JPH02118442A - ガスセンサ装置 - Google Patents
ガスセンサ装置Info
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- JPH02118442A JPH02118442A JP27271388A JP27271388A JPH02118442A JP H02118442 A JPH02118442 A JP H02118442A JP 27271388 A JP27271388 A JP 27271388A JP 27271388 A JP27271388 A JP 27271388A JP H02118442 A JPH02118442 A JP H02118442A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はガスセンサ装置に係り、特に計測用ガスセンサ
とは別に、正確に校正されたガスセンサを用いて装置の
計測補正を行なうようにしたガスセンサ装置に関する。
とは別に、正確に校正されたガスセンサを用いて装置の
計測補正を行なうようにしたガスセンサ装置に関する。
[従来の技術]
ガスセンサには様々な方式のものが存在し、それらの殆
どは、ガス検知特性の経時的な変化に対する定期的な校
正を必要としている。この校正では、従来、定期的に作
業員が標準ガスをセンサに対して供給し、人手により0
点やゲインの調整を行なうようにしている。
どは、ガス検知特性の経時的な変化に対する定期的な校
正を必要としている。この校正では、従来、定期的に作
業員が標準ガスをセンサに対して供給し、人手により0
点やゲインの調整を行なうようにしている。
[発明が解決しようとする課題]
従来のガスセンサ装置ではこの校正の際に一部サンプリ
ングを中止して標準ガスを用いて作業員の手作業で0点
(オフセット)やゲインの調整を行なうため、手間がか
かる。特に、−度に多数のセンサを調整する場合には、
校正作業に要する時間は極めて長いものとなる。また、
計測系からセンナ(又は測定部)を取り外すか計測を中
断する形で校正を行なうため、連続した長期的計測がで
きない。
ングを中止して標準ガスを用いて作業員の手作業で0点
(オフセット)やゲインの調整を行なうため、手間がか
かる。特に、−度に多数のセンサを調整する場合には、
校正作業に要する時間は極めて長いものとなる。また、
計測系からセンナ(又は測定部)を取り外すか計測を中
断する形で校正を行なうため、連続した長期的計測がで
きない。
本発明は連続した長期的な被検気体の目的成分濃度の計
測を、校正のために中止することなく高精度に行なうこ
とが可能なガスセンサ装置を提供することを目的とする
。
測を、校正のために中止することなく高精度に行なうこ
とが可能なガスセンサ装置を提供することを目的とする
。
[課題を解決するための手段]
本発明のガスセンサは、被検気体中の目的成分濃度に応
じた信号を出力する計測用ガスセンサと、該計測用ガス
センサに被検気体を導くように設けられたガスサンプリ
ング管と、該センサの計測信号を処理し濃度信号を出力
する信号処理手段とを有するガスセンサ装置において、
該ガスサンプリング管に着脱可能に設けられており、被
検気体の目的成分濃度に応じた信号を出力する校正用ガ
スセンサを設け、校正用ガスセンサの信号に基いて該信
号処理手段を校正可能にしたことを特徴とする。
じた信号を出力する計測用ガスセンサと、該計測用ガス
センサに被検気体を導くように設けられたガスサンプリ
ング管と、該センサの計測信号を処理し濃度信号を出力
する信号処理手段とを有するガスセンサ装置において、
該ガスサンプリング管に着脱可能に設けられており、被
検気体の目的成分濃度に応じた信号を出力する校正用ガ
スセンサを設け、校正用ガスセンサの信号に基いて該信
号処理手段を校正可能にしたことを特徴とする。
[作用コ
本発明のガスセンサ装置では、サンプリング管により導
入した被検気体がセンサと接触することにより、例えば
センサのインピーダンスが変化する。このセンサ信号は
信号処理手段において、処理され濃度信号として出力さ
れる。
入した被検気体がセンサと接触することにより、例えば
センサのインピーダンスが変化する。このセンサ信号は
信号処理手段において、処理され濃度信号として出力さ
れる。
一般に、ガスセンサは長期的に連続使用されると検知特
性が経時的に徐々に変化するが、本発明における計測用
センサの変化した信号は信号処理手段で補正される。本
発明において計測信号の補正を行なうには、まず外部で
十分に校正された校正用ガスセンサをガスサンプリング
管に接続し、被検気体を校正ガスセンサと接触させる。
性が経時的に徐々に変化するが、本発明における計測用
センサの変化した信号は信号処理手段で補正される。本
発明において計測信号の補正を行なうには、まず外部で
十分に校正された校正用ガスセンサをガスサンプリング
管に接続し、被検気体を校正ガスセンサと接触させる。
この校正用ガスセンサの出力信号は信号処理手段に入力
される。信号処理手段では、校正用ガスセンサからの信
号と計測用ガスセンサからの信号とを対比し、計測用ガ
スセンサの出力値を校正用ガスセンサ(十分に校正され
