケース23は、カセット5が支持テーブル1
7上へ搬出させた時点で、第8図(alに示すようなケ
ース脱着装置70により、取外されたり、被せられたり
するものである。
即ち、ケース脱着装置70は、プレート71−1−にケ
ース除去シリンダ72が垂直に立設され、ケース除去シ
リンダ72のロット73の先端には、支持プレート74
を介して複数本の真空吸着バット75a、75bが吊設
されている。
なお、76は支持プレート74のガイ10フトを示して
いる8上記のような構成のもとGこ、テーブル13上に
ケース23が被った状態でカセット5が載置されると、
上記のケース除去シリンダ72が作動して真空吸着バソ
I・75a75bで吸着して持ち上げ、カセット5から
ケス23を自動的に取外し、またカ七ノド5内から試験
片Wが全て取出された後、再び試験片Wを収容してテー
ブル13上に載置する際には、前述と同様にカセット5
にケース23を自動的に被せるようにしたものである。
次に、前記カセット5の各棚板7上に載置された試験片
Wを、試験片搬送台Illまで押し出す押出手段12は
、第9図及び第10図に示すように、カセット5が支持
テーブル17の側部に、支持フレーム24を介して駆動
モータ25が取付けられ、この駆動モータ25」−に、
支持プレート26を介してガイドローラー27a。
27bによりガイドされながら水平方向に進退する試料
押出し2板28が設置されている。
この試料押出し仮28は、ラック29を取イ]けた支持
部材30上に、ヒス31を介して水平に取付けられ、支
持部+A’30のラック29は、前記駆動モータ25の
回転軸25aに取付けたビニオン32と噛合している。
従って、駆動モータ25が回転駆動すると、ラック29
.ピニオン32を介して支持部(A30上に取付けられ
ている試料押出し仮28が、前記ガイドローラー27a
、27bによりガイドされなが(ろ水下方向に移動して
、カセソ]・5の各(lI板7−11に載置された試験
片Wを順次試験片taX送台11−1−まで押出すので
ある。
次に、前記自動供給装置2から供給された試験片Wをク
ランプして引張試験を行う引張試験機本体3は、第1図
、第4図及び第1O図に示すように、前記試験片搬送台
11と、この試験片搬送台ll上に押出された試験片W
の所定位置に測定マークl)を付す標線付着装置33と
、測定マークI)力坏Jされた試験片Wを、引張試験機
本体3のチャック部34に取付ける取付は装置10とで
構成されている。
前記試験片搬送台11は、第1図及び第1O図に示すよ
うに、直列に配設された複数の試料搬送部材36が、ブ
ラケット37を介して支持部材386.Z取イ4げられ
、この支持部材38は、ナツト39を介して駆動ネジ4
0に螺嵌している。駆動ネジ40は、第4図に示すよう
に、駆動力伝達機構41を介して搬送モータ42Qこ接
続され、搬送モータ42が回転駆動すると、駆動ネジ4
0が回転し、これによって支持部材38にブラケット3
7を介して取付けられている試料搬送部材36が試験片
Wを載置した状態で所定の位置まで移動する。
また、前記試験片1送台11上に設置された標線付着装
置33は、第1図に示すように、ペイント皿43に入れ
られているペイントを、ベンチマーカ44を介して試験
片Wの対称位置に測定マークPとして付すもので、試験
片Wが1p。
い場合には、白いペイントを(=t L、また白い試験
片Wの場合には、黒いペイントを付すのである。これは
、非接触伸びセンサー4により光学的に伸び特性を41
11定する場合に、測定マークPの位置を容易に把握出
来るようにしまたものである。
次に、前記測定マークPが付された試験片Wを、引張試
験機本体3のチャック部34に数例りる取(]け装置1
0は、試験片1般送台11の側部に設置され、この取付
ける取付IJ装置10は側面に複数の吸着パット45を
備えた吸着支持部材46と、この吸着支持部材46を旋
回または水平方向に移動させる図示しない移動段溝とで
構成されている。
この吸着支持部材46の作動としては、第1図に示すよ
うに、測定マーク■)がイ」された水平状態の試験片W
を、吸着支持部材46の吸着バッド45で吸着し、そし
て吸着支持部材46ば約90変節回して試験片Wを垂直
状態にする。
この状態から、試験片伸張方向X−X、即ち引張試験機
本体3の垂直対称位置に待機するチャック部34まで水
