JPH02110307A - 物品を測定するための方法 - Google Patents

物品を測定するための方法

Info

Publication number
JPH02110307A
JPH02110307A JP1003874A JP387489A JPH02110307A JP H02110307 A JPH02110307 A JP H02110307A JP 1003874 A JP1003874 A JP 1003874A JP 387489 A JP387489 A JP 387489A JP H02110307 A JPH02110307 A JP H02110307A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
article
pixel
identified
imaging device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1003874A
Other languages
English (en)
Inventor
Leonard Norton-Wayne
レオナルド ノートン―ウェイン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LESTER POLYTECHNIC
Original Assignee
LESTER POLYTECHNIC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LESTER POLYTECHNIC filed Critical LESTER POLYTECHNIC
Publication of JPH02110307A publication Critical patent/JPH02110307A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Vehicle Body Suspensions (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は物品の測定に関する。本発明は特に可撓性であ
り、平らに置くことができる物品、特に織物製品を測定
することに関するが、これだけに限定されるものでない
[従来技術] 当然ながら、可撓性テープ尺を使用して織物製品を測定
することは簡単なことであるが、多数の同じような製品
を測定しなければならないことはよくあり、テープ尺を
使用して手で測定することは時間がかかり、エラーの可
能性のある面倒なことである。かかる情況は、−バッチ
の衣服を洗たく処理した後にこれらを繰り返して測定す
る場合に起籾る。測定をすべ台間の点が必ずしも良好に
定められていない場合物品の長さの差異が小さい正確な
測定をすることがかかるテストには不可欠である。
かかる状況のため手動による測定よりも自動測定をする
ことが提案される。しかしながら本来的に形状が複雑な
衣服などの可撓性物品を自動的に測定するための満足で
きる方法で実用的であると立証されたものはなかった。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、時間および費用を節約して多少自動化でき、
自動的に記録できる正確な測定値を出すことができる測
定方法を提供するものである。
本発明は、(a)x−yアレイ内にピクセル像を形成す
る結像デバイスの視野内に測定のための物品を配置する
こと、 (b)配置した物品のピクセル像を前記結像デバイスに
より形成すること、 (c)前記アレイのXおよびy座標により前記ピクセル
像上の測定点を識別すること、 (d)前記Xおよびy座標に基づき、スケールおよびシ
ステムのひずみを修正した適当なピタゴラスの計算を行
うことにより前記物品上の識別した測定点の間の実際の
長さを評価することから成る物品測定方法を提供するも
のである。
当然ながら、識別された測定点の間の長さに加えて、特
定的に識別された測定点から得られた点の間で実際の長
さを評価できる。
前記結像デバイスは、ビデオカメラまたは2次元電荷結
合デバイス(cOD)から構成できる。
結像デバイスは、連続した像またはフレームを発生でき
、像捕捉すなわちフレームグララビングおよびフレーム
記憶デバイスを使用して前記連続像する像の一つを捕捉
し記憶できる。かかる像は、計算目的のためデジタル化
できる。
ピクセル像はシルエット像にで台、シルエット像のエツ
ジのコード化された描写は、結像デバイスから直接得る
ことができ、前記ピタゴラス計算を実施するようプログ
ラムされたコンピュータのランダムアクセスメモリ内に
記憶される。
測定点は、像の特徴に関連して自動的に識別できる。前
記像の特徴には、像の中心、像のエツジおよびコーナー
を含むことができる。かかる特徴は、それ自体公知のエ
ツジおよびコーナー発見法により識別できる。
測定点は、前記ピクセル像を形成する前に物品上に置い
た点光源などにより物品のマークを付けることによって
も識別でき、光源は白熱フィラメント電溶または反射体
から構成できる。
測定点は、ライトペン手段またはトラッカーボールすな
わちマウス手段などにより像上の位置を表示することに
よっても識別できる。
