JPH02110469A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPH02110469A JPH02110469A JP26376088A JP26376088A JPH02110469A JP H02110469 A JPH02110469 A JP H02110469A JP 26376088 A JP26376088 A JP 26376088A JP 26376088 A JP26376088 A JP 26376088A JP H02110469 A JPH02110469 A JP H02110469A
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- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
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- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光導電層としてアモルファスシリコン系材料
を用いた電子写真感光体に関する。
を用いた電子写真感光体に関する。
近年、アモルファス水素化シリコン(a−3i (H)
)は光感度、耐熱性に(憂れ、硬度が硬く、大面積の
薄膜が比較的容易に得られ、特に環境汚染の心配もない
ことから、電子写真感光体用の光導電性材料として注目
され開発が進められている。
)は光感度、耐熱性に(憂れ、硬度が硬く、大面積の
薄膜が比較的容易に得られ、特に環境汚染の心配もない
ことから、電子写真感光体用の光導電性材料として注目
され開発が進められている。
a−5i(H) は、−船釣にシリコンを含むガス、
例えばシラン(SI84)ガスを原料ガスとして用いた
プラズマCVDで作製される。この方法で作製されるa
−3i(H) は、禁制帯中の局在準位が少なくて光
導電性が大きく、また、ンボラン(B、H6>、 フ
ォスフイン(PH3)などのガスを原料ガスに適当に混
合・すると電導文制御1価電子制御が可能で高抵抗化す
ることができ、さらに、適当なガスを原料ガスに混入す
ることにより炭素(C)、窒素(N)酸素(0)などを
a−3i(H) 中に導入することもでき、感光体と
して要望される帯電性能1光感度。
例えばシラン(SI84)ガスを原料ガスとして用いた
プラズマCVDで作製される。この方法で作製されるa
−3i(H) は、禁制帯中の局在準位が少なくて光
導電性が大きく、また、ンボラン(B、H6>、 フ
ォスフイン(PH3)などのガスを原料ガスに適当に混
合・すると電導文制御1価電子制御が可能で高抵抗化す
ることができ、さらに、適当なガスを原料ガスに混入す
ることにより炭素(C)、窒素(N)酸素(0)などを
a−3i(H) 中に導入することもでき、感光体と
して要望される帯電性能1光感度。
温度特性1機械的強度などを満足し得る性能を付与する
ことができるので、a−5i(H) からなる帳元層
を有する感光体は非常に優れた性能を有するものとなる
。
ことができるので、a−5i(H) からなる帳元層
を有する感光体は非常に優れた性能を有するものとなる
。
ところが、このようなa−8i ()I) を表面層
とする感光体は、初期的には良好な画像が得られるもの
の、長期間大気中あるいは高湿中に保存しておいた後画
像複写した場合、しばしば画像不良を発生することが判
明している。また、多数回複写プロセスを経験するとし
だいに画像ぼけを生じてくることもわかっている。この
ような劣化した感光体は特に高湿中において、画面ぼけ
を発生しやすく、複写回数が増すと画像ぼけを生じ始め
る臨界湿度はしだいに下がる傾向があることが確かめら
れている。
とする感光体は、初期的には良好な画像が得られるもの
の、長期間大気中あるいは高湿中に保存しておいた後画
像複写した場合、しばしば画像不良を発生することが判
明している。また、多数回複写プロセスを経験するとし
だいに画像ぼけを生じてくることもわかっている。この
