JPH02110309A - 超音波厚さ計を用いた測定方法およびその測定装置 - Google Patents

超音波厚さ計を用いた測定方法およびその測定装置

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JPH02110309A
JPH02110309A JP26361588A JP26361588A JPH02110309A JP H02110309 A JPH02110309 A JP H02110309A JP 26361588 A JP26361588 A JP 26361588A JP 26361588 A JP26361588 A JP 26361588A JP H02110309 A JPH02110309 A JP H02110309A
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measurement
ultrasonic thickness
thickness gauge
workpiece
probe
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JP26361588A
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Akihiko Yuasa
明彦 湯浅
Masayori Itou
伊東 正頼
Masaaki Mitsuzono
正昭 満園
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Shibaura Machine Co Ltd
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Toshiba Machine Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • G01B17/02Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は超音波厚さ計を用いて工作物の厚さを測定する
方法およびその測定装置に係わり、とりわけ機上の工作
物の厚さを自動計測で精度よく測定する方法およびその
測定装置に関する。
(従来技術) 航空機用部品等の工作物の厚さ測定に超音波を用いた厚
さ計が近年多く使われてきているが、その測定は手作業
によっている。その大きな理由は被測定物の表面はミク
ロ的にみると凹凸があり、超音波厚さ計の探触子と被測
定物表面とが完全に接触せず超音波の伝播が不完全にな
り、この状態で測定を行なうと測定値にばらつきが生じ
る。そこで被測定物表面の測定箇所を手作業で水あるい
は油等で濡らし探触子を当てて測定値の安定化を計って
いた。
(発明が解決しようとする課題) 工作物の厚さ測定は手作業によるため、大型の工作物の
場合は測定箇所の数が多く大きな労力を要するばかりで
なく、手作業によるために工作物表面に探触子を押付け
る力が一定せず、そのため測定値にばらつきが生じ精度
よく測定することが難しかった。さらに測定結果は超音
波厚さ計の表示部の数値を読取るか、あるいは測定する
都度プリントアウトの押しボタン操作が必要であった。
本発明は上記問題点に鑑みなされたもので、その目的は
工作物の厚さを自動的にかつ高精度に測定する方法およ
びその測定装置を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 前記目的を達成するための本発明による超音波厚さ計を
用いて機上の工作物の厚さを測定する方法は、ノズルを
NC制御装置によって工作物表面の測定箇所の近傍に移
動させて該測定箇所にクーラントを噴射し、同じく超音
波探触子をNC制御装置によって工作物表面の測定箇所
に移動させると共に前記ノズルによってクーラントを噴
射した前記測定箇所に対して一定の押付は力で押圧して
厚さを測定し、超音波厚さ計の測定データを前記NC制
御装置に取込み、前記NC制御装置内で前記測定データ
を演算処理してその測定結果を出力することを特徴とし
ている。
なおNC制御装置内において工作物の設定データと超音
波厚さ計からの測定データとにより加工誤差を計算し、
前記誤差が公差以内のときと公差を越えたときとで出力
する測定結果の文字の色を異ならせることが好ましい。
さらに上記目的を達成するための本発明による超音波厚
さ計を用いて機上の工作物の厚さを測定する装置は、超
音波厚さ計を取付けた測定ヘッドと、クーラント供給装
置と、工作物表面の測定箇所に前記クーラント供給装置
からのクーラントを噴射するノズルと、前記測定ヘッド
およびノズルを測定箇所を示す位置データに基づいて移
動させると共に超音波厚さ計の測定データを取込み演算
処理するNC制御装置と、前記NC制御装置による演算
結果を出力する出力部とを有することを特徴としている
なお、超音波厚さ計を取付けた測定ヘッド、はヘッド本