特に衣服のシルエット像を用いると、例えばVネックの
頂点またはリブが開始する組織変化点がこれらの方法の
うちのいずれかで識別できる。
しかしながら測定点は物理的に識別され、ピクセルアレ
イの座標のXで識別できる。
本発明に係る測定方法で使用される典型的ビジコン管ま
たはCCDは512X512のピクセル像を与える。従
って測定点はX軸に沿ってio。
ピクセルおよびy軸上の150のピクセルの点にあるも
のとして識別できる。しかしながら、アレイが正方形で
なくて、長方形すなわち一般的配列で長方形ウィンドの
幅が1で高さが3分の1の場合問題が生じる。ピクセル
間の間隔は水平方向(X方向)は垂直方向(X方向)に
比較して1.33倍長い、従って、ピクセルをカウント
してXおよびyのピクセルのカウント数からピタゴラス
計算をすることにより決定されるラインの長さは、ライ
ンの配列に依存する。ピクセルのカウント数を実際のラ
イン長さに変換するには、このひずみを考慮してピタゴ
ラス計算を修整する必要がある。
しかしながら、カメラレンズ内の収差、ビジコンセンサ
ー管内のひずみ(そのうちのたるみひずみが圧倒的であ
る)およびビューイングシステムのミスアライメント、
例えばカメラの傾き等の理由により他のひずみが生じる
。これらのひずみがあることにより、ラインの「ピクセ
ル長さ」が測定中の実際の長さが機内のライン位置に応
じて異なってしまう。
最初に述べたひずみ(XおよびX方向での等しくないピ
クセル間隔)はすべてのビジコン管またはCCDデバイ
スで共通することであるが、他の「デバイス」ひずみ(
レンズおよび管ひずみ)はデバイスごとに異なり、アラ
イメントも測定装置ごとに、さらに特に配置を調節でき
るものであわば一つの装置でも時間によっても異なる。
本発明によれば、かかるひずみはピタゴラス計算を更に
修整することにより補正できる。
−回の測定の必要な精度が高くない、例えば±0.5c
mであるような衣服の測定に応用する場合、次の式の関
数を使用すると、適当な補正が得られる。
wcos ([x′+a] xycxc/180)+by=(pX
y’)+q ここでの定数a、b、c、pおよびqは較正中に実験的
に決定される(当然ながら、pはXおよびy方向に等し
くないピクセル間隔のための補正因数である。)。
測定の間に装置を調節する場合、定数またはそのいくら
かは再決定する必要がある。
較正は結像デバイスの視野に関連したスケール(縮尺)
を参照して実施で籾、この較正は、アルゴリズムから得
られた修正ピクセル長を測定中の物品の実際のセンチメ
ートル長に変換する縮尺率をも与える。
物品は、結像デバイスの視野内にあるテーブル上に置く
ことができ、結像デバイスはテーブル頂部を見おろすこ
とができるようテーブルの上方に支持できる。実質的に
均一な照明を行うように、下方に例えばけい光管を配置
した透明表面を設けることによりテーブルを後方照明で
きる。
特に結像デバイスが比較的調節自在なものである場合、
較正のため、例えば格子として組込まあた物差しをテー
ブル頂部に設けることもできる。
外衣のような織物製品の場合、テーブル頂部は1.6メ
一トル×1メートルの面積となり得る。
512X512ピクセルの結像装置を用いると、0.3
cmの水平解像度が得られるが、この値は上記縮みテス
トに必要な測定に適す。補間法を用いると、これを改善
でき、必要であれば準ピクセルの精度を与える。
本発明は%  (a)X−、Yアレイにピクセル像形成
する結像デバイスと、 (b)前記アレイのXおよびy座標により前記ピクセル
像上の測定点を識別する点識別手段と、(c)前記Xお
よびyFg標に基づき、かつスケールおよびシステムひ
ずみ補正のため修正された適当なピタゴラス計算を行う
ことにより前記物品上の識別した測定点の間の実際長さ
を評価するようプログラムされたデータ処理手段とから
成る物品測定装置をも提供するものである。
前記データ処理手段はデジタルコンンピュータから構成
できる。
次に添附図面を参照して物品を測定するための装置およ
び方法の一実施態様について説明する。
[実施例] 図面に示した装置は、特にプルオーバー11のような衣
服を測定するために製造されたものである。衣服は、光
ボックス12の頂部に順に置かれ、ボックス12は下方
からけい完溶(図示せず)により照明された透明なテー
ブル頂部13から成る。この頂部13は、1.6メ一ト
ル×1メートルの大きさであり、この大きさはほとんど
の上体用衣服を測定するのに適当である。
この装置の一つの用途は、縮みテストのため一組の衣服
を自動的に測定することであり、衣服は続けて行なわれ
る洗たく作業の後に測定される。
衣服は、一つずつテーブル頂部19の上に置かれ、装置
により測定されることになる。測定の結果は、測定中に
表示され、解析のためデータベースに記憶される。適当
な注意を払い、衣服を次々にテーブル頂部の同一位置に
正確に置台、測定を迅速かつ効率的に行おうとしても、
正確な位置決めを定めることはできない、実際には、衣
服は異なる位置にかつ異なる配列にて置かれる。
頂部13は、結像デバイス14の視野を構成する。この
デバイスとしては例えばビジコンまたは電荷結合デバイ
ス(cOD)カメラがある。デバイス14は、テーブル