ような劣化した感光体は特に高湿中において、画面ぼけ
を発生しやすく、複写回数が増すと画像ぼけを生じ始め
る臨界湿度はしだいに下がる傾向があることが確かめら
れている。
上述のごと(、a−5i(H) を表面層とする感光
体は長期にわたって大気や湿気にさらされることにより
、あるいは複写プロセスにおけるコロナ放電などで生成
される化学種(オゾン、窒素酸化物。
体は長期にわたって大気や湿気にさらされることにより
、あるいは複写プロセスにおけるコロナ放電などで生成
される化学種(オゾン、窒素酸化物。
発生期酸素など)により、感光体最表面が影響を受けや
すく何らかの化学的な変質によって画1象不良を発生す
るものと考えられるが、その劣化メカニズムについては
これまでにまだ十分な解明はなされていない。
すく何らかの化学的な変質によって画1象不良を発生す
るものと考えられるが、その劣化メカニズムについては
これまでにまだ十分な解明はなされていない。
このような画像不良の発生を防止し耐刷性、耐湿性を向
上させるために、感光体の表面に保護層を設けて化学的
安定化を図る方法が試みられている。
上させるために、感光体の表面に保護層を設けて化学的
安定化を図る方法が試みられている。
例えば1表面保護層として水素化アモルファス炭化シリ
コン<a−3ixC+−x(H)、0<x<1) 、あ
るいは水素化アモルファスI i 化シリコン(a−3
i×N+−x(H)Q<x<1)を設けることによって
感光体表面層の複写プロセスあるいは環境雰囲気による
劣化を防ぐ方法が知られている(特開昭57−1155
59号公報〉。
コン<a−3ixC+−x(H)、0<x<1) 、あ
るいは水素化アモルファスI i 化シリコン(a−3
i×N+−x(H)Q<x<1)を設けることによって
感光体表面層の複写プロセスあるいは環境雰囲気による
劣化を防ぐ方法が知られている(特開昭57−1155
59号公報〉。
しかし、表面保護層中の炭素濃度あるいは窒素濃度を最
適な値に選べば耐刷性をかなり改良することができるが
、高湿度雰囲気中(相対湿度80%以上)での耐湿性を
維持することができず、数万枚の複写プロセスを経験す
ると相対湿度60%台で画像ぼけを発生し、これらの表
面保護層を付与しても、耐刷性、耐湿性を大幅に向上す
ることができない状況にある。
適な値に選べば耐刷性をかなり改良することができるが
、高湿度雰囲気中(相対湿度80%以上)での耐湿性を
維持することができず、数万枚の複写プロセスを経験す
ると相対湿度60%台で画像ぼけを発生し、これらの表
面保護層を付与しても、耐刷性、耐湿性を大幅に向上す
ることができない状況にある。
さらに、アモルファス炭素(a−C) がこのような
表面保護層の材料として非常に有効であることが知られ
てきたが、a−Cを用いることにより感光体の化学的安
定性、耐湿性は大幅に向上するが、画像特性に結びつく
残留1位が高くなるため、表面層を厚くつけることがで
きなかった。
表面保護層の材料として非常に有効であることが知られ
てきたが、a−Cを用いることにより感光体の化学的安
定性、耐湿性は大幅に向上するが、画像特性に結びつく
残留1位が高くなるため、表面層を厚くつけることがで
きなかった。
本発明の目的は、前述の欠点を除去して、長期保存およ
び繰り返し使用に際して特性劣化現象を起こさず、高湿
雰囲気中においても出力画像不良などの特性の劣化がほ
とんどみられず、さらに現像、クリーニングなどの出力
画像形成プロセスにより感光体表面が暦耗や損傷を受け
にくい、耐湿性、耐刷性に優れた感光体を提供すること
にある。
び繰り返し使用に際して特性劣化現象を起こさず、高湿
雰囲気中においても出力画像不良などの特性の劣化がほ
とんどみられず、さらに現像、クリーニングなどの出力
画像形成プロセスにより感光体表面が暦耗や損傷を受け
にくい、耐湿性、耐刷性に優れた感光体を提供すること
にある。
さらに表面層の厚付けによる残留電位の増加を防ぐこと
にある。
にある。
上記目的を達成するために、本発明によれば、導電性基
体上にアモルファスシリコン系材料からなる光導電層を
有し、その光導電層がバッファ層を介してアモルファス
