JPH04269607A - 物体の寸法計測装置 - Google Patents
物体の寸法計測装置Info
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- JPH04269607A JPH04269607A JP3030231A JP3023191A JPH04269607A JP H04269607 A JPH04269607 A JP H04269607A JP 3030231 A JP3030231 A JP 3030231A JP 3023191 A JP3023191 A JP 3023191A JP H04269607 A JPH04269607 A JP H04269607A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 22
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、物体の寸法計測装置に
関し、更に詳細には、XYテーブル上のどの方向の寸法
も容易に計測することができ、しかも、アルミニウム製
押出成形品用のホローダイスのように、成形空隙部の開
口部が平面上にないような部材の寸法も計測できる物体
の寸法計測装置に関するものである。
関し、更に詳細には、XYテーブル上のどの方向の寸法
も容易に計測することができ、しかも、アルミニウム製
押出成形品用のホローダイスのように、成形空隙部の開
口部が平面上にないような部材の寸法も計測できる物体
の寸法計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、アルミニウム製の角パイプや、
L型材など、一定の断面形状を有する長尺製品は、押出
加工によって成形されている。このような押出加工品の
品質は、ダイスの品質、特に、成形空隙部の形状寸法に
左右される。該成形空隙部の加工は、一般にNCテープ
による放電加工によって行われ、ダイスの形状寸法検査
は、押出製品の形状寸法を計測することによって行われ
ていいるのが一般である。しかしながら、押出製品で形
状寸法を計測することは、検査能率が悪いので、直接、
ダイスの成形空隙部の形状寸法を計測することが要請さ
る。例えば、押出製品の肉厚を決定する成形空隙部の幅
は、隙間ゲージによって計測できるが、隙間ゲージが入
らない部分には適用できないという問題がある。
L型材など、一定の断面形状を有する長尺製品は、押出
加工によって成形されている。このような押出加工品の
品質は、ダイスの品質、特に、成形空隙部の形状寸法に
左右される。該成形空隙部の加工は、一般にNCテープ
による放電加工によって行われ、ダイスの形状寸法検査
は、押出製品の形状寸法を計測することによって行われ
ていいるのが一般である。しかしながら、押出製品で形
状寸法を計測することは、検査能率が悪いので、直接、
ダイスの成形空隙部の形状寸法を計測することが要請さ
る。例えば、押出製品の肉厚を決定する成形空隙部の幅
は、隙間ゲージによって計測できるが、隙間ゲージが入
らない部分には適用できないという問題がある。
【0003】また、別の問題として、例えば、押出成形
用ダイスには、フラットダイス(ソリッドダイスともい
う)とホローダイスとの2種類あることは周知である。 この内、ホローダイスの形成空隙部は、ダイマンドレル
とダイス本体とを別々に形成し、組付けて形成している
。したがって、成形空隙の上部端面は、ダイスの中の法
に形成され、しかも、一般に上端が平面とならない。 したがって、前記隙間ゲージや、探り針による計測手段
によって計測することは困難であるという問題がある。
用ダイスには、フラットダイス(ソリッドダイスともい
う)とホローダイスとの2種類あることは周知である。 この内、ホローダイスの形成空隙部は、ダイマンドレル
とダイス本体とを別々に形成し、組付けて形成している
。したがって、成形空隙の上部端面は、ダイスの中の法
に形成され、しかも、一般に上端が平面とならない。 したがって、前記隙間ゲージや、探り針による計測手段
によって計測することは困難であるという問題がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、微細な形状
を計測する手段として、CCDカメラが使用されている
ことはよく知られている。即ち、例えば、10mmの長
さを持つ物体の像を、256画素のCCDカメラで撮影
すると、1画素当たり、10/256=0.039mm
の精度の計測が可能である。これを、512画素のCC
Dカメラで撮影すると、1画素当たり0.019mmま
で精度が向上する。このように、CCDカメラを使用す
ることにより、微細な物体の形状を高い精度で計測する
ことが可能であるが、この精度を保つためには、10m
