JPH0211750A - 溶射法 - Google Patents

溶射法

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JPH0211750A
JPH0211750A JP63159488A JP15948888A JPH0211750A JP H0211750 A JPH0211750 A JP H0211750A JP 63159488 A JP63159488 A JP 63159488A JP 15948888 A JP15948888 A JP 15948888A JP H0211750 A JPH0211750 A JP H0211750A
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紘一 武田
Michitoshi Ito
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は溶射被覆中の残留応力を制御する溶射法、ある
いは、溶射被覆または母4Aの形状を制御する溶射法で
あり、熔’1.1月の熱膨脹イ(が母Hの2ノー膨脹率
より小さい溶射材の溶射法に関する。
(従来の技術) 産業の進歩と技(1・1の発展に、トリ近年月nはまず
まずきびしい環境で使用される。J、−)にな、′(き
た、。
例えば、宇宙開発では再利用を前提とした宇宙船(いわ
ゆるスペースシャトル)が開発されているが、大気圏へ
の再突入の際の宇宙f1()の加熱から内部を守るため
宇宙船表面には断熱被覆を施′づ必要がある。現在該断
熱被覆はタイルを張り合ね−lるごとにより形成されて
いる。しかし夕・イルの形状を厳密に制御−1ねばなら
なく、タイルを貼る作業は効率が低く、さらには再突入
の際にタイルが:/、11げろという重大な問題がある
。従って、I+]、 +4と被覆の密着性がイ憂れたコ
ーティングを施すことが・シ・要とされている。
一方、コーティングの方法にはl) V I)法、CV
D法、溶射法が知られている。コーティングは1Vli
1食性、耐高′/IjL腐食性、耐酸化性、耐摩耗性、
濡れ性の改善、電気的または熱的伝導性の付tjまたは
絶縁性の41与などを目的とする。例えば、宇宙船の外
壁などには断熱性を((]与することを目的とし。
て比較的厚い膜をコーティングするが、1vい膜を得る
方法はこの中でも溶射法が適している。熔躬法において
密着性を向」二さ−1るためには母材を高温にして溶射
することが有効であることが知られている(井藤三千寿
、林和範、武田紘−2l」木溶射協会第45回学術講演
会人会講演論文集pρ、6(198G) )。シカシ、
RNAを高ll!?t ニL/ 7 ?8則した場合に
も、残留応力のために被覆層力q8射後に割れたり剥h
1シたりすることがたびたびある。特に被覆層の厚みを
厚く一ツるときゃ、母材と被覆材の熱膨張率が著しく違
うときは(例えば軟鋼を母材としモリブデンを溶射する
場合は熱膨張率はそれぞれ、17x I O−’ (K
−’) 、8.8x 10−1′(K−’)である)残
留応力のため被覆層が割れ、または被覆層が剥げてコー
ティングの目的が達成されないばかりでなく、■利およ
び被覆層が変形するという問題も深刻化する。したがゲ
で被覆を高速で施す方法であるン容」・l?夫は、■膜
の形成法として有力であるが残留応力のため被覆の厚み
は高々数百l!lnが限界であるとされている。以上の
ように溶射の際にもたらされる残留応力を軽減すること
が現在の課題となっている。
(発明が解決しようとする課題) 本発明はかかる現状に焔の、被覆層および1υ(A中の
残留応力を低減し、被覆層お、1、び母材の変形を防(
方法を提供するものである。
(課題を解決するだめの手段) 本発明者らは」−記の目的を達成゛4るべく種り実験、
検削を重ねた結果、ある溶射材と母材の糾合せに対して
は、溶射時の母材(及び被覆層)がある温度に於いて残
留応力が極小化゛することを見出した。(以後溶射中の
母4A及び被覆層の温度を溶射温度と言う。)更に残留
応力を極小とする該溶射温度が、溶1=I材および母材
の物性値、1Ii4の及び被覆の使用される温度から後
述する方法により求められることを見出した。か′)溶
射材の熱膨用毒率が母材の熱膨張率より小さい場合は該
方法から求めた温度で溶射を行・うごとで被覆の割れ、
911がれ、または変形無しに溶射できるごとを見出し
また。
本発明は上記の知見に基づいてなされたものでつまり本
発明は、溶II法によって母IA−1−に金属、合金あ
るいはセラミックスを被覆′するに際し、残留応力を母
材および溶射材の物性値、母材および溶射+Aの厚めお
よび溶射被覆が使用に供される際の使用温度および?’