ており、その出力値は真値とみなし得る。)の出力値に
一致させるための処理を行なう。
される。信号処理手段では、校正用ガスセンサからの信
号と計測用ガスセンサからの信号とを対比し、計測用ガ
スセンサの出力値を校正用ガスセンサ(十分に校正され
ており、その出力値は真値とみなし得る。)の出力値に
一致させるための処理を行なう。
[実施例]
以下本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1図は、本発明のガスセンサ装置の構成図、第2図は
信号処理器の回路のブロック図である。
信号処理器の回路のブロック図である。
本実施例装置は計測部1、信号処理器2、校正ユニット
3よりなる構成であり、計測部1から出力した被検気体
の計測結果の信号を信号処理器2において濃度信号に変
換して出力する。この校正ユニット3は計測部1及び信
号処理器2に対して着脱自在に設けられている。
3よりなる構成であり、計測部1から出力した被検気体
の計測結果の信号を信号処理器2において濃度信号に変
換して出力する。この校正ユニット3は計測部1及び信
号処理器2に対して着脱自在に設けられている。
計測部1はサンプリング管4、計測用ガスセンサ5、吸
引ポンプ6を有している。被検気体はサンプリング管4
の先端の吸気ロアより吸入され、ダストフィルタ8を通
して脱塵処理された後、半導体ガスセンサよりなる計測
用ガスセンサ5と接触する。その後、サンプリングガス
吸着ユニット9を通して系外に放出される。計測用ガス
センサ5の出力は信号処理器2に出力される。
引ポンプ6を有している。被検気体はサンプリング管4
の先端の吸気ロアより吸入され、ダストフィルタ8を通
して脱塵処理された後、半導体ガスセンサよりなる計測
用ガスセンサ5と接触する。その後、サンプリングガス
吸着ユニット9を通して系外に放出される。計測用ガス
センサ5の出力は信号処理器2に出力される。
前記サンプリング管4の途中には分岐管10が接続され
ており、この分岐管10にはバルブ11及びカップリン
グ12が設けられている。
ており、この分岐管10にはバルブ11及びカップリン
グ12が設けられている。
校正ユニット3は被検気体導入用の配管13を有してお
り、この配管13は前記カップリング12に係合するカ
ップリング14を備えている。
り、この配管13は前記カップリング12に係合するカ
ップリング14を備えている。
カップリング12.14は着脱自在であり、必要に応じ
校正ユニット3を計測部1に接続したり、取り外したり
できるよう構成されている。
校正ユニット3を計測部1に接続したり、取り外したり
できるよう構成されている。
配管13の途中には弁15、校正用ガスセンサ16及び
ポンプ17が設けられており、ポンプ17の吐出側はガ
ス吸着ユニット18に接続されている。弁15及びセン
サ16を迂回するようにバイパス管19が設けられてお
り、該バイパス管19には弁20が設置されている。こ
の校正ユニット16の検出信号は信号調整器21にて増
幅及びオフセット調整された後、前記信号処理器2に出
力されている。
ポンプ17が設けられており、ポンプ17の吐出側はガ
ス吸着ユニット18に接続されている。弁15及びセン
サ16を迂回するようにバイパス管19が設けられてお
り、該バイパス管19には弁20が設置されている。こ
の校正ユニット16の検出信号は信号調整器21にて増
幅及びオフセット調整された後、前記信号処理器2に出
力されている。
信号処理器2においては、計測用ガスセンサ5からの信
号は、信号調整器22の増幅部22aにより設定ゲイン
(a)で増幅され、オフセット部22bにより設定オフ
セット(b)で補正され、演算ユニット24に出力され
る。演算ユニット24に入力された信号は、A/D変換
部25にてディジタル信号に変換される。次いで演算部
26にて演算された後、濃度信号出力部27から濃度信
号として出力される。なお、表示部28により表示する
ように構成しても良い。
号は、信号調整器22の増幅部22aにより設定ゲイン
(a)で増幅され、オフセット部22bにより設定オフ
セット(b)で補正され、演算ユニット24に出力され
る。演算ユニット24に入力された信号は、A/D変換
部25にてディジタル信号に変換される。次いで演算部
26にて演算された後、濃度信号出力部27から濃度信
号として出力される。なお、表示部28により表示する
ように構成しても良い。
校正ユニット3の信号調整器21からの信号はA、 /
D変換器29を経て演算部26に入力される。演算部
26は、D/A変換器30.31を介して前記増幅部2
2a及びオフセット部22bに制御信号を出力している
。
D変換器29を経て演算部26に入力される。演算部
26は、D/A変換器30.31を介して前記増幅部2
2a及びオフセット部22bに制御信号を出力している
。
このように構成されたガスセンサ装置において、通常の
状態にあっては計測用ガスセンサ5の信号が信号処理器
2に入力され、濃度信号が出力される゛か、又は濃度表
示される。
状態にあっては計測用ガスセンサ5の信号が信号処理器
2に入力され、濃度信号が出力される゛か、又は濃度表
示される。
