JPH02119186A - 光起電力装置 - Google Patents
光起電力装置Info
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- JPH02119186A JPH02119186A JP1206165A JP20616589A JPH02119186A JP H02119186 A JPH02119186 A JP H02119186A JP 1206165 A JP1206165 A JP 1206165A JP 20616589 A JP20616589 A JP 20616589A JP H02119186 A JPH02119186 A JP H02119186A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は光照射を受けると光電変換動作し起電力を発生
する光起電力装置に関する。
する光起電力装置に関する。
(ロ) 従来の技術
半導体接合を備える非晶質シリコン系の半導体層を光活
性層とする光起電力装置は既に知られており、その基本
構成は透光性の絶縁基板上に、透光性電f!層、半導体
光活性層、背面電極層からなる光電変換膜をこの順序に
積層しである。
性層とする光起電力装置は既に知られており、その基本
構成は透光性の絶縁基板上に、透光性電f!層、半導体
光活性層、背面電極層からなる光電変換膜をこの順序に
積層しである。
一方、斯る光起電力装置の光電変換効率を向上せしめる
べく、特開昭58−57756号公報や第44回応用物
理学会学術講演会(昭和58年9月25日〜28日)予
稿集25P−L−2第351頁等に開示されたように、
光入射側の透光性絶縁膜の表面に0.1μm以上2.5
μm以下の凹凸を設はテクスチュア化し、入射光の光路
長を長くすると共に光活性層中に封じ込める試みがある
。
べく、特開昭58−57756号公報や第44回応用物
理学会学術講演会(昭和58年9月25日〜28日)予
稿集25P−L−2第351頁等に開示されたように、
光入射側の透光性絶縁膜の表面に0.1μm以上2.5
μm以下の凹凸を設はテクスチュア化し、入射光の光路
長を長くすると共に光活性層中に封じ込める試みがある
。
然し乍ら、この様に光活性層に入射する光をその膜(層
)中に封じ込め入射光を有効に利用することにより光電
変換効率の向上が期待できるものの、この光活性層に入
射しようとする光の内、幾らかはそれ以前の界面で反射
するために、その光を100%光電変換に百年する電子
及び正孔の光キャリアを発生する光活性層に導入するこ
とはできない。
)中に封じ込め入射光を有効に利用することにより光電
変換効率の向上が期待できるものの、この光活性層に入
射しようとする光の内、幾らかはそれ以前の界面で反射
するために、その光を100%光電変換に百年する電子
及び正孔の光キャリアを発生する光活性層に導入するこ
とはできない。
(ハ)発明が解決しようとする課題
本発明は上述の如く光電変換動作する光活性層により多
くの光を導入し、光電変換効率を向上せんとするもので
ある。
くの光を導入し、光電変換効率を向上せんとするもので
ある。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は上記課題を解決するために、ガラスからなる透
光性絶縁基板と、該基板の一方の主面側に配置された光
電変換膜と、該光電変換膜と上記絶縁基板の間に設けら
れたアルミナからなる透光性絶縁膜と、を備え、上記光
電変換膜は上記透光性絶縁膜側から透光性導電酸化物の
電極層と、アモルファスシリコン系半導体光活性層と、
背面電極層とから構成されることを特徴とする。
光性絶縁基板と、該基板の一方の主面側に配置された光
電変換膜と、該光電変換膜と上記絶縁基板の間に設けら
れたアルミナからなる透光性絶縁膜と、を備え、上記光
電変換膜は上記透光性絶縁膜側から透光性導電酸化物の