炭素(a−C)からなる表面層により1mされてなる感
光体において、表面層を微量の砒素を含む炭素とする。
体上にアモルファスシリコン系材料からなる光導電層を
有し、その光導電層がバッファ層を介してアモルファス
炭素(a−C)からなる表面層により1mされてなる感
光体において、表面層を微量の砒素を含む炭素とする。
このような構成の感光体では、帯電された電荷は自由表
面ではなく、第1の層(高抵抗層)と第2の層(低抵抗
層)の界面に蓄積される。このため、残留電位は第1の
層で定まり、第2の層を厚くしても影響は出ない。すな
わち、第2の層の厚付けによる耐刷性のアップが可能と
なるのである。
面ではなく、第1の層(高抵抗層)と第2の層(低抵抗
層)の界面に蓄積される。このため、残留電位は第1の
層で定まり、第2の層を厚くしても影響は出ない。すな
わち、第2の層の厚付けによる耐刷性のアップが可能と
なるのである。
また、第2の層の抵抗を下げるための手段として、本研
究者達が鋭意研究を重ねた結果、不純物の添加が有効で
あることを見い出した。
究者達が鋭意研究を重ねた結果、不純物の添加が有効で
あることを見い出した。
弗素添加は光学的エネルギーギャップを広げる効果があ
る。逆にエネルギーギャップを一定(表面層としての窓
効果を考えるとa−3i感光体では2.4eν以上必要
)として見ると、電気抵抗が低くなったことと同義であ
る。
る。逆にエネルギーギャップを一定(表面層としての窓
効果を考えるとa−3i感光体では2.4eν以上必要
)として見ると、電気抵抗が低くなったことと同義であ
る。
本発明ではAsを添加してアクセプター原子を増加させ
る。この効果は、概ね100〜110000ppの範囲
で顕著である。
る。この効果は、概ね100〜110000ppの範囲
で顕著である。
以下、本発明の感光体の実施例について図面を参照しな
がら詳細を説明する。
がら詳細を説明する。
第1図は本発明による感光体の一実施例の層構成を示す
模式的断面図である。
模式的断面図である。
導電性基体1は円筒状、板状、シート状いずれでも良く
、材質的にはアルミニウム、ステンレス鋼などの金属、
あるいはガラス、樹脂上に導電処理をほどこしたもので
も良い。
、材質的にはアルミニウム、ステンレス鋼などの金属、
あるいはガラス、樹脂上に導電処理をほどこしたもので
も良い。
ブロッキング層2は導電性基体1からの電荷の注入を阻
止するために設けられる。材料的には^β、08.^j
! N、 SIO,5102,水素化弗素化アモル77
.2.炭化シリコン(a−3i 1 xcx (F、
H))、 水素化アモルファス窒化シリコン(a−3
iNに(H))、 水素化アモルファス炭素(a−C
(H) )、 弗素化アモルファス炭素(a−C(F
))、周期律表■族や■族の元素などをドープしたa−
C(H)、 a−C(F)、 a−3i ()I) な
どを使用できる。膜厚は1μm以下と薄い方が良い。
止するために設けられる。材料的には^β、08.^j
! N、 SIO,5102,水素化弗素化アモル77
.2.炭化シリコン(a−3i 1 xcx (F、
H))、 水素化アモルファス窒化シリコン(a−3
iNに(H))、 水素化アモルファス炭素(a−C
(H) )、 弗素化アモルファス炭素(a−C(F
))、周期律表■族や■族の元素などをドープしたa−
C(H)、 a−C(F)、 a−3i ()I) な
どを使用できる。膜厚は1μm以下と薄い方が良い。
光導電層3は対象とする光の吸収能に侵れ、かつ光導電
率の大きい材料が好ましく 、a−9i(H)。
率の大きい材料が好ましく 、a−9i(H)。
a−Si(F、)1)、 a−3il−xf:x(H
)(0<x<OJ>、 a−3iNx(I()(0〈に
<0.2)、 a−S+0++(H)(0<x<0.
1)、 a−8il−xGex(11)などや、これ
らに周期律表■族、■族の元素などをドープした材料が
好ましい。膜厚は3μm以上60μm以下が実用上好ま
しい。
)(0<x<OJ>、 a−3iNx(I()(0〈に
<0.2)、 a−S+0++(H)(0<x<0.
