JPH02108986A - 超電導量子干渉計 - Google Patents

超電導量子干渉計

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Publication number
JPH02108986A
JPH02108986A JP26256288A JP26256288A JPH02108986A JP H02108986 A JPH02108986 A JP H02108986A JP 26256288 A JP26256288 A JP 26256288A JP 26256288 A JP26256288 A JP 26256288A JP H02108986 A JPH02108986 A JP H02108986A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic flux
ring
current
5quid
feeding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26256288A
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English (en)
Inventor
Masahiko Hasunuma
正彦 蓮沼
Akio Takeoka
武岡 明夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超電導度を検出するための超電導量子干渉計(
以下5QUIDという: Superconductt
ng口uan−tum Interference D
evice )に関し、更に詳述すれば低ノイズ化によ
る高性能な超電導量子干渉計に関するものである。
〔従来の技術〕
5QIIIDは極めて微小な磁束を電圧に変換して検出
する高感度な磁気センサであり、−船釣には磁束検出器
として用いられている。5QUIDは主コイルとして、
ジョセフソン接合部を有した5QtllDリングを具備
しており、このジョセフソン接合部に発生する電圧が外
部磁束の大きさによって変化する効果を利用して、この
電圧の変化として外部磁束を検出することとしている。
従って動作状態において、自己誘導によって発生する磁
束、または地球の磁界による磁束等のような磁束の雑音
の程度が5QUIDの検出能を左右する。
そこで従来では、磁界を遮断した室内にてS(l[II
Dを動作させるとか、またはSQ[l It)リングを
高透磁率材料にて被覆するとかの方法により、この雑音
の低減化を図っている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが上述したような方法では、磁束の雑音の低減化
は不十分であり、正確に磁束を検出できないという問題
点があった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、5Q
UIDリングに外部電流を通電するための通電路を設け
ることにより、この通電路に電流を流してSQυID 
リング内のトラップ磁束をゼロとし、磁束の雑音を低減
化でき、正確に磁束を検出できる高感度な超電導量子干
渉計を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る超電導量子干渉計は、5QUID IJソ
ング有する超電導量子干渉計において、前記5QUID
リングに外部電流の通電路を設けてあることを特徴とす
る。
〔作用〕
本発明の超電S量子干渉計にあっては、5QUIDリン
グに設けた通電路に電流を通電して、磁界を発生させ、
この発生した磁界によって5QUID リング内のトラ
ップ磁束を、その磁束量及びその方向に拘わらずゼロと
する。そうすると5(ltllDの動作状態における磁
束の雑音は減少する。
〔実施例〕 以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて具体的
に説明する。
第1図は本発明に係る5QUIDの主コイルである5Q
IJIDリングの構造図、第2図は本発明に係る5QU
IDの回路図である。図において1は5QUIDリング
であって、5QUIDリング1は、5QUIDリング1
に結合して信号を与える入力コイル11.シュミレーシ
ョンコイル12.測定する磁気信号を検出する出力コイ
ル13を有しており、5QUID リング1には、2個
所のジョセフソン接合部14が設けられ、更に5QUI
Dリングlに外部電流を流すための2つの通電路が形成
されてあって、この各通電路の電流端子15は電源2に
接続している。5QUIDリング1には、初段増幅器4
.広帯域増幅器52位相検波器6.積分器7が、この順
に直列に接続されており、また位相検波器6.シュミレ
ーションコイル12間には、発振器5が積分器9と並列
に接続されている。
第2図に示す回路では、外部磁束を自動的に打ち消して
常に平衡をとる磁束ロック法が用いられている。まず外
部磁束を100kHzの交流で変調し、位相検波でSロ
旧りリングlの応答を検出する。その応答結果を増幅し
て5QIIIDリング1にフィードバックし、常に平衡
を保っている。そして外部磁束はこのフィードバック電
流に基づいて検出することができる。
次にこのような構成をなすS11旧Dリング1の製造方
法について説明する。まず直径100m1.厚さ5m、
  99.95%のNbターゲットを使用し、dc (
直流)マグネトロンスパッタ法を用い、Ar圧力2気圧
、スパッタ電圧350V、スパッタ電流1.2A。
堆積速度80nm/min、の条件にて、5QUIDリ
ング本体用の厚さ約200nmのNb薄膜を基板上全面
に形成する。次にフォトレジストを用いて、30Qr、
p、m。
の条件にてレジストを塗布し、露光処理、現像処理、1
00°C350分のギストベーキング処理を行った後、
ドライエツチング装置を用いて外部電流の勅通路を有す
るパターンを形成する。
次に動作について説明する。
第2図に示すような回路を用い、5QUIDリングlの
ジョセフソン接合部14に発生する電圧の変化を捉えて
、外部磁束を検出する。この際本発明では、5QUID
リング1の2つの通電路(インダクタンスが夫々L1、
LZ、但しLlz L z )に電源2から電流端子1
5を介して外部電流を通電する。そしてこのときの通電
量を、5QUIDリング1内の磁束をゼロとする量、つ
まり士(1+Lx / L+ )  I c(但し■。
はジョセフソン接合部の臨界電流)とする。
本発明では5QUIDの動作時に、通電路を介して上述
のような大きさの電流を5QLIID リング1に通電
するので、5QUIDリング1内の残存磁束がゼロとな
り、発生する磁束の雑音が減少する。具体的には微弱磁
界の検出時において、本発明の5QIIIDでは従来に
比して雑音レベルを50%以上低下させることができる
。この結果、本発明では磁束検出の性能が大いに向上す
る。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明では、5QUIDリングに設け
た通電路に外部電流を通電してSQ旧DIJング内の磁
束をゼロとするので、従来の方法に比べて大幅な低雑音
化を図ることができる。またこの結果として高感度に磁
束を検出できる等、本発明は優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る5(IUIDの5QUIDリング
の構造図、第2図は本発明に係る5QtllDの回路図
である。 ・・・S口器ロリング 2・・・電源 15・・・電流端子 特 許

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、SQUIDリングを有する超電導量子干渉計におい
    て、 前記SQUIDリングに外部電流の通電路を設けてある
    ことを特徴とする超電導量子干渉計。
JP26256288A 1988-10-18 1988-10-18 超電導量子干渉計 Pending JPH02108986A (ja)

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JP26256288A JPH02108986A (ja) 1988-10-18 1988-10-18 超電導量子干渉計

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JPH02108986A true JPH02108986A (ja) 1990-04-20

Family

ID=17377530

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JP26256288A Pending JPH02108986A (ja) 1988-10-18 1988-10-18 超電導量子干渉計

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JP (1) JPH02108986A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04310884A (ja) * 1991-04-09 1992-11-02 Mitsubishi Electric Corp 超伝導磁力計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04310884A (ja) * 1991-04-09 1992-11-02 Mitsubishi Electric Corp 超伝導磁力計

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