頂部13より1.8メートル上方に位置するようガント
リー15に取付けられる。8.5mm1点長さのCマウ
ントレンズを使用すると、適当な視野が得られる。
デバイス14は、適当なケーブルにより像解析装置16
に接続され、この装置16はフレームグラバ−17と、
1ピクセル(画素)あたり8ビツトの512X512ピ
クセル像を保持するフレームスドア18を含む、デジタ
ルコンピュータ19は、オペレーションを制御し、関連
するデータベース21とデイスプレィスクリーン22を
有する。結果をプリントアウトし、オプションとしての
像のハードコピーをプリントアウトするためプリンタ2
3を配置することもできる。
光ボックス12内のけい完溶は本線駆動であり、フレー
ムグラツピングも本線と同期されているので、フリッカ
−(ちらつき)の問題がないことが判っている。
物品11を測定する方法は、テーブル頂部12すなわち
結像デバイス14の視野内で測定するよう物品をまず配
置させ、512X512個のピクセル配列にある製品の
ピクセル像を形成する。次に1フレームをグラブし、記
憶する。所望の場合、不適当なノイズの影響を除くため
、数フレームを平均し、平均値を記憶することもできる
デイスプレィスクリーン22にはグラブされたフレーム
がデイスプレィされる。
この方法では、ピクセル像上の測定点をアレイのうちの
XおよびY座標で識別することを含む。
しかしながら、まず測定点を特定しなければならない。
2種類の測定点が重要である。すなわち物品のエツジま
たはコーナーにある点および内側にある点である。物品
が後方から照明される場合、像は事実上シルエットとな
る0例えば、平面とリブ部分との間のような表面組織の
差異から見立つようにするため衣服の面を照明でき、か
かる特徴から内部の測定点を自動的に特定するのに像解
析技術を利用できる。しかしながら、高解像力が必要で
あり、行う計算法は時間等の点から高くつく、内部点を
識別する簡便な方法が推奨される。
測定のためテーブル頂部13に置かれたVネックプルオ
ーバー11を示す第2図に一つの測定方法が図示されて
いる。ここでは、オペレータにより衣服上に置かれた小
型の白熱電溶で4つの内部測定点A、B、CおよびDが
表示される。電溶は、例えばビンまたはベル7に(マジ
ックファスナー)のタブ(図示せず)により設置されワ
イヤ(明瞭にするためすべて示してない)により適当な
電流源へ接続されている。電灯のかわりに、小型の反射
体、例えば、シークインまたは内部全反射するマイクロ
ビーズ含有塗料のスポットをオーバヘッド光と共に配置
して、衣服11の背景に対して著しく見立つようにもで
きる。
行うことが望まれる測定を参照して内部点が選択される
0品質管理上の重要な測定点または縮み測定点は、衣服
のリブ部分11aの深さであるので、リブ部分1taの
上限の中間点に一つの測定点「A」を選択する。別のr
B」は■ネックの頂点であり、点「C」および「D」は
スリーブのシーム上の中間点である。
コンピュータ19は、これらの一般的位置内の「白」ピ
クセルを予想し、かつ白ピクセル位置を識別するようプ
ログラムされている。当然ながら、デジタル化された像
は、2進数の512×512アレイから成り、これら2
進数は当該ピクセルの白レベルに従ってooooooo
oと11111111との間となる。プログラムは、ア
レイを解析して白ピクセル(またはグループのうちの中
央の白ピクセル)が予想される領域内のどこにあるかを
検出する0次に当該点はそのピクセルのXおよびy座標
として識別される。
かかる技法は、衣服のコーナー、エツジ中央および他の
突起点を識別するのに使用できるが、当然ながら理想は
できるだけ操作を自動化することであり、コーナーおよ
びエツジの特徴点は、像の自動解析により自動的に識別
できる。
マスクが像の一部(よってコーナーとして識別される)
と一致するときを見出すのに像と比較できる標準コーナ
ー形状のマスクを利用する標準コーナー検出法を利用で
きる。別の技法が、デイビーズ(Davles)イー・
アール著(1986)イメージ処理に関するIEE会議
、第2回IEE会議議事録、刊行物第265号、175
〜179ページの「−膜化ハウ変換を使用したコーナー
検出法」に述べられている。
しかしながら、衣服測定のための好ましい技術は、衣服
がある特徴を持っているという事実に依存している0例
えば、上体用衣服には常に首および朧月の穴があるが、
スタイルの差異(例えば、ロングスリーブ、ショートス
リーブ、ノースリーブ、■ネック、クルーネック、ロー
ルネック等)を考慮しなければならない、また、衣服は
完全に正確にかつ反復できるよう手で位置決めできない
が、例えばベースがテーブル頂部の特定エツジに対して
±10度で平行になり、形状の中心が視野の中心の10
cm以内になるよう配置できる。この相関情報は、ノイ
ズからの乱れを最小にした状態でコーナーを深すのに利
用できる。
まず、シルエットのエツジ上にあるすべての点の座標(
X+ 、 3/l )を標準エツジ検出法により識別す
る0次に下記の式を使りて、中心点(x (0)、 y
 (0))を計算するか、x(0)−1/n  Σ x
i y  (0)  =1/n  Σ yiまたこの方法を
適宜簡単にして計算時間を短縮する。