1)、 a−8il−xGex(11)などや、これ
らに周期律表■族、■族の元素などをドープした材料が
好ましい。膜厚は3μm以上60μm以下が実用上好ま
しい。
バッファ層40目的はより基体側の層9例えば光導電層
3と表面層5との材料的異質性を緩和することである。
3と表面層5との材料的異質性を緩和することである。
材料的には、a−C(H)、 a−C(11,F)a−
3i1−x(、+(H)(0<x<l)、 a S
it xCx(F、ll)(0<x<1>。
3i1−x(、+(H)(0<x<l)、 a S
it xCx(F、ll)(0<x<1>。
a−3iNx(H)(0<x<4/3)、 a−3i
Ox(H)(0<X<2)、 a−3iOx(F、
H) (0<X<2)などを使用できる。バッファ層4
の膜厚は、分光感度、残留電位、隣接する層との電気的
整合性などの兼ね合いで決まるが、1μm以下が望まし
い。
Ox(H)(0<X<2)、 a−3iOx(F、
H) (0<X<2)などを使用できる。バッファ層4
の膜厚は、分光感度、残留電位、隣接する層との電気的
整合性などの兼ね合いで決まるが、1μm以下が望まし
い。
表面層5は水素を含むアモルファス炭素(a−C(H)
)からなる層であって、基本的にX線あるいは電子線に
よる回折像が明確でない膜であり、たとえ一部に結晶部
を含んだとしてもその比率は低いものである。a−C(
H)表面層中に含有される水素は炭素の未結合手に結合
してその安定化に寄与する。
)からなる層であって、基本的にX線あるいは電子線に
よる回折像が明確でない膜であり、たとえ一部に結晶部
を含んだとしてもその比率は低いものである。a−C(
H)表面層中に含有される水素は炭素の未結合手に結合
してその安定化に寄与する。
表面層5はCとHを含む炭化水素ガスを、例えばグロー
放電分解法により分解してa−C(H)膜を成膜し形成
するが、そのときの成膜条件により得られるa−C(I
t)膜の特性が異なってくる。一般に、同一原料では原
料ガスの流量を多くすると、また、ガス圧を高くすると
Eg、電気抵抗が高く、硬度が小さくなる。
放電分解法により分解してa−C(H)膜を成膜し形成
するが、そのときの成膜条件により得られるa−C(I
t)膜の特性が異なってくる。一般に、同一原料では原
料ガスの流量を多くすると、また、ガス圧を高くすると
Eg、電気抵抗が高く、硬度が小さくなる。
本発明者等の知見によれば、a−C(H)からなる層中
に含をされる水素原子と炭素原子との結合形寝は炭素原
子同士の結合状態を反映しており、形成されたa−C(
)I)層が電子写真感光体の表面層として適用され得る
か否かを左右する大きな要因の一つであって重要である
ことが判明している。炭素原子同士の結合状、顎として
はダイヤモンド結合(四配位)、グラファイト結合(三
配位)などがある。
に含をされる水素原子と炭素原子との結合形寝は炭素原
子同士の結合状態を反映しており、形成されたa−C(
)I)層が電子写真感光体の表面層として適用され得る
か否かを左右する大きな要因の一つであって重要である
ことが判明している。炭素原子同士の結合状、顎として
はダイヤモンド結合(四配位)、グラファイト結合(三
配位)などがある。
グラファイト結合や炭素と水素とからなるポリマー状結
合(−CH2−)h を主体とするa−C(II)膜は
耐薬品性に劣り、また機械的強度にも劣ることが知られ
ており、他方、ダイヤモンド結合を主体とするa−C(
H)膜は耐薬品性および機械的強度に著しく優れている
ことが知られている。
合(−CH2−)h を主体とするa−C(II)膜は
耐薬品性に劣り、また機械的強度にも劣ることが知られ
ており、他方、ダイヤモンド結合を主体とするa−C(
H)膜は耐薬品性および機械的強度に著しく優れている
ことが知られている。
本発明者等はこの点に鑑みa−C(H)膜の赤外吸収ス
ペクトルとその耐薬品性および機械的強度について鋭意