平方向に移動し、ここでチャック部34に把持させるの
である。
引張試験機本体3としては、従来のものと同様なものを
使用し、試験片Wをチャキングした状態でチャック部3
4のクロスへンド47の少なくとも一方、−1G的には
下方を引っ張って、試験片Wに引張荷重を与えながらそ
の引張特性を測定するものである。なお、48はダスト
排出管、49は試験片排出部を示している。
前記引張試験装置本体3の側部に設置した非接触伸びセ
ンサー4は、本願出願人が既に出願している、例えば特
願昭62−101845号の引張試験装置に於ける非接
触伸びセンサーを使用するものである。
即ち、第11図に示す引張試験装置の51a。
51bは、それぞれ試験片Wの両端を把持する上部チャ
ックと下部チャックを示し、上部チャック51aは、一
定位置に設置され、かつ上端イ則に引張荷重を検出する
ためのロードセル52が連結されている。
そして、そのロードセル52が検出した引張荷重は、増
幅器53を介して中央演算部54に入力されるようにな
っている。
一方、下部チャック51bは、ギヤボックス55を介し
てモータ56の駆動により上下移動を行い、上記試験片
Wに引張荷重を与えるようになっている。このモータ5
6は、モータ制御部57を介して上記中央演算部54か
らの指令によって駆動されるようになっている。
上下のチャック51a、51bを含む引張機構は、冷却
コイル58を有する恒温槽59の内部に収容されている
。また、恒温槽59の側面には、二重ガラスの透視部6
0が設けられ、外側から目視することが出来るようにな
っている。
上記透視部60の空間部61には、乾燥した熱風が通さ
れ、ガラス面に露結によるくもりが発生しないようにし
である。
この恒温槽59は、低温下での試験片Wの特性を測定す
るために付設されたものであり、常温条件での特性を測
定するものについては、必ずしも必要ではない。
上記透視部60の外側には、内側の引張機構を望むよう
に非接触伸びセンサー4を構成する二重のTVカメラ6
1.62が設置されている。
そ、れぞれのTVカメラ61.62は、第12図A、B
のように、検出した電気信号を映像回路63で処理し、
それを中央演算部54へ入力するようになっている。ま
た、この映像回路63で処理された出力信号は、モニタ
ーTV64によってモニタリングできるようになってい
る。
即ち、第12図A、Bは、試験片Wを長平方向に引張り
ながら二重のTVカメラ61.62により引張状特性を
測定する原理を示すものであり、試験片Wち引張荷重を
加えて伸長させながら、試験片Wを二重のTVカメラ6
1.62で撮像すると、第12図Aに示すように、走査
線H3の方向を試験片Wの引張力向と直交させる時ば、
その出力信号は、第12図Bに示すように測定マークP
、P(標線)に対応する部分p、、p、が他の部分に比
べて高いレベルになって現れる。
従って、この二重のTVカメラ61.62の出力信号の
うち、一定レベルE、以上の信号のみを処理回路で取り
出し、上記の測定マークPPの間隔りに対応した時間間
隔 の信号だけを得、その信号から測定マークP、P間
の距離りを求めれば良い。
また上記、二重のカメラのうちの一方のTVカメラ61
はズームレンズ付であり、その全視野が引張初期の局部
領域に限定されて拡大走査するもので、主として試験片
Wの低伸張領域を検出するようになっている。
このような全視野が局部領域に限定されることにより、
微小な変位までを高精度に読み取ることが出来るように
なっている。
例えば、このTVカメラ61としてCODカメラ・TJ
−22An型を使用し、その全視野をズームレンズによ
って例えば25.、の局部領域に限定し、また垂直の画
素数のうち有効画素数を450本にするものである。
また、試験片WとしてJIS3号による通常引張試験を
行い、この試験片Wを引張って初期の測定マークI”P
間の距離20龍を上記全視野限界の25龍まで25%の
伸張を加えたとする。そうすると、このTVカメラによ
って読み取れる変位は、25mm/450本−0,05
mm/木まで極めて高積度なものとなる。
王台のカメラのうちの他方の1゛■カメラ62は、ズー
ムレンズを付けておらず、その全視野は試験片Wが破断
するまでの全引張変形領域を望むようになっており、主
として試験片Wの高伸張領域を検出するようになってい
る。
ト記二重のTVカメラ61.62は、中央演算部54の