点EおよびF(第2図および第3図参照)は、y値のあ
る範囲内にある衣服内の中心点(x (0) 、 y 
(0) )からの最遠方点である。
中心点から始めて、衣服の低部エツジに会うまで中心点
を含む垂直線を下方に走査する0例えば、更に下方に走
査して別の黒ピクセルに会うかどうかまたは点rAJに
対してすべてに確定した座標に対して座標をチエツクす
ることによりこの交点を点rAJとして誤まっていない
かどうかをテストする。
点Eを見付けるには、衣服のミスアライメントを考慮し
てすでに見付けた交点のいずれかの側でのy値のレンジ
を考える。このレンジ内にある頂部列にて、かつフレー
ムの左側エツジおよびその近くにて開始して、黒ピクセ
ルが見つかるまで列内の各ピクセルを検査する。このピ
クセルから中心点までの距離を計算して記憶する。
次の下方の列を同じように検査し、中心距離がすでに記
憶されたものより大きければ、この距離を新しい距離と
して記憶する。新しい中心距離が先の距離よりも大きく
ならなくなり、すでにコーナーを通ったことを意味する
までこの手順を繰り返す、XおよびYの先の値は点Eの
座標であり、点下も同じように見付ける。
ネック部にある点Gは、中心点よりも多少上のレベルか
ら始めて左へピクセルを検査することにより、見つける
。白ピクセルを見付け、そのy値を記憶するまで垂直上
方向にピクセルを読み出す0次のカラムのピクセルを同
じように検出し、第1白ピクセルのy値が記憶されたy
値よりも小さければ、この新しいy値に交換し、X値を
再度インクリメントし、次のカラムを読み出す、2つの
続くy値が同じであれば、次のテストを実施して点の特
性を決める。
最後に検出する白ピクセルの左側までの点10のピクセ
ルを読み出す。白ピクセルが見付けられなければ、この
点はネックのコーナー点でなく、スリーブのエツジに沿
ってフラットであるはずである。しかしながら白ピクセ
ルが見出されれば、必要な点が探し出されたことになる
。衣服の頂部に沿って白ピクセルがあることは確かであ
る。
衣服は若干ミス整列される可能性があるので、このケー
スでピクセルを深すにはy値の幅を取る必要がある。
衣服のエツジ上の他点は、他の方法により発見される。
この方法は次の例から判るように当該点の特性を考慮し
て容易に実施される。明らかに、すべての可能な点の検
出は、一つの文書で述べることがで台ない。むしろ、上
記の例は、簡単でかつ効率的な点検出に対する一般的な
解決法を示すもので、この解決法は検出される点の特性
に合わせなければならない。
更に衣服の測定を参照して技法を特定的に説明したが、
同一種の輪部の特徴を有するか、または有しない他の物
品も、測定点の適当な仕様に合わせた技法および特徴を
深す適当な技法により測定できる。
すべての特定点が検出されると、−組のピクセル座$1
 x r + y  +を有することになる0次に点の
対(xa 、 ya )、(xa 、yb )との間で
必要な測定値を評価すべきである。これらの点のうちの
いくつかは、特定点(例えば、2つの特定点の間の半分
または3分の1の間の点)から得ることができる。
これに対する簡単な解決法は、ピタゴラスの式を利用す
ることである。
L” = (Xa −Xb )’ + (Y−−Yb 
)”ココでLは、点(x、、y、)と(Xb 、 Yb
 )との間の必要な長さである。
しかしながら、これはピクセル内にあり、レンズ、チュ
ーブのアレイ構成に固有のひずみおよび整列ひずみまた
はスチールを考慮していない。
例えば、水平感覚が垂直間隔の4/3であるビジコン管
内でのXおよびy方向へのピクセルの等しくない間隔は
、簡単なリニア変換で処理される。すなわち、 y”py ここで、yは実際のピクセル座lay’修整値であり、
p番才変換因数である。
しかしながら、実際には他のひずみも影響することが判
っており、この影響は上記縮みテストで可能な比較的粗
い公差(±0.5cm)でも無視できない。
残りのひずみも別々に処理でざるが、測定点(それらの
測定された座標はx+y’)の真の位置座al(x、 
y  は、多項式の関係式で得られる修正アルゴリズム
を通用することが好ましい。
xwf、(x’)およびy−f*(y’)縮みテストで
使用するものとして説明した衣服測定の場合の適当な修
正は、次の関数を用いると得られることが判っている。
xwcos ((x′+a)xπXc/1130)+ 
b y= (pxy ’ )+q 係数a、b、およびCは経験的に決定され、上記特定の
例ではaは50で、bは51.5でCは1.1であるこ
とが判っている。当然ながら、調節後に異なるカメラま
たは同一カメラを用いて同一装置を据え付けると、これ
らの数字は変わることになろうが、これらはパラメータ
の大台さの桁を示すものである。
当然ながら、較正は、チューブの頂部13上に定規を置
いて行うことができるが、テーブルの頂部13は第2図
に示すように格子にてマークを付けることができる。こ
の格子は最初の較正を行うのに利用できる。最初の較正
は実際は、コンピュータ19がグリッド交点に対応する
ピクセルを識別し、−組の同時方程式を解き、較正パラ
メータを確立することにより全く自動的に実施できる。
衣服はスタイルがかなり種々あるので、管理可能なプロ
グラムは一部のみをカバーするにすぎず、すべてまたは