ji !L! >R度の関数として求め、該関係から残
留応力が極小化する溶射温度を求めまたは該関係から残
留応力を所定量の引張またしj圧縮の残留応力となるよ
う溶剤温度を求め、1v材を咳溶射湛度に設定して溶射
する事を特徴と゛づるン容躬法である。
本発明の概要を以下にのべる。
本発明に於いては、物性値などから溶射温度を計神、に
より予測するが、物性値全てが知られていないときは試
行錯誤的Gこ溶射温度を実験により予測してもよい。
4算により溶射温度を予測する場合には■溶射温度の予
測、■溶射温度を制御した溶射を行えばよく、■残留応
力を測定することによって、所期の目的を達成できたこ
とを確認できる。この際、以下に示した1次元のモデル
以外のモデルで溶射温度を予測してもよい。iE 61
な物性値が知られていないときや、母材の形状が板状で
ないときなどは、暫定的な物性値などを用いてn1算を
行う。この際、所定の残留応力が得られず溶射温度の補
正が必要な時は、■゛潴射温度の補正、■溶射温度を制
御した溶射、■残留応力の判定の手順を踏む。
試行i1)誤的に溶射温度を実験により予4(11する
場合には暫定的な溶射温度を仮定し■溶射温度を制御し
た溶射、■残留応力の判定の手続きの後、所定の残留応
力が得られていないときは■°溶9・1温度の補正、■
溶射温度を制御した溶射、■残留比、力の判定の手順を
踏む。
以下本発明の詳細な説明する。(式の各項目は第−表に
示す。) ■−1溶融している溶射粒子が母材に衝突し冷却される
際に生ずる応力を求める。
溶射材の応力歪曲線が第一図で示されるとき、凝固点で
第一図の原点(0)の応力状態である粒子は基板温度に
冷却される際に収縮しようとするが母材が溶射粒子に比
べて十分に大きいため母材は変形しないとみなし得る。
従っ′(溶射粒子内には相対的に引っ張り応力が誘起さ
れる。溶!1−1粒子−第 表 第 表(続き) の変形歪(ε2)は次式で表わさる。
ε2−α、(TM−’Fs)         ・・・
(11(記号は第−表で定義される。以下同様)第一図
から溶射粒子は弾性限(1)まで弾性変形したのら塑性
変形をして点(2)の応力状態にいたる。
(2)での応力(σ2)は次式で表わされる。
σ2−E、αC(”I’S −TS) 4− (1?、
、  Er)  ε、 ・121ε。は弾性変形歪(ε
F)と塑性変形歪(Er)とに分りられる。弾性変形歪
(ε、)は、次式で表わされる。
ε1−σ2/I7.C・・・(3) ■−2溶射中に起こる母材及び皮膜の変形及び応力を求
める。
■−1で求めた応力は粒子−・個のものであるが、これ
が積もり積もると母材及び皮膜が変形しながら溶射が進
行する。任意の溶射被覆厚(1)に於て、溶射の進行に
よる母材及び被覆の長さの変化率は、長さの釣合と応力
の釣合から次式で表わされる。
dt     Ect+BSt、 厚みが限りなく薄いときは、長さは熔ル1直前の母材の
長さ(Lo)である。この条件の下で(4)式の解は、
次式で与えられる。
・・00) ■−3溶射終了後所定の温度に冷却する過程の母材及び
被膜の変形及び応力を求める。
溶射時(1゛5における)の端板及び被覆の自然長は■
−2からそれぞれI−0、I−n (x)として求めら
れる。従って所定の温度(′I″R)に冷却するとそれ
ぞれの自然長L;JIOf1−α、 (′l’ 、−T
 R) l、L、(x)[1−αc(1’=−1’R)
 ] である。この際所定の温度が室温である場合、お
よび溶射被覆の使用温度である場合も含まれる。■−2
と同様に長さの釣合と応力の釣合を考えることにより被
覆及び母材の長さ、それぞれの歪、それぞれの応力が求
められる。被覆内の平均残留応力(σC)は次代の通り
となる。
D ■−4所定の応力となる溶射温度を求める。
残留応力をOにしたい時は0υ式のσ。に0を、引張に
したい時は正の値を、圧縮にしたい時は負の値を与える
。更に、被覆及び母材の物性(1jj、厚みなどを与え
、00式を満たずように溶射温度を求める。この際物性
値を温度の関数としてjgえても良いが、暫定的温度で
の物性値をIjえ仮の溶ルI ?A!を度を求めた移譲
溶射温度での物性値を再度与えて溶射温度を求める占い