ガスセンサを校正するには、まず弁11.20を開くと
共にポンプ17を作動させ、被検気体をバイパス管19
に流す。次に、弁20を閉、弁15を開とし、被検気体
を校正用センサ16と接触させる。このセンサ16の信
号は信号処理器2の演算部26に入力される。演算部2
6では計測用センサ5からの計測系信号とセンサ16か
らの校正系信号とを対比し、計測系信号が校正系信号と
一致するように増幅部22a及びオフセット部22bに
制御信号を出力し、ゲイン及びオフセットの調整を行な
う。なお、この校正の作動中、センサ5及びポンプ6は
通常通り作動し、計測が続行される。また、校正の開始
に際し、まずバイパス管19に被検気体を流すのは、弁
15よりも上流側の導管13内などに付着していたダス
ト分がセンサ16と接触するのを防止するためである。
共にポンプ17を作動させ、被検気体をバイパス管19
に流す。次に、弁20を閉、弁15を開とし、被検気体
を校正用センサ16と接触させる。このセンサ16の信
号は信号処理器2の演算部26に入力される。演算部2
6では計測用センサ5からの計測系信号とセンサ16か
らの校正系信号とを対比し、計測系信号が校正系信号と
一致するように増幅部22a及びオフセット部22bに
制御信号を出力し、ゲイン及びオフセットの調整を行な
う。なお、この校正の作動中、センサ5及びポンプ6は
通常通り作動し、計測が続行される。また、校正の開始
に際し、まずバイパス管19に被検気体を流すのは、弁
15よりも上流側の導管13内などに付着していたダス
ト分がセンサ16と接触するのを防止するためである。
次に、上記装置において校正を行なう場合の上記増幅部
22aのゲイン値及びオフセット部22bのオフセット
値の補正のための演算例を説明する。このセンサ5.1
6は同一のものであり、通常のガスセンサの通性として
、共に計測対象濃度範囲においてガス濃度Cに対して実
質的に線形の出力特性を有している。そして、十分に校
正されたセンサ16及び信号調整器21は濃度CIのガ
スに対しYlの出力を行ない、濃度C2のガスに対しY
2の出力を行なうものとする。
22aのゲイン値及びオフセット部22bのオフセット
値の補正のための演算例を説明する。このセンサ5.1
6は同一のものであり、通常のガスセンサの通性として
、共に計測対象濃度範囲においてガス濃度Cに対して実
質的に線形の出力特性を有している。そして、十分に校
正されたセンサ16及び信号調整器21は濃度CIのガ
スに対しYlの出力を行ない、濃度C2のガスに対しY
2の出力を行なうものとする。
一方、経時的に出力特性が変化したセンサ5は、濃度C
Iのガスに対しyIの出力を行ない、濃度C2のガスに
対し、y2の出力を行なうものとする。
Iのガスに対しyIの出力を行ない、濃度C2のガスに
対し、y2の出力を行なうものとする。
この場合、信号調整器21.22同志の出力が同一とな
るように増幅部22a及びオフセット部22bのゲイン
値、オフセット値を調整する。即ち、校正前の信号調整
器22ではゲイン値a5、オフセット値b5であったと
きに、このゲイン値をa、オフセット値をbに変えるこ
とにより信号調整器21.22同志の出力が同一となる
ようにする。
るように増幅部22a及びオフセット部22bのゲイン
値、オフセット値を調整する。即ち、校正前の信号調整
器22ではゲイン値a5、オフセット値b5であったと
きに、このゲイン値をa、オフセット値をbに変えるこ
とにより信号調整器21.22同志の出力が同一となる
ようにする。
上記定義より、校正前のゲイン値a5、オフセット値b
5に対し、 yI=a5 ・CI+b5 …■y2=as
・C2+b5 −・−Oである。また、校正
後のゲイン値a1オフセット値すに対しては次の通りと
なる。
5に対し、 yI=a5 ・CI+b5 …■y2=as
・C2+b5 −・−Oである。また、校正
後のゲイン値a1オフセット値すに対しては次の通りと
なる。
Y 重 =a−C++b
・・・ ■Y2 =a −C2+b
・・・■これらの式■〜■からC1、C2
を消去し、a、bについて解くと、 a=as ・ (Yl −Y2 )/ (yI−y2
)・・・■ b=(Yl −α・Y 2 ) / (1−α)・
・・■ ただし、α= (yI−b、)/(3/2−b5)が得
られる。ここで、3’++ y2.Yl、Y2は実測値
であり、a5.b5はそれまでのゲイン値及びオフセッ
ト値であっていずれも既知の値である。従って、新しい
ゲイン値a及びオフセット値すを前記■、0式に基いて
算出できる。
・・・ ■Y2 =a −C2+b
・・・■これらの式■〜■からC1、C2
を消去し、a、bについて解くと、 a=as ・ (Yl −Y2 )/ (yI−y2
)・・・■ b=(Yl −α・Y 2 ) / (1−α)・
・・■ ただし、α= (yI−b、)/(3/2−b5)が得
られる。ここで、3’++ y2.Yl、Y2は実測値
であり、a5.b5はそれまでのゲイン値及びオフセッ
ト値であっていずれも既知の値である。従って、新しい
ゲイン値a及びオフセット値すを前記■、0式に基いて
算出できる。
前記演算器13は、この算出値となるように制御信号を
増幅部22aとオフセット部22bに与え、これによフ