ほとんどのものをカバーするため一連のプログラムが提
供されよう。
内部測定点を特定するための’fit燈法は実際上良好
に作動するが、ワイヤのからみのため使用しにくい、ラ
イトペンまたはトラッカーボールまたはマウスによるモ
ニタースクリーン上の内部測定点の会話式挿入法は別の
技法であり、衣服はこの操作中オペレータが点を選択す
べき表面の特徴を見ることがで診るよう上方から構成さ
れる装置および計算時間の点から高価であるフレームグ
ラピングおよびフレーム記憶法の代替法として像をシル
エットとしてみなすことができ、シルエットは外形上完
全に、ユニークかつ安価に特定できる。衣服の境界のコ
ード化された描写は、コンピュータの通常のランダムア
クセスメモリ内に保持される。
この方法は当然ながら、縮み測定または他の理由のいか
んによらず布の測定のみに限定されるものでなく、また
可撓性物品の測定のみに限定されるものでないが、特に
視野内でのある程度の移動およびねじれの外に物品の曲
げに対して許容度のあるかかる測定に特に適するもので
ある。この方法は従来の測定技術に敏感でない物品の測
定、例えば生物学的および微生物学的測定に有効である
ことが判った。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による方法で用いる装置の斜視図、第2
図はテーブルとその上に置いて測定すべき衣服の平面図
、′s3図は測定中のビデオスクリーンデイスプレィの
図である。11・・・衣服、!2・・・光ボックス、1
3・・・テーブル頂部、14・・・結像デバイス、16
・・・像解析装置 図面の浄書(内容に変更なし) 特許出願人  レスターボリテクニク 代 理 人  弁理士 鈴 木 弘 男手続補正書 平!&1年5月2日

Claims (27)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(a)x−yアレイ内にピクセル像を形成する結
    像デバイスの視野内に測定のための物品を配置すること
    、 (b)配置した物品のピクセル像を前記結 像デバイスにより形成すること、 (c)前記アレイのxおよびy座標により 前記ピクセル像上の測定点を識別すること、(d)前記
    xおよびy座標に基づき、スケ ールおよびシステムのひずみを修正した適当なピタゴラ
    スの計算を行うことにより前記物品上の識別した測定点
    の間の実際の長さを評価することから成る物品測定方法
  2. (2)前記結像デバイスはビデオカメラまたは2次元電
    荷結合デバイスから成る請求項1に記載の方法。
  3. (3)結像デバイスがフレームの連続像を発生し、像捕
    捉すなわちフレームのグラッビングデバイスおよびフレ
    ーム記憶デバイスを使って前記連続像の一つを捕捉し、
    記憶する請求項1または2に記載の方法。
  4. (4)計算目的のため像をデジタル化する請求項第3項
    記載の方法。
  5. (5)ピクセル像はシルエット像である請求項1〜4の
    いずれかに記載の方法。
  6. (6)シルエット像のエッジのコード化された描写は、
    結像デバイスから直接に発生され、前記ピタゴラス計算
    を行うようプログラムされたコンピュータのランダムア
    クセスメモリ内に記憶される請求項5に記載の方法。
  7. (7)像の特徴に関連して測定点を自動的に識別する請
    求項第1〜6項のいずれかに記載の方法。
  8. (8)前記特徴は像の中心点を含む請求項7に記載の方
    法。
  9. (9)前記特徴は像のエッジを含む請求項7または8に
    記載の方法。
  10. (10)前記特徴は像のコーナーを含む請求項7、8ま
    たは9のいずれかに記載の方法。
  11. (11)物品をマーキングすることにより測定点を識別
    する請求項1〜10のいずれかに記載の方法。
  12. (12)前記ピクセル像を形成する前に物品上に置いた
    点光源により物品のマーキングをする請求項11に記載
    の方法。
  13. (13)前記点光源は白熱フィラメント電灯から成る請
    求項12に記載の方法。
  14. (14)前記点光源は反射体から成る請求項12に記載
    の方法。
  15. (15)像上に測定点の位置を表示することにより測定
    点を識別する請求項1〜10に記載の方法。
  16. (16)ライトペン手段により測定点を識別する請求項
    15に記載の方法。
  17. (17)トラッカーボールすなわちマウス手段により測
    定点を識別する請求項15に記載の方法。
  18. (18)xおよびy方向への異なるピクセル間隔を補正
    するためピタゴラス計算を修正する請求項1〜17のい
    ずれかに記載の方法。
  19. (19)較正により決定された補正アルゴリズムにより
    ピタゴラス計算を修正する請求項1〜18のいずれかに
    記載の方法。
  20. (20)補正アルゴリズムは、 X=cos((x′+a)×π×c/180)+b y=(p×y′)+q(ここでa、b、c、pおよびq
    は実験的に決められた係数である)の形式である請求項