電極層と、アモルファスシリコン系半導体光活性層と、
背面電極層とから構成されることを特徴とする。
(ホ)作用
上述の如く透光性絶縁基板をガラスとし、その一方の主
面側にアルミナからなる透光性絶縁膜を設け、次いで透
光性導電酸化物の電極層、アモルファスシリコン系の半
導体光活性層を配置することによって、光キャリアを発
生する上記半導体光活性層に至る入射光路での界面反射
が抑制される。
面側にアルミナからなる透光性絶縁膜を設け、次いで透
光性導電酸化物の電極層、アモルファスシリコン系の半
導体光活性層を配置することによって、光キャリアを発
生する上記半導体光活性層に至る入射光路での界面反射
が抑制される。
(へ)実施例
第1図は本発明光起電力装置の一実施例を模式的に示し
ており、(1)はガラスからなる透光性の絶縁基板、(
2)は該基板(1)の一方の主面側、即ち上記基板(1
)を受光板とした場合の入射方向から見て背面側に設け
られた光電変換膜で、該光電変換膜(2)は光の入射方
向である絶縁基板(1)側から、酸化スズ(SnO2)
、酸化インジウム(I n 203) 、酸化インジウ
ムスズ(ITO)等の透光性導電酸化物(TCO)の単
層或いは積層構造から成る透光性型!!層(3)と、そ
の内部に膜面に平行なpin、pカ、 pi、 pin
pio等の半導体接合を持つアモルファスシリコン系の
半導体光活性層(4)と、アルミニウム(An、銀(A
g)、TCO/^1、 TCO/Ag等の単層或いは積
層構造の背面電極層(5)と、を順次重畳した積層構造
を持つ。(6)は上記基板(1)と光電変換fl!1l
(2)の透光性型Mi層(3)との間に設けられたアル
ミナ(Ag203)からなる透光性絶縁膜で、該Ag2
03絶縁膜(6)は上記ガラス製絶縁基板(1)の屈折
率約1,45〜1.60より大きく光電変換膜(2)の
TCO透光性電極M(3)の約2.0程度より小さい1
.7〜18程度の屈折率を持つと共に、該透光性絶縁膜
(6)の上記透光性電極層(3)と接する面は凹凸状の
粗面となっている。
ており、(1)はガラスからなる透光性の絶縁基板、(
2)は該基板(1)の一方の主面側、即ち上記基板(1
)を受光板とした場合の入射方向から見て背面側に設け
られた光電変換膜で、該光電変換膜(2)は光の入射方
向である絶縁基板(1)側から、酸化スズ(SnO2)
、酸化インジウム(I n 203) 、酸化インジウ
ムスズ(ITO)等の透光性導電酸化物(TCO)の単
層或いは積層構造から成る透光性型!!層(3)と、そ
の内部に膜面に平行なpin、pカ、 pi、 pin
pio等の半導体接合を持つアモルファスシリコン系の
半導体光活性層(4)と、アルミニウム(An、銀(A
g)、TCO/^1、 TCO/Ag等の単層或いは積
層構造の背面電極層(5)と、を順次重畳した積層構造
を持つ。(6)は上記基板(1)と光電変換fl!1l
(2)の透光性型Mi層(3)との間に設けられたアル
ミナ(Ag203)からなる透光性絶縁膜で、該Ag2
03絶縁膜(6)は上記ガラス製絶縁基板(1)の屈折
率約1,45〜1.60より大きく光電変換膜(2)の
TCO透光性電極M(3)の約2.0程度より小さい1
.7〜18程度の屈折率を持つと共に、該透光性絶縁膜
(6)の上記透光性電極層(3)と接する面は凹凸状の
粗面となっている。
斯るAlzOiからなる透光性絶縁fi’6)は熱CV
D法、スパッタ法によりその表面が例えば高低差100
0Å以下の粗面を備えるべく平均膜厚約500人〜20
00人形成される。
D法、スパッタ法によりその表面が例えば高低差100
0Å以下の粗面を備えるべく平均膜厚約500人〜20
00人形成される。
0 第1具体例
青板ガラス製の屈折率1.45〜1.60程度の絶縁基
板(1)にf!!、cvD法により屈折率1.7〜1.
8程度のAg20.の透光性絶縁+1(6)を形成とし
。
板(1)にf!!、cvD法により屈折率1.7〜1.