m以上の大きい物体の形状を精密に計測することはでき
ないという問題がある。例えば、1辺300mmのアル
ミニウム製角パイプの断面形状寸法を計測する場合には
、1 画面に対象物体全体形状を映し出すと、前記精度
で計測することだできないという問題がある。
を計測する手段として、CCDカメラが使用されている
ことはよく知られている。即ち、例えば、10mmの長
さを持つ物体の像を、256画素のCCDカメラで撮影
すると、1画素当たり、10/256=0.039mm
の精度の計測が可能である。これを、512画素のCC
Dカメラで撮影すると、1画素当たり0.019mmま
で精度が向上する。このように、CCDカメラを使用す
ることにより、微細な物体の形状を高い精度で計測する
ことが可能であるが、この精度を保つためには、10m
m以上の大きい物体の形状を精密に計測することはでき
ないという問題がある。例えば、1辺300mmのアル
ミニウム製角パイプの断面形状寸法を計測する場合には
、1 画面に対象物体全体形状を映し出すと、前記精度
で計測することだできないという問題がある。
【0005】本発明は、前記問題に着目して成されたも
のであり、CCDカメラを使用し、例えば、0.01m
mの精度で、1 画面で捉えることのできない大きさの
物体の形状寸法を計測できる物体の寸法計測装置を提供
することを目的としている。
のであり、CCDカメラを使用し、例えば、0.01m
mの精度で、1 画面で捉えることのできない大きさの
物体の形状寸法を計測できる物体の寸法計測装置を提供
することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めの物体の寸法計測装置の構成は、CCDカメラを、Z
軸に光軸を合わせてXYテーブルに取付けたCCDカメ
ラ装置と、CCDカメラに対し、試料を所定の方向を向
けて固定可能とした試料台と、距離演算装置とから成り
、前記距離演算装置は、CCDカメラのXYテーブル上
の座標を検出する手段と、静止状態で撮影したCCDカ
メラの出力信号を画像処理する手段と、該画像処理手段
で得た画像の明暗転換点を検出する手段と、該明暗転換
点の画像上の座標を演算する手段と、CCDカメラのX
Y座標上の移動と、撮影画像のxy座標とから寸法を算
出する演算手段を設けたものである。
めの物体の寸法計測装置の構成は、CCDカメラを、Z
軸に光軸を合わせてXYテーブルに取付けたCCDカメ
ラ装置と、CCDカメラに対し、試料を所定の方向を向
けて固定可能とした試料台と、距離演算装置とから成り
、前記距離演算装置は、CCDカメラのXYテーブル上
の座標を検出する手段と、静止状態で撮影したCCDカ
メラの出力信号を画像処理する手段と、該画像処理手段
で得た画像の明暗転換点を検出する手段と、該明暗転換
点の画像上の座標を演算する手段と、CCDカメラのX
Y座標上の移動と、撮影画像のxy座標とから寸法を算
出する演算手段を設けたものである。
【0007】本発明は、CRTなどを使用し、目視によ
り、計測する対象を距離演算装置に入力すになど表示装
置が必要であるが、計測自体は、距離演算装置によって
行われる。
り、計測する対象を距離演算装置に入力すになど表示装
置が必要であるが、計測自体は、距離演算装置によって
行われる。
【0008】
【実施例】以下、添付の図を対照して、一実施例により
、本発明の物体の寸法計測装置を具体的に説明する。 なお、理解を容易にするために、本実施例は、押出成形
体を試料とし、その断面形状を対象にしたものである。 図1に示す本実施例の寸法計測装置1は、試料台2を載
置した基台4に取付けたフレーム6に、X軸テーブル1
2、Y軸テーブル14を取付け、該Y軸テーブル14に
、光軸10をZ軸に一致させて、自動焦点レンズ16を
備えたCCDカメラ18を図示しない駆動装置により、
X軸、Y軸に沿って移動可能に取付けた。
、本発明の物体の寸法計測装置を具体的に説明する。 なお、理解を容易にするために、本実施例は、押出成形
体を試料とし、その断面形状を対象にしたものである。 図1に示す本実施例の寸法計測装置1は、試料台2を載
置した基台4に取付けたフレーム6に、X軸テーブル1
2、Y軸テーブル14を取付け、該Y軸テーブル14に
、光軸10をZ軸に一致させて、自動焦点レンズ16を
備えたCCDカメラ18を図示しない駆動装置により、
X軸、Y軸に沿って移動可能に取付けた。
【0009】試料台2は、内部に下から試料を照らす光
源20を備え、上面が透明板22から成り、その上に、
図示しないクランプによって固定した試料24を載置し
、その上に、試料24の投影を映し出す半透明体からな
る遮光板26を設けたものである。該試料24は、アル
ミニウム押出成形品サンプルであり、光源20で照らさ