    19に記載の方法。
  21. (21)結像デバイスの視野に関連したスケールを参照
    して較正を行う請求項19または20に記載の方法。
  22. (22)可撓性であり、平坦に置くことができる物品に
    適用される請求項1〜21のいずれかに記載の方法。
  23. (23)結像デバイスの視野内のテーブル上に物品を置
    く請求項22に記載の方法。
  24. (24)テーブルは後方照明される請求項23に記載の
    方法。
  25. (25)(a)x−yアレイにピクセル像を形成する結
    像デバイスと、 (b)前記アレイのxおよびy座標により前記ピクセル
    像上の測定点を識別する点識別手段と、(c)前記xお
    よびy座標に基づきかつスケールおよびシステムひずみ
    補正のため修正された適当なピタゴラス計算を行うこと
    により前記物品上の識別された測定点の間の実際長さを
    評価するようプログラムされたデータ処理手段とから成
    る物品測定装置。
  26. (26)前記結像デバイスはビジコン管または電荷結合
    デバイスから成る請求項25に記載の装置。
  27. (27)前記データ処理手段はデジタルコンピュータか
    ら成る請求項25に記載の装置。
JP1003874A 1988-01-12 1989-01-12 物品を測定するための方法 Pending JPH02110307A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB888800570A GB8800570D0 (en) 1988-01-12 1988-01-12 Measuring method
GB8800570 1988-01-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02110307A true JPH02110307A (ja) 1990-04-23

Family

ID=10629794

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1003874A Pending JPH02110307A (ja) 1988-01-12 1989-01-12 物品を測定するための方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5315666A (ja)
EP (1) EP0324561B1 (ja)
JP (1) JPH02110307A (ja)
AT (1) ATE70352T1 (ja)
DE (1) DE68900508D1 (ja)
ES (1) ES2027445T3 (ja)
GB (2) GB8800570D0 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06223175A (ja) * 1992-09-14 1994-08-12 Gerber Garment Technol Inc 画像パターンの走査処理方法および装置
WO2004079653A1 (ja) * 2003-03-05 2004-09-16 3D Media Co. Ltd. 画像処理方法、画像処理システム、画像処理装置、及びコンピュータプログラム
CN103322918A (zh) * 2013-05-24 2013-09-25 陕西科技大学 测量车辆高度的设备及其测量方法
WO2017109946A1 (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 楽天株式会社 形状弁別装置、形状弁別方法及び形状弁別プログラム
JP2019194625A (ja) * 2019-08-01 2019-11-07 株式会社メルカリ プログラム、情報処理方法、及び情報処理装置
JP2020038085A (ja) * 2018-09-03 2020-03-12 Juki株式会社 検査装置
JP2021031779A (ja) * 2019-08-19 2021-03-01 株式会社Zozo 物体上の距離を測定するための方法、システム、およびプログラム

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04269607A (ja) * 1991-02-25 1992-09-25 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 物体の寸法計測装置
GB2278436A (en) * 1993-05-28 1994-11-30 Kevin Hill Image processing system and method for automatic feature extraction
CH688755A5 (fr) * 1993-07-22 1998-02-27 Gianfranco Passoni Machine de mesure optique à caméra vidéo mobile, pour analyse électronique à haute vitesse des contours des objets.