・う繰り返し羽算を行−7でも良い。また被膜の物性値
としてはバルクの(li′iを11えても良いが、−度
被膜を作製した後物性値の測定を行い該物性値を与えた
方が良い。全ての物性値が正確に解らないとき、母材の
形状が板状でないときは、仮の値を与えて溶射温度を求
めて■のごとく溶射し■のごとく応力の判定を行い、■
に示ずように溶射温度の補正を行う。
■゛溶射温度の補正 全ての物性値が正確に解らないとき、母材の形状が板状
でないとき、さらには所定の残i/応力とならない時は
溶射温度の補正を行う。被覆内に所定の残留応力より引
張の応力が残るときは、溶射温度を高くする。被覆内に
所定の残留応力より圧縮の応力が残るときは、溶射温度
を低くする。溶I 耐温度の変更ri (ATS)は、試行錯誤によっても
良いが、0jj式を溶射温度で微分しても求めることが
できる。すなわち、溶射温度の変更11目1次式により
求められる。
dT。
■溶射温度を制御した溶4・1を行う。
母+Aまたは被覆の温度を熱電対または放射温度旧など
で測定する。■または■゛で求めた溶射温度に母材を保
持し溶射を行う。この際、溶射法の手段が減圧プラズマ
溶射法、大気圧プラズマ溶射法、アーク溶射法、燃焼炎
溶射法などのいずれの方法であってもよい。また、被覆
が使用時には母材から剥がされ単独で用いられる被覆で
あってもよい。溶射材が2種以上の金属、合金あるいは
セラミックスの混合物である溶射材であってもよい。
この際プラズマ人力、基板位置、圧力、ガス流量、粉体
供給速度などの溶射パラメーターと基板温度との関係を
前もって調べて置りば潴躬中に温度測定を行わなくても
良い。ljJ祠を溶射温度に加り忙づるには、プラズ゛
7フレーJ、により加熱することもできる。この際母f
イに電位をliえプラズマとの間に電流を流すことも可
能である。また、1υ+、4を通電加熱しても良い。さ
らには、赤外炉などの炉によっても加熱することも可能
である。
■残留応力の判定 全ての物性値が1錨に解らないたき、母Hの形状が板状
でないときなどには、熔1・1温度を−・回で予測する
ことはできないから実際に熔1,1を行った溶射被覆の
残留応力を判定して熔η・1温度を補正4ることが必要
となる。残留応力は溶射被膜と母Hの形状の変化から判
定できる。すなわら、所定の温度に於て被覆が母材側に
しなる時(第二図(a))または剥がれる時(第二図(
b))は圧縮の応力があり、被覆が表面にしなる時(第
二図(C))または亀裂が生ずる時(第二図(d))は
引張の応力がある。
更に厳密に測定するには、X線回折法などに、1−り格
子定数を測定する、被覆の曲率から旧qするなどの方法
で残留応力を求める。ここで1υ0月及び被覆の変形ま
たは残留応力が許容範囲内でないときは■′によりン容
躬温度の補正を行う。
以下に本発明の実施例について説明する。(Dから■は
、上述の手順■から■に対応する。
(実施例1) ■1.す(Aとして5S41、?R躬+AとしてMoを
選んだ。
第二表に溶射温度を予測するために用いた物性値を示す
第二表 所定のnり厚を様りな値を選び1γみ比(t c/ t
 s)が0.01から1までについて、(11)式によ
り溶1・1温度を求めた(第三図)。これにより厚め比
が1の時溶射温度は1300にであると求められた。
■母材W−12+u、被覆j¥12鰭の時、この条(’
Iで溶射を行った結果、被覆層に■亀裂は生じず母材及
び被覆の変形もみられなかった。更にX線回折により残
留応力はないと判定された。
更に仕較として試行錯誤的に溶射温度をT’ Ntll
 した。
暫定的な溶!1−1温度をll50にと仮定した場合、
溶射を行った結果被覆層に亀裂が入っており (第四図
)被覆内に引っ張り応力が生じていると判定された。0
0式から求められた基板温度応力線図(第五図)からd
σc/d Tsが−1,000000Pa/にと求めら
れた。さらに、残留応力は150.0(+0,000P
aと求められたので、残留応力の誤差(ΔσC)は、−
150,000,000Paであるので、溶射温度の補
正11J(ΔTs)は150にと求められた。
逆に1450にで溶射を行うと被覆は剥げ被覆内に圧縮