8程度のAg20.の透光性絶縁+1(6)を形成とし
。
した。原料ガス#て(CH3)3Aρ、AR(QC2H
5)3、Ag(OC3Hv) 3、Al2(C6H70
2)3等のAg化合物ガスと、02ガスを用いた。
5)3、Ag(OC3Hv) 3、Al2(C6H70
2)3等のAg化合物ガスと、02ガスを用いた。
(CH3):IAρAgのAI化合物は常温では蒸気圧
が低くく液状であるので、この液体を200°C以上に
加熱した状態でバブリングし気化せしめて使用する。A
g203の透光性絶縁W5I(6−1の粗面状態は絶縁
基板(1)の温度と02ガスの流量を制御するとによっ
て容易に再現性良く得られる。例えば(CH:1)3A
ρ1%、0210%、その他のキャリアガスとしてのN
2の雰囲気中で絶縁基板(1)を約450°Cに加熱し
熱分解して平均膜厚約1000人形成したところ、平均
粒径約500人、平均高低差400人のA120i膜が
得られた。
が低くく液状であるので、この液体を200°C以上に
加熱した状態でバブリングし気化せしめて使用する。A
g203の透光性絶縁W5I(6−1の粗面状態は絶縁
基板(1)の温度と02ガスの流量を制御するとによっ
て容易に再現性良く得られる。例えば(CH:1)3A
ρ1%、0210%、その他のキャリアガスとしてのN
2の雰囲気中で絶縁基板(1)を約450°Cに加熱し
熱分解して平均膜厚約1000人形成したところ、平均
粒径約500人、平均高低差400人のA120i膜が
得られた。
二の平均高低差400人のAg20.からなる透光性絶
縁1摸(6)上に屈折率約2.0程度のSnO2の透光
性型(支)層(3)を熱CVD法により約2000人形
成したところ、斯るSnO2の透光性電極層(3)の粒
径は約1000〜1500人、高低差約600〜800
人となりその表面は粗面状態を呈した。この透光性電極
層(3)の粗面状態は再現性良く形成されるAg20.
の透光性絶縁膜(6)の粗面に基づくために、はとんど
バラつきなく形成される。
縁1摸(6)上に屈折率約2.0程度のSnO2の透光
性型(支)層(3)を熱CVD法により約2000人形
成したところ、斯るSnO2の透光性電極層(3)の粒
径は約1000〜1500人、高低差約600〜800
人となりその表面は粗面状態を呈した。この透光性電極
層(3)の粗面状態は再現性良く形成されるAg20.
の透光性絶縁膜(6)の粗面に基づくために、はとんど
バラつきなく形成される。
この透光性型f!屑(3)上にr型層約150人、ノン
ドープ層5000人、n型層300人のpin接合型ア
モルファスシリコンの半導体光活性層(・1)と、Ag
の背面電極層(5)をこの順序で積層して1 c++l
X 1 cmの光起電力装置を形成して、光電変換特性
を測定したところ、Al2203の透光性絶縁B!(6
)の存在しない平坦な透光性電極層を持つ従来装置に比
して短絡電流にして約20%の向上が見られた。この時
、開放電圧、曲線因子(フィルファクタ)の低下は起ら
なかったので、光電変et効率として約20%の向上が
図れた。
ドープ層5000人、n型層300人のpin接合型ア
モルファスシリコンの半導体光活性層(・1)と、Ag
の背面電極層(5)をこの順序で積層して1 c++l
X 1 cmの光起電力装置を形成して、光電変換特性
を測定したところ、Al2203の透光性絶縁B!(6
)の存在しない平坦な透光性電極層を持つ従来装置に比
して短絡電流にして約20%の向上が見られた。この時
、開放電圧、曲線因子(フィルファクタ)の低下は起ら
なかったので、光電変et効率として約20%の向上が
図れた。
第2図は上記光電変換特性の測定に借せられた本発明装
置と従来装置の反射率を測定したちのであり、この反射
率の測定から600nm以上の長波り帯域に於いて本発
明装置の反射率が大幅に改善されていることが判る。従
って、斯る長波長帯域に於ける反射率の低減が光電変換
効率の向上をしたらしていたのである。
置と従来装置の反射率を測定したちのであり、この反射
率の測定から600nm以上の長波り帯域に於いて本発
明装置の反射率が大幅に改善されていることが判る。従
って、斯る長波長帯域に於ける反射率の低減が光電変換
効率の向上をしたらしていたのである。
0 第2具体例
Ag2O3の透光性絶縁11!(6)の形成に抵抗加熱
法(反応性蒸着法)を用いた。扉発源(ソース)として
AR1雰囲気ガスとして0□を使用し、雰囲気ガスの圧
力10 ”−4〜10−5Torr、絶縁基板(1)の
加熱温度400〜500℃の条件で反応を行なった。透
光性絶縁基板(6)の粗面状態はo2圧力と絶縁基板(
1)の加熱温度により制御され、例えば0□ガス圧力I
X 10−’Torr、絶縁基板(1)の加熱温度4
80°Cにより平均粒径300人、高低差400人のA
g2O3膜が再現性良く得られた。
法(反応性蒸着法)を用いた。扉発源(ソース)として
AR1雰囲気ガスとして0□を使用し、雰囲気ガスの圧
力10 ”−4〜10−5Torr、絶縁基板(1)の
加熱温度400〜500℃の条件で反応を行なった。透
光性絶縁基板(6)の粗面状態はo2圧力と絶縁基板(
1)の加熱温度により制御され、例えば0□ガス圧力I
X 10−’Torr、絶縁基板(1)の加熱温度4
80°Cにより平均粒径300人、高低差400人のA
g2O3膜が再現性良く得られた。
以下第1具体例と同じ(SnO,+の透光性電極層(3
)、pio接合型アモルファスシリコンの半導体光活性
層(・4)及び八ρの背面電極層(5)を形成したとこ
ろ、短絡電流の向上及び反射率の低減を確認した。