指令により、引張試験開始時の低伸張領域では、前者の
TVカメラ61が走査を行うが、次いで試験片Wが予め
設定された伸張率を越えて高伸張領域まで伸びると、カ
メラの作動が切換ねって後者のT Vカメラ62が走査
を行うようになる。
また、中央演算部54は、モータ制御部57を介して下
部チャック51bの引張速度も変化させるように制御し
ている。
そして、上記低伸張領域では低速度にするが予め設定さ
れた伸張率を越える高伸張領域になると、これよりも速
い通常速度に切換えるようにしている。
このような操作によって測定された試験片(、■の引張
特性の結果は、中央演算部54がらプリンター65に出
力される。66は、測定に必要なデータを入力するキー
ボードである。
上述したように、上記の引張試験装置は、少なくとも王
台のT Vカメラ61.62を併設し、その−台を低伸
張領域専用の高精度伸び計とし、また他の一台を通常の
伸び計とし、試験片Wが予め設定した伸張率まで伸びた
ときに、自動的にTVカメラを高精度伸び計から通常の
伸び計に切換えるようにしている。従って、試験片Wの
引張開始から切断までの伸張率を正確に読み取ることが
可能となり、特に低伸張領域においての伸張率(0,2
〜20χ)を、±0.2χの精度まで読み取ることが可
能である。
また、−に記実施例のように、引張速度も予め設定した
伸張率で切換えるようにすると、低速度の低伸張領域で
は、低伸張モジュラスを測定し、次いで通常速度の高伸
張領域では高伸張モジュラスを測定するようにすること
が出来る。
そのため、1回の試験で複数の引張特性を同時に測定す
ることが出来るようになる。
なお、上記の実施例では、王台のTVカメラ61.62
を使用して試験片Wの引張特性を測定しているが、この
実施例に限定されず、TVカメラの台数を増やぼ、更に
高精度な引張特性を測定することが可能となる。
この発明は、上記のように構成され、カセット載π台6
に、複数段の各棚板7に試験片Wを収容した複数個のカ
セット5を載置しておき、そしてカセットii!2置台
5がら順次カセット5を搬出させると共に、このカセッ
ト5から一枚)u:試験片Wを試験片搬送台11上まで
押出し、この印送台11上で、標線付着装置33により
試験片Wの所定位置に測定マークP、Pを付着する。そ
して、試験片Wを取付は装置10を介して引張試験機本
体3のチャック部34に取付けると共に、試験片Wに引
張荷重を加えなから弓張試験機本体3の側部に設置され
た非接触伸びセンサー4により、上述したような前記試
験片Wの測定マークの変化を測定して、試験片Wの引張
特性を測定するのである。
このような装置により、試験片Wを一枚毎確実に供給し
て、長時間にわたって無人化で引張試験を行うことが出
来、また非接触伸びセンサー4による引張試験を行うの
で、試験片がチャック部から破断したり、チャック部か
ら滑る等の問題も有効に防止出来るのである。
なお、カセット載置台6からカセット5を段山して、試
験片Wの押出し、引張試験機本体3までの供給作動及び
引張試験操作までの一連の工程を具体的に示したのが第
13図に示すフローチャートである。
〔発明の効果〕
この発明は、上記のように試験片を水平状態で載置する
複数段の棚板を備えたカセットと、このカセットを複数
個配設可能なカセット載置台と、このカセット載置台に
載置されている各カセットを所定位置まで搬出させる搬
出手段と、前記搬出されたカセットの各棚板上に載置さ
れた試験片を、引張試験機の取付は装置と接続する試験
片搬送台上まで押し出す押出手段とで構成したので、多
数の同一または異種の試験片をカセット化して一部セッ
トすれば、後は試験片同志が密着したりすることなく試
験機に自動的に供給して、長時間にわたって無人化で自
動的に引張試験を行うことができる効果があり、また試
験途中において試験片の入れ替えを行う場合にも容易に
行うことが出来、更に試験片の段取りも容易に行うこと
ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明を実施した引張試験装置の全体斜視
図、第2図は引張試験装置1の概略平面図、第3図は第
2図の正面図、第4図は第3図の一部切欠した拡大断面
図、第5図はカセット載置台上からカセットを磁比する
搬出手段の拡大正面図、第6図(a)はカセットの平面