検討を重ねてきたが、その結果によれば、形成されるa
−C(H)表面層が電子写真感光体の表面保護層として
十分機能し得るためには、a−C(H)表面層の赤外吸
収スペクトルの2920cm−’における吸収係数α1
と2960cs ’における吸収係数α2との比α2/
偏の値が0.8以上とされg匁好適である。
ペクトルとその耐薬品性および機械的強度について鋭意
検討を重ねてきたが、その結果によれば、形成されるa
−C(H)表面層が電子写真感光体の表面保護層として
十分機能し得るためには、a−C(H)表面層の赤外吸
収スペクトルの2920cm−’における吸収係数α1
と2960cs ’における吸収係数α2との比α2/
偏の値が0.8以上とされg匁好適である。
炭素未結合手の安定化の手段としては、水素のみでなく
、弗素、酸素、窒素によっても可能である。
、弗素、酸素、窒素によっても可能である。
第1図に示す構造を有する感光体の製造には、例えば第
2図に一例を示すようなアモルファスlI弾の生成装置
が用いられ、真空槽11の内郭に基体1の保持部12と
それに対向する電極13が配置され、保持部12.電極
13にはそれぞれヒータ14.15が備えられている。
2図に一例を示すようなアモルファスlI弾の生成装置
が用いられ、真空槽11の内郭に基体1の保持部12と
それに対向する電極13が配置され、保持部12.電極
13にはそれぞれヒータ14.15が備えられている。
トリクロルエチレンで脱脂洗浄したアルミニウム合金の
円筒基体1を保持部12に固定し、真空槽ll内の圧力
を1O−6Torrになるように排気ポンプ16により
排気バルブ17を介して排気する。基体1および電極1
3の温度を所定温度になるようにヒータ14およびヒー
タ15により加熱する。
円筒基体1を保持部12に固定し、真空槽ll内の圧力
を1O−6Torrになるように排気ポンプ16により
排気バルブ17を介して排気する。基体1および電極1
3の温度を所定温度になるようにヒータ14およびヒー
タ15により加熱する。
保持部12と基体1とは周方向の膜均一性を得るために
回転する。次に原料ガスの圧力容器21〜25の中から
成膜に必要なガスの圧力容器1例えば21のバルブ18
を開け、流量調節計19を通し、ストップバルブ20を
開けて、真空槽11の中にガスを供給する。他のガスに
ついても必要に応じて同様にして供給する。次に、槽内
圧力を所定の圧力8例えば0.001〜5Torrの範
囲内の所定方圧に調整後、高周波(RF)電源31から
高周波(13,56M lセ)電力を絶縁材32を通し
て電極13に供給し、基体lとの間にグロー放電を発生
させて成膜を行う。
回転する。次に原料ガスの圧力容器21〜25の中から
成膜に必要なガスの圧力容器1例えば21のバルブ18
を開け、流量調節計19を通し、ストップバルブ20を
開けて、真空槽11の中にガスを供給する。他のガスに
ついても必要に応じて同様にして供給する。次に、槽内
圧力を所定の圧力8例えば0.001〜5Torrの範
囲内の所定方圧に調整後、高周波(RF)電源31から
高周波(13,56M lセ)電力を絶縁材32を通し
て電極13に供給し、基体lとの間にグロー放電を発生
させて成膜を行う。
以下具体的な実施例について説明する。
実施例1
トリクロルエチレンで脱脂洗浄したアルミニウム合金円
筒基体220を第2図の製造装置の真空槽11内の保持
B12に装着し、次の条件で厚さ0.2μmのブロッキ
ング層2をtCした。
筒基体220を第2図の製造装置の真空槽11内の保持
B12に装着し、次の条件で厚さ0.2μmのブロッキ
ング層2をtCした。
SiH,<1oo%)流量 250cc
/分a2h、 (5θQQppm、t(2ベース)流1
2(Ice/分ガス圧 0.
5TorrRF電力 50W基体
温度 成膜時間 さらにこの上に、 25μmに形成した。
/分a2h、 (5θQQppm、t(2ベース)流1
2(Ice/分ガス圧 0.