体と、ヘッド本体先端に設けられたケースと、前記ケー
スに係合離脱可能に配設され先端部に超音波厚さ計の探
触子を取付けた収納ケースと、同収納ケースの元端に取
付けられ端面に円錐状凹穴が穿設されたキャップと、両
端が円錐状に形成され一端を前記キャップの円錐状凹穴
に係合するピボット軸と、一端前記ビボット軸の他端に
係合する円錐状凹穴が穿設され軸方向に移動可能に前記
ヘッド本体に支持された軸と、前記軸の位置を検知する
位置検出器とからなるものであることが好ましい。
(作用) NC制御装置より測定モードの指令が発せられると、工
作物表面の測定箇所の座標値、理論厚さ、公差等の諸デ
ータをNCテープより読取り、測定ヘッドおよびノズル
を最初の測定箇所に移動させ、ノズルからクーラントを
測定箇所に向けて噴射する。
次いで測定ヘッド下端に取付けられた超音波厚さ計の探
触子を前記の測定箇所面に当接させ、この状態で超音波
厚さ計で厚さを測定し、その測定データをNC制御装置
に取込み、その測定データを基にしてNC制御装置内で
演算処理して、その結果を出力する。なお、測定ヘッド
を前記のように構成しておけば、測定ヘッドを測定箇所
に当接させると、探触子を取付けている収納ケースとヘ
ッド本体に取付けられているケースとの係合部が離れ、
収納ケースの元端に取ト[けられているキャップと軸と
の間には、ピボット軸が介在されているため、工作物の
被測定面が傾斜していると、探触子は最初に当接した点
を支点にして傾き、被測定面に平行に接触し、確実な測
定を可能にする。
(実施例) 以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
まず、測定装置について第1図ないし第3図を基に説明
する。
第2図は本発明を適用したグラノミラーの外形図で、床
に設置されたベツド101にはテーブル102が紙面に
対して垂直方向に摺動可能に搭載され、テーブル102
上には図示されていない工作物が取付は治具を介して取
付けられる。ベース103はベツド101の左右に固着
され、上面にはそれぞれコラム104が立設されている
。クロスレール105は左右のコラム104の滑り面1
04aにガイドされ図示省略したボールねじにより、上
下に移動可能に取付けられ、クロスレール105の滑り
面105a上には左右に移動可能なサドル106が取付
けられている。
サドル106には工作物を加工する加工ヘッド107お
よび測定ヘッド1が取付けられており、加工ヘッド10
7の主軸107aは垂直軸回りおよび水平軸回りに揺動
可能に取付けられている。
また測定ヘッド1は図示省略した油圧シリンダあるいは
ボールねじ等により、測定時には下降限位置に、非測定
時には上昇限位置をとるよう上下動可能に設けられ、加
工中は測定ヘッド1が、また測定中は加工ヘッド107
が互いに邪魔にならないような位置に置かれるようにな
っている。
次に測定ヘッド1の構成について第1図を参照して説明
する。
ヘッド本体2の下端にはケース3が取付けられ、このケ
ース3の下部には超音波厚さ計の探触子5を収納した収
納ケース4が設けられている。探触子5から引出された
電線は、ヘッド本体2に取付けられた超音波厚さ計21
に接続されている。収納ケース4は非測定時には該収納
ケース4の円錐面4aとケース3の円錐面3aとが当接
することによりケース3に保持されている。収納ケース
4の上部には上端側に円錐状四穴6aを設けたキャップ
6が固定されている0円錐状凹穴6aにはピボット軸7
の下端が当接し、このピボット軸7の上端には軸8の下
端が当接している。軸8はヘッド本体2に2か所の軸受
9,10を介して上下方向に摺動可能に支持され、下端
面に円錐状凹穴8aを有し、前記ピボット軸7の上端と
係合している。軸8の中間部には段部8bが設けられ、
その段部8bとヘッド本体2との間にはスプリング17
が挿入されている。このスプリング17は探触子5の先
端を被測定箇所に当接させて厚さを計るときに、探触子
5を所定の押付は力で押圧するためのものであり、従っ
て軸8、ピボット軸7、収納ケース4の重量が重くそれ
自体の自重による抑圧で所定の押付は力が得られる場合
には、スプリング17は不要となるか、または軸8に対
して上向きの力が作用するように設ける。
軸8の上端付近にはドッグ11が取付けられ、ヘッド本
体21PIに取付けられた近接スイッチ12.13とで
、軸8とヘッド本体2との相対位置を検知している。
ヘッド本体2には図示されていないクーラント供給源か
らクーラントがパイプ15を介して測定箇所に向けて噴
射するよう探触子5の近傍にノズル16が設けられてい
る。
第3図はNC制御装置22の構成を示すブロック図で、
機械本体制御部22aと、測定データの計算を行なう演
算部22bおよび工作物の設定データを記憶しておく記
憶部22cとからなっている。Il械本体制御部22a
は機械および測定ヘッドの動作を制御し、記憶部22c