れた断面形状の影が、遮光板26に映し出される。
源20を備え、上面が透明板22から成り、その上に、
図示しないクランプによって固定した試料24を載置し
、その上に、試料24の投影を映し出す半透明体からな
る遮光板26を設けたものである。該試料24は、アル
ミニウム押出成形品サンプルであり、光源20で照らさ
れた断面形状の影が、遮光板26に映し出される。
【0010】図2において、遮光板26に投影された矩
形状断面を有する試料24の影24′は、CCDカメラ
の視野28に対し遙かに大きく、カメラ倍率を小さくし
ないと全体の形状を視野26内に捉えることはできない
。したがって、本実施例の寸法計測装置1は、例えば、
縦横5mmの大きさ視野を、例えば512×512画素
一杯に像を結ばせ、該画像信号を、図1の距離演算装置
30の画像処理回路によって、まず、XYテーブルの座
標(Xa Ya に原点Oa を置いてCCDカメラ
を静止させて撮影し、次いで、CCDカメラの視野18
をXYテーブルの座標(Xb Yb に原点Ob に
移し、静止状態で撮影する。すると、画像は、原点Oa
に対しては図の左側が明るい画像が得られ、原点Ob
に対しては、図の左側が暗い画像が得られる。以下、
図の影24′の幅Wを計測する場合について説明する。 なお、本実施例のCCDカメラの画素は、縦480×横
512のものを使用し、1画素の出力する信号を8ビッ
ト構成とし、各検出信号は、電算機に入力し、処理した
。
形状断面を有する試料24の影24′は、CCDカメラ
の視野28に対し遙かに大きく、カメラ倍率を小さくし
ないと全体の形状を視野26内に捉えることはできない
。したがって、本実施例の寸法計測装置1は、例えば、
縦横5mmの大きさ視野を、例えば512×512画素
一杯に像を結ばせ、該画像信号を、図1の距離演算装置
30の画像処理回路によって、まず、XYテーブルの座
標(Xa Ya に原点Oa を置いてCCDカメラ
を静止させて撮影し、次いで、CCDカメラの視野18
をXYテーブルの座標(Xb Yb に原点Ob に
移し、静止状態で撮影する。すると、画像は、原点Oa
に対しては図の左側が明るい画像が得られ、原点Ob
に対しては、図の左側が暗い画像が得られる。以下、
図の影24′の幅Wを計測する場合について説明する。 なお、本実施例のCCDカメラの画素は、縦480×横
512のものを使用し、1画素の出力する信号を8ビッ
ト構成とし、各検出信号は、電算機に入力し、処理した
。
【0011】原点O1,O2 の移動距離検出手段は、
例えば、移動距離計測用車輪の回転をロータリーエンコ
ーダで距離信号に変換したり、磁気スケールの移動を磁
気的に検出し、そのパルス信号を計数したり、X軸テー
ブル12, Y軸テーブル14を一定速度で移動させ、
移動時間をタイマーで読み取るなど各種の手段を採用す
ることができる。本実施例では図示しないロータリーエ
ンコーダによる方法を採用し、原点Oa の座標(Xa
,Ya と、原点Ob の座標(Xb,Yb とを読み
取り、距離演算装置30の図示しない座標検出回路によ
って検出する。
例えば、移動距離計測用車輪の回転をロータリーエンコ
ーダで距離信号に変換したり、磁気スケールの移動を磁
気的に検出し、そのパルス信号を計数したり、X軸テー
ブル12, Y軸テーブル14を一定速度で移動させ、
移動時間をタイマーで読み取るなど各種の手段を採用す
ることができる。本実施例では図示しないロータリーエ
ンコーダによる方法を採用し、原点Oa の座標(Xa
,Ya と、原点Ob の座標(Xb,Yb とを読み
取り、距離演算装置30の図示しない座標検出回路によ
って検出する。
【0012】明暗検出回路は、CCD素子の各画素が出
力する明度レベルを最小を0、最大を255としたレベ
ルに分け、明度レベル0〜99のときの出力値を0とし
、明度レベル100〜255のときの出力値を100と
する2値信号として、各画素を走査して、座標(xa,
ya)及び座標(xb,yb)(以下、一般的説明を行
うときはサフィックスを省略する)の座標信号と共に出
力するようにした。図示しない明暗転換点検出回路は、
各xy座標データの明暗転換点を、所定の手順に従って
複数データをサンプリング(本実施例では17個)し、
該サンプル値から原点Oからの距離ρとx軸からの角度
θとを算出した。その原理を図3によって説明する。な
お、図3のy軸は、x軸に対して反転させて通常のxy
座標に変換し見やすくしている。
力する明度レベルを最小を0、最大を255としたレベ
ルに分け、明度レベル0〜99のときの出力値を0とし
、明度レベル100〜255のときの出力値を100と
する2値信号として、各画素を走査して、座標(xa,
ya)及び座標(xb,yb)(以下、一般的説明を行