JP2991593B2 (ja) * 1993-08-19 1999-12-20 株式会社東京精密 ダイシング装置の半導体ウェハ形状認識装置
US6856843B1 (en) 1998-09-09 2005-02-15 Gerber Technology, Inc. Method and apparatus for displaying an image of a sheet material and cutting parts from the sheet material
DE19902401C2 (de) * 1999-01-22 2001-02-01 Wohlenberg Schneidesysteme Gmb Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von blattförmigem Gut oder Stapeln davon
KR20020012348A (ko) * 2000-08-07 2002-02-16 박민호 영상처리 기능을 갖춘 디지털 카메라를 이용한 도형 배치시스템
US6813838B2 (en) 2002-01-14 2004-11-09 Mccormick Bruce Garment fitting system
DE10205562C1 (de) * 2002-02-11 2003-07-31 Gerber Technology Inc Verfahren und Vorrichtung zum Anzeigen eines Abbildes eines Flachmaterials und zum Ausschneiden von Teilen aus dem Flachmaterial
DK176448B1 (da) 2003-02-03 2008-03-03 Coloplast As Stomistöttebeklædningsstykke og fremstilling af dette
US7426302B2 (en) 2003-11-28 2008-09-16 John Amico System and method for digitizing a pattern
AT413886B (de) * 2004-05-18 2006-07-15 Experten Only Kirchebner & Poi Verfahren zur vermessung von längen und flächen auf dreidimensionalen, beliebig gekrümmten oberflächen
JP4469659B2 (ja) 2004-06-11 2010-05-26 株式会社ミツトヨ 載物台装置、画像測定装置
BRPI0405039C1 (pt) * 2004-11-18 2005-10-18 Audaces Automacao E Informatic Porta-molde magnético
DE602006018147D1 (de) 2005-06-28 2010-12-23 Coloplast As Stomabeutelfilter mit wechselwirkenden oberflächen
CN101644565B (zh) * 2008-08-04 2011-06-01 香港纺织及成衣研发中心 一种织物尺寸变化和扭曲度的数字化测量系统和方法
JP5283608B2 (ja) * 2009-11-30 2013-09-04 株式会社椿本チエイン 伸張度測定装置、伸張度測定システム及びコンピュータプログラム
CN101979751B (zh) * 2010-09-28 2012-07-25 中华人民共和国陕西出入境检验检疫局 基于图像分析的织物尺寸稳定性检测方法
US9729780B2 (en) * 2011-07-08 2017-08-08 Visual Retailing Holding B.V. Imaging apparatus and controller for photographing products
DE102012204537A1 (de) * 2012-03-21 2013-09-26 rocket eleven GmbH Verfahren zum Bestimmen der Abmessungen eines Körperteils
CN103322935B (zh) * 2013-06-09 2016-05-18 复旦大学附属金山医院 一种眼镜架配戴变形移位测定器及其测定方法
JP6381859B2 (ja) * 2016-05-26 2018-08-29 楽天株式会社 形状弁別装置、形状弁別方法及び形状弁別プログラム
JP6505954B2 (ja) * 2017-03-06 2019-04-24 楽天株式会社 画像処理装置、画像処理方法、サーバ、及び、コンピュータプログラム
DE102018108696B4 (de) * 2018-04-12 2024-05-02 Ims Messsysteme Gmbh Anordnung und Verfahren zum berührungslosen Bestimmen einer Abmessung einer bewegten Materialbahn
DE102018133045B3 (de) * 2018-12-20 2020-02-13 Sascha Droste Messsystem zum Messen von Bekleidungsstücken
CN110604360A (zh) * 2019-09-25 2019-12-24 广东天机工业智能系统有限公司 立体尺寸采集装置
TWI790803B (zh) * 2020-11-02 2023-01-21 財團法人工業技術研究院 紡織品檢測模組、紡織品分選系統及其使用方法
CN112504184B (zh) * 2020-12-01 2022-03-22 中国船舶重工集团公司第七一六研究所 一种钢板三维尺寸快速在线质检系统

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4394683A (en) * 1980-06-26 1983-07-19 Diffracto Ltd. New photodetector array based optical measurement systems
US4435837A (en) * 1981-03-05 1984-03-06 President And Fellows Of Harvard College Pattern recognition and orientation system
GB2102122B (en) * 1981-07-22 1985-05-15 Nat Res Dev Detecting defects in a pattern
JPS5959397A (ja) * 1982-09-29 1984-04-05 オムロン株式会社 特徴点のラベリング装置
GB2144219B (en) * 1983-07-16 1988-05-25 Nat Res Dev Inspecting textile products