はNCテープからの工作物の設定データを読取り記憶し
ておく、また演算部22bでは記憶部22cに記憶され
ている設定データと、超音波厚さ計21からの測定デー
タとで誤差を計算し、その結果をプリンタ23に出力す
る。
次に第4図ないし第6図により本装置の動作と共に測定
方法について説明する。第4図は測定の概略のフローを
示すフローチャートで、5TEPIでNC制御装置22
から測定の指令が出されると、5TEP2で測定ヘッド
1が下降して下降限位置で停止し、5TEP3に移る。
5TEP3ではNCテープの設定データ、例えば工作物
の測定位置の座標値、理論厚さ、公差等を読取り、5T
EP4でNC制御装置22の記憶部22Cに記憶する。
この場合測定箇所が少ないときはMDIから設定データ
を入力してもよいことはいうまでもない。
すべてのデータが記憶されると、5TEP5で第5図5
TEP11の測定サイクルに移り測定を行なう。
第5図は測定サイクルのフローチャートであり、測定サ
イクルが開始されると、5TEP12でNC制御装置内
のメモリに記憶されている設定データを呼び出し、5T
EP13で5TEP12のデータに基づいてテーブル1
02およびサドル106を移動させることにより、X軸
、Y軸の位置決めを行なう0次の5TEP14ではZ軸
に指令を与えクロスレール105が下降をはじめ、5T
EP15でノズル16からクーラントが噴射され、測定
箇所が濡らされる。5TEP16では近接スイッチ12
(第1図)の信号の有無を判別して、信号が発せられる
までクロスレール105を下降させ、近接スイッチ12
の信号がONになると、クロスレール105の下降が停
止し、5TEP17でクロスレール105すなわちZ軸
の位置を記憶し、5TEP18でクーラントをOFFす
る。
測定ヘッド1が測定可能位置よりNC制御装置22の措
置によりクロスレール105が下降をはじめ、測定ヘッ
ド1先端の探触子105が工作物の被測定面に当接し、
さらに下降すると、探触子105はそのままでヘッド本
体の2の先端に取付けられているケース3が下降しケー
ス3の円錐面3aと収納ケース4の円錐面4aとの係合
が離れはじめる。さらに下降が続くと、探触子5、収納
ケース4、キャップ6、ピボット軸7を介して軸8はそ
のままの状態を保つが、ヘッド本体2は下降しているの
で、軸8とヘッド本体2に対して上方へ移動し、軸8上
端近くのドッグ11によりヘッド本体2に取付けられて
いる近接スイッチ12が作動してZ軸すなわちクロスレ
ール105の下降を停止させる。このヘッド本体2に対
する軸8の上昇量は何時も一定であるために、探触子5
の押付は力は何時も一定となる。
また工作物の被測定面が傾斜している場合でも、クロス
レール105が下降をはじめて探触子5の先端のある一
点が被測定面に当接し、さらにクロスレール105が下
降をすると、探触子5は最初に当接した点を支点にして
、収納ケース4の円錐面4aとケース3の円錐面3aと
が片側に隙間を生じ、かつ収納ケース4と軸8との間に
ピボット軸7を介在しているため、クロスレール105
の下降に伴って被測定面の斜面に接するように傾くこと
により探触子5が被測定面に確実に接触する。すなわち
ピボット軸7と軸8の接触点およびピボット軸7とキャ
ップ6との接触点でピボット軸7は傾き、探触子5先端
の直径と探触子5先端からキャップ6とピボット軸7と
の接触点までの距離およびピボット軸の長さにより決ま
る許容傾き角以内であれば、探触子5には傾きによる被
測定面と平行な分力は発生せず、押付力は常に被測定面
に対し垂直方向にのみ作用し、被測定面に対し横ずれを
生じることなく探触子5の押付力は常に一定となる。
これを第6図により説明すると、探触子5の先端部の点
Pが水平に対して角度θ傾いた被測定面に当接し、さら
にクロスレール105が下降すると、探触子5は点Pを
支点に傾き、キャップ6とピボット軸7との接触点Bは
B゛の方向に揺動する。またピボット軸7と軸8との接
触点AはAoの方向に移動し、ピボット軸は傾く、探触
子5の先端面が被測定面に密着したとき、接触点BはB
oに、接触点^はAoの位置になり、ピボット軸7はθ
゛傾く。
この傾き角θ°の延長線と被測定面との交点Cの位置が
探触子5の先端の直径りの内側にあれば押付は力により
生じる転倒モーメントによっては、探触子5を取付けた
収納ケース4は倒れない。
このように傾斜面の測定においても探触子5は斜面と確
実に接触する。
その状態で所定時間経過f&5TEP19でNC制御装
置22は超音波厚さ計21からの測定データを読取り記
憶する。5TEP20でクロスレール105は上昇し測
定前の位置に戻る。
5TEP21では理論値の設定データが有るか否かを判
別し、ない場合は5TEP26へ移る。設定データがあ
る場合は5TEP22へ移り、理論厚さと測定データと
により誤差量を演算し記憶する0次いで5TEP23へ
移り、公差の設定データの有無を判別し、無い場合は5