うときはサフィックスを省略する)の座標信号と共に出
力するようにした。図示しない明暗転換点検出回路は、
各xy座標データの明暗転換点を、所定の手順に従って
複数データをサンプリング(本実施例では17個)し、
該サンプル値から原点Oからの距離ρとx軸からの角度
θとを算出した。その原理を図3によって説明する。な
お、図3のy軸は、x軸に対して反転させて通常のxy
座標に変換し見やすくしている。
【0013】図2,図3から、ρとθとの関係は、ρ=
xcosθ+ycosθ となることは容易に理解できる。なお、図3においてプ
ロットした座標(x,y) は、影24′のエッジ位置
(輪郭)の前記サンプルデータであり、点線は、このデ
ータからハフ変換手法を用いて推定した前記輪郭線であ
る。 このようにして、図3の座標(x,y)にプロットした
点(xi,yi)(i=1 〜17) を通る直線群を
、θ−ρ空間に写像すると図4に示す曲線が得られる。 図4の曲線を、試料24のすべてのエッジ位置(輪郭)
の候補点に対して、図4の曲線を描くと図5が得られ、
最も多く通るθ−ρ座標(θ0,ρ0)を求めると1本
の直線が特定でき、図5に示す直線式、 ρ0=x0cosθ0+y0cosθ0を得ることがで
きる。以上の式を用いて、座標(Xa,Ya),座標(
Xb,Yb) について、ρa,ρb,θa,θb を
求めることができる。前記試料24は、矩形形状である
ので、θa =θb であるから、2直線間の距離L(
図2)は、原点O1 のXY座標(X1,Y1)を通る
エッジ位置(輪郭)に平行な線と、O2 のXY座標(
Xb,Yb を通るエッジ位置(輪郭)に平行な線との
距離L′とすると、試料の幅L(図2)は、 L=L′+ρb−ρa によって算出することができる。以上の各計算式を電算
機にプログラムすることにより、計算対象を指定するこ
とにより、演算を自動的に行わせることができる。
xcosθ+ycosθ となることは容易に理解できる。なお、図3においてプ
ロットした座標(x,y) は、影24′のエッジ位置
(輪郭)の前記サンプルデータであり、点線は、このデ
ータからハフ変換手法を用いて推定した前記輪郭線であ
る。 このようにして、図3の座標(x,y)にプロットした
点(xi,yi)(i=1 〜17) を通る直線群を
、θ−ρ空間に写像すると図4に示す曲線が得られる。 図4の曲線を、試料24のすべてのエッジ位置(輪郭)
の候補点に対して、図4の曲線を描くと図5が得られ、
最も多く通るθ−ρ座標(θ0,ρ0)を求めると1本
の直線が特定でき、図5に示す直線式、 ρ0=x0cosθ0+y0cosθ0を得ることがで
きる。以上の式を用いて、座標(Xa,Ya),座標(
Xb,Yb) について、ρa,ρb,θa,θb を
求めることができる。前記試料24は、矩形形状である
ので、θa =θb であるから、2直線間の距離L(
図2)は、原点O1 のXY座標(X1,Y1)を通る
エッジ位置(輪郭)に平行な線と、O2 のXY座標(
Xb,Yb を通るエッジ位置(輪郭)に平行な線との
距離L′とすると、試料の幅L(図2)は、 L=L′+ρb−ρa によって算出することができる。以上の各計算式を電算
機にプログラムすることにより、計算対象を指定するこ
とにより、演算を自動的に行わせることができる。
【0014】以上は、矩形試料の平行辺間の距離を求め
る場合で説明したが、対象とする試料の形状に合わせて
、計算式を定義し、プログラムすることにより、複雑な
形状の各寸法を本発明装置により求めることができる。 ホローダイスの成形隙間の形状寸法の計測のように、表
面から30〜50mm深い所に計測箇所がある場合でも
、本発明は、離れて計測することができるので、容易に
適用することができる。
る場合で説明したが、対象とする試料の形状に合わせて
、計算式を定義し、プログラムすることにより、複雑な
形状の各寸法を本発明装置により求めることができる。 ホローダイスの成形隙間の形状寸法の計測のように、表
面から30〜50mm深い所に計測箇所がある場合でも
、本発明は、離れて計測することができるので、容易に
適用することができる。
【0015】以上の説明は、押出成形品の断面形状や、
押出用ダイスの成形隙間の形状寸法の計測について説明
したが、本発明の物体の寸法計測装置は、その他の物品
の形状寸法の計測にも使用することができる。また、本
実施例では、試料24を、縦方向に設置した場合につい
て説明したが、水平方向に設置しても、同様に測定する
ことができる。
押出用ダイスの成形隙間の形状寸法の計測について説明
したが、本発明の物体の寸法計測装置は、その他の物品
の形状寸法の計測にも使用することができる。また、本
実施例では、試料24を、縦方向に設置した場合につい
て説明したが、水平方向に設置しても、同様に測定する