5TorrRF電力 50W基体
温度 成膜時間 さらにこの上に、 25μmに形成した。
5iH4(100%)流量
BJg (20ppm、 H2ベース)流量ガス圧
RF電力
基体温度
成膜時間
さらにこの上に、次の条件でバラ
さ0.1μmに形成した。
5iH4(100%)流量
(:H4(101)%)流量
82H6(2000ppm、 Lベース)流量ガス圧
RF電力
基体温度
成膜時間
さらにこの上に、
200℃
10分
次の条件で光導電層3を厚さ
100cc 7分
80cc 7分
15cc 7分
1.0Torr
00W
200℃
2分
次の条件でバッファ層側の層
200cc 7分
10cc 7分
1.2Torr
00W
200℃
3時間
ファ層4を厚
5a(0、lμITl厚)、引き続いて自由表面側の層
5b(2μml@)を形成し、表面層5とした。
5b(2μml@)を形成し、表面層5とした。
c、++a(100%) 7Xlk 20cc/分
10cc /分Ash3流量
1cc 7分(10000ppm lieベ
ース) ガス圧 0゜05Torr 0.0
1TorrRF電力 200W
300W基体温度 100℃ 1
00℃成膜時間 5分 30分以
上のようにして作製した感光体の光導電層3のエネルギ
ーギャップ(Eg>は1.8eV、 バッファ層4の
組成はa−5lo、 7co、 3(H)でそのEgは
2,1eVである。また、表面層5のうち、バッファ層
側の層5aはE g 2,4eV、 硬度400 k
g / ll1m2. 比抵抗101Ω印、自由表面
側の層5bはEg2.4eV。
10cc /分Ash3流量
1cc 7分(10000ppm lieベ
ース) ガス圧 0゜05Torr 0.0
1TorrRF電力 200W
300W基体温度 100℃ 1
00℃成膜時間 5分 30分以
上のようにして作製した感光体の光導電層3のエネルギ
ーギャップ(Eg>は1.8eV、 バッファ層4の
組成はa−5lo、 7co、 3(H)でそのEgは
2,1eVである。また、表面層5のうち、バッファ層
側の層5aはE g 2,4eV、 硬度400 k
g / ll1m2. 比抵抗101Ω印、自由表面
側の層5bはEg2.4eV。
硬度800kg/胴2.比抵抗5X10′3Ωcmであ
った。
った。
なお、硬度は@島原製作所製超微小硬度計DUH−50
を用いて荷重0.05 gで測定した値である。
を用いて荷重0.05 gで測定した値である。
この実施例の感光体を、カールソン方式の普通紙複写機
に装着し、5万枚のコピーを実施したが、感光体の特性
劣化は認められず、極めて鮮明な画像が得られた。また
、温度35℃、相対湿度85%の雰囲気中での複写にお
いても画像劣化はなかった。
に装着し、5万枚のコピーを実施したが、感光体の特性
劣化は認められず、極めて鮮明な画像が得られた。また
、温度35℃、相対湿度85%の雰囲気中での複写にお
いても画像劣化はなかった。
このときの残留電位は30Vであった。
比較例
バッファ層4までは実施例1と同一条件で作成し、バッ
ファ層側の層5aのみを5μm表面層として設けた試料
は、光感度をほとんどもたず、まっ黒な画像を程した。
ファ層側の層5aのみを5μm表面層として設けた試料
は、光感度をほとんどもたず、まっ黒な画像を程した。
これは残留電位が高すぎるためである。
実施例2
表面層50条件を下の如(変えた以外は実施例1と同条
件で試料を作成した。
件で試料を作成した。
C3H,(100%)流ffi 20CC/分
10cc /分^SH3流It
5cc/分(1000ppm Heベース) ガス圧 0.07Torr 0.0
5TorrRF電力 150 W
200 W基体温度 100℃
100℃成膜時間 5分 60
分また、表面層5のうち、バッファ層側の層5aはEg
2.3eV、 硬度7QQ kg / mm’、
比抵抗5X10”Ωcm、自由表面側の層5bはEg2
.5eV、 硬度1000kg / 闘、 比抵抗
1x1012Ωcmであった。膜中B濃度は200pp
mである。なお、硬度は■島原製作所製超微小硬度計D
U H−50を用いて荷重0.05gで測定した値で
ある。
10cc /分^SH3流It
5cc/分(1000ppm Heベース) ガス圧 0.07Torr 0.0
5TorrRF電力 150 W
200 W基体温度 100℃
100℃成膜時間 5分 60
分また、表面層5のうち、バッファ層側の層5aはEg
2.3eV、 硬度7QQ kg / mm’、
比抵抗5X10”Ωcm、自由表面側の層5bはEg2
.5eV、 硬度1000kg / 闘、 比抵抗
1x1012Ωcmであった。膜中B濃度は200pp
mである。なお、硬度は■島原製作所製超微小硬度計D
U H−50を用いて荷重0.05gで測定した値で
ある。
この実施例の感光体を、カールソン方式の普通紙複写機