図、第6図(blはカセットの正面図、第6図(C)は
カセットの側面図、第6図fd)はカセットの棚仮に載
置されている試験片の側面図、第7図(al〜(dlは
、他の試験片を収容するカセットの他の実施例を示す第
6図(a)〜(dlと同様な図、第8図はカセットとケ
ースとを示す斜視図、第8図(a)はケースの脱着装置
を示す斜視図、第9図はカセットから試験片を押出す押
出手段の平面図、第10図は第9図の正面図、第11図
は非接触伸びセンサによる引張試験装置の概略構成図、
第12図A及びBは、非接触伸びセンサーによる引張試
験方法を示す原理説明図、第13図は試験片の供給工程
を示すフローチャートである。 l・・・引張試験装置、2・・・試験片Wの自動供給装
置、3・・・引張試験機本体、5・・・カセ・ノド、6
・・・カセットR置台、7・・・棚板、9・・・搬出手
段、10・・・取付は装置、11・・・試験片搬送台、
12・・・押出手段。 代理人 弁理士 小 川 信 −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試験片を水平状態で載置する複数段の棚板を備えたカセ
    ットと、このカセットを複数個配設可能なカセット載置
    台と、このカセット載置台に載置されている各カセット
    を所定位置まで搬出させる搬出手段と、前記搬出された
    カセットの各棚板上に載置された試験片を、引張試験機
    の取付け装置と接続する試験片搬送台上まで押し出す押
    出手段とで構成したことを特徴とする引張試験機に於け
    る試験片供給装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0992783A2 (en) * 1998-09-09 2000-04-12 WE Plan Company Tensile testing machine of variously cross-sectioned materials
US6773782B2 (en) 1999-05-28 2004-08-10 Fujitsu Limited Magnetic memory medium having a magnetic film laminated on a substrate and a non-magnetic film formed thereon, and method of manufacturing the same
KR20160066758A (ko) * 2014-12-03 2016-06-13 주식회사 포스코 인장시험기의 시험편 공급장치
CN115452576A (zh) * 2022-09-15 2022-12-09 深圳市三木希色服饰有限公司 一种服装研发用布料抗拉力检测装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0992783A2 (en) * 1998-09-09 2000-04-12 WE Plan Company Tensile testing machine of variously cross-sectioned materials
EP0992783A3 (en) * 1998-09-09 2002-07-31 WE Plan Company Tensile testing machine of variously cross-sectioned materials
US6773782B2 (en) 1999-05-28 2004-08-10 Fujitsu Limited Magnetic memory medium having a magnetic film laminated on a substrate and a non-magnetic film formed thereon, and method of manufacturing the same
KR20160066758A (ko) * 2014-12-03 2016-06-13 주식회사 포스코 인장시험기의 시험편 공급장치
CN115452576A (zh) * 2022-09-15 2022-12-09 深圳市三木希色服饰有限公司 一种服装研发用布料抗拉力检测装置

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