TEP26へ移る。公差の設定データがある場合は5T
EP24で公差と誤差とを比較し、誤差が公差と等しい
かあるいは小さい場合には誤差信号をOFFとし、誤差
が公差より大きい場合は誤差信号をONとして、5TE
P26で誤差信号の有無を記憶する。
5TEP27では設定データのプリントをするかしない
かの判別を行ない、しない場合は5TEP31へ移り、
プリントの指示があるときは5TEP28へ移り、5T
EP26に記憶された誤差信号の有無を判別し、ない場
合は印字の色を黒とし、ある場合は赤とする。 5TE
P30で5TEP29の色に応じてプリントアウトの指
示がされ、プリンタ23により理論厚さ、測定値、測定
誤差等がプリントアウトされる。 5TEP31では設
定した全測定点が測定されたか否かを判別し、もし末だ
測定されていない箇所があれば5TEP13へ戻り、今
までの動作を繰返す、5TEP31ですべての測定が完
了すると5TEP32へ移り終了となり、第4図の5T
EP6へ移り、測定ヘッドは上昇して測定モードは終了
する。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば大型の工作物の厚
さ測定を自動的に測定することがかでき、さらに探触子
の押付は力も一定であるので精度よく測定ができる。そ
のうえ傾斜面の測定であっても精度よ(確実に測定でき
る大きな利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の測定ヘッドの断面図、第2図は本発明
を適用したプラノミラーの外形図、第3図はNC制御装
置の構成を示すブロック図、第4図は測定の概略手順を
示すフローチャート、第5図は測定サイクルの手順を示
すフローチャート、第6図は被測定面が傾斜面の場合の
説明図である。 1・・・測定ヘッド、2・・・ヘッド本体。 3・・・ケース、   4・・・収納ケース。 5・・・探触子、   6・・・キャップ。 7・・・ピボット軸、8・・・軸。 11・・・ドッグ。 12.13・・・近接スイッチ 16・・・ノズル、  17・・・スゲリング。 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、超音波厚さ計を用いて機上の工作物の厚さを測定す
    る方法において; ノズルをNC制御装置によって工作物表面の測定箇所の
    近傍に移動させて該測定箇所にクーラントを噴射し、同
    じく超音波探触子をNC制御装置によって工作物表面の
    測定箇所に移動させると共に前記ノズルによってクーラ
    ントを噴射した前記測定箇所に対して一定の押付け力で
    押圧して厚さを測定し、超音波厚さ計の測定データを前
    記NC制御装置に取込み、前記NC制御装置内で前記測
    定データを演算処理してその測定結果を出力することを
    特徴とする超音波厚さ計を用いた測定方法。 2、NC制御装置内において工作物の設定データと超音
    波厚さ計からの測定データとにより加工誤差を計算し、
    前記誤差が公差以内のときと公差を越えたときとで出力
    する測定結果の文字の色を異ならせるようにしたことを
    特徴とする請求項1記載の超音波厚さ計を用いた測定方
    法。 3、超音波厚さ計を用いて機上の工作物の厚さを測定す
    る装置において; 超音波厚さ計を取付けた測定ヘッドと、クーラント供給
    装置と、工作物表面の測定箇所に前記クーラント供給装
    置からのクーラントを噴射するノズルと、前記測定ヘッ
    ドおよびノズルを測定箇所を示す位置データに基づいて
    移動させると共に超音波厚さ計の測定データを取込み演
    算処理するNC制御装置と、前記NC制御装置による演
    算結果を出力する出力部とを有することを特徴とする超
    音波厚さ計を用いた測定装置。 4、超音波厚さ計を取付けた測定ヘッドは、ヘッド本体
    と、ヘッド本体先端に設けられたケースと、前記ケース
    に係合離脱可能に配設され先端部に超音波厚さ計の探触
    子を取付けた収納ケースと、同収納ケースの元端に取付
    けられ端面に円錐状凹穴が穿設されたキャップと、両端
    が円錐状に形成され一端を前記キャップの円錐状凹穴に
    係合するピボット軸と、一端前記ピボット軸の他端に係
    合する円錐状凹穴が穿設され軸方向に移動可能に前記ヘ
    ッド本体に支持された軸と、前記軸の位置を検知する位
    置検出器とを有することを特徴とする請求項3記載の超
    音波厚さ計を用いた測定装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4019865A1 (de) * 1990-06-22 1992-01-09 Wieland Werke Ag Messeinrichtung zur messung der wanddicke bzw. der ungleichwandigkeit an laufenden rohren und rohrziehvorrichtung mit mindestens einer solchen messeinrichtung