に装着し、5万枚のコピーを実施したが、感光体の特性
劣化1表面の磨耗などは認められず、極めて鮮明な画像
が得られた。また、温度35℃。
に装着し、5万枚のコピーを実施したが、感光体の特性
劣化1表面の磨耗などは認められず、極めて鮮明な画像
が得られた。また、温度35℃。
85%RHで良好な画像であった。
ASH3流量変化により、ASa度依存性を調べたとこ
ろ、1ooppm以下では電気抵抗を逆に大きくしてし
まい残留電位が上昇していた。また110000pp以
上では、グラファイト状の構造が主になるためと考えら
れるエネルギーギャップの低下が見られ窓効果を果たさ
ない。
ろ、1ooppm以下では電気抵抗を逆に大きくしてし
まい残留電位が上昇していた。また110000pp以
上では、グラファイト状の構造が主になるためと考えら
れるエネルギーギャップの低下が見られ窓効果を果たさ
ない。
・本発明によれば、導電性基体上にa−3i系材料から
なる光導電層を有し、その光導電層がバッファ層を介し
てa−C(H)からなる表面層により被覆されてなる感
光体において、表面層のバッファ層に接する側の電気抵
抗を大きくし、自由表面側の電気抵抗をそれよりも小さ
くする。
なる光導電層を有し、その光導電層がバッファ層を介し
てa−C(H)からなる表面層により被覆されてなる感
光体において、表面層のバッファ層に接する側の電気抵
抗を大きくし、自由表面側の電気抵抗をそれよりも小さ
くする。
表面層をこのような層構成とすることにより、表面層の
バッファ層側が通常自由表面側の表面に蓄えられる帯電
電荷の保持の役目を果たすことになり、表面層の自由表
面、すなわち感光体の表面の厚付けを可能にしその耐刷
性を飛躍的に向上させる。かくして、現像、クリーニン
グなどの出力画像形成プロセスにより感光体表面が磨耗
しにくく、耐刷性、耐湿性に優れ、長期保存および繰り
返し使用に際して特性劣化現象を起こさず、高湿雰囲気
中においても出力画(象不良がほとんど発生しない電子
写真感光体が得られることになる。
バッファ層側が通常自由表面側の表面に蓄えられる帯電
電荷の保持の役目を果たすことになり、表面層の自由表
面、すなわち感光体の表面の厚付けを可能にしその耐刷
性を飛躍的に向上させる。かくして、現像、クリーニン
グなどの出力画像形成プロセスにより感光体表面が磨耗
しにくく、耐刷性、耐湿性に優れ、長期保存および繰り
返し使用に際して特性劣化現象を起こさず、高湿雰囲気
中においても出力画(象不良がほとんど発生しない電子
写真感光体が得られることになる。
第1図は本発明の感光体の層構成を示す模式的断面図、
第2図は本発明の感光体を製造可能な装置の一例の概念
的系統図である。 ■ 導電性基体、2 ブロッキング層、3 光導電層、
4 バッファ層、5 表面層、5a バッファ層側の層
、5b 自由表面側の召。 第1図 第2図
第2図は本発明の感光体を製造可能な装置の一例の概念
的系統図である。 ■ 導電性基体、2 ブロッキング層、3 光導電層、
4 バッファ層、5 表面層、5a バッファ層側の層
、5b 自由表面側の召。 第1図 第2図
Claims (1)
- 1)導電性基体上にアモルファスシリコン系材料からな
る光導電層を有し、該光導電層がバッファ層を介して炭
素を主体としたアモルファス物質よりなる表面層で被覆
されている電子写真感光体において、該表面層がバッフ
ァ層に接した第1の層と、第1の層より電気抵抗が低く
自由表面側にある第2の層の2層構造であり、該第2層
は砒素原子を100ないし10000ppm含有する水
素化アモルファス炭素からなることを特徴とする電子写
真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26376088A JPH02110469A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26376088A JPH02110469A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02110469A true JPH02110469A (ja) | 1990-04-23 |
Family
ID=17393900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26376088A Pending JPH02110469A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02110469A (ja) |
-
1988
- 1988-10-19 JP JP26376088A patent/JPH02110469A/ja active Pending
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