応力が生じていると判定された。(11)式から求めら
れた基板温度応力線図(第五図)からdσc / d 
Tsが1.000.0001’a/にと求められた。
さらに、残留応力は−150,000,000Paと求
められたので、残留応力の誤差(ΔσC)は、150、
000.0001”aであるので、溶射温度の補正11
1(ΔTs)は−150にと求められた。
以上試行錯誤的方法によっても溶射温度を求めることが
できた。
(実施例2) ■実施例Iと同様に母材としてSS41、溶!ll材と
してMoを選んだ。溶射温度を予測するために用いた物
性値を上述の第二表に示す。所定の膜厚を様々な値を選
び厚み比(tc /LS ) が0.Olから1までに
ついて、OD式により溶射温度を求めた(第三図)。こ
れにより+7み比が1の時溶射温度は1300にである
と求められた。
■母材厚121mであるが形状は板でなく管であるとき
、被覆厚12mmを目標にこの条件で溶射を行った。
■被覆に亀裂が入っており被覆内に引っ張り応力が生じ
ていると判定された。
■゛0υ式から求められた基板温度応力線図(第五図)
からdσc/dTsが−1,000,000Pa/にと
求められた。さらに、残留応力は50,000+ 00
01’a J求められたので、残留応力の誤差(Δσ、
)は、50+ 000+ 000Paであるので、溶射
温度の袖i「中(Δ’r、)は5(IKと求められた。
以上から溶射温度の補正を行い+ 3501(を得た。
■この条件で溶射を行った。
■亀裂が生じていない被覆が得られた。母相及び被覆の
変形がみられなかった。更にX線回折により残留応力は
ないと判断された。
(実施例3) ■母材として5S41.溶射材として^I!、201を
選んだ。第三表に溶射温度を予測するために用いた物性
値を示す。
厚め比が1の時溶射温度は950にであると求められた
■母材厚21.被覆1¥21Ilの時、この条(′1で
溶射を行った。
■被覆に亀裂が入っており被覆内に引っ張り応力が生じ
ていると判定された。
■°00式から求められたJ4H仮温度広力線図(第五
第三表 図)からdσc/dT、が−1,500,0001’a
/にと求められた。さらに、残留応力は75.000.
0OOPaと求められたので、残留応力の誤差(Δσ、
)は、75 + 000.0001’aであるので、溶
射温度の補正中(Δ’+’i は50にと求められた。
以上から溶射温度の補正を行い100OKを得た。
(発明の効果) 以上述べたように本発明によれば残留応力が制御され、
亀裂が無い被覆が得られ母料の変形もない、これにより
耐食性、耐高温腐食性、耐酸化性、耐摩耗性、濡れ性、
電気的または熱的伝導性または絶縁性など表面被覆が目
的とする特性を改善する事が可能であり、産業上の発展
に貢献するところきわめて大である。
【図面の簡単な説明】
第−Ig+は予測に用いた応力歪関係図である。 第二図は溶射被覆層の残留応力と変形の関係し1である
。 第三図 は予測された最適溶射温度を被I′w層七基板
との厚み比にたいして示した図 第四図は最適溶射温度でないため被覆層に亀裂が生じた
例の図 第五図は被覆層と基板とのjIの比が1の時の被覆層内
平均残留応力と溶射温度の関係図である。 1・・・被覆層、2・・・母相(ノル板)、3・・・剥
離、4・・・亀裂。 ? N(?)々 b 恨 ・ぺ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 溶射法によって母材上に金属、合金あるいはセラミック
    スを被覆するに際し、被覆層および母材の残留応力を、
    母材および溶射材の物性値、母材および溶射材の厚み、
    溶剤被覆が使用に供される際の使用温度および溶剤温度
    の関数として求め、該関係から残留応力を所定の残留応
    力となるよう溶射温度を求め、母材を該溶射温度に設定
    して溶射する事を特徴とする溶射法。
JP63159488A 1988-06-29 1988-06-29 溶射法 Expired - Lifetime JP2702738B2 (ja)

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