てセンサ5の検出値が真値を示すように処理される。な
お、この一連の校正は、センサ5の作動を継続させたま
ま行なわれ得るものである。従って、計測作動を中断す
ることなく検出値の校正を行なえる。
増幅部22aとオフセット部22bに与え、これによフ
てセンサ5の検出値が真値を示すように処理される。な
お、この一連の校正は、センサ5の作動を継続させたま
ま行なわれ得るものである。従って、計測作動を中断す
ることなく検出値の校正を行なえる。
[効果]
以上詳述した通り、本発明の自動校正システムを有する
ガスセンサ装置を用いれば、連続する計測を中断するこ
となく校正を行なうことができ、長時間の計測でも著し
く容易に高精度な濃度信号を得ることが可能である。
ガスセンサ装置を用いれば、連続する計測を中断するこ
となく校正を行なうことができ、長時間の計測でも著し
く容易に高精度な濃度信号を得ることが可能である。
更に、校正作業などが行なえないような現場に据え付け
られた装置本体の場合、他の場所で十分に校正させた校
正ユニットを本体に接続するだけで、校正が可能であり
極めて便利である。
られた装置本体の場合、他の場所で十分に校正させた校
正ユニットを本体に接続するだけで、校正が可能であり
極めて便利である。
第1図は本発明のガスセンサ装置の実施例を示す構成図
、第2図は回路のブロック図である。 1・・・計測部、 2・・・信号処理器、 3・・・校正ユニット、 4・・・ガスサンプリング管、 5・・・計測用ガスセンサ、 16・・・校正用センサ。
、第2図は回路のブロック図である。 1・・・計測部、 2・・・信号処理器、 3・・・校正ユニット、 4・・・ガスサンプリング管、 5・・・計測用ガスセンサ、 16・・・校正用センサ。
Claims (1)
- 被検気体中の目的成分濃度に応じた信号を出力する計測
用ガスセンサと、該計測用ガスセンサに被検気体を導く
ように設けられたガスサンプリング管と、該センサの計
測信号を処理し濃度信号を出力する信号処理手段とを有
するガスセンサ装置において、該ガスサンプリング管に
着脱可能に設けられており、被検気体の目的成分濃度に
応じた信号を出力する校正用ガスセンサを設け、校正用
ガスセンサの信号に基いて該信号処理手段を校正可能に
したことを特徴とするガスセンサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27271388A JPH02118442A (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | ガスセンサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27271388A JPH02118442A (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | ガスセンサ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02118442A true JPH02118442A (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=17517749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27271388A Pending JPH02118442A (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | ガスセンサ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02118442A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006010650A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Ulvac Japan Ltd | 校正ユニット及び分析装置 |
JP2017531161A (ja) * | 2014-08-28 | 2017-10-19 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | センサシステム及びセンサ方法 |
-
1988
- 1988-10-28 JP JP27271388A patent/JPH02118442A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006010650A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Ulvac Japan Ltd | 校正ユニット及び分析装置 |
JP2017531161A (ja) * | 2014-08-28 | 2017-10-19 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | センサシステム及びセンサ方法 |
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