US6242996B1 (en) 1998-10-27 2001-06-05 Tdk Corporation Surface mount self-induction component
ITTV20080109A1 (it) * 2008-08-19 2010-02-20 Breton Spa Metodo e dispositivo per la misurazione ed il controllo dello spessore di strutture
JP2010171054A (ja) * 2009-01-20 2010-08-05 Murata Mfg Co Ltd 巻線型電子部品
CN102902232A (zh) * 2012-10-18 2013-01-30 南京航空航天大学 数控加工工件厚度测量方法及装置
JP2015205392A (ja) * 2014-04-22 2015-11-19 コリア インスティチュート オブ ジオサイエンス アンド ミネラル リソースズ 自動薄片研磨装置
WO2016056499A1 (ja) * 2014-10-07 2016-04-14 三菱重工業株式会社 超音波板厚計測装置、これを備えた工作機械、および超音波板厚計測方法
CN109612413A (zh) * 2018-11-27 2019-04-12 郑州金润高科电子有限公司 一种磁爬腐蚀测厚方法和装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63209B2 (ja) * 1978-08-21 1988-01-06 Fuiruma Heningu Yotsuto Kuraasen

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63209B2 (ja) * 1978-08-21 1988-01-06 Fuiruma Heningu Yotsuto Kuraasen

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4019865A1 (de) * 1990-06-22 1992-01-09 Wieland Werke Ag Messeinrichtung zur messung der wanddicke bzw. der ungleichwandigkeit an laufenden rohren und rohrziehvorrichtung mit mindestens einer solchen messeinrichtung
US6242996B1 (en) 1998-10-27 2001-06-05 Tdk Corporation Surface mount self-induction component
ITTV20080109A1 (it) * 2008-08-19 2010-02-20 Breton Spa Metodo e dispositivo per la misurazione ed il controllo dello spessore di strutture
WO2010020940A1 (en) * 2008-08-19 2010-02-25 Breton Spa Method and device for measuring and verifying the thickness of structures
JP2010171054A (ja) * 2009-01-20 2010-08-05 Murata Mfg Co Ltd 巻線型電子部品
CN102902232A (zh) * 2012-10-18 2013-01-30 南京航空航天大学 数控加工工件厚度测量方法及装置
JP2015205392A (ja) * 2014-04-22 2015-11-19 コリア インスティチュート オブ ジオサイエンス アンド ミネラル リソースズ 自動薄片研磨装置
US9393664B2 (en) 2014-04-22 2016-07-19 Korea Institute Of Geoscience And Mineral Resources Automatic sheet grinding apparatus
WO2016056499A1 (ja) * 2014-10-07 2016-04-14 三菱重工業株式会社 超音波板厚計測装置、これを備えた工作機械、および超音波板厚計測方法
CN109612413A (zh) * 2018-11-27 2019-04-12 郑州金润高科电子有限公司 一种磁爬腐蚀测厚方法和装置

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