ことができる。
【0016】
【発明の効果】以上説明した本発明の物体の寸法計測装
置は、CCDカメラをXYテーブルに取付け、寸法計測
対象の2つの明暗転換位置を、所定倍率で画素上に結像
させる視野範囲に入るように、CCDカメラを移動させ
、CCDカメラを停止させた場所の座標と、各視野内の
明暗転換位置座標とから寸法を計測し高い精度で寸法を
計測することができる。また、離れた位置から光学的計
測を行うようにしたので、外部から見通せる場所にある
物体内部の寸法を計測する場合にも、非常に効率的に計
測することができる。
置は、CCDカメラをXYテーブルに取付け、寸法計測
対象の2つの明暗転換位置を、所定倍率で画素上に結像
させる視野範囲に入るように、CCDカメラを移動させ
、CCDカメラを停止させた場所の座標と、各視野内の
明暗転換位置座標とから寸法を計測し高い精度で寸法を
計測することができる。また、離れた位置から光学的計
測を行うようにしたので、外部から見通せる場所にある
物体内部の寸法を計測する場合にも、非常に効率的に計
測することができる。
【図1】一実施例による本発明の物体の寸法計測装置の
概要を説明するための側面図である。
概要を説明するための側面図である。
【図2】図1に示す実施例による計測手順の全体説明図
である。
である。
【図3】図2におけるサンプルデータとρ,θとの関係
を説明する図である。
を説明する図である。
【図4】図3のρ−θ空間への写像した図である。
【図5】図2のすべてのデータについて、図3の写像を
記入した図である。
記入した図である。
【図6】図5から推定した直線をxy座標に記入した図
である。
である。
Claims (1)
- 【請求項1】 CCDカメラを、Z軸に光軸を合わせ
てXYテーブルに取付けたCCDカメラ装置と、CCD
カメラに対し、試料を所定の方向を向けて固定可能とし
た試料台と、距離演算装置とから成り、前記距離演算装
置は、CCDカメラのXYテーブル上の座標を検出する
手段と、静止状態で撮影したCCDカメラの出力信号を
画像処理する手段と、該画像処理手段で得た画像の明暗
転換点を検出する手段と、該明暗転換点の画像上の座標
を演算する手段と、CCDカメラのXY座標上の移動と
、撮影画像のxy座標とから寸法を算出する演算手段を
設けた物体の寸法計測装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3030231A JPH04269607A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | 物体の寸法計測装置 |
NO92920725A NO920725L (no) | 1991-02-25 | 1992-02-24 | Maalerinnretning |
EP19920301562 EP0500400A3 (en) | 1991-02-25 | 1992-02-25 | Apparatus for measuring dimensions of objects |
US08/403,950 US5481298A (en) | 1991-02-25 | 1995-03-14 | Apparatus for measuring dimensions of objects |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3030231A JPH04269607A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | 物体の寸法計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04269607A true JPH04269607A (ja) | 1992-09-25 |
Family
ID=12297939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3030231A Pending JPH04269607A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | 物体の寸法計測装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5481298A (ja) |
EP (1) | EP0500400A3 (ja) |
JP (1) | JPH04269607A (ja) |
NO (1) | NO920725L (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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