)、pio接合型アモルファスシリコンの半導体光活性
層(・4)及び八ρの背面電極層(5)を形成したとこ
ろ、短絡電流の向上及び反射率の低減を確認した。
(ト)発明の効果
本発明光起電力装置は以上の説明から明らかな如く、反
射損失の減少が図れる結果、光電変換膜への入射光が増
大し、光電変換効率を上昇せしめることができる。
射損失の減少が図れる結果、光電変換膜への入射光が増
大し、光電変換効率を上昇せしめることができる。
第1図は本発明光起電力装置の一実施例を示す模式的断
面図、第2図は本発明装置と従来装置の反射率を示す特
性図、である。
面図、第2図は本発明装置と従来装置の反射率を示す特
性図、である。
Claims (1)
- (1)ガラスからなる透光性絶縁基板と、該基板の一方
の主面側に配置された光電変換膜と、該光電変換膜と上
記絶縁基板の間に設けられたアルミナからなる透光性絶
縁膜と、を備え、上記光電変換膜は上記透光性絶縁膜側
から透光性導電酸化物の電極層とアモルファスシリコン
系半導体光活性層と、背面電極層とから構成されること
を特徴とする光起電力装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1206165A JPH02119186A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | 光起電力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1206165A JPH02119186A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | 光起電力装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60083107A Division JPS61241983A (ja) | 1985-04-18 | 1985-04-18 | 光起電力装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02119186A true JPH02119186A (ja) | 1990-05-07 |
Family
ID=16518885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1206165A Pending JPH02119186A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | 光起電力装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02119186A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995012897A1 (fr) * | 1993-11-05 | 1995-05-11 | Citizen Watch Co., Ltd. | Dispositif a pile solaire et sa production |
US5589403A (en) * | 1992-02-05 | 1996-12-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for producing photovoltaic device |
WO2013182352A3 (de) * | 2012-06-05 | 2014-03-06 | Robert Bosch Gmbh | Solarmodul und verfahren zur herstellung eines solchen |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5290288A (en) * | 1976-01-19 | 1977-07-29 | Optical Coating Laboratory Inc | Silicone solar battery structure with twoolayer nonnreflective coating |
JPS59152672A (ja) * | 1983-02-19 | 1984-08-31 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置 |
-
1989
- 1989-08-09 JP JP1206165A patent/JPH02119186A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5290288A (en) * | 1976-01-19 | 1977-07-29 | Optical Coating Laboratory Inc | Silicone solar battery structure with twoolayer nonnreflective coating |
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WO1995012897A1 (fr) * | 1993-11-05 | 1995-05-11 | Citizen Watch Co., Ltd. | Dispositif a pile solaire et sa production |
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