DE3544251A1 (de) * 1985-12-14 1987-06-19 Duerkopp System Technik Gmbh Verfahren und vorrichtung zum selbsttaetigen zuschneiden von teilen aus flaechigem naehgut nach mit unterschiedlichen konturen versehenen mustervorlagen auf einer koordinaten-schneidmaschine
JPS62209304A (ja) * 1986-03-10 1987-09-14 Fujitsu Ltd 寸法測定方法
GB8612088D0 (en) * 1986-05-19 1986-06-25 Marconi Instruments Ltd Pattern alignment generator
US4807143A (en) * 1986-07-07 1989-02-21 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha System for forming design pattern data
FR2609662B1 (fr) * 1987-01-20 1994-09-23 Loriot Jean Marc Procede de decoupage d'un objet en fonction de particularites dudit objet

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06223175A (ja) * 1992-09-14 1994-08-12 Gerber Garment Technol Inc 画像パターンの走査処理方法および装置
WO2004079653A1 (ja) * 2003-03-05 2004-09-16 3D Media Co. Ltd. 画像処理方法、画像処理システム、画像処理装置、及びコンピュータプログラム
CN103322918A (zh) * 2013-05-24 2013-09-25 陕西科技大学 测量车辆高度的设备及其测量方法
WO2017109946A1 (ja) * 2015-12-25 2017-06-29 楽天株式会社 形状弁別装置、形状弁別方法及び形状弁別プログラム
JP6204634B1 (ja) * 2015-12-25 2017-09-27 楽天株式会社 形状弁別装置、形状弁別方法及び形状弁別プログラム
US10760899B2 (en) 2015-12-25 2020-09-01 Rakuten, Inc. Shape discrimination device, shape discrimination method and shape discrimination program
JP2020038085A (ja) * 2018-09-03 2020-03-12 Juki株式会社 検査装置
JP2019194625A (ja) * 2019-08-01 2019-11-07 株式会社メルカリ プログラム、情報処理方法、及び情報処理装置
US11301682B2 (en) 2019-08-01 2022-04-12 Mercad, Inc. Information processing method, information processing device, and computer-readable non-transitory storage medium storing program
JP2021031779A (ja) * 2019-08-19 2021-03-01 株式会社Zozo 物体上の距離を測定するための方法、システム、およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US5315666A (en) 1994-05-24
EP0324561A2 (en) 1989-07-19
EP0324561B1 (en) 1991-12-11
GB2213930B (en) 1991-07-31
GB8900334D0 (en) 1989-03-08
DE68900508D1 (de) 1992-01-23
ATE70352T1 (de) 1991-12-15
GB2213930A (en) 1989-08-23
GB8800570D0 (en) 1988-02-10
ES2027445T3 (es) 1992-06-01
EP0324561A3 (en) 1989-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02110307A (ja) 物品を測定するための方法
US10203289B2 (en) Inspection system and a method for inspecting a diced wafer
TW385358B (en) Method to measure the distance P of an edge of the structurelement on a substrate
JPH04504597A (ja) 画像データ処理により繊維パラメータを測定する方法
CN107657609A (zh) 一种基于激光扫描的获取靶板穿孔密度的方法
US8208713B2 (en) Method and system for inspecting a diced wafer
JP2016217989A (ja) 欠陥検査装置および欠陥検査方法
KR100341867B1 (ko) 직물 구김과 심퍼커의 자동 평가 장치 및 그 방법.
JPH07181120A (ja) ビッカース硬さ自動読み取り装置
JPH076777B2 (ja) パターンの輪郭検出方法及びこの方法を用いた測長装置
CN208606989U (zh) 光学检测装置
JPH11279936A (ja) シボ織物のシボ立ち性測定装置および方法
EP1731096A1 (en) Devices and methods for characterizing medical compression garments
KR940003791B1 (ko) 폭측정장치
US6826307B1 (en) Contrast determining apparatus and methods
GB2186365A (en) Inspecting textile items
JPS6318210A (ja) 塗面の平滑性測定方法
CN113240636B (zh) 表面waviness智能检测方法、系统、存储介质和终端设备
JPH02110306A (ja) 観測位置検出方法およびその装置
JPH09329495A (ja) 色彩評価方法およびその装置
RU2256177C1 (ru) Способ определения показателей ворсистости тканых полотен по компьютерному изображению
JPS59158174A (ja) デ−タ取込方式
CN114707529A (zh) 一种线阵相机调焦过程中的图像质量评价方法和系统
CN117671187A (zh) 一种3d相机获取点云精度的检测方法及相关装置
West Loughborough anthropometric shadow scanner (LASS)